JPS6236576A - 複数のボ−ドを持つシステムの診断装置 - Google Patents

複数のボ−ドを持つシステムの診断装置

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JPS6236576A
JPS6236576A JP60177246A JP17724685A JPS6236576A JP S6236576 A JPS6236576 A JP S6236576A JP 60177246 A JP60177246 A JP 60177246A JP 17724685 A JP17724685 A JP 17724685A JP S6236576 A JPS6236576 A JP S6236576A
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Japan
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clocks
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Kazumi Kita
北 一三
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 この発明は例えばICテスタのような各種機器に用いる
ことができる診断装置に関する。
「従来技術」 例えばICテスタではシステムの規模が太キいため、機
能毎に回路をボードに実装し、ボード毎に機能ユニット
を構成している。
例えば第3図に示すように機能入、B、C,Dを具備し
たボード100A、 100B、 1ooc、 100
Dを縦続接続し、その縦続接続したボード100A〜1
00Dにクロック源200からクロックパルス201ヲ
与、を終段のボード100Dの出力端子101から例え
ば被試験iC(特に図示していない)に与える試験パタ
ーン信号を出力するものとした場合、従来は終段のボー
ド100Dの出力端子101に得られる最終出力を期待
値と比較し、その比較の結果不一致が発生した時点でク
ロックの供給を停止させ、どのボードで不良が発生した
かを見付は出し、不良が発生しているボードを特定し、
そのボードが不良であると判定するようにしている。
[発明が解決しようとする問題点」 従来は上述したように終段のボード100Dの出力だけ
を期待値と比較し、不一致が検出される毎に複数に分散
されているボード100 A〜100Dのどこに不良発
生原因が存在するかを調べている。
このため不良発生原因個所を特定するのに時間が掛る欠
点がある。
この発明の目的は不良発生原因を短時間に知ることがで
きる複数のボードを持つ装置の診断装置を提供しようと
するものである。
「問題点を解決するための手段」 この発明では分散されて存在する複数のボードに対し所
定量ずつクロックパルスを与え、クロックパルスの数が
所定値に達する毎にその状態を検出する手段と、クロッ
クパルスの数が所定値に達したことを検出する毎に被診
断システムの動作を停止させる停止制御手段と、各ボー
ドの出力の状態を外部制御装置の制御により読出す読出
手段と、この読出手段によって読出した各ボードの出力
の状態と期待値を比較し、各ボードが正常か否かを判定
する判定手段とによって構成したものである。
この発明の構成によれば被診断システムはクロック源か
ら所定数のクロックパルスが与えられる毎に停止状態に
制御され、その停止状態で各ボードの出力の状態が読出
され、各ボードの出力状態と期待値とを比較し、その比
較の結果不一致が発生したとき、そのボードが不良であ
ると判定することができる。
従ってこの発明によれば各ボード毎に良、不良を判定す
ることができる。然も不良と判定した状態において動作
開始からその不良発生までのクロックパルスの数を知る
ことができる。このクロックパルスの数により各ボード
の動作状態が予想できるため不良の状態と、クロックパ
ルスの数とによって不良ボードのどの部分が不良である
かを特定することができる。
よって短時間に不良個所を具体的に特定することができ
る。
「実施例」 第1図を用いてこの発明の一実施例を説明する。
図中300は被診断システムを示す。この被診断システ
ム300は第3図で説明したように複数のボード100
A、 100B、 100C,100Dを有し、これら
複数のボード100A〜100Dにクロック源200か
らクロックパルス201を与えることによりこれらボー
ド100A〜100Dが駆動され、目的とする動作が実
行され、その結果として例えば試験パターン信号を出力
端子101に出力する。
400は診断装置を示す。この発明による診断装置40
0は外部制御装置401と、この外部制御装置4吋から
数値を書き込むことができ、診断時のシステムに印加す
るクロックパルスの数を規定するレジスタ402と、被
診断システ・ム300に印加されたクロックを計数する
計数回路403と、この計数回路の計数値とクロック数
を規定したレジスタ402の値とを比較する比較手段4
04と、この比較手段404より一致信号が出力された
とき被診断システム300の動作を停止させ、外部制御
装置401の制御により被診断システム300を起動さ
せる起動・停止制御手段405と、被診断システム30
0内の各ボード100A、100B、 100C,10
0Dの状態を外部制御装置401の制御により読出す読
出手段406A、 406B。
406C,406Dと、この読出手段によって読出した
各ボード100A〜100Dの出力と期待値とを比較し
、ボードが正常か否かを判定する判定手段407と、比
較手段404においてレジスタ402の値と計数手段4
03の計数値とを比較するか否かを設定するレジスタ4
08とによって構成される。
判定手段407はこの例では外部制御装置401の機能
の一部を利用した場合を示す。つまり外部制御装置40
1はマイクロコンピュータによって構成され、予め規定
されたプログラムに従って診断装置400をシーケンス
制御する。
診断装置400を診断モードで動作させるか、非診断モ
ードつまり非動作状態にするかはモード設定レジスタ4
08にセットする数値によって規定される。例えばモー
ド設定レジスタ408に外部制御装置401かも「0」
をセットするとこのレジスタ408の出力は「0」論理
となり比較手段404は比較動作を停止し非診断モード
で動作する。また外部制御装置401からレジスタ40
8に「1」をセットするとレジスタ408は第2図Bに
示すように「1」論理を出力し、この「1」論理信号に
よって比較手段404は比較動作を行う状態となり診断
装置400は診断モードとなる。このモード設定信号を
第2図Aに符号Elを付して示す。
比較手段404が比較動作が可能な状態に設定されると
、外部制御装置401は被診断システム300に印加す
るクロック数をレジスタ402に設定する。
この設定信号を第2図Nに符号E2を付し又示す。
レジスタ402にクロック数を設定するとこのレジスタ
402はその設定された数値に対応した信号な出力する
。この出力信号を第2図Cに示す。この例ではレジスタ
402にnを設定した場合を示す。
レジスタ402にクロック数を設定すると外部制御装置
401は起動・停止制御手段405に対し制御パスライ
ン409を通じて起動指令を与える。この起動指令信号
を第2図Aに符号E3を付して示す。
起動・停止制御手段405に起動指令信号E3カ与えら
れると起動・停止制御手段405は計数手段403に対
してクリヤ信号CL(第2図D)ff:与え、計数手段
403の内容をクリヤすると共にクロック源200に対
し第2図Eに示す「月論理のクロック制御信号CK L
を与える。
クロック源200はクロック制御信号CK Lによって
クロックの発生を開始し第2図Fに示すクロック201
を出力す・る。
被診断システム300はタロツク201の供給によって
動作を始め出力端子101に所定の順序に従って試験パ
ターン信号を出力する。
これと共に計数手段403はクロック201の数を計数
し、その計数値を比較手段404に与える。比較手段4
04はレジスタ402に設定されたクロックの数と計数
手段403の計数値な比較する。第2図Gに計数手段4
02の計数出力信号を示す。
計数手段403の計数値がレジスタ402に設定した数
値nに一致すると比較手段403は第2図Hに示す一致
検出信号Kを出力する。この一致検出信号Kを起動・停
止制御手段405に与え、起動・停止制御手段405を
停止モードに転換する。
起動・停止制御手段405が停止モードに転換されると
、起動・停止制御手段405はクロック制御信号CKL
をl」論理に反転させ、クロック源200のクロックパ
ルスの出力を停止させる。これと共に起動・停止制御手
段405の状態の変化をパスライン409を通じて外部
制御手段401に信号E4 (第2図N)として伝達す
る。
外部制御装置401が起動・停止制御手段405の状態
の変化を検出すると、被診断システム300の動作が停
止していると判定し、パスライン409を介して各ボー
ド100A、100B、 100C,100Dに対応し
て設けた読出手段406N〜406Dに取り込まれてい
る各ボード100A〜100Dの状態を読み込む。
外部制御装置401は各読出手段406A〜406 D
から読み込んだ値を判定手段407に転送し、判定手段
407において各ボード100人〜100Dにおけるク
ロックがn個与えられた状態の期待値と比較する。この
比較の結果において不一致が検出されると、その不一致
が検出されたボードが不良と判定される。
不一致が検出されなければ外部制御装置401はレジス
タ402に次のクロック数を与え、レジスタ402に次
に停止すべきクロックパルス数をセットする。
このクロックパルス数のセットにより診断装置400は
次のステップの診断動作を実行する。
「発明の効果」 上述したようにこの発明によれば各ボード毎に分離して
各ボードの動作状況を診断することができる。よって不
良は各ボード毎に特定することができる。然も不良に至
るまでのクロックパルスの数は既知であるため不良ボー
ドの内部を更に詳しく規定して不良個所を特定すること
ができる。更に起動から停止までの時間は短かくてよい
からクロック源200から出力するタロツクパルス20
1ヲ高速パルスとすることができる。よってこれにより
診断時間を短縮することができ、故障点を指摘するまで
の時間を短かくすることができる。
なお上述では被診断システム300として複数のボード
が縦続接続されてこれらのボードがシーケンス動作して
所定の動作を行う場合について説明したが、パイプライ
ン方式のシステムにもこの発明を適用することができる
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例を示すブロック図、第2図
はこの第1図の動作を説明するだめの波形図、第3図は
従来技術を説明するためのブロック図である。 100N〜100D:ボード、200:クロック源、2
01、クロックパルス、300:被診断システム、40
0:診断装置、401:外部制御装置、402:レジス
タ、403;計数手段、404:比較手段。 405:起動・停止制御手段、406 A 〜406 
D :読出手段、407:判定手段、408:診断モー
ド設定用レジスタ、409:ハスライン。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)A、複数のボードによって構成される被診断シス
    テムを外部制御装置を用いて診断する場合において、 B、上記外部制御装置から数値を書き込むことができ、
    診断時の被診断システムに印加するクロックパルスの数
    を規定するレジスタと、 C、上記システムに印加されたクロックを計数する計数
    回路と、 D、この計数回路の計数値と上記クロック数を規定した
    レジスタの値とを比較する比較手段と、 E、この比較手段より一致信号が出力されたとき上記被
    診断システムの動作を停止させ、上記外部制御装置の制
    御により被診断システムを起動させる起動停止制御手段
    と、 F、上記被診断システム内の各ボードの出力の状態を上
    記外部制御装置の制御により読出す読出手段と、 G、この読出手段によって読出した各ボードの出力と期
    待値を比較し、ボードが正常か否かを判定する判定手段
    と、 から成る複数のボードを持つシステムの診断装置。
JP60177246A 1985-08-12 1985-08-12 複数のボ−ドを持つシステムの診断装置 Expired - Lifetime JPH0778521B2 (ja)

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JP60177246A JPH0778521B2 (ja) 1985-08-12 1985-08-12 複数のボ−ドを持つシステムの診断装置

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JPS6236576A true JPS6236576A (ja) 1987-02-17
JPH0778521B2 JPH0778521B2 (ja) 1995-08-23

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JP60177246A Expired - Lifetime JPH0778521B2 (ja) 1985-08-12 1985-08-12 複数のボ−ドを持つシステムの診断装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02245682A (ja) * 1989-03-18 1990-10-01 Fujitsu Ltd 半導体装置の試験装置

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS494158A (ja) * 1972-04-28 1974-01-14
JPS5437444A (en) * 1977-08-29 1979-03-19 Takeda Riken Ind Co Ltd Algorithmic pattern generator tester
JPS5730964A (en) * 1980-08-01 1982-02-19 Automob Antipollut & Saf Res Center Inspecting device for printed circuit board

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