JPS59173852A - 試験装置 - Google Patents
試験装置Info
- Publication number
- JPS59173852A JPS59173852A JP58048184A JP4818483A JPS59173852A JP S59173852 A JPS59173852 A JP S59173852A JP 58048184 A JP58048184 A JP 58048184A JP 4818483 A JP4818483 A JP 4818483A JP S59173852 A JPS59173852 A JP S59173852A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- diagnostic program
- check
- checking
- keyboard
- microprocessor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、マイクロプロセッサを使用した機器において
、マイクロプロセッサにより制御される周辺回路の故障
の状態を診断する試験装置に関するものである。
、マイクロプロセッサにより制御される周辺回路の故障
の状態を診断する試験装置に関するものである。
一般に、この種の試験装置は、被試験機器に使用された
マイクロプロセッサの代りに機器内につなぎ込まれ、マ
イクロプロセッサに代って一連のチェック用の制御出力
を発生するとともに−１この制御出力に対する周辺回路
の信号状態を逐次チェ゛ツクすることにより、その周辺
回路における故障の有無を検出するようにしたものであ
る。ここで、信号状態をチェックするための信号の取り
込みにはプローブが用いられる。すなわち、表示部の指
示に従って所定の箇所にプローブを当てることにより、
試験装置がその場所の信号を自動的に取り込み、その信
号状態を正常時の信号データと比較することにより良否
の判断を行なう。このため、作業員は試験装置の指示に
従ってプローブを順次指定された位置に当てて行くだけ
で、周辺回路における故障箇所を簡単に発見することが
できる。
マイクロプロセッサの代りに機器内につなぎ込まれ、マ
イクロプロセッサに代って一連のチェック用の制御出力
を発生するとともに−１この制御出力に対する周辺回路
の信号状態を逐次チェ゛ツクすることにより、その周辺
回路における故障の有無を検出するようにしたものであ
る。ここで、信号状態をチェックするための信号の取り
込みにはプローブが用いられる。すなわち、表示部の指
示に従って所定の箇所にプローブを当てることにより、
試験装置がその場所の信号を自動的に取り込み、その信
号状態を正常時の信号データと比較することにより良否
の判断を行なう。このため、作業員は試験装置の指示に
従ってプローブを順次指定された位置に当てて行くだけ
で、周辺回路における故障箇所を簡単に発見することが
できる。
また、このようなチェックの手＋０１は、予め診断プロ
グラムとして記憶されており、試験装置はこの診断プロ
グラムに従って開成チェックを進めて行く。
グラムとして記憶されており、試験装置はこの診断プロ
グラムに従って開成チェックを進めて行く。
しかしながら、上記のような診断プログラムは周辺回路
の全体に対して一連のチェック動作を決められた順序で
行なうものであり、常に同じ場所からチェックを開始す
るように組まれているので、故障の症状から故障箇所の
大まかな見当がつくような場合にも、診断プログラムの
通りに最初からチェックを行なわなければならず、チェ
ックに長い時間を要してしまう。
の全体に対して一連のチェック動作を決められた順序で
行なうものであり、常に同じ場所からチェックを開始す
るように組まれているので、故障の症状から故障箇所の
大まかな見当がつくような場合にも、診断プログラムの
通りに最初からチェックを行なわなければならず、チェ
ックに長い時間を要してしまう。
本発明は、上記のような従来装置の欠点をなくし、予め
故障箇所の見当がつくような場合には、診断プログラム
における任意のステップからチェック動作を開始するこ
とのできる試験装置を簡単な構成により実現することを
目的としたものである。
故障箇所の見当がつくような場合には、診断プログラム
における任意のステップからチェック動作を開始するこ
とのできる試験装置を簡単な構成により実現することを
目的としたものである。
本発明の試験装置は、チェックのための出力信号データ
と、その出力信号に応じてプローブを当てるべきチェッ
ク位置を表わす表示データとを含むチェックステップが
任意に組み合わされた診断プログラムを有する試験装置
において、この試験装置に診断プログラムの中から前記
表示データ部分の内容を検索することのできる検索機能
を設け、キーボードなどから入力された周辺回路の番号
などをもとにして、診断プログラム上で表示データがそ
の番号と一致するチェックステップの位置を検出し、そ
のチェックステップから診断プログラムをスタートさせ
ることができるようにしたものである。
と、その出力信号に応じてプローブを当てるべきチェッ
ク位置を表わす表示データとを含むチェックステップが
任意に組み合わされた診断プログラムを有する試験装置
において、この試験装置に診断プログラムの中から前記
表示データ部分の内容を検索することのできる検索機能
を設け、キーボードなどから入力された周辺回路の番号
などをもとにして、診断プログラム上で表示データがそ
の番号と一致するチェックステップの位置を検出し、そ
のチェックステップから診断プログラムをスタートさせ
ることができるようにしたものである。
以下、図面を用いて本発明の試験装置を説明する。
第１図は本発明の試験装置の一実施例を示す構成図であ
る。図において、ＣＰＵは試験装置全体の動作を制御す
るマイクロプロセッサ、ＭＥＭは診断プログラムを記憶
するメモリ、ＤＩＳは診断プログラムにおける表示デー
タを表示し、プローブを当てるべき箇所を指示する表示
部、ＫＹＢは周辺回路の番号などを入力するキーボード
、ＯＵＴはチェック用の制御出力を送出する出力端子、
ＩＮはこの制御出力に対応した信号状態を取り込む入力
端子、ＰＲＯはプローブである。ここで、周辺回路は一
般にＩＣを中心として構成されており、表示９部ＤＩＳ
の表示にはＩＣの番号が利用されている。
る。図において、ＣＰＵは試験装置全体の動作を制御す
るマイクロプロセッサ、ＭＥＭは診断プログラムを記憶
するメモリ、ＤＩＳは診断プログラムにおける表示デー
タを表示し、プローブを当てるべき箇所を指示する表示
部、ＫＹＢは周辺回路の番号などを入力するキーボード
、ＯＵＴはチェック用の制御出力を送出する出力端子、
ＩＮはこの制御出力に対応した信号状態を取り込む入力
端子、ＰＲＯはプローブである。ここで、周辺回路は一
般にＩＣを中心として構成されており、表示９部ＤＩＳ
の表示にはＩＣの番号が利用されている。
このように構成された本発明の試験装置において、通常
のチェック動作は診断プログラムに記憶された手順に従
って進められる。例えば、診断プログラムが１番のＩＣ
から順にチェックして行くものであるとすると、最初の
チェックステップには表示データとして ”Ｕ−Ｉ Ｐ−１０″′ の如きデータが記憶されている。これは、［１番のＩＣ
において、１０番目のビンにプローブＰＲＯを当てよ」
という指示であり、マイクロプロセッサＣＰＵはこのデ
ータを表示部ＤＩＳに表示した後、そのチェックステッ
プにおける出力信号データを読み出し、これに応じた出
力信号を発生する。
のチェック動作は診断プログラムに記憶された手順に従
って進められる。例えば、診断プログラムが１番のＩＣ
から順にチェックして行くものであるとすると、最初の
チェックステップには表示データとして ”Ｕ−Ｉ Ｐ−１０″′ の如きデータが記憶されている。これは、［１番のＩＣ
において、１０番目のビンにプローブＰＲＯを当てよ」
という指示であり、マイクロプロセッサＣＰＵはこのデ
ータを表示部ＤＩＳに表示した後、そのチェックステッ
プにおける出力信号データを読み出し、これに応じた出
力信号を発生する。
また、これと同時に、プローブＰＲＯを介して１番目の
ＩＣにおける信号の状態を取り込み、正常時の信号デー
タと比較して、その良否を判断するとともに、この判断
結果に応じて次のステップにプログラムを進める。すな
わち、上記の１番目のＩＣに対する総合的なチェックの
結果、このＩＣが正常であれば、チェックのステップを
２番目のＩＣに対するものに進め、もし正常でなければ
、１番目のＩＣに対するさらに細かいチェックを行なう
。
ＩＣにおける信号の状態を取り込み、正常時の信号デー
タと比較して、その良否を判断するとともに、この判断
結果に応じて次のステップにプログラムを進める。すな
わち、上記の１番目のＩＣに対する総合的なチェックの
結果、このＩＣが正常であれば、チェックのステップを
２番目のＩＣに対するものに進め、もし正常でなければ
、１番目のＩＣに対するさらに細かいチェックを行なう
。
ここで、故障の症状から故障箇所の大まかな見当がつき
、その特定のＩＣからチェックを開始したい場合、診断
プログラムの起動に先立って、そのチェックを開始した
いＩＣの番号をキーボードＫＹＢから入力する。マイク
ロプロセッサＣＰＵはキーボードＫＹＢからＩＣの番号
が入力されると、この入力に応じて診断プログラム中の
表示データを検索し、表示データが入力されたＩＣの番
号に等しくなるチェックステップを見つけ出し、そのチ
ェックステップから診断プログラムを起動させる。
、その特定のＩＣからチェックを開始したい場合、診断
プログラムの起動に先立って、そのチェックを開始した
いＩＣの番号をキーボードＫＹＢから入力する。マイク
ロプロセッサＣＰＵはキーボードＫＹＢからＩＣの番号
が入力されると、この入力に応じて診断プログラム中の
表示データを検索し、表示データが入力されたＩＣの番
号に等しくなるチェックステップを見つけ出し、そのチ
ェックステップから診断プログラムを起動させる。
したがって、故障箇所がそのＩＣの系統にあるときには
、チェック動作の開始後、早い時期に故障箇所を発見す
ることができる。
、チェック動作の開始後、早い時期に故障箇所を発見す
ることができる。
第２図は本発明の試験装置の他め実施例を示す構成図で
ある。図において、前記第１図と同様のものは同一符号
を付して示す。ＣＰＵ２は被試験装置に使用されていた
′マイクロプロセッサである。図に示す試験装置は、マ
イクロプロセッサＣＰＵにおける入出力の一部に被試験
装置で使用されていたマイクロプロセッサｃｐｕ２を挿
入し、診断プログラムの解釈、実行をマイクロプロセッ
サＣＰυで行なうとともに、制御出力の発生を被試験装
置に適合したマイクロプロセッサＣＰＵ２により行なう
ようにしたものである。
ある。図において、前記第１図と同様のものは同一符号
を付して示す。ＣＰＵ２は被試験装置に使用されていた
′マイクロプロセッサである。図に示す試験装置は、マ
イクロプロセッサＣＰＵにおける入出力の一部に被試験
装置で使用されていたマイクロプロセッサｃｐｕ２を挿
入し、診断プログラムの解釈、実行をマイクロプロセッ
サＣＰυで行なうとともに、制御出力の発生を被試験装
置に適合したマイクロプロセッサＣＰＵ２により行なう
ようにしたものである。
このようにすると、被試験装置に適合したマイクロプロ
セッサＣＰＵ２によりその被試験装置に合った制御出力
を発生することができるので、異なるマイクロプロセッ
サを使用した機器に対しても共通の診断プログラムを使
用することができる。
セッサＣＰＵ２によりその被試験装置に合った制御出力
を発生することができるので、異なるマイクロプロセッ
サを使用した機器に対しても共通の診断プログラムを使
用することができる。
なお、上記の説明では、チェック箇所を指示するために
ＩＣの番号を使用した場合を例示したが、この表示はＩ
Ｃの番号に限られるものではなく、プ１ノント板に表示
された記号などを使用すれば、ドキュメントなどを参照
することなく、チェック箇所を捜し出すことができる。
ＩＣの番号を使用した場合を例示したが、この表示はＩ
Ｃの番号に限られるものではなく、プ１ノント板に表示
された記号などを使用すれば、ドキュメントなどを参照
することなく、チェック箇所を捜し出すことができる。
以上説明したように、本発明の試験装置では、チェック
のための出力信号データと、その出力信号に応じてプロ
ーブを当てるべきチェック位置を表わす表示データとを
含むチェックステップが任意に組み合わされた診断プロ
グラムを有する試験装置において、この試験装置に診断
プログラムの中から前記表示データ部分の内容を検索す
ることのできる検索機能を設け、キーボードなどから入
力された周辺回路の番号などをもとにして、診断プログ
ラム上で表示データがその番号と一致するチェックステ
ップの位置を検出し、そのチェックステップから診断プ
ログラムをスタートさせることができるようにしている
ので、予め故障箇所の見当がつくような場合には、診断
プログラムにおけ〜る婬意のステップからチーツク動作
を開始することのできる試験装置を簡単な構成により実
現することができる。
のための出力信号データと、その出力信号に応じてプロ
ーブを当てるべきチェック位置を表わす表示データとを
含むチェックステップが任意に組み合わされた診断プロ
グラムを有する試験装置において、この試験装置に診断
プログラムの中から前記表示データ部分の内容を検索す
ることのできる検索機能を設け、キーボードなどから入
力された周辺回路の番号などをもとにして、診断プログ
ラム上で表示データがその番号と一致するチェックステ
ップの位置を検出し、そのチェックステップから診断プ
ログラムをスタートさせることができるようにしている
ので、予め故障箇所の見当がつくような場合には、診断
プログラムにおけ〜る婬意のステップからチーツク動作
を開始することのできる試験装置を簡単な構成により実
現することができる。
第１図および第２図は本発明の試験装置の一実施例を示
す構成図である。 ＣＰＵ 、 ＣＰＵ２・・・マイクロプロセッサ、 Ｍ
ＥＭ、・・・メモリ、−ＤＩＳ ・・・表示部、 Ｋ
ＹＢ、・・・キーボード、ＩＮ・・・入力端子、ＯＵＴ
・・・出力端子、ＰＲＯ・・・プローブ。
す構成図である。 ＣＰＵ 、 ＣＰＵ２・・・マイクロプロセッサ、 Ｍ
ＥＭ、・・・メモリ、−ＤＩＳ ・・・表示部、 Ｋ
ＹＢ、・・・キーボード、ＩＮ・・・入力端子、ＯＵＴ
・・・出力端子、ＰＲＯ・・・プローブ。
Claims (1)
- 複数のチェックステップが任意に組み合わされた診断プ
ログラムに従って装置全体の動作を制御するマイクロプ
ロセッサと、前記診断プログラムを記憶するメモリと、
前記診断プログラムの各チェックステップに含まれる表
示データを表示する表示部と、周辺回路の番号などを入
力するキーボードとを具備する゛とともに、前記診断プ
ログラムの中から表示データ部分の内容を検索すること
のできる検索機能を有し、前記キーボードがら入力され
た周辺回路の番号などをもとにして前記診断プログラム
中のチェックステップにおいてその表示データが前記キ
ーボードにより入力された番号と一致するチェックステ
ップの位置を検出し、そのチェックステップから診断プ
ログラムをスタートさせるようにしてなる試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58048184A JPS59173852A (ja) | 1983-03-23 | 1983-03-23 | 試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58048184A JPS59173852A (ja) | 1983-03-23 | 1983-03-23 | 試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59173852A true JPS59173852A (ja) | 1984-10-02 |
Family
ID=12796296
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58048184A Pending JPS59173852A (ja) | 1983-03-23 | 1983-03-23 | 試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59173852A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6228844A (ja) * | 1985-07-29 | 1987-02-06 | ジヨン・フル−ク・マニユフアクチユアリング・カンパニ−・インコ−ポレ−テツド | 回路板テストにおけるコンピユ−タ支援の故障隔離システムとその方法 |
-
1983
- 1983-03-23 JP JP58048184A patent/JPS59173852A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6228844A (ja) * | 1985-07-29 | 1987-02-06 | ジヨン・フル−ク・マニユフアクチユアリング・カンパニ−・インコ−ポレ−テツド | 回路板テストにおけるコンピユ−タ支援の故障隔離システムとその方法 |
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