CN107610625A - 绑定阻抗测试装置及绑定阻抗测试方法 - Google Patents
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Abstract
一种绑定阻抗测试装置，包括信号发生模块，数据采样单元和处理器，其中：所述信号发生模块用于发送检测信号至所述数据采样单元；所述数据采样单元通过第一测试点、第二测试点和第三测试点接收所述检测信号，得出所述第一测试点与所述第二测试点之间的第一电阻、以及所述第二测试点与所述第三测试点之间的第二电阻并发送给所述处理器；所述处理器用于接收所述第一电阻和所述第二电阻并进行处理得出绑定阻抗，同时判断所述绑定阻抗是否符合规格。本发明提供的绑定阻抗测试装置能快速准确测得绑定阻抗，简化测试方案和数据处理，提高量产时相关数据收集作业效率。本发明还涉及一种绑定阻抗测试方法。
Description
技术领域
本发明涉及显示技术领域，特别涉及一种绑定阻抗测试装置及绑定阻抗测试方法。
背景技术
平面显示器是目前主流的显示器，包括有机发光二极管(OrganicLight EmittingDisplay，OLED)、液晶(Liquid Crystal Display，LCD)等显示器。
为了往平板显示面板的显示基板传输驱动信号和驱动电源，需要在显示基板上绑定驱动集成电路(Integrated Circuit，IC)、柔性电路板(Flexible Printed Circuit，FPC)等。显示基板和集成电路、柔性线路板之间是利用异方性导电膜(AnisotropicConductive Film，ACF)分别通过芯片位于玻璃上(Chip On Glass，COG)、芯片位于柔性电路板上(Chip On FPC，COF)和柔性电路板位于玻璃上(FPC On Glass，FOG)三种绑定结构连接实现对显示基板信号传输。这三种绑定工艺可以实现显示基板与集成电路、显示基板与柔性电路板之间低阻抗的电性连接。
如果绑定不良，显示基板与集成电路、显示基板与柔性电路板间就有可能阻抗过大，导致屏体画面显示异常，因此需要通过绑定电阻测试电路测试是否绑定良好。开发一种简捷、高效、准确的阻抗测试装置及测试方法是现阶段亟待解决的问题之一。
发明内容
本发明的目的在于提供一种绑定阻抗测试装置及绑定阻抗测试方法，其能快速准确地测得绑定阻抗，简化测试方案和数据处理，提高量产时相关数据的收集作业效率。
本发明实施例提供一种绑定阻抗测试装置，包括信号发生模块，数据采样单元和处理器，其中：所述信号发生模块用于发送检测信号至所述数据采样单元；所述数据采样单元通过第一测试点、第二测试点和第三测试点接收所述检测信号，得出所述第一测试点与所述第二测试点之间的第一电阻、以及所述第二测试点与所述第三测试点之间的第二电阻并发送给所述处理器；所述处理器用于接收所述第一电阻和所述第二电阻并进行处理得出绑定阻抗，同时判断所述绑定阻抗是否符合规格。
进一步地，所述数据采样单元包括第一连接点、第二连接点和第三连接点，以及与所述第一连接点绑定连接的第一金手指、与所述第二连接点绑定连接的第二金手指、与所述第三连接点绑定连接的第三金手指；其中，所述第一连接点与所述第二连接点之间通过第一连接线直接连接；所述第二金手指与所述第三金手指之间通过第二连接线直接连接；所述第一金手指通过第一走线与所述第一测试点相连，所述第二金手指通过第二走线与所述第二测试点相连，所述第三金手指通过第三走线与所述第三测试点相连。
进一步地，所述数据采样单元包括第一连接点和第二连接点，以及与所述第一连接点绑定连接的第一金手指、与所述第二连接点绑定连接的第二金手指；其中，所述第一连接点与所述第二连接点之间通过第一连接线直接连接；所述第一金手指通过第一走线与所述第一测试点相连，所述第二金手指通过第二走线与所述第二测试点相连，所述第三测试点与第三走线相连并通过第二连接线连接至所述第二走线靠近所述第二金手指的一端。
进一步地，所述第一走线、第二走线和第三走线为等阻抗走线。
进一步地，所述绑定阻抗测试装置还包括转换器。
进一步地，所述绑定阻抗测试装置还包括输出单元。
进一步地，所述输出单元是提示灯或提示显示装置。
本发明实施例还提供一种绑定阻抗测试方法，包括
步骤S1：利用信号发生模块发送检测信号至数据采样单元的第一测试点、第二测试点和第三测试点；
步骤S2：利用数据采样单元生成第一测试点与第二测试点之间的第一电阻、以及第二测试点与第三测试点之间的第二电阻，并将第一电阻和第二电阻发送给处理器；
步骤S3：利用处理器接收第一电阻和第二电阻并计算出绑定阻抗的并判断所述绑定阻抗是否符合规格。
进一步地，所述数据采样单元包括第一连接点、第二连接点和第三连接点，以及与所述第一连接点绑定连接的第一金手指、与所述第二连接点绑定连接的第二金手指、与所述第三连接点绑定连接的第三金手指；其中，所述第一连接点与所述第二连接点之间通过第一连接线直接连接；所述第二金手指与所述第三金手指之间通过第二连接线直接连接；所述第一金手指通过第一走线与所述第一测试点相连，所述第二金手指通过第二走线与所述第二测试点相连，所述第三金手指通过第三走线与所述第三测试点相连。
进一步地，所述数据采样单元包括第一连接点和第二连接点，以及与所述第一连接点绑定连接的第一金手指、与所述第二连接点绑定连接的第二金手指；其中，所述第一连接点与所述第二连接点之间通过第一连接线直接连接；所述第一金手指通过第一走线与所述第一测试点相连，所述第二金手指通过第二走线与所述第二测试点相连，所述第三测试点与第三走线相连并通过第二连接线连接至所述第二走线靠近所述第二金手指的一端。
本发明实施例提供的绑定阻抗测试装置及方法，其信号发生模块用于发送检测信号至数据采样单元；数据采样单元上设有第一测试点、第二测试点、第三测试点；数据采样单元通过第一测试点、第二测试点和第三测试点接收检测信号并得出第一测试点与第二测试点之间的第一电阻、以及第二测试点与第三测试点之间的第二电阻，并将第一电阻和第二电阻发送给处理器；处理器用于接收第一电阻和第二电阻并进行处理得出绑定阻抗，同时判断绑定阻抗是否符合规格。本发明提供的绑定阻抗测试装置通过三个测试点快速准确测得绑定阻抗，简化测试方案和数据处理，提高量产时相关数据收集作业效率。
附图说明
图1为本发明第一实施例的绑定阻抗测试装置的结构示意图。
图2为本发明第一实施例的数据采样单元的结构示意图。
图3为本发明第一实施例的数据采样单元的局部结构示意图。
图4为本发明第一实施例的数据采样单元的局部结构示意图。
图5为本发明第二实施例的数据采样单元的结构示意图。
图6为本发明第二实施例的数据采样单元的局部结构示意图。
图7为本发明第二实施例的数据采样单元的局部结构示意图。
图8为本发明第三实施例的绑定阻抗测试方法的流程示意图。
具体实施方式
为更进一步阐述本发明为达成预定发明目的所采取的技术方式及功效，以下结合附图及实施例，对本发明的具体实施方式、结构、特征及其功效，详细说明如后。
[第一实施例]
如图1所示，本发明第一实施例提供的绑定阻抗测试装置用于检测显示基板与集成电路、或显示基板与柔性电路板之间的绑定阻抗，绑定阻抗测试装置包括信号发生模块10，数据采样单元20、转换器30、处理器40和输出单元50。
信号发生模块10与数据采样单元20相连接，信号发生模块10用于发送检测信号至数据采样单元20。该检测信号例如是电阻信号。
如图2所示，数据采样单元20上设有第一测试点201，第二测试点202、第三测试点203以及与该三个测试点相连的阻抗检测电路。数据采样单元20通过第一测试点201、第二测试点202和第三测试点203接收信号发生模块10发送的检测信号并得出第一测试点201与第二测试点202之间的第一电阻r1、以及第二测试点202与第三测试点203之间的第二电阻r2，并将第一电阻r1和第二电阻r2发送给处理器40。在一个实施例中，可以通过万用表来测量第一测试点201和第二测试点202之间的电阻以及第二测试点202和第三测试点203之间电阻；应理解的是，电阻测量方式不局限于此。
阻抗检测电路包括三个连接点、三个金手指和三条走线。如图3所示，三个连接点预设在显示基板21的边缘，具体为第一连接点211、第二连接点212和第三连接点213。其中，第二连接点212位于第一连接点211与第三连接点213之间，第一连接点211与第二连接212之间通过第一连接线214直接连接。
如图4所示，三个金手指预设在集成电路或柔性电路板(图未示)上，具体为第一金手指221、第二金手指222和第三金手指223。其中，第二金手指222位于第一金手指221和三金手指223，第二金手指222与第三金手指223之间通过第二连接线224直接连接。
其中，第一金手指221与第一连接点211、第二金手指222与第二连接点212、第三金手指223与第三连接点213均通过异方性导电膜绑定连接。
第一金手指221通过第一走线231与第一测试点201相连，第二金手指222通过第二走线232与第二测试点202相连，第三金手指223通过第三走线233与第三测试点203相连。在一个实施例中，第一走线231、第二走线232和第三走线233为等阻抗走线，即第一走线231、第二走线232和第三走线233的阻抗彼此相等。第一走线231、第二走线232和第三走线233例如是等长等宽的走线。
在一个实施例中，第一走线231、第二走线232和第三走线233的可以呈直线设置，也可以根据需要设置成不同的形状。如此，可以大幅延长这些走线的长度，进而这些走线的阻抗也会增大，由此可以极大地提高测量精度。
本实施例还包括转换器30，转换器30例如是模数转换器，用于将数据采样单元20生成的模拟信号转换成数字信号并传送给处理器40进行处理。
处理器40用于接收数据采样单元20生成的信号并对该信号进行处理得出绑定阻抗。在一个实施例中，处理器40中存储有预设绑定电阻。处理器40将检测得到的绑定阻抗与预设绑定阻抗比较，如果检测得到的绑定阻抗小于等于预设绑定阻抗，则判定绑定效果好；如果检测得到的绑定阻抗大于预设绑定阻抗，则判定绑定效果不好。应理解的是，对于不同规格面板而言，预设绑定阻抗值不同。
信号发生模块10发出检测信号后，数据采样单元20生成第一电阻r1和第二电阻r2的模拟信号经转换器30转换成的具体数值，如下文所述。
Rbonding是指第一金手指221与第一连接点211或第二金手指222与第二连接点212之间的绑定阻抗；R1和R2是第一走线231、第二走线232和第三走线233上的线阻；rx1是第一连接线214的线阻，rx2是第二连接线224的线阻。处理器40根据式①和式②可以得出绑定阻抗：Rbonding＝[(r1-r2)+(rx2-rx1)]/2，其中第一连接线214和第二连接线224的走线比较短，因此阻抗也较小，进而(rx2-rx1)值可以忽略。
处理器40得出绑定阻抗Rbonding并判断该绑定阻抗Rbonding是否符合规格，进而判定绑定效果是否良好。例如当绑定阻抗Rbonding大于预设值时，即表示该绑定阻抗Rbonding不符合规格，绑定效果也就不好。
在一个实施例中，绑定阻抗测试装置还包括输出单元50，输出单元50用于显示绑定阻抗是否符合规格。输出单元50可以是提示灯或提示显示装置，通过提示灯闪烁，包括提示灯颜色变化，或者在提示显示装置的显示屏上输出提示字符的方式进行提示，使得检测相关工作人员可获知绑定阻抗是否符合质量规格要求。
[第二实施例]
图5至图7显示了绑定阻抗测试装置的第二实施例。与上述第一实施例相比，第二实施例的区别在于，在数据采样单元20中，第三测试点203与第三走线233相连后再通过第二连接线224连接至第二走线232靠近第二金手指222的一端。与上述第一实施例相比，第二实施例的装置减少了一个金手指和屏体上的连接点，屏体可以按照两点测试的方法进行设计，更加精简。
本实施例的其他结构可以参见上述第一实施例，在此不再赘述。
[第三实施例]
本发明第三实施例提供一种利用第一实施例的绑定阻抗测试装置测试绑定阻抗的方法，如图8所示，绑定阻抗测试方法包括如下步骤：
步骤S1：利用信号发生模块10发送检测信号至数据采样单元20的第一测试点201、第二测试点202和第三测试点203。
步骤S2：利用数据采样单元20生成第一测试点201与第二测试点202之间的第一电阻r1、以及第二测试点202与第三测试点203之间的第二电阻r2，并将第一电阻r1和第二电阻r2发送给处理器40。数据采样单元20的具体结构请参第一实施例或第二实施例，在此不再赘述。
步骤S3：利用处理器40接收第一电阻r1和第二电阻r2并计算出绑定阻抗Rbonding的具体数值并根据该数值判断该绑定阻抗Rbonding是否符合规格。
在步骤S3之前还包括利用转换器40将接收的第一电阻r1和第二电阻r2的模拟信号转换为数值信号。
步骤S4：利用输出单元50显示绑定阻抗Rbonding是否符合规格。
第二实施例绑定阻抗测试装置测试绑定阻抗的方法与第一实施例绑定阻抗测试装置测试绑定阻抗的方法相同，在此不作赘述。
本发明的实施例带来的有益效果是，绑定阻抗测试装置包括信号发生模块，数据采样单元和处理器，其中：信号发生模块用于发送检测信号至数据采样单元；数据采样单元上设有第一测试点、第二测试点、第三测试点；数据采样单元通过第一测试点、第二测试点和第三测试点接收检测信号并得出第一测试点与第二测试点之间的第一电阻、以及第二测试点与第三测试点之间的第二电阻，并将第一电阻和第二电阻发送给处理器；处理器用于接收第一电阻和第二电阻并进行处理得出绑定阻抗，同时判断绑定阻抗是否符合规格。本发明的三点测试法无需使用电压源、电流源等大型设备，只需普通的电阻测试设备即可得到检测结果，整个测试装置简单。
此外，本发明实施例的的绑定阻抗测试装置及绑定阻抗测试方法，测试过程中不受走线阻抗(即R1和R2)的影响，同时连接线的阻抗(即rx1和rx2)也较小，(rx2-rx1)值可以忽略，因此测试结果准确。
以上所述，仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式上的限制，虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本发明，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本发明技术方案范围内，当可利用上述揭示的技术内容作出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本发明技术方案内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本发明技术方案的范围内。
Claims (10)
1.一种绑定阻抗测试装置，其特征在于，包括信号发生模块(10)，数据采样单元(20)和处理器(40)，其中：
所述信号发生模块(10)用于发送检测信号至所述数据采样单元(20)；
所述数据采样单元(20)通过第一测试点(201)、第二测试点(202)和第三测试点(203)接收所述检测信号，得出所述第一测试点(201)与所述第二测试点(202)之间的第一电阻(r1)、以及所述第二测试点(202)与所述第三测试点(203)之间的第二电阻(r2)并发送给所述处理器(40)；
所述处理器(40)用于接收所述第一电阻(r1)和所述第二电阻(r2)并进行处理得出绑定阻抗，同时判断所述绑定阻抗是否符合规格。
2.根据权利要求1所述的绑定阻抗测试装置，其特征在于，所述数据采样单元(20)包括第一连接点(211)、第二连接点(212)和第三连接点(213)，以及与所述第一连接点(211)绑定连接的第一金手指(221)、与所述第二连接点(212)绑定连接的第二金手指(222)、与所述第三连接点(213)绑定连接的第三金手指(223)；其中，所述第一连接点(211)与所述第二连接点(212)之间通过第一连接线(214)直接连接；所述第二金手指(222)与所述第三金手指(223)之间通过第二连接线(224)直接连接；所述第一金手指(221)通过第一走线(231)与所述第一测试点(201)相连，所述第二金手指(222)通过第二走线(232)与所述第二测试点(202)相连，所述第三金手指(223)通过第三走线(233)与所述第三测试点(203)相连。
3.根据权利要求1所述的绑定阻抗测试装置，其特征在于，所述数据采样单元(20)包括第一连接点(211)和第二连接点(212)，以及与所述第一连接点(211)绑定连接的第一金手指(221)、与所述第二连接点(212)绑定连接的第二金手指(222)；其中，所述第一连接点(211)与所述第二连接点(212)之间通过第一连接线(214)直接连接；所述第一金手指(221)通过第一走线(231)与所述第一测试点(201)相连，所述第二金手指(222)通过第二走线(232)与所述第二测试点(202)相连，所述第三测试点(203)与第三走线(233)相连并通过第二连接线(224)连接至所述第二走线(232)靠近所述第二金手指(222)的一端。
4.根据权利要求2或3所述的绑定阻抗测试装置，其特征在于，所述第一走线(231)、第二走线(232)和第三走线(233)为等阻抗走线。
5.根据权利要求1所述的绑定阻抗测试装置，其特征在于，所述绑定阻抗测试装置还包括转换器(30)。
6.根据权利要求1所述的绑定阻抗测试装置，其特征在于，所述绑定阻抗测试装置还包括输出单元(50)。
7.根据权利要求6所述的绑定阻抗测试装置，其特征在于，所述输出单元(50)是提示灯或提示显示装置。
8.一种绑定阻抗测试方法，其特征在于，包括
步骤S1：利用信号发生模块(10)发送检测信号至数据采样单元(20)的第一测试点(201)、第二测试点(202)和第三测试点(203)；
步骤S2：利用数据采样单元(20)生成第一测试点(201)与第二测试点(202)之间的第一电阻(r1)、以及第二测试点(202)与第三测试点(203)之间的第二电阻(r2)，并将第一电阻(r1)和第二电阻(r2)发送给处理器(40)；
步骤S3：利用处理器(40)接收第一电阻(r1)和第二电阻(r2)并计算出绑定阻抗并判断所述绑定阻抗是否符合规格。
9.根据权利要求8所述的绑定阻抗测试方法，其特征在于，所述数据采样单元(20)包括第一连接点(211)、第二连接点(212)和第三连接点(213)，以及与所述第一连接点(211)绑定连接的第一金手指(221)、与所述第二连接点(212)绑定连接的第二金手指(222)、与所述第三连接点(213)绑定连接的第三金手指(223)；其中，所述第一连接点(211)与所述第二连接点(212)之间通过第一连接线(214)直接连接；所述第二金手指(222)与所述第三金手指(223)之间通过第二连接线(224)直接连接；所述第一金手指(221)通过第一走线(231)与所述第一测试点(201)相连，所述第二金手指(222)通过第二走线(232)与所述第二测试点(202)相连，所述第三金手指(223)通过第三走线(233)与所述第三测试点(203)相连。
10.根据权利要求8所述的绑定阻抗测试方法，其特征在于，所述数据采样单元(20)包括第一连接点(211)和第二连接点(212)，以及与所述第一连接点(211)绑定连接的第一金手指(221)、与所述第二连接点(212)绑定连接的第二金手指(222)；其中，所述第一连接点(211)与所述第二连接点(212)之间通过第一连接线(214)直接连接；所述第一金手指(221)通过第一走线(231)与所述第一测试点(201)相连，所述第二金手指(222)通过第二走线(232)与所述第二测试点(202)相连，所述第三测试点(203)与第三走线(233)相连并通过第二连接线(224)连接至所述第二走线(232)靠近所述第二金手指(222)的一端。
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