CN104749478A - 压接测试电路和测试方法及其应用 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种压接测试电路和测试方法及其应用，通过在被压接元件上设置第一跳线区及其连接线路，对被压接元件上的输入端子辅助电路连接；在压接元件上设置第二跳线区及其连接线路，对压接元件上的输出端子进行辅助电路连接；第一跳线区及其连接线路和第二跳线区及其连接线路使得所有输入端子和所有输出端子之间按照预定连接关系连接；两个总测试端子，形成在第二跳线区，用于引出按照预定连接关系连接的所有输入端子和输出端子的两个测试端；测试按照预定连接关系连接的所有输入端子和对应的所有输出端子之间的总的阻抗值，如果总阻抗和预设的相同，则判断压接成功。通过一次测试就可将压接成功的产品筛选出来，操作简单方便，省时省力。

Description

压接测试电路和测试方法及其应用

技术领域

本发明涉及到平板显示技术领域，具体是一种压接测试电路和测试方法及其应用。

背景技术

压接工艺是平板显示器制造过程中相当重要的工艺，包括芯片与玻璃基板、柔性线路板与玻璃基板、芯片与柔性线路板、柔性线路板和非柔性线路板之间都会利用压接工艺的技术，实现电气连接和信号的传输。以平板显示器的柔性线路板与玻璃基板压接为例，现有检测压接状况通常是利用显微镜观察压接后导电粒子的破裂状况，以确定柔性线路板与玻璃基板压接后的电气连接效果。然而这种检测方式受人为主观因素影响较大，压接不良可能要到后续电测工序的定量检测后才能检查出来，因此不能及时发现压接工艺的缺陷并进行调整，这样就会降低产品的良率，并造成制造成本的浪费；而且，目前也出现了新的应用，导致无法用显微镜进行观察，例如单片式触摸屏解决方案，黑色油墨完全覆盖压接区域，就无法采用显微镜进行观察的方法。

中国专利文献CN102005165A公开了一种压合测试装置和方法，所述压合测试装置包括：被压合元件，具有第一压合部及与所述第一压合部耦接的第一测试端；压合元件，具有第二压合部以及与所述第二压合部耦接的第二测试端，所述压合元件压合于所述第一压合部并具有导通路径；电性测试元件，用于测试所述第一测试端和所述第二测试端之间的电阻值。所述压合测试装置和方法可以节省被压合元件的空间，并减少压合元件的宽度。

上述专利文献公开的压合测试装置和方法仅能测试单个端子的压接阻抗，一个器件是否压合成功需要分别对所有的端子逐一进行压合测试，才能确定所有的端子是否压合合格，测试程序复杂、工作量大，费时费力。而且，事实上压合后的大部分产品都是成功的，压合不成功的几率很小，如果像上述专利文献公开的那样对每个产品中的每个端子逐个进行测试，费时费力，无形中增大了平板显示器的制作成本。

发明内容

为此，本发明所要解决的是现有压合测试方法需要对每个端子进行逐个测试带来的费事费力增加制造成本的技术问题，提供一种测试简便的压接测试电路和测试方法及其应用。

为解决上述技术问题，本发明采用的技术方案如下：

一种压接测试电路，包括，

第一跳线区及其连接线路，设置于被压接元件上，对所述被压接元件上的输入端子辅助电路连接；

第二跳线区及其连接线路，设置于压接元件上，对所述压接元件上的输出端子进行辅助电路连接；

所述第一跳线区及其连接线路和所述第二跳线区及其连接线路使得所有所述输入端子和所有所述输出端子之间按照预定连接关系进行连接；

两个总测试端子，形成在所述第二跳线区，用于引出按照预定连接关系连接的所有所述输入端子和所述输出端子的两个测试端；

其中，所述输入端子与所述输出端子在所述被压接元件和所述压接元件压接成功后具有导通路径。

所述的压接测试电路，还包括：

三个第一测试端子，每个所述第一测试端子均与所述输入端子大小相同，在所述被压接元件上与所有所述输入端子成排设置，三个所述第一测试端子的一端直接相连；

三个第二测试端子，每个所述第二测试端子均与所述输出端子大小相同，在所述压接元件上与所有所述输出端子成排设置于对应所述第一测试端子对应位置处；

第一测试端子引出端和第四测试端子引出端，分别与位于两侧的两个所述第二测试端子相连并分别将该所述第二测试端子引出；

第二测试端子引出端和第三测试端子引出端，与位于中间的一个所述第二测试端子相连并将该所述第二测试端子引出。

所述的压接测试电路，所述第一跳线区及其连接线路和所述第二跳线区及其连接线路对所述被压接元件上的输入端子和所述压接元件上的输出端子进行辅助电路连接，使得所有所述输入端子和所有所述输出端子之间按串联关系进行连接。

所述的压接测试电路，所述第一跳线区及其连接线路和所述第二跳线区及其连接线路对所述被压接元件上的输入端子和所述压接元件上的输出端子进行辅助电路连接，使得所有所述输入端子和所有所述输出端子之间按并联关系进行连接。

所述的压接测试电路的测试方法，包括如下步骤：

用所述电性测试元件与两个所述总测试端子相连，测试按照预定连接关系连接的所有所述输入端子和对应的所有所述输出端子之间的总的阻抗值；

判断测量得到的总的阻抗值与预设的总阻抗值的差别是否在阈值范围内，如果在阈值范围内，则判断相应产品压接成功；否则，判断相应产品压接不成功。

所述的压接测试电路的测试方法，还包括以下步骤：

设置三个第一测试端子，每个所述第一测试端子均与所述输入端子大小相同，在所述被压接元件上与所有所述输入端子成排设置，三个所述第一测试端子的一端直接相连；

设置三个第二测试端子，每个所述第二测试端子均与所述输出端子大小相同，在所述压接元件上与所有所述输出端子成排设置于对应所述第一测试端子对应位置处；

设置第一测试端子引出端和第四测试端子引出端，分别与位于两侧的两个所述第二测试端子相连并分别将该所述第二测试端子引出；

设置第二测试端子引出端和第三测试端子引出端，与位于中间的一个所述第二测试端子相连并将该所述测试第二端子引出；

在所述第一测试端子引出端和所述第二测试端子引出端之间接入电压表，同时在所述第二测试端子引出端和所述第四测试端子引出端之间接入电源和电流表；

读取所述电压表和电流表的读数，得到电压值和电流值，用所述电压值比上所述电流值即得到单个端子的阻抗值Rs。

所述的压接测试电路的测试方法，所述总的测试端子之间的所述输入端子和输出端子之间串联连接;

所述判断压接是否成功的具体步骤如下：

判断测量得到的总阻抗值Rt是否小于或者等于K*n*Rs，如果Rt≤K*n*Rs，则判断产品压接成功；否则，判断产品压接不成功；其中,K为调整系数，依据端子设计以及压接工艺来确定；n为端子总数目。

所述的压接测试电路的测试方法，所述总的测试端子之间的所述输入端子和输出端子之间并联连接；

所述判断压接是否成功的具体步骤如下：

判断测量得到的总阻抗值Rt是否大于或者等于K*(Rs/n)，如果Rt≥K*(Rs/n)，则判断产品压接成功；否则，判断产品压接不成功；其中，K为调整系数，依据端子设计以及压接工艺来确定；n为端子总数目。

一种平板显示器，设置有压接元件和被压接元件，在所述压接元件和所述被压接元件上设置有上述任一所述的压接测试电路。

一种平板显示器，所述压接元件和所述被压接元件为芯片与玻璃基板，或者柔性线路板与玻璃基板，或者芯片与柔性线路板，再或者柔性线路板和非柔性线路板。

本发明的上述技术方案相比现有技术具有以下优点：

（1）本发明的压接测试电路和测试方法中，通过在被压接元件上设置第一跳线区及其连接线路，对所述被压接元件上的输入端子辅助电路连接；在压接元件上设置第二跳线区及其连接线路，对所述压接元件上的输出端子进行辅助电路连接；所述第一跳线区及其连接线路和所述第二跳线区及其连接线路使得所有所述输入端子和所有所述输出端子之间按照预定连接关系进行连接；两个总测试端子，形成在所述第二跳线区，用于引出按照预定连接关系连接的所有所述输入端子和所述输出端子的两个测试端；测试时通过电性测试元件与两个所述总测试端子相连，测试按照预定连接关系连接的所有所述输入端子和对应的所有所述输出端子之间的总的阻抗值，如果总阻抗和预设的总阻抗值相同，则可判断压接成功。通过一次测试，就可将压接成功的产品筛选出来，操作简单方便，省时省力。

（2）本发明的压接测试电路和测试方法中，通过设置单独的第一测试端子和第二测试端子以及对应的第二测试端子引出端，在产品压接后通过四点阻抗法测量单个测试端子的实际电阻，鉴于第一测试端子和第二测试端子与输入端子和输出端子的大小和位置相同，在同样的压接工艺下，测量出的测试端子的电阻即为产品上其他单个端子的实际电阻，使得后续总阻抗的比较基础更客观，判断结果更准确。

附图说明

为了使本发明的内容更容易被清楚的理解，下面根据本发明的具体实施例并结合附图，对本发明作进一步详细的说明，其中

图1为本发明一个实施例的一种测试玻璃基板与柔性线路板压接状况的测试电路结构示意图；

图2为本发明另一个实施例的一种测试玻璃基板与柔性线路板压接状况的测试电路结构示意图；

图3为本发明一个实施例的四点阻抗测试单端子阻抗的电路原理示意图；

图4为本发明一个实施例的一种测试电路中所有输入端子和输出端子串联连接的结构示意图。

图中附图标记表示为：210-被压接元件，211-输入端子，212-第一跳线区，213-第一测试端子，220-玻璃基板，240-压接元件，241-输出端子，242-测试端子引出端，243-第二测试端子，244-第二跳线区。

具体实施方式

实施例1

参见图1所示，为本发明一个实施例的一种压接测试电路，包括，

第一跳线区212及其连接线路，设置于被压接元件210上，对所述被压接元件210上的输入端子211辅助电路连接。本实施例中，所述被压接元件210也为一块玻璃基板，所述被压接元件210与玻璃基板220层叠后构成平板显示器。

第二跳线区244及其连接线路，设置于压接元件240上，对所述压接元件240上的输出端子241进行辅助电路连接。本实施例中，所述压接元件240为柔性线路板。

所述第一跳线区212及其连接线路和所述第二跳线区244及其连接线路使得所有所述输入端子211和所有所述输出端子241之间按照预定连接关系进行连接。

两个总测试端子TP5和TP6，形成在所述第二跳线区244，用于引出按照预定连接关系连接的所有所述输入端子211和所述输出端子241的两个测试端。

其中，所述输入端子211与所述输出端子241在所述被压接元件210和所述压接元件240压接成功后具有导通路径。

电性测试元件（图中未示出），用于与两个所述总测试端子相连，测试按照预定连接关系连接的所有所述输入端子211和对应的所有所述输出端子241之间的总的阻抗值。本实施例中，所述电性测试元件可以为欧姆表。

本发明的压接测试电路中，通过在被压接元件210上设置第一跳线区212及其连接线路，对所述被压接元件210上的输入端子211辅助电路连接；在压接元件240上设置第二跳线区244及其连接线路，对所述压接元件240上的输出端子241进行辅助电路连接；所述第一跳线区212及其连接线路和所述第二跳线区244及其连接线路使得所有所述输入端子211和所有所述输出端子241之间按照预定连接关系进行连接；两个总测试端子，形成在所述第二跳线区244及其连接线路，用于引出按照预定连接关系连接的所有所述输入端子211和所述输出端子241的两个测试端；测试时通过电性测试元件与两个所述总测试端子相连，测试按照预定连接关系连接的所有所述输入端子211和对应的所有所述输出端子241之间的总的阻抗值，如果总阻抗和预设的总阻抗值相同，则可判断压接成功。通过一次测试，就可将压接成功的产品筛选出来，操作简单方便，省时省力。

测试结束后，被压接元件210上的第一跳线区212沿图示虚线采用激光镭射切割的方式断开，压接元件240上的第二跳线区244沿图示虚线采用切割或激光镭射的方式断开，使各个输入端子211和输出端子241与测试电路中的连接关系断开，继续承担电源信号或数据信号的输入与输出作用。

实施例2

参见图2和图3所示，在上述实施例1的基础上，本实施例的所述压接测试电路还包括如下测试-单个端子阻抗值的电路：

三个第一测试端子213，依次为T1、T2和T3，每个所述第一测试端子213均与所述输入端子211大小相同，在所述被压接元件210上与所有所述输入端子211成排设置，三个所述第一测试端子213的一端直接相连，即在所述被压接元件上依次进行短接。

三个第二测试端子243，依次为Ta、Tb和Tc，每个所述第二测试端子243均与所述输出端子241大小相同，在所述压接元件240上与所有所述输出端子241成排设置于对应所述第一测试端子213对应位置处。

第一测试端子引出端TP1和第四测试端子引出端TP4，分别与位于两侧的两个所述第二测试端子243相连并分别将该所述第二测试端子243引出，即Ta引出第一测试端子引出端TP1，Tc引出所述第四测试端子引出端TP4。

第二测试端子引出端TP2和第三测试端子引出端TP3，与位于中间的一个所述第二测试端子243相连并将该所述第二测试端子243引出，即Tb引出所述第二测试端子引出端TP2和所述第三测试端子引出端TP3。

具体参见图3所示，本实施例中四点阻抗法测试单个端子的阻抗值的电路原理示意图，其中，电压表串联在所述第一测试端子引出端TP1和第二测试端子引出端TP2之间，已知电源和电流表串接在所述第三测试端子引出端TP3和第四测试端子引出端TP4之间。这样，电压表的读数即为Rb两端的电压，电流表的读数即为流过Rb的电流，通过电压值比上电流值即为Rb的电阻值，即单个端子的阻抗值Rs。

本实施例中，所述第一跳线区212及其连接线路和所述第二跳线区244及其连接线路对所述被压接元件210上的输入端子211和所述压接元件240上的输出端子241进行辅助电路连接，使得所有所述输入端子211和所有所述输出端子241之间按串联关系进行连接。串接后的所有输入端子211和输出端子的连接结构见图4所示。采用串联关系连接各个所述输入端子211和输出端子241，使得总阻抗值等于各个输入端子211和输出端子241的阻抗值之和，计算简单方便；而且，由于各个端子的阻抗值均比较小，一般为几个欧姆，采用串联连接，只需累加各个端子的阻抗值即可得到总的阻抗值，单个端子的阻抗值的变化在总阻抗值中体现的比较明显，方便后续判断和比对压接是否成功。

作为本发明的其他实施例，所述第一跳线区212及其连接线路和所述第二跳线区244及其连接线路对所述被压接元件210上的输入端子211和所述压接元件240上的输出端子241进行辅助电路连接，使得所有所述输入端子211和所有所述输出端子241之间按并联关系进行连接。

本实施例的压接测试电路中，通过设置单独的第一测试端子213和第二测试端子243以及对应的第二测试端子引出端242，在产品压接后通过四点阻抗法测量单个端子的阻抗值Rs，鉴于第一测试端子213和第二测试端子243与输入端子211和输出端子241的大小和位置相同，在同样的压接工艺下，测量出的测试端子的阻抗值Rs即为产品上其他单个端子的实际电阻，使得后续总阻抗的比较基础更客观，判断结果更准确。

当然，作为本发明的其他实施例，单个端子的阻抗值Rs也可以使用经验值，这样不用实际测量每个压接产品中单个端子的阻抗值Rs，简单方便，但是误差较大，判断结果不太准确。

实施例3

本发明实施例所述压接测试电路的测试方法，包括如下步骤：

用所述电性测试元件与两个所述总测试端子相连，测试按照预定连接关系连接的所有所述输入端子211和对应的所有所述输出端子241之间的总的阻抗值。

判断测量得到的总的阻抗值与预设的总阻抗值的差别是否在阈值范围内，如果在阈值范围内，则判断相应产品压接成功；否则，判断相应产品压接不成功。其中预设的所述总阻抗值根据单个端子的阻抗值计算得到，具体到单个端子的阻抗值可以是一个经验值，也可以是实际测量值，并且较为准确的是在每次压接后实际测量的单个端子的阻抗值。

本实施例的压接测试电路的测试方法，测试时通过电性测试元件与两个所述总测试端子相连，测试按照预定连接关系连接的所有所述输入端子211和对应的所有所述输出端子241之间的总的阻抗值，如果总阻抗和预设的总阻抗值相同，则可判断压接成功。通过一次测试，就可将压接成功的产品筛选出来，操作简单方便，省时省力。

实施例4

在上述实施例3的基础上，测量所述单个端子的阻抗值的方法具体包括以下步骤：

设置三个第一测试端子213，每个所述第一测试端子213均与所述输入端子211大小相同，在所述被压接元件210上与所有所述输入端子211成排设置，三个所述第一测试端子213的一端直接相连。

设置三个第二测试端子243，每个所述第二测试端子243均与所述输出端子241大小相同，在所述压接元件240上与所有所述输出端子241成排设置于对应所述第一测试端子213对应位置处。

设置第一测试端子引出端TP1和第四测试端子引出端TP4，分别与位于两侧的两个所述第二测试端子243相连并分别将该所述第二测试端子243引出。

设置第二测试端子引出端TP2和第三测试端子引出端TP3，与位于中间的一个所述第二测试端子243相连并将该所述测试第二测试端子243引出。

在所述第一测试端子引出端TP1和所述第二测试端子引出端TP2之间接入电压表，同时在所述第二测试端子引出端TP2和所述第四测试端子引出端TP4之间接入电源和电流表。

读取所述电压表和电流表的读数，得到电压值和电流值，用所述电压值比上所述电流值即得到单个端子的阻抗值Rs。

本实施例的压接测试电路中，通过设置单独的第一测试端子213和第二测试端子243以及对应的第二测试端子引出端242，在产品压接后通过四点阻抗法测量单个测试端子的实际电阻，鉴于第一测试端子213和第二测试端子243与输入端子211和输出端子241的大小和位置相同，在同样的压接工艺下，测量出的测试端子的电阻即为产品上其他单个端子的实际电阻，使得后续总阻抗的比较基础更客观，判断结果更准确。

实施例5

在上述实施例3或者实施例4的基础上，所述总的测试端子之间的所述输入端子211和输出端子241之间串联连接;所述的压接测试电路的测试方法中所述判断压接是否成功的具体步骤如下：

判断测量得到的总阻抗值Rt是否小于或者等于K*n*Rs，如果Rt≤K*n*Rs，则判断产品压接成功；否则，判断产品压接不成功；其中,K为调整系数，依据端子设计以及压接工艺来确定；n为端子总数目。

本实施例中，所述第一跳线区212及其连接线路和所述第二跳线区244及其连接线路对所述被压接元件210上的输入端子211和所述压接元件240上的输出端子241进行辅助电路连接，使得所有所述输入端子211和所有所述输出端子241之间按串联关系进行连接。采用串联关系连接各个所述输入端子211和输出端子241，使得总阻抗值等于各个输入端子211和输出端子241的阻抗值之和，计算简单方便；而且，由于各个端子的阻抗值均比较小，一般为几个欧姆，采用串联连接，只需累加各个端子的阻抗值即可得到总的阻抗值，单个端子的阻抗值的变化在总阻抗值中体现的比较明显，方便后续判断和比对压接是否成功。

实施例6

在上述实施例3或者实施例4的基础上，所述的压接测试电路，所述总的测试端子之间的所述输入端子211和输出端子241之间并联连接，所述判断压接是否成功的具体步骤如下：

判断测量得到的总阻抗值Rt是否大于或者等于K*(Rs/n)，如果Rt≥K*(Rs/n)，则判断产品压接成功；否则，判断产品压接不成功；其中，K为调整系数，依据端子设计以及压接工艺来确定；n为端子总数目。

显然，上述实施例仅仅是为清楚地说明所作的举例，而并非对实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。而由此所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本发明创造的保护范围之中。

Claims (10)

1.一种压接测试电路，用于测试被压接元件与压接元件之间的压接，其特征在于，包括，

第一跳线区及其连接线路，设置于被压接元件上，对所述被压接元件上的输入端子辅助电路连接；

第二跳线区及其连接线路，设置于压接元件上，对所述压接元件上的输出端子进行辅助电路连接；

所述第一跳线区及其连接线路和所述第二跳线区及其连接线路使得所有所述输入端子和所有所述输出端子之间按照预定连接关系进行连接；

两个总测试端子，形成在所述第二跳线区，用于引出按照预定连接关系连接的所有所述输入端子和所述输出端子的两个测试端；

其中，所述输入端子与所述输出端子在所述被压接元件和所述压接元件压接成功后具有导通路径。

2.根据权利要求1所述的压接测试电路，其特征在于：还包括：

三个第一测试端子，每个所述第一测试端子均与所述输入端子大小相同，在所述被压接元件上与所有所述输入端子成排设置，三个所述第一测试端子的一端直接相连；

三个第二测试端子，每个所述第二测试端子均与所述输出端子大小相同，在所述压接元件上与所有所述输出端子成排设置于对应所述第一测试端子对应位置处；

第一测试端子引出端和第四测试端子引出端，分别与位于两侧的两个所述第二测试端子相连并分别将该所述第二测试端子引出；

第二测试端子引出端和第三测试端子引出端，与位于中间的一个所述第二测试端子相连并将该所述第二测试端子引出。

3.根据权利要求1或2所述的压接测试电路，其特征在于：所述第一跳线区及其连接线路和所述第二跳线区及其连接线路对所述被压接元件上的输入端子和所述压接元件上的输出端子进行辅助电路连接，使得所有所述输入端子和所有所述输出端子之间按串联关系进行连接。

4.根据权利要求1所述的压接测试电路，其特征在于：所述第一跳线区及其连接线路和所述第二跳线区及其连接线路对所述被压接元件上的输入端子和所述压接元件上的输出端子进行辅助电路连接，使得所有所述输入端子和所有所述输出端子之间按并联关系进行连接。

5.根据权利要求1所述的压接测试电路的测试方法，其特征在于：包括如下步骤：

用电性测试元件与两个所述总测试端子相连，测试按照预定连接关系连接的所有所述输入端子和对应的所有所述输出端子之间的总的阻抗值；

判断测量得到的总的阻抗值与预设的总阻抗值的差别是否在阈值范围内，如果在阈值范围内，则判断相应产品压接成功；否则，判断相应产品压接不成功。

6.根据权利要求5所述的压接测试电路的测试方法，其特征在于：还包括以下步骤：

设置三个第一测试端子，每个所述第一测试端子均与所述输入端子大小相同，在所述被压接元件上与所有所述输入端子成排设置，三个所述第一测试端子的一端直接相连；

设置三个第二测试端子，每个所述第二测试端子均与所述输出端子大小相同，在所述压接元件上与所有所述输出端子成排设置于对应所述第一测试端子对应位置处；

设置第一测试端子引出端和第四测试端子引出端，分别与位于两侧的两个所述第二测试端子相连并分别将该所述第二测试端子引出；

设置第二测试端子引出端和第三测试端子引出端，与位于中间的一个所述第二测试端子相连并将该所述测试第二端子引出；

在所述第一测试端子引出端和所述第二测试端子引出端之间接入电压表，同时在所述第二测试端子引出端和所述第四测试端子引出端之间接入电源和电流表；

读取所述电压表和电流表的读数，得到电压值和电流值，用所述电压值比上所述电流值即得到单个端子的阻抗值Rs。

7.根据权利要求5或6所述的压接测试电路的测试方法，其特征在于：所述总的测试端子之间的所述输入端子和输出端子之间串联连接;

所述判断压接是否成功的具体步骤如下：

判断测量得到的总阻抗值Rt是否小于或者等于K*n*Rs，如果Rt≤K*n*Rs，则判断产品压接成功；否则，判断产品压接不成功；其中,K为调整系数，依据端子设计以及压接工艺来确定；n为端子总数目。

8.根据权利要求5或6所述的压接测试电路的测试方法，其特征在于：所述总的测试端子之间的所述输入端子和输出端子之间并联连接；

所述判断压接是否成功的具体步骤如下：

判断测量得到的总阻抗值Rt是否大于或者等于K*(Rs/n)，如果Rt≥K*(Rs/n)，则判断产品压接成功；否则，判断产品压接不成功；其中，K为调整系数，依据端子设计以及压接工艺来确定；n为端子总数目。

9.一种平板显示器，设置有压接元件和被压接元件，其特征在于，在所述压接元件和所述被压接元件上设置有权利要求1-4任一所述的压接测试电路。

10.根据权利要求9所述的一种平板显示器，其特征在于，所述压接元件和所述被压接元件为芯片与玻璃基板，或者柔性线路板与玻璃基板，或者芯片与柔性线路板，再或者柔性线路板和非柔性线路板。