JPS61170847A - 周辺装置自動試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は情報処理装置における周辺装置自動試験装置に
関し、特に、システム稼動時において、逐次起動される
周辺装置を自動的に試験する試験方式に関する。

〔概　要〕

本発明は、周辺装置が接続された情報処理システムにお
いて、 情報処理システムの稼動中に、逐次周辺装置が送出する
スターテスを検査して、その不良の徴候を検出し、自動
的にその周辺装置を検査することによって 稼動中の周辺装置の試験を人手によらないで行うもので
ある。

〔従来の技術〕

従来の情報処理装置では、システム立上り時に使用する
装置の試験診断が自動的に行われるが、システム稼動中
では状況に応じて周辺装置を試験する場合、試験の起動
を含めてすべての操作を人手に依存していた。

〔発明が解決しようとする問題点〕

この従来の装置で行われていた方法では、システム運用
中の状況を適格に把握し、適切な時点で試験を実行操作
を行うので熟練された要員を必要とし、かつ試験に要す
る時間が長くなる欠点があった。

本発明はこの欠点を解決するもので、自動的に運用稼動
中の周辺装置の試験を行うことができる周辺装置自動試
験装置を提供することを目的とする。

〔問題点を解決するための手段〕

本発明は、プロセッサと、主メモリとを備え、周９辺装
置の不良を自動的に試験する周辺装置自動試験装置にお
いて、上記周辺装置から送出されるステータスを検査し
てこの周辺装置の不良の徴候を検出する手段と、この周
辺装置の不良の徴候が検出された場合に、上記ステータ
スに関連する試験プログラムを外部メモリから読出し主
メモリに格納する手段と、この主メモリに格納された試
験プログラムを実行する手段とを含むことを特徴とする
。

周辺装置のステータスにはこの周辺装置に対する試験実
行指定を含むことが好ましい。

〔作　用〕

情報処理装置が運転中に、周辺装置から中央処理装置に
送出されるステータスの中にその周辺装置の試験実行指
定を追加し、これを自動試験装置に取り込み、ステータ
スの不良の徴候があった場合にこれを検出し、そのステ
ータスが入力された装置の試験を自動的に起動すること
ができる。

〔実施例〕

本発明の実施例について図面を参照して説明する。

図は本発明の一実施例のブロック構成図で、自動試験装
置１０と、この自動試験装置１０により自動試験される
周辺装置２０と、試験プログラム群が格納されている外
部バリ３０とから構成されている・　　　　　−自動試
験装置１０には試験実行を行うためのプロセッサ１）と
、試験プログラムを格納する主メモリ１２を含む。

ここで本発明の特徴とするところは、周辺装置２０より
送出されるステータスをチェックすることにより、周辺
装置２０を自動的に試験する必要があるか否かを判定す
る起動判定回路１３と、上記起動判定回路１３の指示を
受けて動作し、指定される試験プログラムを上記外部メ
モリ３０より読出し、上記主メモリ１２に格納して試験
プログラムの起動要求を上記プロセッサ１）に対して行
う試験プログラム起動要求回路１４を含んで構成されて
いることにある。

このような構成の自動試験装置における自動試験につい
て順を追って説明する。

周辺装置２０から起動判定回路１３に送出されるステー
タスは、周辺装置２０を試験する試験プログラムの番号
と周辺装置２０の装置番号と、人出力ステータスとを含
んでいる。また、試験プログラムは複数個の試験項目か
ら構成されているものとする。

システム稼動中において、周辺装置２ｏが起動され入出
力命令の実行が終了すると、周辺装置２ｏはステータス
を起動判定回路１３を介してプロセッサ１）に送出する
。起動判定回路１３はステータスをチェックし、装置不
良の徴候があると判定した場合に、まず周辺装置２０を
起動したジョブをアポートさせ、一旦周辺装置２０をシ
ステムから論理的に切り離す。

次に、起動判定回路１３はステータスを試験プログラム
起動要求回路１４に送出する。試験プログラム起動要求
回路１４はステータス中の試験プログラム番号で指定さ
れる試験プログラムを外部メモリ３０から読出し主メモ
リ１２に格納する。また入出力ステータスから不良機能
を推定し、この不良と推定された機能を試験する試験項
目群と装置番号とをプロセッサ１）に送出することによ
り試験プログラムの起動要求を行う。これらの起動パラ
メータに従って、プロセッサ１）はシステム中の１ジヨ
ブとして、主メモ１月２に格納された試験プログラムを
実行する。実行した結果エラーが検出されなっかった場
合は、周辺装置２０はシステムに論理的に組入れられる
。

起動判定回路１３が装置不良の徴候がないと判定した場
合、試験プログラムは自動起動されることなくシステム
の稼動は続行される。なお、起動判定回路１３および試
験プログラム起動要求回路１４はステータスを入力とし
て動作する回路であるから、各種の周辺装置に対して１
組あれば十分である。

〔発明の効果〕

本発明は以上説明したように、情報処理システムが稼動
中においても、逐次周辺装置に装置不良の徴候があった
場合にはその周辺装置の試験操作を自動起動することが
できるので熟練者が不要であり、かつ迅速に周辺装置の
試験ができる効果がある。

【図面の簡単な説明】

図は本発明の一実施例の構成を示すブロック構成図。 １０・・・自動試験装置、１）・・・プロセッサ、１２
・・・主メモリ、１３・・・起動判定回路、１４・・・
試験プログラム起動要求回路、２０・・・周辺装置、３
０・・・外部メモリ。

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）プロセッサと、主メモリとを備え、接続された複
   数の周辺装置の不良をその起動時に自動的に試験する周
   辺装置自動試験装置において、 上記周辺装置から送出されるステータスを検査してこの
   周辺装置の不良の徴候を検出する手段と、この周辺装置
   に不良の徴候が検出された場合には、上記ステータスに
   関連する試験プログラムを外部メモリから読出し主メモ
   リに格納する手段と、この主メモリに格納された試験プ
   ログラムを実行する手段と を含むことを特徴とする周辺装置自動試験装置。
2. （２）周辺装置から送出されるステータスには、この周
   辺装置に対する試験実行指定を含む特許請求の範囲第（
   １）項に記載の周辺装置自動試験装置。