JP2005326271A - 導通検査用治具および該導通検査用治具を用いた導通検査方法 - Google Patents
導通検査用治具および該導通検査用治具を用いた導通検査方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2005326271A JP2005326271A JP2004144742A JP2004144742A JP2005326271A JP 2005326271 A JP2005326271 A JP 2005326271A JP 2004144742 A JP2004144742 A JP 2004144742A JP 2004144742 A JP2004144742 A JP 2004144742A JP 2005326271 A JP2005326271 A JP 2005326271A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- fuse
- continuity test
- small
- continuity
- conductive plate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Images
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
【課題】 電気接続箱の小型ヒューズ部分の内部結線の導通検査効率を高める。
【解決手段】 樹脂製のヒューズ本体11の外側先端面11aより、該ヒューズ本体11に埋設されている入力端子12と出力端子13をそれぞれ露出する一対の孔14a、14bを設けていると共に、ヒューズ本体11の外側先端面11aより外方に突出する大きさの入力端子側導電板15aと出力端子側導電板15bとを該外側先端面11aに配置して、入力端子側導電板15aと入力端子12、出力端子側導電板15bと出力端子13とを、それぞれ孔14a、14bに充填する半田16により固着すると共に電気接続させた小型ヒューズ10を電気接続箱の試作品に装着した状態で、導通検査用プローブピン31a、31bを入力端子側導電板15aと出力端子側導電板15bに接触させることによりヒューズの導通検査を行う。
【選択図】 図2
【解決手段】 樹脂製のヒューズ本体11の外側先端面11aより、該ヒューズ本体11に埋設されている入力端子12と出力端子13をそれぞれ露出する一対の孔14a、14bを設けていると共に、ヒューズ本体11の外側先端面11aより外方に突出する大きさの入力端子側導電板15aと出力端子側導電板15bとを該外側先端面11aに配置して、入力端子側導電板15aと入力端子12、出力端子側導電板15bと出力端子13とを、それぞれ孔14a、14bに充填する半田16により固着すると共に電気接続させた小型ヒューズ10を電気接続箱の試作品に装着した状態で、導通検査用プローブピン31a、31bを入力端子側導電板15aと出力端子側導電板15bに接触させることによりヒューズの導通検査を行う。
【選択図】 図2
Description
本発明は、導通検査用治具および該導通検査用治具を用いた導通検査方法に関し、特に、プローブピンによりヒューズ回路の導通検査を行なうものである。
近年、自動車等に搭載する電気接続箱は小型化の要請が強く、これを受けてヒューズについても小型ヒューズ(所謂ミニヒューズ)が多く用いられている。この種の小型ヒューズ1は、図6に示すように、絶縁樹脂製のヒューズ本体2に、入力端子3と出力端子4と、これらの端子3、4を結合する溶断部5とを埋設し、入力端子3と出力端子4の先端をヒューズ本体2の下面から突出させている。(特開2002−064919号公報参照)
一方、電気接続箱を作成する場合、内部結線に短絡、断線、配線違い等の不具合がないかを確認するため導通検査を実施している。この導通検査において、リレーやヒュージブルリンクなどについてはデバイスを直接挿入して行うが、小型ヒューズ部分の内部回路の導通検査については、図7に示すように、小型ヒューズ未装着のヒューズ装着部6の端子挿入孔6aに入力端子用と出力端子用からなる一対のプローブピン8a、8bを差し込み、ヒューズ装着部6の下側から挿入された相手方端子7に接触させて行っている。
特に、多数の小型ヒューズを装着した電気接続箱については、図8に示すような、一対のプローブピン8a、8bを保持板8cに所要ピッチをあけて複数取り付けた治具8を用いて、プローブピン8a、8bを差し込んで一括挿入して導通検査する方法が用いられている。
特に、多数の小型ヒューズを装着した電気接続箱については、図8に示すような、一対のプローブピン8a、8bを保持板8cに所要ピッチをあけて複数取り付けた治具8を用いて、プローブピン8a、8bを差し込んで一括挿入して導通検査する方法が用いられている。
しかしながら、小型ヒューズ装着部6を設けたケースの反りやバリ等の影響で、プローブピン8a、8bが相手方端子7とうまく接触しない場合がある。特に、前記治具8を用いて多数のプローブピンを一括挿入する場合は、該治具の反りなどの影響によってもうまく接触しない場合がある。その場合、プローブピンを先端形状の異なるものに替えたり、治具の押さえ方向を工夫したりするが、非常に不安定で作業性が悪い点に問題がある。
特開2002−064919号公報
本発明は上記問題に鑑みてなされたもので、電気接続箱の小型ヒューズ部分の導通検査を効率よく行うことができる導通検査用治具および該導通検査用治具を用いて行なう導通検査方法を提供することを課題としている。
前記課題を解決するために、本発明は、第1に、電気接続箱に装着される小型ヒューズと導通検査用プローブピンとを備え、
前記小型ヒューズは、樹脂製のヒューズ本体内に内側先端面より突出して電気接続箱のヒューズ回路と接続される一対の導通していない端子を備え、前記ヒューズ本体の外側先端面より前記端子をそれぞれ露出する一対の孔を設けていると共に、前記ヒューズ本体の外側先端面に導通検査用の導電板を配置して、これら導電板は前記ヒューズ本体の外側先端面より外方に突出する大きさに設定しており、かつ、
前記導電板と端子とを、それぞれ半田により固着させ、
前記導通検査用プローブピンを前記導電板に接触させることによりヒューズ回路の導通検査を行える構成としている導通検査用治具を提供している。
前記小型ヒューズは、樹脂製のヒューズ本体内に内側先端面より突出して電気接続箱のヒューズ回路と接続される一対の導通していない端子を備え、前記ヒューズ本体の外側先端面より前記端子をそれぞれ露出する一対の孔を設けていると共に、前記ヒューズ本体の外側先端面に導通検査用の導電板を配置して、これら導電板は前記ヒューズ本体の外側先端面より外方に突出する大きさに設定しており、かつ、
前記導電板と端子とを、それぞれ半田により固着させ、
前記導通検査用プローブピンを前記導電板に接触させることによりヒューズ回路の導通検査を行える構成としている導通検査用治具を提供している。
このように、ヒューズ本体の外側先端面に導電板を取り付けることにより、この小型ヒューズを所定のヒューズ装着部に装着したときに、該ヒューズ装着部の外側に前記導電板が露出するため、導通検査の際に、従来のようにプローブピンを端子挿入孔の奥の目視しづらい相手方端子と接触させる必要がなく、外部に露出した導電板に導通検査用のプローブピンを接触させることによって容易に検査することができる。
また、導電板をヒューズ本体の外側先端面より外方に突出する大きさとすることにより、プローブピンとの接触面積が広がるため、ケースに多少の反りやバリがあってプローブピンの先端がずれても、確実に接触が得やすく、導通検査の作業性を向上させることができる。
さらに、前記小型ヒューズの導電板に接触させるプローブピンを備えた導通検査棒を、ヒューズ装着部のピッチに対応させた所要ピッチをあけて保持板に取り付けている導通検査用治具を用いて、多数の小型ヒューズ部分に多数のプローブピンを一括接触させて導通検査する場合であっても、前記のようにプローブピンの接触面積が広いため、該治具の押さえ方向に細かく留意する必要がなく、容易に、かつ効率よく導通検査することができる。
さらにまた、小型ヒューズの形状は一定であるため、前記小型ヒューズは導通検査用として他の電気接続箱にも流用することができ、一度作製しておけば高い利用価値を備える。
前記小型ヒューズは使用済みのリサイクル品から作製してもよい。即ち、この小型ヒューズは導通検査専用であるため、溶断部が切れている使用済みのヒューズで足り、むしろ使用済みヒューズをリサイクルすることによって、低コスト化を図ることができる。
前記小型ヒューズを電気接続箱に設けたヒューズ装着部に装着する際には、必要数の前記小型ヒューズを前記電気接続箱に設けたヒューズ装着部のピッチに対応させた所要ピッチをあけて保持枠に装着し、これら小型ヒューズを一括で前記ヒューズ装着部へ挿入していることが好ましい。
前記構成によれば、電気接続箱のヒューズ装着部に複数の小型ヒューズを一括で挿入することができ、各ヒューズ装着部への小型ヒューズの装着作業を容易にすることができる。
また、本発明は、第2に前記導通検査用治具を用いたヒューズ回路の導通検査方法であって、
前記電気接続箱のヒューズ装着部に前記小型ヒューズを装着して、前記電気接続箱のヒューズ回路と小型ヒューズの端子を接続し、該端子と前記半田により接続された前記導電板に前記導通検査用プローブピンを接触させてヒューズ回路の導通を検査している導通検査方法を提供している。
前記電気接続箱のヒューズ装着部に前記小型ヒューズを装着して、前記電気接続箱のヒューズ回路と小型ヒューズの端子を接続し、該端子と前記半田により接続された前記導電板に前記導通検査用プローブピンを接触させてヒューズ回路の導通を検査している導通検査方法を提供している。
前記導通検査方法によれば、前記したように、導通検査の際に、従来のようにプローブピンを端子挿入孔の奥の目視しづらい相手方端子と接触させる必要がなく、外部に露出した導電板に導通検査用のプローブピンを接触させることによって容易に検査することができる。
上述したように、本発明の小型ヒューズと導通検査用プローブピンとを備えた導通検査治具を用いると、ヒューズの端子と接続させている導電板をヒューズ本体の外側端面に露出させた状態で配置していると共に面積を拡大させているため、導通検査用のプローブピンをヒューズ外面の大面積の前記導電板に接触させると、ヒューズの端子と接触させたのと同じこととなる。よって、治具を用いて多数のプローブピンを一括して導通検査する場合において、プローブピンの位置ずれ等が発生しても導通検査を行うことができ、かつ、ヒューズ外面に露出している前記導電板にプローブピンを接触させるだけで良いため、プローブピンに変形等を発生させることもない。
以下、発明の実施形態を図面を参照して説明する。
図1乃至図5は、本発明の実施形態を示し、電気接続箱試作品のヒューズ回路の導通を検査する導通検査用治具100は、電気接続箱に装着される小型ヒューズ10と導通検査用プローブピン31a、31b(8a、8b)とからなる。
図1乃至図5は、本発明の実施形態を示し、電気接続箱試作品のヒューズ回路の導通を検査する導通検査用治具100は、電気接続箱に装着される小型ヒューズ10と導通検査用プローブピン31a、31b(8a、8b)とからなる。
前記小型ヒューズ10は溶断部が溶断されてしまった使用済みのリサイクル品を利用して形成している。図2に示すように、絶縁樹脂製のヒューズ本体11には、溶断部で結合していない入力端子12と出力端子13の上部が埋設されているともに、該入力端子12と出力端子13の下部はヒューズ本体11の内側先端面11bから同一方向に突出している。
前記ヒューズ本体11の外側先端面11aには、該ヒューズ本体11に埋設された前記入力端子12と出力端子13をそれぞれ露出する一対の孔14a、14bを設け、該孔14a、14bに半田16を外側先端面11aに溢れるまで充填した後、入力端子12側の孔14aの上に入力端子側導電板15aを、出力端子13側の孔14bの上に出力端子側導電板15bを載せて、これら導電板15a、15bをヒューズ本体11の外側先端面11aに半田付け17している。
入力端子側導電板15aと出力端子側導電板15bは、いずれも略正方形状の銅片よりなり、図1(B)にも示すように、前記のように半田付け17したときにヒューズ本体11の外側先端面11aより3方向に突出する大きさに形成している。
入力端子側導電板15aと出力端子側導電板15bは、いずれも略正方形状の銅片よりなり、図1(B)にも示すように、前記のように半田付け17したときにヒューズ本体11の外側先端面11aより3方向に突出する大きさに形成している。
前記構成の小型ヒューズ10は、入力端子12と入力端子側導電板15a、出力端子13と出力端子側導電板15bとが、それぞれ前記孔14a、14bに充填された半田16により電気接続され、ヒューズ本体11の上面に入力端子側導電板15a、出力端子側導電板15bとが鍔のように外方に広がって取り付けられて構成となる。これらの入力端子側導電板15aと出力端子側導電板15bの大きさは電気接続箱のケースに設けられた小型ヒューズ装着部には正規位置に装着できる大きさとしている。
試作品の小型ヒューズ部分の内部配線の導通検査を行う場合、図2に示すように、電気接続箱の試作品のケース20の外面に設けられた小型ヒューズ用のヒューズ装着部21に小型ヒューズ10を装着し、ヒューズ装着部21の端子挿入孔22に入力端子12と出力端子13を挿入して、バスバー26からなる内部回路と接続した相手方端子25にそれぞれ圧接接続させる。
この状態において、外部に露出している前記入力端子側導電板15aと出力端子側導電板15bにプローブピン31a、31bをそれぞれ接触させることで導通検査を行うことができる。
その際、入力端子側導電板15aと出力端子側導電板15bは大きく形成しているため、プローブピン31a、31bとの接触面積が広く、プローブピンの先端がずれても容易に接触を確保することができる。
その際、入力端子側導電板15aと出力端子側導電板15bは大きく形成しているため、プローブピン31a、31bとの接触面積が広く、プローブピンの先端がずれても容易に接触を確保することができる。
また、図3に示すように、電気接続箱のケース20に多数のヒューズ装着部21が設けられている場合、図4に示す保持枠40を用いて複数の小型ヒューズ10を一括でヒューズ装着部21に挿入すると共に、前記図8に示す治具8を用いて導通検査を行う。
図4に示すように、平板状の保持枠40は複数の貫通孔からなるヒューズ保持部41を備え、各ヒューズ保持部41に上方から小型ヒューズ10を圧入して、必要数の小型ヒューズ10を保持している。ヒューズ保持部41は電気接続箱のケース20のヒューズ装着部21に対応する所要ピッチをあけて設けており、必要数の小型ヒューズ10を保持した保持枠40をケース20に近接させると、小型ヒューズ10がそれぞれヒューズ装着部21に一括で挿入される。
図5に示すように、保持板8cに保持された多数の一対のプローブピン8a、8bを夫々小型ヒューズ10の入力端子導電板15aと出力端子側導電板15bに一括接触させる。 其の際、保持板8cの反りが発生していたり、プローブピン8a、8bのピッチが小型ヒューズ10の入力端子および出力端子位置とずれていても、プローブピン8a、8bは大面積とした入力端子導電板15a、出力端子導電板15bと接触させることができれば、導通検査をおこなうことができるため、前記した一括検査時の問題を解消することができ、導通検査効率を上げることができる。
なお、本実施形態では、本発明の導通検査治具を用いて、試作品の電気接続箱のヒューズ回路の導通検査を行なっているが、試作品の電気接続箱に限らず、実際に自動車に搭載される電気接続箱の導通検査にも本発明の導通検査治具を用いることができる。
8 導通検査治具
8a、8b プローブ
8c 保持板
10 小型ヒューズ
12 入力端子
13 出力端子
15a 入力端子側導電板
15b 出力端子側導電板
21 小型ヒューズ装着部
8a、8b プローブ
8c 保持板
10 小型ヒューズ
12 入力端子
13 出力端子
15a 入力端子側導電板
15b 出力端子側導電板
21 小型ヒューズ装着部
Claims (3)
- 電気接続箱に装着される小型ヒューズと導通検査用プローブピンとを備え、
前記小型ヒューズは、樹脂製のヒューズ本体内に内側先端面より突出して電気接続箱のヒューズ回路と接続される一対の導通していない端子を備え、前記ヒューズ本体の外側先端面より前記端子をそれぞれ露出する一対の孔を設けていると共に、前記ヒューズ本体の外側先端面に導通検査用の導電板を配置して、これら導電板は前記ヒューズ本体の外側先端面より外方に突出する大きさに設定しており、かつ、
前記導電板と端子とを、それぞれ半田により固着させ、
前記導通検査用プローブピンを前記導電板に接触させることによりヒューズ回路の導通検査を行える構成としている導通検査用治具。 - 必要数の前記小型ヒューズを前記電気接続箱に設けたヒューズ装着部のピッチに対応させた所要ピッチをあけて保持枠に装着し、これら小型ヒューズを一括で前記ヒューズ装着部へ挿入している請求項1に記載の導通検査用治具。
- 前記請求項1または請求項2に記載の導通検査用治具を用いたヒューズ回路の導通検査方法であって、
前記電気接続箱のヒューズ装着部に前記小型ヒューズを装着して、前記電気接続箱のヒューズ回路と小型ヒューズの端子を接続し、該端子と前記半田により接続された前記導電板に前記導通検査用プローブピンを接触させてヒューズ回路の導通を検査していることを特徴とする導通検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004144742A JP2005326271A (ja) | 2004-05-14 | 2004-05-14 | 導通検査用治具および該導通検査用治具を用いた導通検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004144742A JP2005326271A (ja) | 2004-05-14 | 2004-05-14 | 導通検査用治具および該導通検査用治具を用いた導通検査方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005326271A true JP2005326271A (ja) | 2005-11-24 |
Family
ID=35472743
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004144742A Withdrawn JP2005326271A (ja) | 2004-05-14 | 2004-05-14 | 導通検査用治具および該導通検査用治具を用いた導通検査方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2005326271A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007263663A (ja) * | 2006-03-28 | 2007-10-11 | Chugoku Electric Power Co Inc:The | 漏電検出装置 |
US7671608B2 (en) | 2006-09-20 | 2010-03-02 | Sumitomo Wiring Systems, Ltd. | Electrical junction box |
CN102692580A (zh) * | 2012-06-12 | 2012-09-26 | 东旭集团有限公司 | 一种检测太阳能电池组件接线盒虚焊的方法 |
-
2004
- 2004-05-14 JP JP2004144742A patent/JP2005326271A/ja not_active Withdrawn
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007263663A (ja) * | 2006-03-28 | 2007-10-11 | Chugoku Electric Power Co Inc:The | 漏電検出装置 |
US7671608B2 (en) | 2006-09-20 | 2010-03-02 | Sumitomo Wiring Systems, Ltd. | Electrical junction box |
CN102692580A (zh) * | 2012-06-12 | 2012-09-26 | 东旭集团有限公司 | 一种检测太阳能电池组件接线盒虚焊的方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US11293952B2 (en) | Passive current sensor with simplified geometry | |
JP2006302906A (ja) | 集積回路素子用ソケット及び回路基板 | |
JP6124953B2 (ja) | 二厚ダブルエンド雄型ブレード端子及びその製造方法 | |
US6493234B2 (en) | Electronic components mounting structure | |
KR101823119B1 (ko) | 릴레이 소켓, 릴레이 소켓 모듈, 및 반도체 패키지 테스트 보드 어셈블리 | |
KR102344935B1 (ko) | 배터리 센싱 모듈 | |
TWI595696B (zh) | Battery connection module | |
JP2005326271A (ja) | 導通検査用治具および該導通検査用治具を用いた導通検査方法 | |
JP2007281138A (ja) | 配線基板 | |
JP4774091B2 (ja) | 電源タワーを具えた多層バーンイン基板構造 | |
JP2014038091A (ja) | 電気検査用治具の製造方法 | |
KR101729068B1 (ko) | 커넥터 지그 | |
US5795164A (en) | Assembled printed circuit board | |
JP2007288007A (ja) | 半導体レーザ装置製造用リードフレームおよび半導体レーザ装置の製造方法 | |
JP6381439B2 (ja) | ケーブル接続構造 | |
JPH1026646A (ja) | コンタクト装置 | |
JP4768509B2 (ja) | ヒューズ装着方法および電気接続箱 | |
KR200287947Y1 (ko) | 반도체장치 테스트용 다용도 소켓 | |
KR20070029481A (ko) | 릴레이 소켓을 구비한 릴레이 실장용 인쇄회로기판 | |
JP3055506B2 (ja) | Icソケット | |
JP2002299805A (ja) | 回路基板と実装位置の検査方法 | |
JP2006093210A (ja) | 電気回路体 | |
JP4044327B2 (ja) | コネクタ製造方法及びコネクタ検査方法並びにコネクタ検査装置 | |
JP3133087U (ja) | ジャンパー線保持具 | |
JP2978779B2 (ja) | 垂直型表面実装コネクタ |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20070807 |