JPS60161567A - 配線検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 この発明は配線の良否を検査する配線検査装置に関する
ものである。

〔従来技術〕

従来この袖の装置として第１図に示すものがあった。

図において山はメモリ装置、（２）は接続要素取出し手
段、（３）は出力回路、（４１は端子盤、（５）は入力
回路、（６）は結果の接続要素取出し手段、（７）は正
の接続要素取出し手段、（８）は比較手段、（９）は表
示出力である。

検査対象配線（図示せず〕中の検査に関係のある１つの
接続点を１つの接続要素とし、正しい配線状態において
は相互に接続さるべきすべての接続要素を１つの集合と
する。第１図のメモリ装置（１）は格納されている情報
の内容を示し、図に示す例では集合ａ、集合す、集合Ｃ
の３集合に属するすべての接続要素の要素名（要素番号
）を表すコードとその接続要素の属する集合名を表すコ
ードとが記憶されているとする。集合ａに属する要素は
ａ。、ａ□、・・・ａＬの（ｔ＋１）個、集合すに属す
る要素はｂ　１個、集合Ｃに縞する要素はＣ６，Ｃ□、
・・・Ｃｍの（ｍ＋１）個である例を示す。

メモリ装置中の内容は検査対象配線（図示せず）に従っ
て決定されるので、検査対象配線内には第１図のメモリ
装置（１）に示すと同様な接続要素が存在し、端子盤１
４１には検査対象配線の各接続要素に接続されている各
端子がメモリ装置ｔ　ｉｌ＋における接続要素の配列順
と同一配列順に配列されている。

次に第１図に示す装置の動作について説明する。

集合ａに対する配線検査を行うとき、接続要素取出し手
段（２１は果合ａの先頭番地に記憶されている接続要素
ａ。の情報を読出してこれを出力回路（３１に送る。出
力回路はこの情報によって接続要素ａ。

に対応する接続端子を選択し、端子盤（４１内のその接
続端子に、たとえば、陶理「１」の信号′電圧を出力す
る。この信号電圧は集合ａに鵜するすべての接続要素に
対応する接続端子に出力される筈ででおる。一般的には
、接続要素ａ０のかわシに集合ａに属する任意の接続要
素の情報を接続要素取出し手段（２１で読出して出力回
路（４１に送り、その情報に対応する接続端子に信号電
圧を加えてもよい。

結果の要素取出し手段（６）は入力回路（５）に入力さ
れている端子盤（４１のすべての接続端子を順次走査し
く但し、接続要素ａ。に対応する接続端子は走査を省略
してもよい〕、最初に信号電圧の検出された接続端子に
対応する接続要素ａ□　の情報を出力する。他方、正の
接続要素取出し手段（７）、すなわちメモリ装置中に格
納されている正しい接続要素を読出す手段は、接続要素
ａ。の次の番地の接続要素ａ１　を読出す。比較手Ｒ（
８；は結果の接続要素取出し手段（６）と正の接続要素
取出し手段（７）とからそれぞれ入力される２つの接続
要素の情報を比較し、一致すれば良と判定し、次の接続
要素の比較を開始する。比較手段（８１に入力される２
つの接続要素の情報が不一致の場合、又は結果の接続要
素取出し手段（６）からの接続要素の情報に対応する正
の接続要素取出し手段（７）からの接続要素の情報が存
在しない場合、おるいは逆に正の接続要素取出し手段（
７）からの接続要素の情報に対応する結果の接続要素取
出し手段（６）からの接続要素の情報が存在しない場合
はいずれも不良と判定する。

このようにして、集合ａに関しては、結果の接続要素取
出し手段＋６１からの接続要素情報も、正の接続要素取
出し手段（６）からの接続要素情報も、読出し尽すまで
比較手段１８１においての比較を行い、次は集合すにう
つる。

集合すには接続要罰す。しか存在しないから、出力回路
（３）から信号電圧を与えた接続要素ｂｏ　に対応する
接続端子以外に信号電圧が検出されれば余剰な接続を意
味するので不良と判定する。

以上のようにして、すべての集合に対し順次配線検査を
行う。

従来の装置は上述のように動作するので、たとえば第１
図のメモリ装置（１）に示す内容で、もし集合ａと集合
Ｃとが余剰配線で接続されていたとすれば、接続要素ａ
’ＯＶｃ信号電圧を加えた場合、接続要素＆０　＊　ａ
ｌ　ｔ　”・ａｔ　及びＣＯｅ　Ｃ１＋　’・・ａｍに
信号電圧が検出され、これが結果の接続要素取出し手段
（６）から順次比較手段１８）に入力され、比較手段（
８１ではｃ　、ｃ　、・・・Ｃの（ｍ＋１）回の不良結
果Ｏｌ　ｍ を出力するということになる。また、ｎ個の要素を持つ
集合が未配線のためｐ個とｑ個の要素を持つ２つの集合
に分離した場合、ｑ個の要素についてｑ回の不良結果を
出力することが必要となり、配線検査のために無駄な時
間が消費されるという欠点があった。

〔発明の概要〕

この発明は上記のような従来のものの欠点を除去するた
めになされたもので、集合に属する接続要素の総数を比
較するという手段を導入することによって、配線の良、
不良及び不良の種類の判定を迅速に行うことができるよ
うにした。

〔発明の実施例〕

以下この発明の実施例を図面について説明する。

第２図はこの発明の一実施例を示すブロック図で、第１
図と同一符号は同−又は相当部分を示し、１０１は結果
の要素計数手段、ｕｌｌは結果の集合計数手段、（６）
は正の要素計数手段、（Ｌ３は比較手段、（２０）は接
続要素取出し手段である。

第３図げ・第２図の比較手段ｆ１３１の動作を示すフロ
ーチャートであって、（３υ〜（３７）は各ステップを
示す。

次に第２図に示す装置の動作について説明する。

集合ａに関する接続検査を行うとき、接続要素取出し手
段（２０）がメモリ装置ｔｌｌから接続要素ａＯの情報
を読出して出力回路＋３１に与え、出力回路（３）が端
子盤（４）中の接続要素ａｇ　に対応する接続端子に論
理「１」の信号電圧を与え、同時に接続要素取出し手段
（２０）から結果の集合計数手段住υに数値ｌをセット
する。結果の接続要素取出し手段（６）は入力回路（５
：を走査し、信号電圧の検出された接続端子に対応する
接続要素の情報を接続要素取出し手段（２０）と結果の
要素計数手段１１ｔＩｌに送る。結果の要素計数手段部
は入力される接続要素の情報数を計数する。接続要素取
出し手段（２０）は結果の接続要素取出し手段（６）か
ら入力される接続要素の情報のうちに、メモリ装置（１
；内の集合ａに属するすべての接続要素ａ。、ａｌ、・
・・ａＺ　が含まれているかどうかを調べ、含まれてい
る場合には比較手段（１３１に対し比較動作を指示する
。含まれていない場合は、含まれていない接続要素のう
ちから任意の接続要素の情報を選んで出力回路（３）に
送出し、同時に結果の集合計数手段αＤの計数値に数値
１を加算する。

出力回路（３１は接続要素取出し手段（２０）から送ら
れてきた接続要素に対応する接続端子を第２の信号接続
端子として追加しく第１の信号接続端子は先に説明した
ように要素ａ。に対応する端子であるン、この接続端子
へ論理「１」の信号電圧を入力する。

その結果、入力回路（５）中に信号電圧の検出される端
子が増加し、この増加した状態において、結果の接続要
素取出し手段（６）は入力回路（５）を走をし、信号電
圧の検出された接続端子に対応する接続要素の情報を接
続要素取出し手段（２０）と結果の要素計数手段ααに
送る。接続要素取出し手段（２０）と結果の要素計数手
段（ｌαとでは、前回の結果の接続要素取出し手段（６
１からの入力に対すると同様な動作を繰返し、接続要素
取出し手段（２０）から比較手段（１３１への比較動作
指示の信号を出力する状態になるとこの繰返しを停止す
る。

比較動作指示の信号によって比較開始すると第３図に示
す動作が行われ、ステップ（３１Ｊで結果の集合計数手
段Ｕυの計数値が１であるか２以上であるかを判定し、
ステップ（３２）、　（３３）で結果の要素計数手数ｔ
ｌｌｌｌの計数値が集合ａに含まれる接続要素の総数（
正の要素計数手数（６）の計数値）と合致するか否かが
判定され、ステップ（３υの判定結果がＹＥＳで、ステ
ップ（３２）の判定結果がＹＥＳであれば良、ステップ
（３υの判定結果がＹＥＳで、ステップ（３２）の判定
結果がＮＯであれば不良（余配線有り）、ステップ（３
υの判定結果が陽でステップ（３３）の判定結果がＹＥ
Ｓであれば不良（未配線有シ）、ステップ（３υ、　（
３３）の判定結果が共にＮＯであれば不良（誤配線布９
）と決定して表示出力（９）へ出力する。

たとえば、集合ａと集合Ｃとが金配線により接続されて
いたとすると、要素ａ。に対応する接続端子だけを信号
接続端子としたとき結果の接続要素取出し手段（６）は
接続要素ａ。、ａｌ、・・・ａｔ＋　ｅＯｅＣＩ＋・・
・Ｃｍ　を検出するのでステップ（３υの判定はＹＥＳ
　、ステップ（３２）の判定は（支）となり、ステップ
（３４）が表示出力（９）となる。

他の集合に対しても集合ａに対すると同様な動作を行う
。

なお、第１図に示すメモリ装置（１）は電子回路を用い
たメモリ装置を想定して説明したが、結線衣の情報をカ
ード等に記憶するメモリ装置を用い、これを電気信号に
変換して人力することもできる。

また、出力回路＋ａ＋から出力する電気信号を論理「１
」の電気信号として説明したが、この電気信号は正弦波
交流又はパルス信号であってもよい。

さらに、正の要素計数手段（ロ）を省略し、集合ごとの
要素数をメモリ装置（１１に記憶しておいてこれを読出
して比較手段（１３に供給することもできる。

〔発明の効果〕

以上のようにこの発明によれば、個々の要素の比較方法
を、集合単位に要素の数と集合の数で比較するように構
成したので、配線検査を迅速に行うことができるという
効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来の装置を示すブロック図、第２図はこの発
明の一実施例を示すブロック図、第３図は第２図の比較
手段の動作を示すフローチャートである。 は」・・・メモリ装置、（３１・・・出力回路、（４）
・・・端子盤、＋５１・・・入力回路、（６）・・・結
果の接続要素取出し手段。 ＋９１・・・表示出力、ＩＩユ・・・結果の要素計数手
段、（ロ）・・・正の要素計数手段、（１３１・・・比
較手段、（２す・・・接続要素取出し手段。 尚、各図中同一符号は同−又は相当部分を示す。 代理人　大　岩　増　雄

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 検査対象配線の１つの接続点を１つの接続要素とし、正
   しい配線状態において相互に接続されるすべての接続要
   素を１′）の集合とするとき、上記検査対象配線のすべ
   ての接続要素の情報を当該液＠要素の集合別に記憶する
   メモリ装置と、上記すべての接続要素の各接続要素がそ
   れぞれ接続された各接続端子とを備え、上記メモリ装置
   から読出した接続要素の情報に対応する接続端子に所定
   の電気信号を人力し、上記所定の電気信号の出力される
   接続端子を検Ｗして上記メモリ装置の内容と対比するこ
   とによって、上記検査対象配線の検査を行う配線検査装
   置において、 上記メモリ装置内の１つの集合を選択し、この選択した
   集合に鵡する任意の接続要素に対応する接続端子を１つ
   の信号接続端子としてこの端子に上記所定の電気信号を
   人力する手段と、上記所定の電気信号が出力される接続
   端子を検出して、この検出情報を結果の接続要素情報と
   する手段と、 上記選択した集合に稿する接続要素の情報として上記メ
   モリ装置に記憶されているすべての接続要素の情報中に
   上記結果の接続要素情報に含まれてないものがあれば、
   その含まれてない接続要素中の任意の接続要素に対応す
   る接続端子を上Ｒｒ２信号接続端子として追加し、この
   端子に上記所定の電気信号を人力し、信号接続端子が追
   加された状態に対応する結果の接続要素情報を検出する
   手段と、 上記結果の接Ｖｅ、要素情報中に上Ｈｒ２メモリ装置内
   の上記選択した集合に属するすべての接続要素が含まれ
   る状態において、上記信号接続端子がｌでめるか２以上
   であるかを検査し、かつ上記結果の接続要素情報によっ
   て表わされる接続要素数と上記選択した集合に属する接
   続要素として上記メモリ装置中に記憶される接続要素数
   とが一致するか否かを検査する手段とを備えたことを特
   徴とする配線検査装置。