JPS6078362A - 自動試験装置の機能チエツク方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （ａ１発明の技術分野 本発明は各種電子機器の構成に使用される電子部品、電
子装置、例えばプリント板パッケージのための自動試験
装置に新たにチェック機能を附加した方式に関す。

（ｂｌ技術の背景と従来技術の問題点 各種電子機器の構成に広く使用される電子部品、電子装
置等は、技術の進歩に伴いより小型化、より複雑化する
傾向にあり、勢いこれらの試験工程は経済的見地より人
手に頼ることは許されず、自動試験装置が使用されてい
る。

一般に自動試験装置は、被試験物に対する試験項目をプ
ログラミングした試験プログラムを準備し、該ブロクラ
ムに従って被試験物の８ｉ’Ｃ験端子、および測定装置
を順次切り換え、個々の試験結果を出力装置によりプリ
ント・アウトする方式をとっている。

第１図は該自動試験装置の方式をブロック・グイヤグラ
ムで示すもので、■は制御装置（コンピュータ）、２は
入出力装置、３は切り換え器、４は被試験物、５は測定
装置を示す。

入出力装置２への入力指示により、制御装置１を介して
予め準備された試験プログラムに従って、切り換え器３
が順次被試験物４の試験端子、および測定装置５を順次
切り換え、その都度の試験結果、例えば導通試験、アナ
ログ、あるいはデジタル試験結果の良否が入出力装置２
を介してプリント・アウトされること公知の通りである
。

この従来方式においては、該方式を構成する装置、即ち
制御装置１、入出力装置２、切り換え器３、および測定
装置５が、常に正常に機能しているものとして、プリン
ト・アウトされた試験結果の良否をそのま＼被試験物４
の良否として使用しているが、正常を示し続けてきた試
験データが一転して不良値を示し続は始める場合におい
ては、被試験物の不良の場合よりも該試験システムを構
成する装置に異常が生じた＼めと推測される場合が多い
のであるが、このま＼では確認することができない。

ｔｅ１発明の目的 本発明は従来方式における上記欠点を除去し、自動試験
装置の機能をチェックする機能を併せ持つ新規な方式を
提供することをその目的とするものである。

＋ｄ１発明の構成 上記本発明の目的は、被試験物に対する被試験プログラ
ムに応じて、制御装置により順次切り換え試験を行う自
動試験装置において、該試験装置の機能チェック・プロ
グラム、及び回路が準備され、該プログラムが必要に応
して被試験物に対する試験回路を該機能チェック回路に
切り換える手段を介して、使用されるよう構成されてな
る本発明による自動試験装置の機能チェック方式によっ
て達成される。

該機能チェック回路に切り換える手段としての切り換え
器を、従来の自動試験装置システム（第１図）における
切り換え器３と被試験物４との間に配設することによっ
て、容易に本発明の目的を達成することができる。

更に制御装置（コンピユータ）の機能チェックのために
動作監視タイマーを設け、該タイマーで自動試験装置シ
ステムの動作を監視して、該動作の終了時に自動的に該
制御装置の機能チェックが行われるよう構成することも
可能である。

かくて従来方式における不良発生時に際して生じた疑問
点は解消され、信頼度の高い自動試験装置が得られる。

ｔｅ１発明の実施例 以下図面に示す実施例により、本発明の要旨を具体的に
説明する。全図を通じ同一符号は同一対象物を示す。

第２図は本発明の１実施例をブロック・ダイヤグラムで
示すもので、切り換え器３と被試験物４との間にチェッ
ク用切り換え器６が配設されている。該切り換え器６は
入出力機器２よりプリント・アウトされる試験データ中
に急に不良の生じる頻度が多くなったような場合に、手
動、あるいは制御装置１からの指令に基づいて動作し、
被試験物４に対する試験回路を自動試験装置自体の機能
チェック回路に切り換え、予めプログラミングされた試
験項目に関するチェックが入出力機器２、切り換え器３
、および測定装置５に対して行われ、夫々の試験項目に
たいする良否が入出力機器２よりプリント・アウトされ
る。

第３図は他の実施例として動作監視タイマーが用いられ
、第２図に示した機能チェックに加えて制御装置１の機
能チェックまで行う方式を同様ブロック・ダイヤグラム
で示すもので、制御装置１と入出力機器２との間に配設
された動作監視タイマー７は、制御装置１からのタイマ
、動作信号により動作し、動作監視タイマー・アウト信
号に対応した入出力機器以下の機能チェック切り換え器
を起動して、機能チェックを行うと共にチェック結果に
より制御装置１を停止、又は再制御するよう構成されて
いる。

第４図は第３図の構成を具体化したブロック・ダイヤグ
ラムを示すもので、制御装置１は動作監視タイマー用ス
タート信号、リセット信号及びタイマー選択信号を出力
し、又既述の各種試験結果を入力して自動試験装置の各
種制御を行う。

８は動作監視タイマー用のスタート信号切り換えゲート
で、制御装置１からのスタート信号及びタイマー選択信
号にて必要とする動作監視クィマーに起動をかける。８
゛は動作監視タイマー用のり七ノド信号切り換えゲート
で、制御装置１からのりセント信号及びタイマー選択信
号にて必要とする動作監視タイマー、７−１、？−２・
・・７−Ｎをリセントする。動作監視タイマー、７−１
．７−２・・・７−Ｎは夫々の試験開始毎にスタート信
号切り換えゲート８からの信号により動作を開始し、夫
々の試験終了毎にリセット信号切り換えケート８゛から
の信号により動作を停止する。動作開始後設定された時
間内にリセット信号が人力されなければ、タイマー・ア
ウト出力信号を次段に伝送する。

該出力信号により入出力機器２は切り換え器３の選択起
動を行い、夫々の機能チェックの結果をチェック用切り
換え器６を介して制御袋Ｗ１へ伝送する。このチェック
結果により動作異常部位の詳細内容を検出することがで
きる。又この検出結果より制御装置１では制御の停止、
ある、いは再実行を行うことができる。

上記実施例では動作監視タイマーを夫々の入出力機器の
動作時間単位に用意しているが、動作時間設定部を外部
設定に変更して制御することにより、任意の時間設定が
可能となる。

ｆｆ１発明の詳細 な説明のように本発明による自動試験装置の機能チェッ
ク方式においては、本来の試験の他自動試験装置自体の
試験をも行うことができ、取り扱う者にとって極めて有
利となる効果を備えている。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来の自動試験装置の構成の１例をブロック・
ダイヤグラムで示し、第２図、及び第３図は本発明の実
施例を、第４図は第３図の実施例を具体化した構成の１
例をブロック・ダイヤグラムで示すものである。 図において、１は制御装置、２ば入出力機器、３は切り
換え器、４は被試験物、５は測定装置、６はチェックよ
う切り換え器、７は動作監視タイマー、８は動作監視タ
イマー用のスタート信号切り換えゲート、８゛　はリセ
ット信号切り換えゲートｔ、諾−１＝ す　１　凹 等　２　コ ナ　３　区 ギ　＋　閃

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 ｉｌ＋被試験物に対する被試験プログラムに応じて、制
   御装置により順次切り換え試験を行う自動試験装置にお
   いて、該試験装置の機能チェック・プログラム、及び回
   路が準備され、該プログラムが必要に応じて被試験物に
   対する試験回路を該機能チェック回路に切り換える手段
   を介して、使用されることを特徴とする各種電子機器の
   構成に使用される電子部品、電子装置のための自動試験
   装置の機能チェック方式。 （２）制御装置の機能をチェックする動作切り換え