CN207730927U - T/r组件测试系统校准装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种T/R组件测试系统校准装置，本实用新型通过对T/R组件测试系统的系统组成和工作原理以及对T/R组件参数测试方法的研究，选择合适的仪器设备建立连续波功率、峰值功率和脉冲S参数包括相位、幅度、端口驻波的五项校准标准，校准装置包括标准衰减器、标准失配器、标准移相器、频谱分析仪、功率计，可以确保T/R组件测试系统正常运行及性能指标的准确性，解决T/R组件测试系统的量值溯源问题，保障T/R组件测试系统的性能、质量及可靠性。

Description

T/R组件测试系统校准装置

技术领域

本实用新型涉及一种T/R组件测试系统校准装置。

背景技术

随着电子技术的迅速发展，近年来我国研制了大量新型雷达系统，有源相控阵雷达以其突出的技术特点和巨大的潜在优势成为现代雷达发展的主流方向，广泛地应用在军事、导航、通讯、遥感和气象预测等各个领域。T/R组件是构成有源相控阵雷达的核心部件之一，其性能的优劣是有源相控阵系统的主要影响因素, 直接决定了雷迖系统的稳定性和精确性，因此在有源相控阵雷达系统的研发设计及生产中对于T/R组件的测试至关重要。

有源相控阵雷达T/R组件的测试任务异常繁琐。首先T/R组件数量很大，其次T/R组件的电气指标非常多，涉及的测试仪器种类较多。面对多种测试仪器、多参数测试，连接被测件、设置仪器和记录数据等工作导致测试任务相当大。依靠传统的人力手动测试和手动处理数据,效率极其低下并成为研制重要瓶颈，因此T/R组件测试系统的集成成为T/R组件测试的重要保障手段。为了保证T/R组件测试结果的准确可靠，首先要确保T/R组件测试系统正常运行及性能指标的准确性。

发明内容

本实用新型的目的在于提供一种T/R组件测试系统校准装置，能够解决确保T/R组件测试系统正常运行及性能指标的准确性的问题。

为解决上述问题，本实用新型提供一种T/R组件测试系统校准装置，包括：

与被校T/R组件测试系统连接的标准衰减器、标准失配器和标准移相器，用于脉冲S参数的校准。

进一步的，所述脉冲S参数包括相位、幅度、端口驻波。

进一步的，还包括：

与所述被校T/R组件测试系统连接的第一功率衰减器；

与所述第一功率衰减器连接的频谱分析仪，用于频谱、脉冲峰值功率校准。

进一步的，还包括：

与所述被校T/R组件测试系统连接的第二功率衰减器；

与所述第二功率衰减器连接的功率计，用于连续波功率校准。

进一步的，还包括与所述被校T/R组件测试系统连接的波控及电源监控装置，所述波控及电源监控装置包括PXI机箱及设置于所述PXI机箱内的与所述被校T/R组件测试系统连接的模块，所述模块包括：

数表模块、采集卡模块、数字I/O模块和测温模块，用于对所述被校T/R组件测试系统供电电源质量以及T/R组件测试系统影响微波器件工作状态的波控、栅控和漏控的脉冲信号的波形进行检测及监控。

与现有技术相比，本实用新型通过对T/R组件测试系统的系统组成和工作原理以及对T/R组件参数测试方法的研究，选择合适的仪器设备建立连续波功率、峰值功率和脉冲S参数包括相位、幅度、端口驻波的五项校准标准，校准装置包括标准衰减器、标准失配器、标准移相器、频谱分析仪、功率计，可以确保T/R组件测试系统正常运行及性能指标的准确性，解决T/R组件测试系统的量值溯源问题，保障T/R组件测试系统的性能、质量及可靠性。

附图说明

图1是本实用新型一实施例的T/R组件测试系统校准装置的模块图。

具体实施方式

为使本实用新型的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步详细的说明。

如图1所示，本实用新型提供一种T/R组件测试系统校准装置，包括：

与被校T/R组件测试系统1连接的标准衰减器2、标准失配器3和标准移相器4，用于脉冲S参数的校准。

本实用新型的T/R组件测试系统校准装置一实施例中，所述脉冲S参数包括相位、幅度、端口驻波。

如图1所示，本实用新型的T/R组件测试系统校准装置一实施例中，还包括：

与所述被校T/R组件测试系统1连接的第一功率衰减器5；

与所述第一功率衰减器5连接的频谱分析仪6，用于频谱、脉冲峰值功率校准。

如图1所示，本实用新型的T/R组件测试系统校准装置一实施例中，还包括：

与所述被校T/R组件测试系统1连接的第二功率衰减器7；

与所述第二功率衰减器7连接的功率计8，用于连续波功率校准。

如图1所示，本实用新型的T/R组件测试系统校准装置一实施例中，还包括与所述被校T/R组件测试系统连接的波控及电源监控装置9，所述波控及电源监控装置9包括PXI机箱10及设置于所述PXI机箱10内的与所述被校T/R组件测试系统连接的模块，所述模块包括：

数表模块11、采集卡模块12、高速数字I/O模块13和测温模块14，用于对所述被校T/R组件测试系统供电电源质量(电流、电压)以及T/R组件测试系统影响微波器件工作状态的波控、栅控和漏控的脉冲信号的波形进行检测及监控。

本实用新型通过对T/R组件测试系统的系统组成和工作原理以及对T/R组件参数测试方法的研究，选择合适的仪器设备建立连续波功率、峰值功率和脉冲S参数包括相位、幅度、端口驻波的五项校准标准，校准装置包括标准衰减器、标准失配器、标准移相器、频谱分析仪、功率计，可以确保T/R组件测试系统正常运行及性能指标的准确性，解决T/R组件测试系统的量值溯源问题，保障T/R组件测试系统的性能、质量及可靠性。

本实用新型还提供另一种T/R组件测试系统校准，包括：

将标准衰减器、标准失配器和标准移相器与被校T/R组件测试系统进行连接；

通过所述标准衰减器、标准失配器和标准移相器对脉冲S参数校准。

本实用新型的T/R组件测试系统校准一实施例中，所述脉冲S参数包括相位、幅度、端口驻波。

本实用新型的T/R组件测试系统校准一实施例中，还包括：

将第一功率衰减器与所述被校T/R组件测试系统进行连接；

将频谱分析仪与所述第一功率衰减器进行连接，通过所述频谱分析仪对频谱、脉冲峰值功率进行校准。

本实用新型的T/R组件测试系统校准一实施例中，还包括：

将与第二功率衰减器所述被校T/R组件测试系统进行连接；

将功率计与所述第二功率衰减器进行连接，通过所述功率计对连续波功率进行校准。

本实用新型的T/R组件测试系统校准一实施例中，还包括：

将波控及电源监控装置与所述被校T/R组件测试系统进行连接，所述波控及电源监控装置包括PXI机箱及设置于所述PXI机箱内的与所述被校T/R组件测试系统连接的模块，所述模块包括数表模块、采集卡模块、高速数字I/O模块和测温模块；

通过所述数表模块、采集卡模块、高速数字I/O模块和测温模块，对所述被校T/R组件测试系统供电电源质量以及T/R组件测试系统影响微波器件工作状态的波控、栅控和漏控的脉冲信号的波形进行检测及监控。

综上所述，本实用新型通过对T/R组件测试系统的系统组成和工作原理以及对T/R组件参数测试方法的研究，选择合适的仪器设备建立连续波功率、峰值功率和脉冲S参数包括相位、幅度、端口驻波的五项校准标准，校准装置包括标准衰减器、标准失配器、标准移相器、频谱分析仪、功率计，可以确保T/R组件测试系统正常运行及性能指标的准确性，解决T/R组件测试系统的量值溯源问题，保障T/R组件测试系统的性能、质量及可靠性。

本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。

专业人员还可以进一步意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。

显然，本领域的技术人员可以对实用新型进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本实用新型的这些修改和变型属于本实用新型权利要求及其等同技术的范围之内，则本实用新型也意图包括这些改动和变型在内。

Claims (3)

1.一种T/R组件测试系统校准装置，其特征在于，包括：

与被校T/R组件测试系统连接的标准衰减器、标准失配器和标准移相器，用于脉冲S参数的校准；

与所述被校T/R组件测试系统连接的第一功率衰减器；与所述第一功率衰减器连接的频谱分析仪，用于频谱、脉冲峰值功率校准；

与所述被校T/R组件测试系统连接的第二功率衰减器；与所述第二功率衰减器连接的功率计，用于连续波功率校准。

2.如权利要求1所述的T/R组件测试系统校准装置，其特征在于，所述脉冲S参数包括相位、幅度、端口驻波。

3.如权利要求1所述的T/R组件测试系统校准装置，其特征在于，还包括与所述被校T/R组件测试系统连接的波控及电源监控装置，所述波控及电源监控装置包括PXI机箱及设置于所述PXI机箱内的与所述被校T/R组件测试系统连接的模块，所述模块包括：

数表模块、采集卡模块、数字I/O模块和测温模块，用于对所述被校T/R组件测试系统供电电源质量以及T/R组件测试系统影响微波器件工作状态的波控、栅控和漏控的脉冲信号的波形进行检测及监控。