CN2676206Y

CN2676206Y - 显示面板的测试薄膜探针

Info

Publication number: CN2676206Y
Application number: CN 200320126826
Authority: CN
Inventors: 郑秋雄; 傅信祈; 柯颖和
Original assignee: XUMAO CO Ltd; INNOTEST Inc
Current assignee: XUMAO CO Ltd; INNOTEST Inc
Priority date: 2003-12-09
Filing date: 2003-12-09
Publication date: 2005-02-02
Anticipated expiration: 2013-12-09

Abstract

本实用新型涉及一种显示面板的测试薄膜探针，该测试薄膜探针是在一测试机台及待测显示面板之间的传输媒介，该测试薄膜探针是在一薄膜结构的至少一表面侧缘凸设有复数根具有导电性的线型薄膜探针，每一该线型薄膜探针各连接一导线，藉由该线型薄膜探针提供与该待测显示面板相接触、以形成电性相接，且透过该导线与该测试机台的信号输出输入端形成电连接。从而，具有与待测显示面板接触性良好、且不会刮伤ITO电极的优点，又兼具有使用寿命长、制做容易的功效。

Description

显示面板的测试薄膜探针

技术领域

本实用新型涉及一种显示面板的测试薄膜探针，特别是指一种不会损伤显示面板的氧化铟锡(Indium Tin Oxide，ITO)电极的测试薄膜探针。

背景技术

近年来，随着显示器技术发展的日新月异，平面显示器与以往的阴极射线管显示器(Cathode Ray Tube，CRT)相比较，具有轻、薄、短、小及消耗功率小、省电、无辐射性等优点，因此，已被广泛应用在各显示装置上，而在显示器面板的领域中，测试工作扮演了相当重要的角色。

在习知测试技艺中，显示面板进行电性测试时，是利用弹性金属探针作为待测的显示面板与测试机台间的测试信号传输媒介，藉以通过探针来输入一信号电压到每一显示面板连接IC的ITO电极，以驱动显示面板显示，再将显示结果透过电脑分析后，识别出此显示面板内的电路连通性。然而，由于ITO电极相当薄且脆弱，而此种金属探针的测试端是呈尖锐状，使得在测试过程中，探针容易刮伤ITO电极，反而破坏了待测显示面板的电性而降低良率；且金属探针是呈倒角弯折状，容易因某根探针的翘起而未能完全接触到ITO电极，造成某部分的ITO电极未受测试而忽略了该显示面板的不良性，导致有瑕疵的显示面板依然可顺利出厂。

另一方面，随着ITO电极的密集化，所制作的金属探针亦趋细微，除了脆弱易弯、易断外，且用来测试的金属探针的密度亦需相对提高，因而会造成制作上困难，成本也较为昂贵。因此本实用新型是在针对上述的种种问题，提出一种显示面板的测试薄膜探针，以克服上述的缺失。

发明内容

本实用新型的主要目的在于提供一种显示面板的测试薄膜探针，藉以与待测显示面板的ITO电极接触并进行测试时，其接触性良好且不会刮伤ITO电极，不但测试结果精确度高，且不影响受测显示面板原本的电性。

本实用新型的另一目的在于提供一种显示面板的测试薄膜探针，使用寿命长，且制作上不困难。

本实用新型在于提供一种显示面板的测试薄膜探针，该测试薄膜探针是在一测试机台及待测显示面板之间的传输媒介，该测试薄膜探针是在一薄膜结构的至少一表面侧缘凸设有复数根具有导电性的线型薄膜探针，每一该线型薄膜探针各连接一导线，藉由该线型薄膜探针提供与该待测显示面板相接触、以形成电性相接，且透过该导线与该测试机台的信号输出输入端形成电连接。

本实用新型在于提供一种显示面板的测试薄膜探针，该线型薄膜探针的横截面是为半圆形。

本实用新型在于提供一种显示面板的测试薄膜探针，该薄膜结构是由挠性材质所构成。

本实用新型在于提供一种显示面板的测试薄膜探针，该线型薄膜探针是由弹性导电材质所构成。

本实用新型在于提供一种显示面板的测试薄膜探针，在该导线上更包覆有一绝缘膜。

本实用新型在于提供一种显示面板的测试薄膜探针，该待测显示面板是选自液晶显示面板、电浆显示面板、场发射显示面板、有机电激发光显示面板及无机电激发光显示面板所组成的群组。

本实用新型具有与待测显示面板接触性良好、且不会刮伤ITO电极的优点，又兼具有使用寿命长、制作容易的功效。

附图说明

图1为本实用新型一较佳实施例的俯视图。

图2为本实用新型一较佳实施例的侧视图。

图3为本实用新型一应用实施例示意图。

图4为本实用新型与一待测显示面板相接触的示意图。

具体实施方式

底下藉由具体实施例配合所附的图式详加说明，当更容易了解本实用新型的目的、技术内容、特点及其所达成的功效。

本实用新型是在一薄膜结构的表面凸设复数具弹性的线型薄膜探针，使其能与持测显示面板上的ITO电极呈良好接触，以形成电性相接来进行测试，且不损伤ITO电极。

本实用新型一较佳实施例的俯视图及侧视图，如图1及图2所示，一测试薄膜探针10是包括一挠性材质所构成的薄膜结构12，在薄膜结构12的一表面侧缘凸设有复数线型薄膜探针14，其是由弹性导电材质所构成，每一线型薄膜探针14的横截面为半圆形或半椭圆形，且每一线型薄膜探针14各连接一导线16，在该等导线16上包覆有一层绝缘膜(图中未示)，以藉由线型薄膜探针14提供与一待测显示面板相接触而形成电性相接，且透过导线16进行测试机台与待测显示面板之间的信号传输。

本实用新型适用于各类显示面板上的ITO电极的测试，包括液晶显示面板(Liquid crystal display，LCD)电浆显示面板(Plasma display Panel，PDP)、场发射显示面板(Field emissiondisplay，FED)有机电激发光显示面板(Organicelectroluminescence display，OELD)及无机电激发光显示面板(Electrolumlnescenc Display，ELD)等。同时由于不同应用的显示面板具有不同的ITO电极布局(layout)，故本实用新型如图3所示，是可随时依待测显示面板20上ITO电极22的设置，而使线型薄膜探针14有不同的布局，以使线型薄膜探针14在薄膜结构12上排列成与ITO电极22相对应的阵列(Array)，且线型薄膜探针14彼此间的节距(pitch)是配合显示面板20上的ITO间距做调整来制作，以便使测试薄膜探针10可准确、且迅速地与待测显示面板20接触并进行测试。由于测试薄膜探针10的结构简单、且在制作上相当容易，因此，本实用新型可随时更改线型薄膜探针14的排列，以改善习知浪费太多时间在制作测试治具而影响测试效率的问题，且具有降低测试治具成本的优点。

在进行测试时，是如图4所示，使待测显示面板20上的ITO电极22与测试薄膜探针10上的线型薄膜探针14相接触，且测试薄膜探针10藉由该等导线16电连接至测试机台(图中未示)，使测试机台可透过导线16及线型薄膜探针14的媒介，将测试信号电压经由该等ITO电极22传送至显示面板20连接的驱动IC内，以对该显示面板20进行电性测试。由于线型薄膜探针14是为弹性导电物质，故可与ITO电极22有绝佳的接触，使测试讯号能够成功的传送于待测显示面板20与测试机台间，以提高测试良率，且获得精确的测试结果。此外，弹性的线型薄膜探针14在接触ITO时不会造成其损伤，因此，可彻底解决习知利用探针测试显示面板时容易损伤ITO而影响测试效率及产品良率的问题。

另一方面，线型薄膜探针14由于是使用弹性导电材质，故在多次与ITO电极22接触后，依然可保持弹性状态，可改善习知的金属探针过于细微而脆弱易断，所造成测试治具使用寿命较短的缺点。

以上所述是藉由实施例说明本实用新型的特点，其目的在使熟习该技术者能了解本实用新型的内容并据以实施，而非限定本实用新型的专利范围，故，凡其它未脱离本实用新型所揭示的精神所完成的等效修饰或修改，仍应包含在以下所述的申请专利范围中。

Claims

1、一种显示面板的测试薄膜探针，其特征是：该测试薄膜探针是在一测试机台及待测显示面板之间的传输媒介，该测试薄膜探针是在一薄膜结构的至少一表面侧缘凸设有复数根具有导电性的线型薄膜探针，每一该线型薄膜探针各连接一导线，藉由该线型薄膜探针提供与该待测显示面板相接触、以形成电性相接，且透过该导线与该测试机台的信号输出输入端形成电连接。

2、根据权利要求1所述的显示面板的测试薄膜探针，其特征是：该线型薄膜探针的横截面是为半圆形。

3、根据权利要求1所述的显示面板的测试薄膜探针，其特征是：该薄膜结构是由挠性材质所构成。

4、根据权利要求1所述的显示面板的测试薄膜探针，其特征是：该线型薄膜探针是由弹性导电材质所构成。

5、根据权利要求1所述的显示面板的测试薄膜探针，其特征是：在该导线上更包覆有一绝缘膜。

6、根据权利要求1所述的显示面板的测试薄膜探针，其特征是：该待测显示面板是选自液晶显示面板、电浆显示面板、场发射显示面板、有机电激发光显示面板及无机电激发光显示面板所组成的群组。