CN102172107A - 电路板、电路板组件及误插入检测装置 - Google Patents

电路板、电路板组件及误插入检测装置 Download PDF

Info

Publication number
CN102172107A
CN102172107A CN2008801314390A CN200880131439A CN102172107A CN 102172107 A CN102172107 A CN 102172107A CN 2008801314390 A CN2008801314390 A CN 2008801314390A CN 200880131439 A CN200880131439 A CN 200880131439A CN 102172107 A CN102172107 A CN 102172107A
Authority
CN
China
Prior art keywords
pin
connector
circuit board
detection
board assemblies
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN2008801314390A
Other languages
English (en)
Inventor
村上徹
海老原悟
川本裕资
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Advantest Corp
Original Assignee
Advantest Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Advantest Corp filed Critical Advantest Corp
Publication of CN102172107A publication Critical patent/CN102172107A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00—Printed circuits
    • H05K1/02—Details
    • H05K1/0266—Marks, test patterns or identification means
    • H05K1/0268—Marks, test patterns or identification means for electrical inspection or testing
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00—Printed circuits
    • H05K1/02—Details
    • H05K1/11—Printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2855—Environmental, reliability or burn-in testing
    • G01R31/286—External aspects, e.g. related to chambers, contacting devices or handlers
    • G01R31/2863—Contacting devices, e.g. sockets, burn-in boards or mounting fixtures
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R13/00—Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
    • H01R13/64—Means for preventing incorrect coupling
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/10—Details of components or other objects attached to or integrated in a printed circuit board
    • H05K2201/10007—Types of components
    • H05K2201/10189—Non-printed connector
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/10—Details of components or other objects attached to or integrated in a printed circuit board
    • H05K2201/10227—Other objects, e.g. metallic pieces
    • H05K2201/10356—Cables
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/16—Inspection; Monitoring; Aligning
    • H05K2203/163—Monitoring a manufacturing process
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/16—Inspection; Monitoring; Aligning
    • H05K2203/168—Wrong mounting prevention

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Details Of Connecting Devices For Male And Female Coupling (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Printing Elements For Providing Electric Connections Between Printed Circuits (AREA)
  • Structures For Mounting Electric Components On Printed Circuit Boards (AREA)

Abstract

电路板(30)包括形成检测用布线图案(32)的第1基板(31)和第1基板(31)上安装的复数个连接器(35A～35C)，连接器(35A～35C)分别具有的复数个引脚(36a～36h)包括通过检测用布线图案(32)相互电连接的一对检测用引脚。

Description

电路板、电路板组件及误插入检测装置
技术领域
本发明涉及包括形成导体布线的基板(Substrate)和该基板上安装的复数个连接器的电路板(Circuit Board)，以及包括该电路板的电路板组件和误插入检测装置。
背景技术
半导体集成电路元件等电子元件(以下简单地统称为DUT(Devie Under Test))的制造工序中，利用电子元件测试装置测试DUT的性能和作用。
该电子元件测试装置包括：具有与DUT电接触的插座的测试头、通过测试头测试DUT的测试机、将DUT依次搬送到测试头上并根据测试结果对测试结束的DUT分类的处理器。
历来已知的是，测试头包括安装插座的插座板和与该插座板电连接的性能板，这些板通过线缆连接。如此构成的测试头中，不论哪个板上都安装有很多连接器，可以从各个板装卸线缆。
发明内容
发明要解决的技术问题
然而，若同一个板上同一形状的连接器用于复数个用途，则存在误插入连接器的问题。如果在连接器误插入的状态下将DUT测试用电力供给至插座板，插座板上安装的电子元件有因高电压而致破坏之虞。
本发明要解决的技术问题在于，提供可防止连接器误插入的电路板、电路板组件及误插入检测装置。
解决技术问题的技术手段
(1)依据本发明，提供一种电路板，包括形成导体布线的基板和所述基板上安装的复数个连接器，其特征在于，所述连接器分别具有的复数个引脚包括通过所述导体布线相互电连接的一对检测用引脚(参照权利要求1)。
上述发明中，优选地，所述连接器的所述检测用引脚中至少一个检测用引脚的位置与所述复数个连接器中其他连接器的检测用引脚的位置不同(参照权利要求2)。
(2)依据本发明，提供一种电路板组件，包括具有形成第1导体布线的第1基板和所述第1基板上安装的复数个第1连接器的第1电路板，以及一端分别具有可与所述第1连接器嵌合的第2连接器的复数个线缆，其特征在于，所述第1连接器分别具有的复数个第1引脚包括通过所述第1导体布线相互电连接的一对检测用引脚(参照权利要求3)。
上述发明中，优选地，所述第1连接器的所述第1检测用引脚中至少一个第1检测用引脚的位置与所述复数个第1连接器中其他第1连接器的第1检测用引脚的位置不同(参照权利要求4)。
上述发明中，优选地，所述复数个线缆在另一端分别具有第3连接器，所述电路板组件还包括具有形成第2导体布线的第2基板和在所述第2基板上安装且可与所述第3连接器嵌合的复数个第4连接器的第2电路板(参照权利要求5)。
上述发明中，优选地，所述第2连接器分别具有的复数个第2引脚包括在对应所述第1检测用引脚的位置上配置的一对第2检测用引脚，所述第3连接器分别具有的复数个第3引脚包括通过所述线缆的导线与所述第2检测用引脚电连接的一对第3检测用引脚，所述第4连接器具有的复数个第4引脚包括在对应所述第3检测用引脚的位置上配置的一对第4检测用引脚，所述第4检测用引脚的一个通过所述第2导体布线与其他第4连接器的第4检测用引脚电连接(参照权利要求6)。
上述发明中，优选地，所述第2电路板的所有所述第4检测用引脚的组合通过所述第2导体布线串接(参照权利要求7)。
上述发明中，优选地，所述第3引脚还包括通过所述线缆的导线相互电连接的一对第5检测用引脚，所述第4引脚还包括在对应所述第5检测用引脚的位置上配置的一对第6检测用引脚，所述第4检测用引脚的一个通过所述第5和第6检测用引脚与其他第4连接器具有的第4检测用引脚电连接(参照权利要求8)。
上述发明中，优选地，还包括具有形成第2导体布线的第2基板的第2电路板，所述复数个线缆的另一端与所述第2基板直接连接(参照权利要求9)。
(3)依据本发明，提供一种误插入检测装置，用于检测电子元件测试装置中连接器的误插入，其特征在于，包括上述电路板组件、向所述电路板组件输入检测用信号的输入单元和基于来自所述电路板组件的所述检测用信号的有无来判断是否对所述电路板组件的测试用电力进行供给的判断单元(参照权利要求10)。
上述发明中，优选地，所述判断单元在从所述电路板组件输出所述检测用信号的情况下判断向所述电路板组件供给测试用电力，在从所述电路板组件未输出所述检测用信号的情况下判断不向所述电路板组件供给测试用电力(参照权利要求11)。
发明的有益效果
本发明中，使连接器具有的复数个引脚中的一对检测用引脚相互电连接。因此，在连接器插入后，通过确认从一个检测用引脚输入的检测用信号从另一个检测用引脚输出，可以在电力供给前确认插入位置的连接器为原本应当插入的连接器，故能够防止连接器的误插入。
附图说明
图1是本发明的实施方式中电子元件测试装置的概略断面图。
图2是本发明的实施方式中测试头的概略断面图。
图3是图2所示测试头的分解图。
图4是示出本发明的实施方式中插座板、线缆及性能板的连接关系的图。
图5是示出本发明的实施方式中误插入检测装置的框图。
图6是示出本发明的实施方式中连接器误插入的检测用线路的图。
图7是示出关于本发明的实施方式在连接器误插入情况下的连接关系的一例的图。
图8是示出关于本发明的实施方式不同方式的线缆误连接情况下的连接关系的一例的图。
图9是示出本发明其他的实施方式中性能板和线缆的连接关系的图。
符号说明
2…测试机
5…误插入检测装置
6…输入部
7…判断部
10…测试头
20…性能板
21…第2基板
22…检测用布线图案
24、24A～24C…第4连接器
30…插座板
31…第1基板
32…检测用布线图案
35、35A～35C…第1连接器
40、40A～40C…线缆
41…导线
42…检测用导线
43、43A～43C…第2连接器
45、45A～45C…第3连接器
50…误插入检测用线路
具体实施方式
下面基于附图说明本发明的实施方式。
图1是本实施方式中电子元件测试装置的概略断面图，图2是本实施方式中测试头的概略断面图，图3是图2所示测试头的分解图。
如图1所示，本实施方式中电子元件测试装置包括：与DUT电连接的测试头10、通过测试头10向DUT送出测试信号同时检查应答信号的测试机2和将DUT依次搬送到测试头10上并根据测试结果对测试结束的DUT分类的处理器1。该电子元件测试装置是在对DUT施加高温或低温热应力的状态下(或常温状态下)测试DUT是否恰当工作，并根据该测试结果将DUT分类的装置。
如图1所示，测试头10的上部设有测试时与DUT电接触的插座33。如同图所示，该插座33通过处理器1形成的开口1a进入处理器1的内部，由处理器1将搬送而来的DUT按压到插座33。另外，作为处理器1，可以使用导热板型或箱室型。
如图2和图3所示，测试头10包括测试头主体11和接口板15(接口装置)。测试头主体11内部容纳有含有用于DUT的测试的电子电路的引脚电路板12。引脚电路板12通过图1所示线缆3与测试机2电连接，同时通过连接器13、16与接口板15可装卸地连接。
接口板15安装在测试头主体11上，用于在测试头主体11和性能板20(后述)之间进行电中继。该接口板15上部设有用于与性能板20电连接的连接器17。接口板15具有的连接器16、17通过线缆18电连接。
本实施方式中测试头10还包括插座板30和性能板20。
性能板20安装在接口板15上，包括第2基板21、第2基板21上面安装的第4连接器24和第2基板下面安装的连接器23。连接器23、24通过第2基板21上形成的布线图案和通孔(图未示出)电连接。下侧的连接器23可嵌合到接口板15上侧的连接器17，通过这些连接器17、23的嵌合，使接口板15和性能板20电连接。另外，上述第4连接器24为参照图4～图8在后面说明的3个第4连接器24A～24C的总称。另外，图2和图3中仅示出了2个第4连接器24，但实际上数十～数百个连接器24安装在一个性能板20上。
插座板30设置在性能板20上，包括上面安装上述插座33的第1基板31和第1基板31下面安装的复数个第1连接器35。另外，实际上，1个性能板20上设有一个或复数个插座板30。插座33有复数个接触引脚34，在DUT的测试时，通过这些接触引脚34与从DUT导出的端子接触，插座和DUT电连接。插座33和第1连接器35通过形成于第1基板31的布线图案和通孔(图未示出)电连接。另外，上述第1连接器35为参照图4～图8在后面说明的3个第1连接器35A～35C的总称。另外，在图2和图3中仅示出2个第1连接器35，但实际上一个插座板30上安装有数十个的连接器35。
性能板20和插座板30通过线缆40电连接。该线缆40的上端连接可嵌合到插座板30的第1连接器35的第2连接器43，可将线缆40装卸于插座板30。另一方面，线缆40的下端连接可嵌合到性能板20的第4连接器24的第3连接器45，可将线缆40装卸于性能板20。另外，上述第2连接器43为参照图4～图8在后面说明的3个第2连接器43A～43C的总称，上述第3连接器45也是参照同图在后面说明的3个第3连接器45A～45C的总称。另外，上述线缆40为参照图4～图8在后面说明的3个线缆40A～40C的总称。
图4是示出本实施方式中插座板、线缆和性能板的连接关系的图，图5是示出本实施方式中误插入检测装置的框图。
下面参照图4和图5，说明第1～第4连接器的构成及它们的连接关系。另外，虽然为易于理解，图4～图8中以通过3组线缆40A～40C连接性能板20和插座板30的情况为例进行说明，但实际上性能板20和插座板30通过数十组的线缆40连接。
图4所示的3个第1连接器35A～35C为例如具有保持在绝缘性外壳中的8个引脚36a～36h的插座型连接器。另外，以下对于任一个连接器，均是从图4中左侧开始朝着右侧将各个连接器具有的8个引脚称为第1引脚、第2引脚、…、第8引脚。3个第1连接器35A～35C的任一个均具有相同结构，但是用于检测连接器误插入的引脚(检测用引脚)的位置不同。另外，本实施方式中“检测用引脚”并非与连接器具有的其他引脚在构成上不同，而是为明确与该其他引脚的用途的差异而方便地采用的表达。另外，连接器具有的引脚的个数无特别限定，实际上一个连接器上设有数十个引脚。
图4中左侧的第1连接器35A中，第1和第2引脚36a、36b(第1检测用引脚)通过第1基板31上形成的检测用布线图案32相互间直接连接。另一方面，虽未在图中特别示出，但第2～第6引脚36c～36f也连接到第1基板31上的布线图案，而这些引脚36c～36f相互未直接连接。
该左侧的第1连接器35A中，第1和第2引脚36a、36b用于第1和第2连接器35A、43A的误插入的检测，第3～第6引脚36c～36f用于DUT的测试，第7和第8引脚36g、36h未特别使用。
与此相对，图4中中央的的第1连接器35B中，与前述第1连接器35A不同，第3和第4引脚36c、36d(第1检测用引脚)通过检测用布线图案32相互直接连接。另一方面，虽未在图中特别示出，但第1、第2、第5和第6引脚36a、36b、36e、36f也与第1基板31上的布线图案连接，然而这些引脚36a、36b、36e、36f相互间并不直接连接。
该中央的第1连接器35B中，第3和第4引脚36c、36d用于第1和第2连接器35B、43B误插入的检测，第1、第2、第5和第6连接器36a、36b、36e、36f用于DUT测试，第7和第8引脚36g、36h未特别使用。
一方面，图4中右侧的第1连接器35C中，与前述第1连接器35A、35B不同，第6和第7连接器36e、36f(第1检测用引脚)通过检测用布线图案32相互直接连接。另一方面，虽未在图中特别示出，但第1～第4引脚36a～36d也与第1基板31上的布线图案连接，然而这些引脚36a～36d相互并不直接连接。
该右侧的第1连接器35c中，第5和第6引脚36e、36f用于第1和第2连接器35C、43C误插入的检测，第1～第4引脚36a～36d用于DUT测试，第7和第8引脚36g、36h未特别使用。
如上述，通过改变每个连接器检测用引脚的位置，即使同一插座板30上同一形状的连接器用于复数个用途，也能够更加可靠地防止连接器的误插入。另外，虽然全部不重复地说明了3个连接器35A～35C的检测用引脚的位置，但并不特别限定于此。2个检测用引脚中至少一个检测用引脚的位置与其他连接器的2个检测用引脚的位置不同即可。
图4所示的3个第2连接器43A～43C为例如具有在绝缘性外壳中保持的8个引脚44a～44h的插头型连接器。3个第2连接器43A～43C的任一个都有相同结构。另外，将第2连接器43A～43C作为插座型连接器也可，该情况下第1连接器35A～35C则为插头型连接器。
第2连接器43A～43C的引脚44a～44h在嵌合时可与第1连接器35A～35C的引脚36a～36h分别接触。因此，图4中左侧的第2连接器43A的第1和第2引脚44a、44b，中央的第2连接器43B的第3和第4引脚44c、44d，以及右侧的第2连接器43C中的第5和第6引脚44e、44f，相当于本发明的第2检测用引脚的一例。
图4所示的3个第3连接器45A～45C也为例如具有在绝缘性的外壳中保持的8个引脚46a～46h的插头型连接器，任一个都有相同结构。图4中左侧的第3连接器45A中，第1～第6引脚46a～46f通过线缆40A的导线41与第2连接器43A的第1～第6引脚44a～44f分别电连接。因此，图4中左侧的第3连接器45A的第1和第2引脚46a、46b，中央的第3连接器45B的第3和第4引脚46c、46d，以及右侧的第3连接器45C的第5和第6引脚46e、46f，相当于本发明的第3检测用引脚的一例。
左侧的第3连接器45A的第7和第8引脚46g、46h(第5检测用引脚)通过线缆40A的检测用导线42相互电连接。另外，第2连接器43A也是同样，第7和第8引脚44g、44h通过线缆40A的导线相互电连接。图4中中央和右侧的第3连接器45B、45C亦是相同要领，通过线缆40B、40C与第2连接器43B、43C连接。对于任一个第3连接器45A～45C，均是第7和第8引脚46g、46h用于检测不同方式的线缆是否误连接。
图4所示的3个第4连接器24A～24C为例如具有在绝缘性外壳内保持的8个引脚25a～25h的插座型连接器，任一个均有相同结构。另外，将第4连接器24A～24C作为插头型连接器亦可，该情况下第3连接器45A～45C则为插座型连接器。
第4连接器24A～24C的引脚25a～25h可与第3连接器45A～45C的引脚46a～46h分别接触，对于任一个第4连接器24A～24C，均是第7和第8引脚25g、25h(第6检测用引脚)用于检测不同方式的线缆是否误连接。与此相对，对应于第1连接器35A～35C，各个第4连接器24A～24C中，第1～第6引脚25a～25f中的任意2个引脚用于检测连接器误插入。
图4中左侧的第4连接器24A中，第1和第2引脚25a、25b(第4检测用引脚)用于检测连接器的误插入，第3～第6引脚25c～25f用于DUT测试。该左侧的第4连接器24A中，第2引脚25b通过形成于第2基板21的检测用布线图案22与第7引脚25g连接，并且，第8引脚25h通过检测用布线图案22与中央的第4连接器24B的第3引脚25c连接。
与此相对，图4中中央的第4连接器24B中，第3和第4引脚25c、25d(第4检测用引脚)用于检测连接器的误插入，第1、第2、第5和第6引脚25a、25b、25e、25f用于DUT测试。该中央的第4连接器24B中，第4引脚25d通过检测用布线图案22与第7引脚25g连接，并且，第8引脚25h通过检测用布线图案22与右侧的第4连接器24C的第5引脚25e连接。
另一方面，图4中右侧的第4连接器24C中，第5和第6引脚25e、25f(第4检测用引脚)用于检测连接器的误插入，第1～第4引脚25a～25d用于DUT测试。该右侧的第4连接器24C中，第6引脚25f通过检测用布线图案22与第7引脚25g连接。
另外，在无须确认线缆40A～40C的情况下，第4连接器24A～24C的第4检测用引脚相互通过检测用布线图案22直接连接，将第7和第8引脚25g、25h用于DUT测试也是可以的。
如图5所示，左侧的第4连接器24A的第1引脚25a和右侧的第4连接器24C的第8引脚25h连接到设置在测试机2中的误插入检测装置5。
该误插入检测装置5是用于检测第2连接器43A～43C对第1连接器35A～35C的误插入的装置，包括输入部6和判断部7。另外，从结果来看，该误插入检测装置5也能够检测第3连接器45A～45C对第4连接器24A～24C的误插入。
输入部6连接到左侧的第4连接器24A的第1引脚25a，可以向第1引脚25a输入用于检测连接器的误插入的检测用信号。另外，作为该检测用信号，也可以使用用于确认接口板15是否安装在测试头主体11上的确认用信号。
判断部7连接到右侧的第4连接器24C的第8引脚25h，可以确认输入部6输入的检测用信号是否从第8引脚25h输出。在确认检测用信号输出的情况下，判断部7对测试机2的电力供给部4许可用于DUT测试的电力供给。与此相对，在未确认检测用信号输出的情况下，判断部7不对电力供给部4许可测试用电力的供给。
接下来说明作用。
图6是示出本实施方式中误插入检测线路的图，图7是示出关于本实施方式在连接器误插入情况下的连接关系的一例的图，图8是示出关于本实施方式不同方式的线缆误连接情况下的一例的图。
首先，对于图4所示实例，参照图6说明全部连接器正确插入的情况。
如图6所示，第2连接器43A～43C分别插入到第1连接器35A～35C的同时，第3连接器45A～45C分别插入到第4连接器24A～24C，在左侧的第4连接器24A的第1引脚25a和右侧的第4连接器24C的第8引脚25h之间，形成全部检测用引脚串联连接的误插入检测用线路50。对于该状态，一旦误插入检测装置5的输入部6输入检测用信号，该检测用信号通过误插入检测用线路50输出到判断部7，判断部7对电源供给部6许可测试用电力的供给。另外，形成复数条误插入检测用线路也是可以的，形成每个连接器的误插入检测用线路以一个一个地检测各个连接器的误插入也是可以的。
与此相对，例如图7所示，将本来应该插入到左侧的第1连接器35A的第2连接器43A误插入中央的第1连接器35B，同时将本来应该插入中央的第1连接器35B的第2连接器43B误插入左侧的第1连接器35A的情况下，由于中央的第1连接器35B的第1引脚36a和第2引脚36b未相互连接，故不形成误插入检测用线路50。
另外，例如图8所示，作为中央的线缆，在误使用无检测用导线42的线缆40’的情况下，在中央的第2连接器45B的第7引脚46g和第8引脚46h之间，误插入检测用线路50断路。
在图7和图8所示情况下，即使误插入检测装置5的输入部6输入检测用信号，由于该检测用信号未输出到判断部7，判断部7也不会对电源供给部6许可测试用电力的供给。
如上所示，本实施方式中，使第1连接器35A～35C具有的复数个引脚36a～36h中的一对检测用引脚相互电连接。因此，在连接器插入后，通过确认从一个检测用引脚输入检测用信号且该检测用信号从另一个检测用引脚输出，在供给测试用电力前，能够确认插入位置的连接器为本来应该插入的连接器。
另外，本实施方式中，使第3连接器45A～45C具有的复数个引脚46a～46h中的一对检测用引脚相互电连接。因此，在连接器插入后，通过确认从一个检测用引脚输入检测用信号且该检测用信号从另一个检测用引脚输出，能够确认正确方式的线缆的连接。
另外，以上说明的实施方式为容易理解本发明而记载，并非用于限定本发明。因此，上述实施方式中公开的各要素旨在包括本发明的技术范围内所属的全部设计上的变更和等同替换。
例如，不使用第3和第4连接器45、24，将线缆40的下端通过焊锡球直接连接到第2基板21上的布线图案也是可以的。
另外，在性能板20的第4连接器24上设有相互电连接的一对检测用引脚，检测第3连接器46对第4连接器24的误插入也是可以的。例如，在图9所示实例中，第4连接器24的第1和第2引脚25a、25b(第1检测用引脚)用于检测第3连接器45对第4连接器24的误插入之目的。如同图所示，第4连接器24的第1引脚25a和第2引脚25b通过性能板20的第2基板21上形成的检测用布线图案22而相互电连接。另外，该情况下，本实施方式的第4连接器24相当于本发明的第1连接器的一例，本实施方式的第3连接器45相当于本发明的第2连接器的一例。另外，虽未在图中示出，但通过改变每个连接器的检测用引脚的位置，能够更可靠地防止连接器的误插入。另外，该情况下，不使用第1和第2连接器35、43，将线缆40的上端通过焊锡球直接连接到第1基板31上的布线图案也是可以的。

Claims (11)

1.一种电路板，包括形成导体布线的基板和所述基板上安装的复数个连接器，其特征在于，
所述连接器分别具有的复数个引脚包括通过所述导体布线相互电连接的一对检测用引脚。
2.根据权利要求1所述的电路板，其特征在于，所述连接器的所述检测用引脚中至少一个检测用引脚的位置与所述复数个连接器中其他连接器的检测用引脚的位置不同。
3.一种电路板组件，包括具有形成第1导体布线的第1基板和所述第1基板上安装的复数个第1连接器的第1电路板，
以及一端分别具有可与所述第1连接器嵌合的第2连接器的复数个线缆，其特征在于，
所述第1连接器分别具有的复数个第1引脚包括通过所述第1导体布线相互电连接的一对检测用引脚。
4.根据权利要求3所述的电路板组件，其特征在于，所述第1连接器的所述第1检测用引脚中至少一个第1检测用引脚的位置与所述复数个第1连接器中其他第1连接器的第1检测用引脚的位置不同。
5.根据权利要求3或4所述的电路板组件，其特征在于，所述复数个线缆在另一端分别具有第3连接器，
所述电路板组件还包括具有形成第2导体布线的第2基板和在所述第2基板上安装且可与所述第3连接器嵌合的复数个第4连接器的第2电路板。
6.根据权利要求5或6所述的电路板组件，其特征在于，所述第2连接器分别具有的复数个第2引脚包括在对应所述第1检测用引脚的位置上配置的一对第2检测用引脚，
所述第3连接器分别具有的复数个第3引脚包括通过所述线缆的导线与所述第2检测用引脚电连接的一对第3检测用引脚，
所述第4连接器具有的复数个第4引脚包括在对应所述第3检测用引脚的位置上配置的一对第4检测用引脚，
所述第4检测用引脚的一个通过所述第2导体布线与其他第4连接器的第4检测用引脚电连接。
7.根据权利要求6所述的电路板组件，其特征在于，所述第2电路板的所有所述第4检测用引脚的组合通过所述第2导体布线串接。
8.根据权利要求6或7所述的电路板组件，其特征在于，所述第3引脚还包括通过所述线缆的导线相互电连接的一对第5检测用引脚，
所述第4引脚还包括在对应所述第5检测用引脚的位置上配置的一对第6检测用引脚，所述第4检测用引脚的一个通过所述第5和第6检测用引脚与其他第4连接器具有的第4检测用引脚电连接。
9.根据权利要求3或4所述的电路板组件，其特征在于，还包括具有形成第2导体布线的第2基板的第2电路板，所述复数个线缆的另一端与所述第2基板直接连接。
10.一种误插入检测装置，用于检测电子元件测试装置中连接器的误插入，其特征在于，包括
权利要求3～9中任一项所述的电路板组件、
向所述电路板组件输入检测用信号的输入单元，和
基于来自所述电路板组件的所述检测用信号的有无来判断是否对所述电路板组件的测试用电力进行供给的判断单元。
11.根据权利要求10所述的误插入检测装置，其特征在于，所述判断单元在从所述电路板组件输出所述检测用信号的情况下判断向所述电路板组件供给测试用电力，在从所述电路板组件未输出所述检测用信号的情况下判断不向所述电路板组件供给测试用电力。
CN2008801314390A 2008-10-09 2008-10-09 电路板、电路板组件及误插入检测装置 Pending CN102172107A (zh)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/JP2008/068390 WO2010041324A1 (ja) 2008-10-09 2008-10-09 回路ボード、回路ボードアッセンブリ及び誤挿入検出装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN102172107A true CN102172107A (zh) 2011-08-31

Family

ID=42100289

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2008801314390A Pending CN102172107A (zh) 2008-10-09 2008-10-09 电路板、电路板组件及误插入检测装置

Country Status (5)

Country Link
JP (1) JP5351171B2 (zh)
KR (1) KR101226466B1 (zh)
CN (1) CN102172107A (zh)
TW (1) TWI405981B (zh)
WO (1) WO2010041324A1 (zh)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105467256A (zh) * 2015-05-14 2016-04-06 华润赛美科微电子(深圳)有限公司 芯片测试分选方法
CN107103869A (zh) * 2017-06-26 2017-08-29 上海天马微电子有限公司 一种显示用测试系统及其测试方法
CN108666824A (zh) * 2017-03-31 2018-10-16 比亚迪股份有限公司 轨道交通车辆及其门系统的接插组件和接插组件的方法
CN113655646A (zh) * 2021-08-16 2021-11-16 京东方科技集团股份有限公司 显示面板、显示模组及显示装置

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108469583B (zh) * 2018-05-28 2024-03-22 格力电器（郑州）有限公司 一种ict测试仪

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02247990A (ja) * 1989-03-20 1990-10-03 Fujitsu Ltd ユニット間ケーブルの接続状態検出方法
JP2005224539A (ja) * 2004-02-16 2005-08-25 Olympia:Kk 遊技機

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWM277161U (en) * 2005-05-17 2005-10-01 Joinsoon Electronic Mfg Co Ltd Connector assembly with prevention of faulty insertion
TW200725260A (en) * 2005-12-30 2007-07-01 Mitac Int Corp Error insertion simulation device for computer test

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02247990A (ja) * 1989-03-20 1990-10-03 Fujitsu Ltd ユニット間ケーブルの接続状態検出方法
JP2005224539A (ja) * 2004-02-16 2005-08-25 Olympia:Kk 遊技機

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105467256A (zh) * 2015-05-14 2016-04-06 华润赛美科微电子(深圳)有限公司 芯片测试分选方法
CN108666824A (zh) * 2017-03-31 2018-10-16 比亚迪股份有限公司 轨道交通车辆及其门系统的接插组件和接插组件的方法
CN108666824B (zh) * 2017-03-31 2020-11-20 比亚迪股份有限公司 轨道交通车辆及其门系统的接插组件和接插组件的方法
CN107103869A (zh) * 2017-06-26 2017-08-29 上海天马微电子有限公司 一种显示用测试系统及其测试方法
CN113655646A (zh) * 2021-08-16 2021-11-16 京东方科技集团股份有限公司 显示面板、显示模组及显示装置
CN113655646B (zh) * 2021-08-16 2023-10-24 京东方科技集团股份有限公司 显示面板、显示模组及显示装置

Also Published As

Publication number Publication date
WO2010041324A1 (ja) 2010-04-15
JPWO2010041324A1 (ja) 2012-03-01
KR101226466B1 (ko) 2013-01-28
TW201027093A (en) 2010-07-16
JP5351171B2 (ja) 2013-11-27
KR20110082021A (ko) 2011-07-15
TWI405981B (zh) 2013-08-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6951482B1 (en) Controlled-impedance coaxial cable interconnect system
US6252415B1 (en) Pin block structure for mounting contact pins
US20060082358A1 (en) Interface apparatus for semiconductor device tester
US5945838A (en) Apparatus for testing circuit boards
CN111796177B (zh) 中介板、插座、插座组装体以及线路板组装体
CN102172107A (zh) 电路板、电路板组件及误插入检测装置
CN108432053A (zh) 高速板连接器
CN109417253B (zh) 电导体连接元件
KR102344108B1 (ko) 프로브 카드와 테스터를 연결하기 위한 접속 장치
JPH0520701B2 (zh)
KR101149748B1 (ko) 전기접속구조, 단자장치, 소켓, 전자부품시험장치 및 소켓의 제조방법
US7816933B2 (en) Semi-generic in-circuit test fixture
CN101661078A (zh) 电路板及电路板测试装置
US7288949B2 (en) Semiconductor test interface
CN108627677B (zh) 弹性卡销以及具有其的测试插座
US20030234656A1 (en) Wireless test fixture adapter for printed circuit assembly tester
KR102075484B1 (ko) 반도체 테스트용 소켓
CN101324636A (zh) 用于检测电路板的导接模块
KR101249022B1 (ko) 하이 스피드 번인 테스트 장치
US6507205B1 (en) Load board with matrix card for interfacing to test device
US20090079458A1 (en) Small pitch ball grid array of a package assembly for use with conventional burn-in sockets
KR101249020B1 (ko) 하이 스피드 번인 테스트 장치
KR100480665B1 (ko) 수직식 프로브 장치
US6605952B2 (en) Zero connection for on-chip testing
CN211979135U (zh) 一种固态继电器老化板装置

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
AD01 Patent right deemed abandoned

Effective date of abandoning: 20110831

C20 Patent right or utility model deemed to be abandoned or is abandoned