CN204463780U - 短路棒治具 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供一种短路棒(Shorting-bar)治具，可对显示面板的银胶阻抗进行检测。该短路棒治具包括阻抗接入端和与该阻抗接入端连接的阻抗检测电路，该阻抗检测电路包括比较器、变阻器、分压电路、电平检测装置和结果显示装置。该比较器包括反向端、同向端和输出端，该阻抗接入端连接该反向端，并且经该变阻器接地，该分压电路连接该同向端，该输出端连接该电平检测装置，以及该电平检测装置连接该结果显示装置。该短路棒治具可有效解决现有技术中银胶阻抗的检测方法花费人力较多、测试繁琐的问题。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种显示器的测试治具，特别是涉及一种短路棒(Shorting-bar)治具。
背景技术
一般来说，显示器除了显示面板之外，还包括驱动电路、印刷电路板等部件用以驱动显示面板进行影像显示。通常，显示器在其显示面板制作完成之后并在与其他部件进行组装之前，都会对显示面板进行一系列的检测程序以确认显示面板的质量是否符合标准。
比如液晶显示器的显示面板在还未绑定(Bonding)驱动电路的时候，需要进行点亮测试，短路棒治具则是目前用来对显示面板进行点亮测试的一种较为普遍的工具。显示面板的玻璃基板在设计时会预留一系列的测试垫(Pad)，在进行点亮测试时，短路棒治具用于连接对应的测试垫以输入各种信号使显示面板显示一些简易画面，从而通过观察这些显示画面来判断显示面板的好坏。
现阶段小尺寸机种的显示面板在其彩色滤光片(Color Filter，CF)基板与薄膜晶体管(Thin Film Transistor，TFT)基板的接触边界处新增导电银胶，并分别引出至测试垫a和测试垫b，如图1所示。除了对显示面板进行点亮测试，还需对测试垫a和测试垫b之间的银胶阻抗进行检测。现有的检测方法主要是在测试垫a和测试垫b之间串联一个电阻表，然后进行人工测量，虽然该方法可以精确测量测试垫a和测试垫b两点之间的阻抗，但是当前的实际需求并不需要对银胶阻抗进行精确测量，而只需要检测其阻抗是否超过或小于某一特定值即可判断其阻抗是否符合规格标准，因此，该方法不仅花费人力较多，并且测试繁琐。
实用新型内容
本实用新型的目的包括提供一种短路棒治具，以直接利用短路棒治具对显示面板的银胶阻抗进行检测从而解决现有技术中银胶阻抗的检测方法花费人力较多、测试繁琐的问题。
具体地，本实用新型提供了一种短路棒治具，该短路棒治具包括阻抗接入端和与该阻抗接入端连接的阻抗检测电路，该阻抗检测电路包括比较器、变阻器、分压电路、电平检测装置和结果显示装置，该比较器包括反向端、同向端和输出端，该阻抗接入端连接该反向端，并且经该变阻器接地，该分压电路连接同向端，该输出端连接该电平检测装置，以及该电平检测装置连接该结果显示装置。
进一步地，该阻抗接入端经由第一电阻连接该变阻器。
进一步地，该分压电路包括第二电阻和第三电阻，该第二电阻的一端连接一电源端，另一端连接该比较器的同向端，并经该第三电阻接地。
进一步地，该第二电阻和该第三电阻的阻值相同。
进一步地，该阻抗检测电路进一步包括第四电阻，该第四电阻的一端连接一电源端，另一端连接该输出端。
进一步地，该电平检测装置包括三极管，该三极管的基极连接该输出端，集电极连接一电源端，发射极与该结果显示装置相连接。
进一步地，该结果显示装置包括第五电阻和发光二极管，该发光二极管的正极经该第五电阻连接该电平检测装置，该发光二极管的负极接地。
进一步地，该变阻器与该第一电阻的阻值之和与待测电路的阻抗规格相同。
进一步地，该阻抗接入端连接该阻抗检测电路与一电源端。
由于本实用新型实施例所提供的短路棒治具增加了阻抗检测电路，在对显示面板进行点亮测试的同时，即可清楚地判断待测阻抗与其阻抗规格的关系，进而判断待测阻抗是否符合规格标准，从而解决了现有技术中检测阻抗耗时、耗力、步骤繁琐的问题。
上述说明仅是本实用新型技术方案的概述，为了能够更清楚了解本实用新型的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本实用新型的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图，详细说明如下。
附图说明
图1为需要测试导电银胶阻抗的显示面板的平面结构示意图。
图2为本实用新型的一实施例所提供的一种短路棒治具的电路结构示意图。
图3为图2所示的短路棒治具的电平检测装置和结果显示装置的电路结构示意图。
具体实施方式
为更进一步阐述本实用新型为达成预定目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及较佳实施例，对依据本实用新型提出的一种短路棒治具的具体实施方式、方法、步骤、结构、特征及功效，详细说明如后。
有关本实用新型的前述及其他技术内容、特点及功效，在以下配合参考图式的较佳实施例详细说明中将可清楚的呈现。通过具体实施方式的说明，当可对本实用新型为达成预定目的所采取的技术手段及功效得以更加深入且具体的了解，然而所附图式仅是提供参考与说明之用，并非用来对本实用新型加以限制。
请参考图2，图2为本实用新型的一实施例所提供的一种短路棒治具的结构示意图。该短路棒治具10包括电源端11、阻抗接入端12和阻抗检测电路13。该阻抗接入端12连接该阻抗检测电路13与该电源端11，并且该阻抗接入端12用于引出导线110和导线111以分别连接显示面板100的测试垫a和测试垫b，其中，测试垫a经由导线110和该阻抗接入端12连接至该电源端11，测试垫b经由导线111和该阻抗接入端12连接至该阻抗检测电路13。
该阻抗检测电路13包括比较器120、变阻器121、第一电阻122、分压电路123、第四电阻125、电平检测装置126和结果显示装置127。该比较器120包括反向端1201、同向端1202、启动电压接入端1203、接地端1204和输出端1205。该阻抗接入端12连接该反向端1201，并经由该第一电阻122和该变阻器121接地。该分压电路123连接该同向端1202以向该同向端1202提供分压。该启动电压接入端1203连接一电源端124，该接地端1204接地，该输出端1205连接该电平检测装置126，并经由该第四电阻125连接一电源端128。该电平检测装置126连接该结果显示装置127。其中，该分压电路123包括第二电阻1231和第三电阻1232，该第二电阻1231的一端连接一电源端1233，另一端连接该比较器的同向端1202，并经该第三电阻1232接地，优选地，第二电阻1231和第三电阻1232的阻值相同。
请参考图3，图3为图2所示的短路棒治具的电平检测装置126和结果显示装置127的电路结构示意图。如图3所示，在本实施方式中，该电平检测装置126包括三极管1261，该三极管1261包括基极(未标示)、集电极(未标示)和发射级(未标示)。该三极管1261的基极连接比较器120的输出端1205，集电极连接一电源端1260，发射极连接至该结果显示装置127。该结果显示装置127包括第五电阻1270和发光二极管1271，该第五电阻1270的一端连接该三极管1261的基极，另一端连接该发光二极管1271的正极，该发光二极管1271的负极接地。该电平检测装置126和结果显示装置127并不限于由三极管、发光二极管等组成，在其他实施方式中，该电平检测装置126可以是其他具有高低电平检测功能的电路，而该结果显示装置127也可为显示屏或者蜂鸣器等。
当采用该短路棒治具10检测显示面板100的测试垫a和测试垫b之间的电阻时，连接该短路棒治具10的阻抗接入端12与测试垫a和测试垫b。假设电源端11和电源端1233所提供的电压均为5V，电路上电后，由于该第二电阻1231和该第三电阻1232阻值相同，所以该同向端1202的电压为2.5V，该反向端1201的电压由待测电路的阻抗，即显示面板100的测试垫a和测试垫b之间的电阻决定。将该变阻器121与该第一电阻122的阻值之和调整为与待测电路的阻抗规格相同，比如，若待测电路的阻抗规格为10KΩ，则需将该变阻器121与该第一电阻122的阻值之和调整为10KΩ。
若该待测电路的阻抗小于或等于该阻抗规格，则该反向端1201的电压大于或等于2.5V，此时同向端1202的电压小于或等于该反相端1201的电压，该比较器120的输出为低电平；若该待测电路的阻抗大于该阻抗规格，则该反向端1201的电压小于2.5V，此时该同向端1202的电压大于该反相端1201的电压，该比较器120的输出为高电平。
在其他实施方式中，也可将该反向端1201连接的电路与该同相端1202连接的电路互为调换。
该电平检测装置126检测到该比较器120的输出端1205的电平，并将检测结果提供给该结果显示装置127，并由该结果显示装置127显示该检测结果。如图3所示，当该电平检测装置126检测到该比较器120的输出端1205的电平为低电平时，三极管1261截止，该结果显示装置127的发光二极管1271不发光；当该电平检测装置126检测到该比较器120的输出端1205的电平为高电平时，三极管1261导通，该结果显示装置127的发光二极管1271发光。由此可以清楚的判断待测阻抗与其阻抗规格的关系，进而判断待测阻抗是否符合规格标准。
由于该阻抗检测电路13中的比较器120具有灵敏度高的特性，因此利用其检测阻抗规格具有极高的精度。由于该阻抗检测电路13的电路简单，体积小，可集成在现有的短路棒治具中，因此只需对现有短路棒治具内部线路进行简单改动，即可在短路棒治具中增加检测阻抗的功能，实现对显示面板的点亮测试与阻抗检测的同时进行，解决了现有技术中检测阻抗耗时、耗力、步骤繁琐的问题。
以上所述，仅是实用新型的较佳实施例而已，并非对本实用新型作任何形式上的限制，虽然本实用新型已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本实用新型，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本实用新型技术方案范围内，当可利用上述揭示的技术内容作出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本实用新型技术方案内容，依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本实用新型技术方案的范围内。
Claims (9)
1.一种短路棒治具，其特征在于，该短路棒治具包括阻抗接入端和与该阻抗接入端连接的阻抗检测电路，该阻抗检测电路包括比较器、变阻器、分压电路、电平检测装置和结果显示装置，该比较器包括反向端、同向端和输出端，该阻抗接入端连接该反向端，并且经该变阻器接地，该分压电路连接该同向端，该输出端连接该电平检测装置，以及该电平检测装置连接该结果显示装置。
2.根据权利要求1所述的短路棒治具，其特征在于，该阻抗接入端经由第一电阻连接该变阻器。
3.根据权利要求1所述的短路棒治具，其特征在于，该分压电路包括第二电阻和第三电阻，该第二电阻的一端连接一电源端，另一端连接该比较器的同向端，并经该第三电阻接地。
4.根据权利要求3所述的短路棒治具，其特征在于，该第二电阻和该第三电阻的阻值相同。
5.根据权利要求1所述的短路棒治具，其特征在于，该阻抗检测电路进一步包括第四电阻，该第四电阻的一端连接一电源端，另一端连接该输出端。
6.根据权利要求1所述的短路棒治具，其特征在于，该电平检测装置包括三极管，该三极管的基极连接该输出端，集电极连接一电源端，发射极与该结果显示装置相连接。
7.根据权利要求1所述的短路棒治具，其特征在于，该结果显示装置包括第五电阻和发光二极管，该发光二极管的正极经该第五电阻连接该电平检测装置，该发光二极管的负极接地。
8.根据权利要求2所述的短路棒治具，其特征在于，该变阻器与该第一电阻的阻值之和与待测电路的阻抗规格相同。
9.根据权利要求1所述的短路棒治具，其特征在于，该阻抗接入端连接该阻抗检测电路与一电源端。
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