JPWO2010041324A1 - 回路ボード、回路ボードアッセンブリ及び誤挿入検出装置 - Google Patents

Abstract

回路ボード（３０）は、検出用配線パターン（３２）が形成された第１基板（３１）と、第１の基板（３１）に実装された複数のコネクタ（３５Ａ〜３５Ｃ）と、を備えており、コネクタ（３５Ａ〜３５Ｃ）がそれぞれ有する複数のピン（３６ａ〜３６ｈ）は、検出用配線パターン（３２）を介して相互に電気的に接続された一対の検出用ピンを含んでいる。

Description

本発明は、導体配線が形成された基板（Substrate）と、その基板に実装された複数のコネクタと、を備えた回路ボード（Circuit Board）、並びに、それを備えた回路ボードアッセンブリ及び誤挿入検出装置に関する。

半導体集積回路素子等の電子部品（以下、単に、ＤＵＴ（Device Under Test）とも称する。）の製造工程では、電子部品試験装置を用いてＤＵＴの性能や機能を試験する。

この電子部品試験装置は、ＤＵＴと電気的に接触するソケットを有するテストヘッドと、テストヘッドを介してＤＵＴを試験するテスタと、ＤＵＴをテストヘッド上に順次搬送し、テストが終了したＤＵＴを試験結果に応じて分類するハンドラと、を備えている。

テストヘッドは、ソケットが実装されたソケットボードと、このソケットボードと電気的に接続されているパフォーマンスボードと、を備えており、ケーブルを介してこれらのボードを接続したものが知られている。このような構成のテストヘッドでは、いずれのボードにも多数のコネクタが実装されており、それぞれのボードからケーブルを着脱することが可能となっている。

しかしながら、同一のボードにおいて同一形状のコネクタが複数の用途で用いられていると、コネクタを誤挿入してしまうという問題があった。コネクタを誤挿入した状態でＤＵＴのテスト用の電力をソケットボードに供給すると、ソケットボードに実装された電子部品が高電圧により破損してしまうおそれがある。

本発明が解決しようとする課題は、コネクタの誤挿入を防止可能な回路ボード、回路ボードアッセンブリ及び誤挿入検出装置を提供することである。

（１）本発明によれば、導体配線が形成された基板と、前記基板に実装された複数のコネクタと、を備えた回路ボードであって、前記コネクタがそれぞれ有する複数のピンは、前記導体配線を介して相互に電気的に接続された一対の検出用ピンを含むことを特徴とする回路ボードが提供される（請求項１参照）。

上記発明において、前記コネクタにおける前記検出用ピンのうちの少なくとも一方の検出用ピンの位置が、前記複数のコネクタのうちの他のコネクタにおける検出用ピンの位置と異なっていることが好ましい（請求項２参照）。

（２）本発明によれば、第１の導体配線が形成された第１の基板、及び、前記第１の基板に実装された複数の第１のコネクタと、を有する第１の回路ボードと、前記第１のコネクタと嵌合可能な第２のコネクタを一端にそれぞれ有する複数のケーブルと、を備えた回路ボードアッセンブリであって、前記第１のコネクタがそれぞれ有する複数の第１のピンは、前記第１の導体配線を介して相互に電気的に接続された一対の第１の検出用ピンを含むことを特徴とする回路ボードアッセンブリが提供される（請求項３参照）。

上記発明において、前記第１のコネクタにおける前記第１の検出用ピンのうちの少なくとも一方の第１の検出用ピンの位置が、前記複数の第１のコネクタのうちの他の第１のコネクタにおける第１の検出用ピンの位置と異なっていることが好ましい（請求項４参照）。

上記発明において、前記複数のケーブルは、第３のコネクタを他端にそれぞれ有し、前記回路ボードアッセンブリは、第２の導体配線が形成された第２の基板、及び、前記第２の基板に実装され、前記第３のコネクタと嵌合可能な複数の第４のコネクタを有する第２の回路ボードをさらに備えたことが好ましい（請求項５参照）。

上記発明において、前記第２のコネクタがそれぞれ有する複数の第２のピンは、前記第１の検出用ピンに対応する位置に配置された一対の第２の検出用ピンを含み、前記第３のコネクタがそれぞれ有する複数の第３のピンは、前記ケーブルの導線を介して前記第２の検出用ピンに電気的に接続された一対の第３の検出用ピンを含み、前記第４のコネクタが有する複数の第４のピンは、前記第３の検出用ピンに対応する位置に配置された一対の第４の検出用ピンを含んでおり、前記第４の検出用ピンの一方は、前記第２の導体配線を介して、他の第４のコネクタの第４の検出用ピンに電気的に接続されていることが好ましい（請求項６参照）。

上記発明において、前記第２の回路ボードにおける全ての前記第４の検出用ピンの組み合わせが、前記第２の導体配線を介して直列接続されていることが好ましい（請求項７参照）。

上記発明において、前記第３のピンは、前記ケーブルの導線を介して相互に電気的に接続された一対の第５の検出用ピンをさらに含み、前記第４のピンは、前記第５の検出用ピンに対応する位置に配置された一対の第６の検出用ピンをさらに含んでおり、前記第４の検出用ピンの一方は、前記第５及び第６の検出用ピンを介して、他の第４のコネクタが有する第４の検出用ピンに電気的に接続されていることが好ましい（請求項８参照）。

上記発明において、第２の導体配線が形成された第２の基板を有する第２の回路ボードをさらに備えており、前記複数のケーブルの他端は、前記第２の基板に直接接続されていることが好ましい（請求項９参照）。

（３）本発明によれば、電子部品試験装置においてコネクタの誤挿入を検出するための誤挿入検出装置であって、上記の回路ボードアッセンブリと、前記回路ボードアッセンブリに検出用信号を入力する入力手段と、前記回路ボードアッセンブリからの前記検出用信号の出力の有無に基づいて、前記回路ボードアッセンブリへのテスト用電力の供給の可否を判断する判断手段と、を備えたことを特徴とする誤挿入検出装置が提供される（請求項１０参照）。

上記発明において、前記判断手段は、前記回路ボードアッセンブリから前記検出用信号が出力された場合に、前記回路ボードアッセンブリへテスト用電力を供給するように判断し、前記回路ボードアッセンブリから前記検出用信号が出力されなかった場合に、前記回路ボードアッセンブリへテスト用電力を供給しないように判断することが好ましい（請求項１１参照）。

本発明では、コネクタが有する複数のピンのうちの一対の検出用ピンを相互に電気的に接続している。このため、コネクタの挿入後に、一方の検出用ピンから入力した検出用信号が他方の検出用ピンから出力されたことを確認することで、電力供給前に、挿入先のコネクタが本来挿入されるべきコネクタであることを確認することができるので、コネクタの誤挿入を防止することができる。

図１は、本発明の実施形態における電子部品試験装置の概略断面図である。 図２は、本発明の実施形態におけるテストヘッドの概略断面図である。 図３は、図２に示すテストヘッドの分解図である。 図４は、本発明の実施形態におけるソケットボード、ケーブル及びパフォーマンスボードの接続関係を示す図である。 図５は、本発明の実施形態における誤挿入検出装置を示すブロック図である。 図６は、本発明の実施形態におけるコネクタ誤挿入の検出用経路を示す図である。 図７は、本発明の実施形態においてコネクタが誤挿入された場合の接続関係の一例を示す図である。 図８は、本発明の実施形態において異なる仕様のケーブルが誤って接続された場合の接続関係の一例を示す図である。 図９は、本発明の他の実施形態におけるパフォーマンスボードとケーブルの接続関係を示す図である。

２…テスタ
５…誤挿入検出装置
６…入力部
７…判断部
１０…テストヘッド
２０…パフォーマンスボード
２１…第２の基板
２２…検出用配線パターン
２４，２４Ａ〜２４Ｃ…第４のコネクタ
３０…ソケットボード
３１…第１の基板
３２…検出用配線パターン
３５，３５Ａ〜３５Ｃ…第１のコネクタ
４０，４０Ａ〜４０Ｃ…ケーブル
４１…導線
４２…検出用導線
４３，４３Ａ〜４３Ｃ…第２のコネクタ
４５，４５Ａ〜４５Ｃ…第３のコネクタ
５０…誤挿入検出用経路

以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。

図１は本実施形態における電子部品試験装置の概略断面図、図２は本実施形態におけるテストヘッドの概略断面図、図３は図２に示すテストヘッドの分解図である。

本実施形態における電子部品試験装置は、図１に示すように、ＤＵＴと電気的に接続されるテストヘッド１０と、テストヘッド１０を介してＤＵＴに試験信号を送出すると共に応答信号を検査するテスタ２と、ＤＵＴをテストヘッド１０上に順次搬送し、テストが終了したＤＵＴを試験結果に応じて分類するハンドラ１と、を備えている。この電子部品試験装置は、ＤＵＴに高温又は低温の熱ストレスを印加した状態（或いは常温状態）で、ＤＵＴが適切に動作するか否かを試験し、当該試験結果に応じてＤＵＴを分類する装置である。

図１に示すように、テストヘッド１０の上部には、テストの際にＤＵＴに電気的に接触するソケット３３が設けられている。このソケット３３は、同図に示すように、ハンドラ１に形成された開口１ａを介して、ハンドラ１の内部に入り込んでおり、搬送されてきたＤＵＴがハンドラ１によりソケット３３に押し付けられる。なお、ハンドラ１としては、ヒートプレートタイプやチャンバタイプのものを用いることができる。

テストヘッド１０は、図２及び図３に示すように、テストヘッド本体１１とハイフィックス１５（インタフェース装置）を備えている。テストヘッド本体１１の内部には、ＤＵＴの試験に用いられる電子回路が組み込まれたピンエレクトロニクスカード１２が収容されている。ピンエレクトロニクスカード１２は、図１に示すケーブル３を介して、テスタ２に電気的に接続されていると共に、コネクタ１３，１６を介して、ハイフィックス１５に着脱可能に接続されている。

ハイフィックス１５は、テストヘッド本体１１とパフォーマンスボード２０（後述）との間を電気的に中継するために、テストヘッド本体１１の上に装着されている。このハイフィックス１５の上部には、パフォーマンスボード２０と電気的に接続するためのコネクタ１７が設けられている。ハイフィックス１５が有するコネクタ１６，１７は、ケーブル１８を介して電気的に接続されている。

本実施形態におけるテストヘッド１０は、ソケットボード３０とパフォーマンスボード２０をさらに備えている。

パフォーマンスボード２０は、ハイフィックス１５の上に装着されており、第２の基板２１と、第２の基板２１の上面に実装された第４のコネクタ２４と、第２の基板２１の下面に実装されたコネクタ２３と、を備えている。コネクタ２３，２４は、第２の基板２１に形成された配線パターンやスルーホール（不図示）を介して電気的に接続されている。下側のコネクタ２３は、ハイフィックス１５の上側のコネクタ１７に嵌合可能となっており、これらのコネクタ１７，２３が嵌合することで、ハイフィックス１５とパフォーマンスボード２０とが電気的に接続されるようになっている。なお、上述の第４のコネクタ２４は、図４〜図８を参照しながら後で説明する３つの第４のコネクタ２４Ａ〜２４Ｃの総称である。また、図２及び図３では第４のコネクタ２４を２つしか図示していないが、実際には、数十〜数百個ものコネクタ２４が一枚のパフォーマンスボード２０に実装されている。

ソケットボード３０は、パフォーマンスボード２０の上に設けられており、上述のソケット３３が上面に実装された第１の基板３１と、第１の基板３１の下面に実装された複数の第１のコネクタ３５と、を備えている。なお、実際には、１枚のパフォーマンスボード２０の上に１枚或いは複数枚のソケットボード３０が設けられている。ソケット３３は、複数のコンタクトピン３４を有しており、ＤＵＴのテスト時に、これらコンタクトピン３４とＤＵＴから導出する端子とが接触することで、ソケットとＤＵＴが電気的に接続される。ソケット３３と第１のコネクタ３５とは、第１の基板３１に形成された配線パターンやスルーホール（不図示）を介して電気的に接続されている。なお、上述の第１のコネクタ３５は、図４〜図８を参照しながら後で説明する３つの第１のコネクタ３５Ａ〜３５Ｃの総称である。また、図２及び図３では第１のコネクタ３５を２つしか図示していないが、実際には一枚のソケットボード３０に数十個ものコネクタ３５が実装されている。

パフォーマンスボード２０とソケットボード３０とは、ケーブル４０を介して電気的に接続されている。このケーブル４０の上端には、ソケットボード３０の第１のコネクタ３５に嵌合可能な第２のコネクタ４３が接続されており、ケーブル４０をソケットボード３０から着脱することが可能となっている。一方、ケーブル４０の下端には、パフォーマンスボード２０の第４のコネクタ２４に嵌合可能な第３のコネクタ４５が接続されており、ケーブル４０をパフォーマンスボード２０から着脱することが可能となっている。なお、上述の第２のコネクタ４３は、図４〜図８を参照しながら後に説明する３つの第２のコネクタ４３Ａ〜４３Ｃの総称であり、上述の第３のコネクタ４５も、同図を参照しながら後に説明する３つの第３のコネクタ４５Ａ〜４５Ｃの総称である。また、上述のケーブル４０は、図４〜図８を参照しながら後に説明する３つのケーブル４０Ａ〜４０Ｃの総称である。

図４は本実施形態におけるソケットボード、ケーブル及びパフォーマンスボードの接続関係を示す図、図５は本実施形態における誤挿入検出装置を示すブロック図である。

以下に、図４及び図５を参照しながら、第１〜第４のコネクタの構成及びそれらの接続関係について説明する。なお、理解を容易にするために、図４〜図８では３組のケーブル４０Ａ〜４０Ｃによってパフォーマンスボード２０とソケットボード３０とを接続する場合を例にとって説明するが、実際にはパフォーマンスボード２０とソケットボード３０とは数十組のケーブル４０を介して接続されている。

図４に示す３つの第１のコネクタ３５Ａ〜３５Ｃは、例えば絶縁性のハウジングに保持された８本のピン３６ａ〜３６ｈを有するレセプタクル型コネクタである。なお、以下において、いずれのコネクタについても、それぞれのコネクタが有する８本のピンを、図４中において左側から右側に向かって、第１のピン、第２のピン、…、第８のピンと称する。３つの第１のコネクタ３５Ａ〜３５Ｃは、いずれも同一構造を有しているが、コネクタの誤挿入を検出するためのピン（検出用ピン）の位置が相違している。なお、本実施形態における「検出用ピン」は、コネクタが有する他のピンと構成上の相違はなく、当該他のピンとの用途の違いを明確にするために便宜的に用いた表現である。また、コネクタが有するピンの本数は特に限定されず、実際には一つのコネクタに数十本のピンが設けられている。

図４中において左側の第１のコネクタ３５Ａでは、第１及び第２のピン３６ａ，３６ｂ（第１の検出用ピン）が、第１の基板３１に形成された検出用配線パターン３２を介して相互に直接的に接続されている。一方、特に図示しないが、第２〜第６のピン３６ｃ〜３６ｆも第１の基板３１上の配線パターンに接続されているが、これらのピン３６ｃ〜３６ｆ同士は直接的には接続されていない。

この左側の第１のコネクタ３５Ａでは、第１及び第２のピン３６ａ，３６ｂが第１及び第２のコネクタ３５Ａ，４３Ａの誤挿入の検出に用いられ、第３〜第６のピン３６ｃ〜３６ｆがＤＵＴの試験に使用され、第７及び第８のピン３６ｇ，３６ｈは特に使用されない。

これに対し、図４中において中央の第１のコネクタ３５Ｂでは、先述の第１のコネクタ３５Ａと異なり、第３及び第４のピン３６ｃ，３６ｄ（第１の検出用ピン）が検出用配線パターン３２を介して相互に直接的に接続されている。一方、特に図示しないが、第１、第２、第５及び第６のピン３６ａ，３６ｂ，３６ｅ，３６ｆも第１の基板３１上の配線パターンに接続されているが、これらのピン３６ａ，３６ｂ，３６ｅ，３６ｆ同士は直接的には接続されていない。

この中央の第１のコネクタ３５Ｂでは、第３及び第４のピン３６ｃ，３６ｄが第１及び第２のコネクタ３５Ｂ，４３Ｂの誤挿入の検出に用いられ、第１、第２、第５及び第６のコネクタ３６ａ，３６ｂ，３６ｅ，３６ｆがＤＵＴの試験に使用され、第７及び第８のピン３６ｇ，３６ｈは特に使用されない。

一方、図４中において右側の第１のコネクタ３５Ｃでは、先述の第１のコネクタ３５Ａ，３５Ｂと異なり、第６及び第７のコネクタ３６ｅ，３６ｆ（第１の検出用ピン）が検出用配線パターン３２を介して相互に直接的に接続されている。一方、特に図示しないが、第１〜第４のピン３６ａ〜３６ｄも第１の基板３１上の配線パターンに接続されているが、これらのピン３６ａ〜３６ｄ同士は直接的には接続されていない。

この右側の第１のコネクタ３５ｃでは、第５及び第６のピン３６ｅ，３６ｆが第１及び第２のコネクタ３５Ｃ，４３Ｃの誤挿入の検出に用いられ、第１〜第４のピン３６ａ〜３６ｄがＤＵＴの試験に使用され、第７及び第８のピン３６ｇ，３６ｈは特に使用されない。

以上のように、コネクタ毎に検出用ピンの位置を変えることで、同一のソケットボード３０において同一形状のコネクタが複数の用途に用いられても、コネクタの誤挿入をより確実に防止することができる。なお、３つのコネクタ３５Ａ〜３５Ｃにおいて検出用ピンの位置が全く重複しないように説明したが、特にこれに限定されない。２本の検出用ピンのうちの少なくとも一方の検出用ピンの位置が、他のコネクタにおける２本の検出用ピンの位置と異なっていればよい。

図４に示す３つの第２のコネクタ４３Ａ〜４３Ｃは、例えば絶縁性のハウジングに保持された８本のピン４４ａ〜４４ｈを有するプラグ型コネクタである。３つの第２のコネクタ４３Ａ〜４３Ｃは、いずれも同一構造を有している。なお、第２のコネクタ４３Ａ〜４３Ｃをレセプタクル型コネクタとしてもよく、この場合には第１のコネクタ３５Ａ〜３５Ｃがプラグ型コネクタとなる。

第２のコネクタ４３Ａ〜４３Ｃのピン４４ａ〜４４ｈは、嵌合時に第１のコネクタ３５Ａ〜３５Ｃのピン３６ａ〜３６ｈとそれぞれ接触することが可能となっている。従って、図４中の左側の第２のコネクタ４３Ａにおける第１及び第２のピン４４ａ，４４ｂ、中央の第２のコネクタ４３Ｂにおける第３及び第４のピン４４ｃ、４４ｄ、及び、右側の第２のコネクタ４３Ｃでは第５及び第６のピン４４ｅ，４４ｆが、本発明における第２の検出用ピンの一例に相当する。

図４に示す３つの第３のコネクタ４５Ａ〜４５Ｃも、例えば絶縁性のハウジングに保持された８本のピン４６ａ〜４６ｈを有するプラグ型コネクタであり、いずれも同一構造を有している。図４中において左側の第３のコネクタ４５Ａでは、第１〜第６のピン４６ａ〜４６ｆが、ケーブル４０Ａの導線４１を介して、第２のコネクタ４３Ａの第１〜第６のピン４４ａ〜４４ｆにそれぞれ電気的に接続されている。従って、図４中の左側の第３のコネクタ４５Ａにおける第１及び第２のピン４６ａ，４６ｂ、中央の第３のコネクタ４５Ｂにおける第３及び第４のピン４６ｃ，４６ｄ、及び、右側の第３のコネクタ４５Ｃにおける第５及び第６のピン４６ｅ，４６ｆが、本発明における第３の検出用ピンの一例に相当する。

左側の第３のコネクタ４５Ａの第７及び第８のピン４６ｇ，４６ｈ（第５の検出用ピン）は、ケーブル４０Ａの検出用導線４２を介して相互に電気的に接続されている。なお、第２のコネクタ４３Ａにおいても同様に、第７及び第８のピン４４ｇ，４４ｈがケーブル４０Ａの導線を介して相互に電気的に接続されている。図４中において中央及び右側の第３のコネクタ４５Ｂ，４５Ｃも、同じ要領で、ケーブル４０Ｂ，４０Ｃを介して第２のコネクタ４３Ｂ，４３Ｃに接続されている。いずれの第３のコネクタ４５Ａ〜４５Ｃにおいても、第７及び第８のピン４６ｇ，４６ｈは、異なる仕様のケーブルが誤って接続されていないかを検出するために使用される。

図４に示す３つの第４のコネクタ２４Ａ〜２４Ｃは、例えば絶縁性のハウジングに保持された８本のピン２５ａ〜２５ｈを有するレセプタクル型コネクタであり、いずれも同一構造を有している。なお、第４のコネクタ２４Ａ〜２４Ｃをプラグ型コネクタとしてもよく、この場合には第３のコネクタ４５Ａ〜４５Ｃがレセプタクル型コネクタとなる。

第４のコネクタ２４Ａ〜２４Ｃのピン２５ａ〜２５ｈは、第３のコネクタ４５Ａ〜４５Ｃのピン４６ａ〜４６ｈとそれぞれ接触することが可能となっており、いずれの第４のコネクタ２４Ａ〜２４Ｃにおいても、第７及び第８のピン２５ｇ，２５ｈ（第６の検出用ピン）は、異なる仕様のケーブルが誤って接続されていないかを検出するために使用される。これに対し、第１のコネクタ３５Ａ〜３５Ｃに対応して、それぞれの第４のコネクタ２４Ａ〜２４Ｃにおいて、第１〜第６のピン２５ａ〜２５ｆのうちのいずれか２つのピンが、コネクタの誤挿入を検出するために使用される。

図４中において左側の第４のコネクタ２４Ａでは、第１及び第２のピン２５ａ，２５ｂ（第４の検出用ピン）がコネクタの誤挿入の検出に用いられ、第３〜第６のピン２５ｃ〜２５ｆがＤＵＴの試験に用いられる。この左側の第４のコネクタ２４Ａでは、第２のピン２５ｂが、第２の基板２１に形成された検出用配線パターン２２を介して、第７のピン２５ｇに接続されており、さらに、第８のピン２５ｈが、検出用配線パターン２２を介して、中央の第４のコネクタ２４Ｂの第３のピン２５ｃに接続されている。

これに対し、図４中において中央の第４のコネクタ２４Ｂでは、第３及び第４のピン２５ｃ、２５ｄ（第４の検出用ピン）がコネクタの誤挿入の検出に用いられ、第１、第２、第５及び第６のピン２５ａ，２５ｂ，２５ｅ，２５ｆがＤＵＴの試験に用いられる。この中央の第４のコネクタ２４Ｂでは、第４のピン２５ｄが、検出用配線パターン２２を介して、第７のピン２５ｇに接続されており、さらに、第８のピン２５ｈが、検出用配線パターン２２を介して、右側の第４のコネクタ２４Ｃの第５のピン２５ｅに接続されている。

一方、図４中において右側の第４のコネクタ２４Ｃでは、第５及び第６のピン２５ｅ，２５ｆ（第４の検出用ピン）がコネクタの誤挿入の検出に用いられ、第１〜第４のピン２５ａ〜２５ｄがＤＵＴの試験に用いられる。この右側の第４のコネクタ２４Ｃでは、第６のピン２５ｆが、検出用配線パターン２２を介して、第７のピン２５ｇに接続されている。

なお、ケーブル４０Ａ〜４０Ｃの確認が不要な場合には、第４のコネクタ２４Ａ〜２４Ｃの第４の検出用ピン同士を、検出用配線パターン２２を介して直接接続し、第７及び第８のピン２５ｇ，２５ｈをＤＵＴのテストに使用してもよい。

図５に示すように、左側の第４のコネクタ２４Ａの第１のピン２５ａと、右側の第４のコネクタ２４Ｃの第８のピン２５ｈは、テスタ２に設けられた誤挿入検出装置５に接続されている。

この誤挿入検出装置５は、第１のコネクタ３５Ａ〜３５Ｃへの第２のコネクタ４３Ａ〜４３Ｃの誤挿入を検出するための装置であり、入力部６と判断部７を備えている。なお、結果的に、この誤挿入検出装置５は、第４のコネクタ２４Ａ〜２４Ｃへの第３のコネクタ４５Ａ〜４５Ｃの誤挿入も検出することができる。

入力部６は、左側の第４のコネクタ２４Ａの第１のピン２５ａに接続されており、コネクタの誤挿入を検出するための検出用信号を第１のピン２５ａに入力することが可能となっている。なお、この検出用信号として、テストヘッド本体１１にハイフィックス１５が装着されているか否かを確認するための確認用信号を用いてもよい。

判断部７は、右側の第４のコネクタ２４Ｃの第８のピン２５ｈに接続されており、入力部６が入力した検出用信号が第８のピン２５ｈから出力されるか否かを確認することが可能となっている。検出用信号の出力が確認された場合、判断部７は、テスタ２の電力供給部４に対して、ＤＵＴのテストのための電力の供給を許可する。これに対し、検出用信号の出力が確認されなかった場合には、判断部７は、電力供給部４に対してテスト用電力の供給を許可しない。

次に作用について説明する。

図６は本実施形態における誤挿入検出経路を示す図、図７は本実施形態においてコネクタが誤挿入された場合の接続関係の一例を示す図、図８は本実施形態において異なる仕様のケーブルが誤って接続された場合の一例を示す図である。

先ず、図４に示す例において、全てのコネクタが正しく挿入された場合について、図６を参照しながら説明する。

図６に示すように、第２のコネクタ４３Ａ〜４３Ｃが第１のコネクタ３５Ａ〜３５Ｃにそれぞれ挿入されると共に、第３のコネクタ４５Ａ〜４５Ｃが第４のコネクタ２４Ａ〜２４Ｃにそれぞれ挿入されると、左側の第４のコネクタ２４Ａの第１のピン２５ａと、右側の第４のコネクタ２４Ｃの第８のピン２５ｈとの間に、全ての検出用ピンを直列接続した誤挿入検出用経路５０が形成される。この状態において、誤挿入検出装置５の入力部６が検出用信号を入力すると、当該検出用信号が誤挿入検出用経路５０を介して判断部７に出力され、判断部７は電源供給部６に対してテスト用電力の供給を許可する。なお、誤挿入検出用経路を複数形成してもよいし、それぞれのコネクタの誤挿入を個別に検出することができるように、コネクタ毎に誤挿入検出用経路を形成してもよい。

これに対し、例えば、図７に示すように、左側の第１のコネクタ３５Ａに本来挿入すべき第２のコネクタ４３Ａを中央の第１のコネクタ３５Ｂに誤って挿入すると共に、中央の第１のコネクタ３５Ｂに挿入すべき第２のコネクタ４３Ｂを左側の第１のコネクタ３５Ａに誤って挿入してしまった場合には、中央の第１のコネクタ３５Ｂの第１のピン３６ａと第２のピン３６ｂが相互に接続されていないため、誤挿入検出用経路５０が形成されない。

また、例えば、図８に示すように、中央のケーブルとして、検出用導線４２を有してないケーブル４０’を誤って使用した場合には、中央の第２のコネクタ４５Ｂの第７のピン４６ｇと第８のピン４６ｈとの間で誤挿入検出用経路５０が遮断される。

図７や図８に示すような場合には、誤挿入検出装置５の入力部６が検出用信号を入力しても、当該検出用信号が判断部７に出力されないので、判断部７は電源供給部６に対してテスト用電力の供給を許可しない。

以上のように、本実施形態では、第１のコネクタ３５Ａ〜３５Ｃが有する複数のピン３６ａ〜３６ｈのうちの一対の検出用ピンを相互に電気的に接続している。このため、コネクタの挿入後に、一方の検出用ピンから検出用信号を入力し、その検出用信号が他方の検出用ピンから出力されたことを確認することで、テスト用電力を供給する前に、挿入先のコネクタが本来挿入されるべきコネクタであることを確認することができる。

また、本実施形態では、第３のコネクタ４５Ａ〜４５Ｃが有する複数のピン４６ａ〜４６ｈのうちの一対の検出用ピンを相互に電気的に接続している。このため、コネクタの挿入後に、一方の検出用ピンから検出用信号を入力し、その検出用信号が他方の検出用ピンから出力されることを確認することで、正しい仕様のケーブルが接続されていることを確認することができる。

なお、以上説明した実施形態は、本発明の理解を容易にするために記載されたものであって、本発明を限定するために記載されたものではない。したがって、上記の実施形態に開示された各要素は、本発明の技術的範囲に属する全ての設計変更や均等物をも含む趣旨である。

例えば、第３及び第４のコネクタ４５，２４を用いずに、ケーブル４０の下端を半田付け等によって第２の基板２１上の配線パターンに直接接続してもよい。

また、パフォーマンスボード２０の第４のコネクタ２４に、相互に電気的に接続された一対の検出用ピンを設けて、第４のコネクタ２４への第３のコネクタ４６の誤挿入の検出を行ってもよい。例えば、図９に示す例では、第４のコネクタ２４における第１及び第２のピン２５ａ，２５ｂ（第１の検出用ピン）が、第４のコネクタ２４への第３のコネクタ４５の誤挿入の検出のために用いられる。同図に示すように、第４のコネクタ２４の第１のピン２５ａと第２のピン２５ｂとは、パフォーマンスボード２０の第２の基板２１に形成された検出用配線パターン２２を介して、相互に電気的に接続されている。なお、この場合には、本実施形態における第４のコネクタ２４が本発明における第１のコネクタの一例に相当し、本実施形態における第３のコネクタ４５が本発明における第２のコネクタの一例に相当する。また、特に図示しないが、コネクタ毎に検出用ピンの位置を変えることで、コネクタの誤挿入をより確実に防止することができる。さらに、この場合には、第１及び第２のコネクタ３５，４３を用いずに、ケーブル４０の上端を半田付け等によって第１の基板３１上の配線パターンに直接接続してもよい。

Claims (11)

1. 導体配線が形成された基板と、前記基板に実装された複数のコネクタと、を備えた回路ボードであって、
   前記コネクタがそれぞれ有する複数のピンは、前記導体配線を介して相互に電気的に接続された一対の検出用ピンを含むことを特徴とする回路ボード。
2. 前記コネクタにおける前記検出用ピンのうちの少なくとも一方の検出用ピンの位置が、前記複数のコネクタのうちの他のコネクタにおける検出用ピンの位置と異なっていることを特徴とする請求項１記載の回路ボード。
3. 第１の導体配線が形成された第１の基板、及び、前記第１の基板に実装された複数の第１のコネクタと、を有する第１の回路ボードと、
   前記第１のコネクタと嵌合可能な第２のコネクタを一端にそれぞれ有する複数のケーブルと、を備えた回路ボードアッセンブリであって、
   前記第１のコネクタがそれぞれ有する複数の第１のピンは、前記第１の導体配線を介して相互に電気的に接続された一対の第１の検出用ピンを含むことを特徴とする回路ボードアッセンブリ。
4. 前記第１のコネクタにおける前記第１の検出用ピンのうちの少なくとも一方の第１の検出用ピンの位置が、前記複数の第１のコネクタのうちの他の第１のコネクタにおける第１の検出用ピンの位置と異なっていることを特徴とする請求項３記載の回路ボードアッセンブリ。
5. 前記複数のケーブルは、第３のコネクタを他端にそれぞれ有し、
   前記回路ボードアッセンブリは、第２の導体配線が形成された第２の基板、及び、前記第２の基板に実装され、前記第３のコネクタと嵌合可能な複数の第４のコネクタを有する第２の回路ボードをさらに備えたことを特徴とする請求項３又は４記載の回路ボードアッセンブリ。
6. 前記第２のコネクタがそれぞれ有する複数の第２のピンは、前記第１の検出用ピンに対応する位置に配置された一対の第２の検出用ピンを含み、
   前記第３のコネクタがそれぞれ有する複数の第３のピンは、前記ケーブルの導線を介して前記第２の検出用ピンに電気的に接続された一対の第３の検出用ピンを含み、
   前記第４のコネクタが有する複数の第４のピンは、前記第３の検出用ピンに対応する位置に配置された一対の第４の検出用ピンを含んでおり、
   前記第４の検出用ピンの一方は、前記第２の導体配線を介して、他の第４のコネクタの第４の検出用ピンに電気的に接続されていることを特徴とする請求項５記載の回路ボードアッセンブリ。
7. 前記第２の回路ボードにおける全ての前記第４の検出用ピンの組み合わせが、前記第２の導体配線を介して直列接続されていることを特徴とする請求項６記載の回路ボードアッセンブリ。
8. 前記第３のピンは、前記ケーブルの導線を介して相互に電気的に接続された一対の第５の検出用ピンをさらに含み、
   前記第４のピンは、前記第５の検出用ピンに対応する位置に配置された一対の第６の検出用ピンをさらに含んでおり、
   前記第４の検出用ピンの一方は、前記第５及び第６の検出用ピンを介して、他の第４のコネクタが有する第４の検出用ピンに電気的に接続されていることを特徴とする請求項６又は７記載の回路ボードアッセンブリ。
9. 第２の導体配線が形成された第２の基板を有する第２の回路ボードをさらに備えており、
   前記複数のケーブルの他端は、前記第２の基板に直接接続されていることを特徴とする請求項３又は４記載の回路ボードアッセンブリ。
10. 電子部品試験装置においてコネクタの誤挿入を検出するための誤挿入検出装置であって、
    請求項３〜９の何れかに記載の回路ボードアッセンブリと、
    前記回路ボードアッセンブリに検出用信号を入力する入力手段と、
    前記回路ボードアッセンブリからの前記検出用信号の出力の有無に基づいて、前記回路ボードアッセンブリへのテスト用電力の供給の可否を判断する判断手段と、を備えたことを特徴とする誤挿入検出装置。
11. 前記判断手段は、前記回路ボードアッセンブリから前記検出用信号が出力された場合に、前記回路ボードアッセンブリへテスト用電力を供給するように判断し、前記回路ボードアッセンブリから前記検出用信号が出力されなかった場合に、前記回路ボードアッセンブリへテスト用電力を供給しないように判断することを特徴とする請求項１０記載の誤挿入検出装置。

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