JPH11329614A - コネクタとこれを用いた検査方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 コネクタ部の交換に伴う作業の煩雑差の改善
を図る。 【解決手段】 コネクタを構成する、導電性差し込み脚
２を有する差し込み部３、または導電性差し込み脚が嵌
入される導電性受栓５を有する受栓部６の少なくともい
ずれかに、導電性差し込み脚が嵌入される導電性受栓２
５と、これに電気的に接続された導電性差し込み脚２２
とを有する保護コネクタ１０を着脱自在に装着する構成
とする。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、電気的接続を行う
コネクタとこれを用いた検査方法に関わる。

【０００２】

【従来の技術】各種電気機器の製造工程等において、そ
の構成部品、回路、あるいは最終的に得た電気機器に対
する電気的特性の検査がなされる。この場合、その構成
部品、回路、電気機器等の被検査体に接続されたコネク
タ部と、この被検査体の検査を行う検査器側に接続され
たコネクタ部とによる対のコネクタ部を有するコネクタ
を用いて、両コネクタ部を結合して被検査体と検査器と
の電気的接続を行って目的とする検査を行う。

【０００３】このコネクタの対のコネクタ部は、その一
方例えば被検査体側のコネクタ部が導電性差し込み脚を
有する差し込み部（いわゆるオスコネクタ部）によって
構成され、他方例えば検査器側のコネクタ部が、上述の
導電性差し込み脚が嵌入される導電性受栓（いわゆるメ
スコネクタ部）によって構成される。

【０００４】例えば、図４にその分解斜視図を示すよう
に、その電気的検査がなされる例えば回路基板等の被検
査体１側に、多数の被検査端子となる導電性差し込み脚
２が配列されてなる一方のコネクタ部、すなわち差し込
み部３が接続される。そして、電気的検査器側、例えば
検査器（図示せず）の検査端子に接続された配線（図示
せず）を有する例えば回路基板より成る固定基板４に、
他方のコネクタ部、すなわち被検査体１側の導電性差し
込み脚２がそれぞれ嵌入される例えば導電性筒状体より
成る導電性受栓５が埋め込み配列されて成る受栓部６
が、固定ねじ７等によって取着される。この受栓部６に
は、各導電性受栓５に接続される導電性差し込み脚１２
が設けられ、これらが、固定基板４に穿設したスルーホ
ールに挿通されて、その挿通先端が例えば固定基板４の
裏面に形成された所定の配線もしくは端子に半田付けさ
れて、導電性受栓５が検査器の所定の検査端子に接続さ
れる。

【０００５】この構成において、差し込み部３の導電性
差し込み脚２を、受栓部６の対応する導電性受栓５に嵌
入することによって差し込み部３と受栓部６とを結合す
ることによって、被検査体１を検査器に接続する作業が
なされ、この状態で、目的とする検査を行う。

【０００６】そして、この検査が終了すると、差し込み
部３から受栓部６をはずし、次の被検査体１を同様の作
業によって検査器に接続し、その検査を行う。このよう
な作業、操作を繰り返し行う。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】ところが、このような
検査作業は、多数の被検査体を順次検査器側のコネクタ
部に結合し、取りはずすという作業が繰り返しなされる
ことから、検査器側のコネクタ部の例えば受栓部６の導
電性受栓５の損耗が激しく、この検査を繰り返し行う内
に接続不良を起こすなど、正確な検査に支障が生じて来
る。

【０００８】そこで、ある回数の検査が終了した時点
で、その繰り返し用いられた側のコネクタ部、すなわち
図４の場合、その受栓部６を例えば固定基板４に対し交
換すべく、その配線ないしは端子への接続をしなおすと
いう作業がなされる。この作業は、面倒であり、特に、
その導電性差し込み脚１２の本数が多い場合、これら
を、例えば検査器の端子もしくは配線に、誤配線なく、
交換接続する半田付け等の作業は著しく煩雑で、作業性
の低下、信頼性の低下等を来す。

【０００９】本発明は、このようなコネクタを構成する
コネクタ部の交換に伴う作業の煩雑さの改善を図る。

【００１０】

【課題を解決するための手段】本発明によるコネクタ
は、このコネクタを構成する、導電性差し込み脚を有す
る差し込み部、または導電性差し込み脚が嵌入される導
電性受栓を有する受栓部の少なくともいずれかに、導電
性差し込み脚が嵌入される導電性受栓と、これに電気的
に接続された導電性差し込み脚とを有する保護コネクタ
を着脱自在に装着する構成とする。

【００１１】また、本発明による検査方法は、電気的検
査器に、被検査体を電気的に接続して電気的特性の検査
を行うに当たり、電気的検査器側および被検査体側の、
いずれか一方に導電性差し込み脚を有する差し込み部を
配置し、他方に導電性差し込み脚が嵌入される導電性受
栓を有する受栓部を配置する。そして、差し込み部側、
または上記受栓部の少なくともいずれか一方に、導電性
差し込み脚を嵌入する導電性受栓と、これに電気的に接
続された導電性脚部とを有する保護コネクタを装着して
電気的検査器側および被検査体側に配置した差し込み部
と受栓部とを電気的に結合し、目的とする電気的検査を
行う。

【００１２】すなわち、本発明においては、その着脱が
繰り返し行われる側のコネクタ部に保護コネクタを装着
することによって、この保護コネクタと、他方のコネク
タ部との間で、着脱を行うようにし、しかも或る回数の
検査作業、すなわちコネクタの着脱がなされたら、この
保護コネクタを排除するか、あるいは交換する。

【００１３】尚、本明細書において、検査とは電気的な
各種測定をも含むものである。

【００１４】

【発明の実施の形態】本発明は、コネクタを構成する、
導電性差し込み脚を有する差し込み部、または導電性差
し込み脚が嵌入される導電性受栓を有する受栓部の少な
くともいずれかに、導電性差し込み脚が嵌入される導電
性受栓と、これに電気的に接続された導電性差し込み脚
とを有する保護コネクタを着脱できるように装着し、こ
の保護コネクタを介して、差し込み部と受栓部との結合
を行うようにする。

【００１５】この保護コネクタは、これを装着する差し
込み部あるいは受栓部と、同一構造とすることによっ
て、この保護コネクタを製造する特別の工程を回避する
ことができる。

【００１６】本発明によるコネクタの一例と、本発明に
よる検査方法の一例を、本発明コネクタの一例を示す図
１の断面図および図２の分解斜視図を参照して説明す
る。しかしながら、本発明は、この例に限られるもので
はないことは言うまでもない。図１および図２の例にお
いては、例えば特性検査がなされる回路基板、あるいは
各種電気部品等より成る被検査体１側に、その被検査端
子にそれぞれ接続された多数（図示においては、９本）
の導電性差し込み脚２例えば導電性ピンが配列された差
し込み部３が設けられ、検査器（図示せず）側の固定基
板４に、本来、差し込み部３と電気的および機械的に結
合されて検査器との電気的接続を行うための受栓部６が
配置される。

【００１７】この受栓部６は、本来、被検査体１側の差
し込み部３の導電性差し込み脚２が嵌入される導電性受
栓５が設けられ、さらにこれら導電性受栓５にそれぞれ
電気的に接続して設けられた導電性差し込み脚１２を有
して成る。受栓部６の各導電性差し込み脚１２は、例え
ば固定基板４に穿設されたスルーホールに挿通し、固定
基板４に設けられた所要の配線もしくは端子に、例えば
半田３０によって接続する。

【００１８】一方、この受栓部６の、固定基板４に対す
る取着後、もしくは取着前に、この受栓部６に保護コネ
クタ１０を装着する。この保護コネクタ１０は、受栓部
６と同一構造、すなわちこの受栓部６によって構成する
ことができる。

【００１９】受栓部６および保護コネクタ１０は、共に
例えば樹脂モールド体３１内に所要の間隔を保持して、
同一構成による導電性受栓５および２５と、これらから
延長形成されたあるいは電気的に接続されて設けられた
例えばピン状の各導電性差し込み脚２および２２が埋め
込まれて配列された構成とすることができる。導電性受
栓５および２５は、例えばすり割りばね型の金属筒状体
によって構成し、これら導電性受栓５および２５に各導
電性差し込み脚２および２２が弾性的に嵌入されて電気
的に良好に連結されるようにする。

【００２０】そして、保護コネクタ１０を受栓部６に、
各導電性差し込み脚２２を、受栓部６の対応する導電性
受栓５に嵌入させて装着した状態で、固定ねじ７によっ
て、保護コネクタ１０および受栓部６の、各樹脂モール
ド体３１に形成したねじ孔もしくは貫通孔に挿通して例
えば図示のように、固定基板４に固定するか、あるいは
固定基板４に固定した受栓部６に、保護コネクタ１０を
止めねじ等によって固定する。

【００２１】このようにして、保護コネクタ１０が装着
された、受栓部６に、この保護コネクタ１０を介して、
被検査体１の導電性差し込み脚２を接続する。すなわ
ち、導電性差し込み脚２を、保護コネクタ１０の対応す
る導電性受栓２５に嵌入して、電気的、機械的結合を行
うことにより、各導電性差し込み脚２が、導電性受栓２
５および導電性差し込み脚２２を介して、受栓部６の導
電性受栓５および導電性差し込み脚１２に電気的に接続
されて、固定基板４の所定の配線もしくは端子に接続さ
れ、検査器に接続される。この状態で目的とする検査作
業を行う。そして、この検査が終了して後は、保護コネ
クタ１０から被検査体１を取り外す。すなわち、保護コ
ネクタ１０の導電性受栓２５から、差し込み部３の導電
性差し込み脚２を抜きとる。

【００２２】その後、他の被検査体１を、同様に保護コ
ネクタ１０と連結して検査を行い、保護コネクタ１０か
ら被検査体１を取り外すという作業を繰り返し行う。こ
の繰り返し作業を、所要回数行って、保護コネクタ１０
の導電性受栓２５に損耗が生じる前に、保護コネクタ１
０を受栓部６から取りはずし、その後は、被検査体１の
導電性差し込み脚２を、受栓部６の導電性受栓５に挿入
して、被検査体１を固定基板４の受栓部６に直接的に結
合して前述の動作を検査作業を繰り返し行うか、あるい
は、保護コネクタ１０を、これと同一構造による他の保
護コネクタ１０と交換して、前述の動作を検査作業を繰
り返し行う。いづれの場合でも、保護コネクタ１０は、
単に受栓部６に対する着脱だけでよいことから、その取
り外し、あるいは交換作業は容易になされる。したがっ
て、本発明によるコネクタは、数十〜数百等の多数本の
接続部、すなわち多数本の導電性差し込み脚および導電
性受栓が配列される場合に適用して有意義な構成である
が、その接続部が、例えば１本もしくは２本等の少数本
のコネクタに適用することもできる。

【００２３】尚、図示の例では、固定基板４に１組のコ
ネクタと被検査体１が配置される構成とした場合である
が、これらを複数組配置して同時に多数の被検査体１の
検査を行うようにすることもできる。また、図示の例で
は、被検査体１側に導電性差し込み脚２を有する差し込
み部３を配置した構成とした場合であるが、図示とは逆
の関係の被検査体１側に導電性受栓５が配置された構成
とすることもできる。

【００２４】また、図１および図２の例では、受栓部６
が固定基板４に固定された構成とした場合であるが、図
３に他の一例の分解斜視図を示すように、受栓部６が固
定されないで検査器に直接リード線３２によって接続す
る構成を採る場合等に適用することができる。図３にお
いて、図２と対応する部分に同一符号を付して重複説明
を省略する。

【００２５】また、図示の例では、１つの保護コネクタ
１０を、受栓部６に配置した場合であるが、保護コネク
タ１０を２個以上順次相互に重ねて結合装着することも
できる。

【００２６】また、この保護コネクタ１０は、受栓部６
側に装着するものに限られるものではなく、着脱が頻繁
に行われる側のコネクタ部が、導電性差し込み脚を有す
る差し込み部である場合は、この差し込み部側に装着す
ることができ、また、或る場合は、受栓部および差し込
み部の双方に設けることもできる。

【００２７】また、本発明によるコネクタは、被検査体
１の検査に用いるコネクタに限られるものではなく、他
の各種電気的連結を行うコネクタに適用できるなど、上
述の例に限られることなく、種々の変形、変更を行うこ
とができる。

【００２８】

【発明の効果】上述したように、本発明によるコネクタ
は、その互いに結合される対のコネクタ部のうちの少な
くとも着脱が繰り返し行われる側のコネクタ部に保護コ
ネクタを装着した構成とし、この保護コネクタに対して
他方のコネクタ部を着脱するようにしたことから、まず
は、この保護コネクタにおける導電性受栓もしくは導電
性差し込み脚が損耗することから、コネクタの使用回数
を向上させることができる。したがって、コネクタ部自
体の交換を回避するか、交換回数を減少させることがで
きるものであり、特にその接続部が多数である場合にお
ける、このコネクタ部の交換に伴う、煩雑なリード線、
配線、端子等の取り外し、接続作業を回避ないしは減少
させることができ、各種機器の製造の能率を向上するこ
とができる。

【００２９】また、本発明検査方法によれば、上述した
保護コネクタが装着されたコネクタ部を用いることによ
ってその検査工程の作業能率の向上のみならず、信頼性
の向上を図ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明によるコネクタの一例の要部の断面図で
ある。

【図２】本発明によるコネクタの一例の分解斜視図であ
る。

【図３】本発明によるコネクタの他の例の分解斜視図で
ある。

【図４】従来のコネクタの分解斜視図である。

【符号の説明】

１・・・被検査体、２，１２，２２・・・導電性差し込
み脚、３・・・差し込み部、４・・・固定基板、５，２
５・・・導電性受栓、６・・・受栓部、

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 コネクタを構成する、導電性差し込み脚
   を有する差し込み部、または導電性差し込み脚が嵌入さ
   れる導電性受栓を有する受栓部の少なくともいずれか
   に、 導電性差し込み脚が嵌入される導電性受栓と、これに電
   気的に接続された導電性差し込み脚とを有する保護コネ
   クタが着脱自在に装着されて成ることを特徴とするコネ
   クタ。
2. 【請求項２】 上記保護コネクタと、上記受栓部とが、
   共に導電性差し込み脚が嵌入される導電性受栓と、該導
   電性受栓に電気的に接続された導電性差し込み脚とを有
   する同一構造とされたことを特徴とする請求項１に記載
   のコネクタ。
3. 【請求項３】 上記保護コネクタが２個以上順次相互に
   結合装着されて成ることを特徴とする請求項１に記載の
   コネクタ。
4. 【請求項４】 電気的検査器に、被検査体を電気的に接
   続して電気的特性の検査を行うに当たり、 上記電気的検査器側および上記被検査体側の、いずれか
   一方に導電性差し込み脚を有する差し込み部を配置し、
   他方に導電性差し込み脚が嵌入される導電性受栓を有す
   る受栓部を配置し、 上記差し込み部側、または上記受栓部の少なくともいず
   れか一方に、導電性差し込み脚を嵌入する導電性受栓
   と、これに電気的に接続された導電性脚部とを有する保
   護コネクタを装着して上記電気的検査器側および上記被
   検査体側に配置した上記差し込み部と上記受栓部とを電
   気的に結合し、目的とする電気的検査を行うことを特徴
   とする検査方法。
5. 【請求項５】 上記保護コネクタと、上記受栓部とが、
   共に導電性差し込み脚が嵌入される導電性受栓と、該導
   電性受栓に電気的に接続された導電性差し込み脚とを有
   する同一構造とされたことを特徴とする請求項４に記載
   の検査方法。
6. 【請求項６】 上記保護コネクタが２個以上順次相互に
   結合装着したことを特徴とする請求項４に記載の検査方
   法。