JPS6370175A

JPS6370175A - 論理回路の検査方法

Info

Publication number: JPS6370175A
Application number: JP61213871A
Authority: JP
Inventors: Masanori Takeshima; 武島　正典
Original assignee: Hitachi Ltd
Current assignee: Hitachi Ltd
Priority date: 1986-09-12
Filing date: 1986-09-12
Publication date: 1988-03-30

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】〔産業上の利用分野〕本発明は、大規模集積回路やプリント基板の検査方法に
係り、特にトライステート素子の出力をハイインピーダ
ンス状態にするか、否かの制御信号を作成する論理回路
の故障検出に好適な検査パターンを作成する検査方法に
関する０〔従来の技術〕従来の検査方法は、特公昭４７−３１２５５号公報に記
載のように、検査装置へ渡す出力期待値として高論理レ
ベル、低論理レベル、不確定状態の３抽類を持っていた
。しかし、トライステート素子は、高論理レベル、低論
理レベル以外にハイインピーダンス状態といった中間レ
ベルを持っているが、本状態は、不確定状態とするため
、検査装置の検査系列は第３図のようになり、制御信号
の故障検出について配慮されていなかった。

〔発明が解決しようとする問題煮〕

上記従来技術は、トライステート素子の出力のハイイン
ピーダンス状態について配慮がされておらず、上記状態
は不確定状態としていたため、トライステート素子の出
力をハイインピーダンス状態にするか、否かの制御信号
を作成する論理回路の故障が検出されないといった問題
があった。

本発明の目的は、トライステート素子の出力制御信号を
作成する論理回路に、常に高論理レベルもしくは低論理
レベルになる故障が存在する時、被検査回路から得られ
る出力論理値と、あらかしめ求めた出力期待値と比較し
て、被検査回路の良否を判定する検査装置を用いて、こ
れを検出可能にする検査方法を提供することにある０〔
問題点を解決するための手段〕上記目的は、前記検査装置に外部から与える検査パター
ン、もしくは、検査装置内の信号発生器により発生する
検査パターンの出力期待値にトライステート素子の出力
のハイインピーダンス状部を設け、出力期待値を高論理
レベル、低論理レベル、ハイインピーダンス状態、不確
定状態の４種。

類にすることにより、達成される０〔作用〕トライステート素子は、出力１ｂ１」両信号により、動
作モード（高論理レベルもしくは低論理レベルを出力す
るモード）とハイインピーダンス状態の２つのモードが
ある。出力制御信号を作成する論理回路に、常に高１理
レベルもしくは低論理レベルになる故障が存在するとき
、上記モードの切り換えが行われなくなる。従って、あ
らかじめ求める出力期待値にハイインピーダンス状態を
設ける−ことにより、被検査回路から得られる出力論理
値と異なることになり、上記故障が検出できる０〔実施
例〕本発明は、前記検査装置の信号発生器により発生する検
査パターンを・低論理レベル・高論理レベル、ハイイン
ピーダンス状態、不確定状部ト設定して、被検査回路の
出力と比軟することによって、故障検出できるようにし
た。

以下、本発明の一実施例を第１図、第２図により説明す
る。

第１図において、被検査回路としての論理回路１は、ト
ライステート素子１０を搭載しており、光素子には、出
力制御信号１１、データ信号１２、出力信号１３が結線
されており、各信号の他濯は、それぞれ被検査回路の端
子１４，１５．１６に接続されている。一方、検査装置
２は、被検査回路の出力論理値を入力する端子２５と、
あらかじめ求めた出力期待値を人力する端子２４と、こ
れら２つの論理値を比較する検査用比較器２０と、その
結果により検査装置を制御する検査装置制御部２１、前
記入力端子−２３，２４の２つの論理値が一致しなかっ
た場合、そのことを表示下る表示部分２２から成ってい
る。また、当検査装Ｍ２には、入力検査系列３０．３１
をもち、検査用駆動端子２５．２６により被検査回路１
に検査入カバターンを与えられ、期待値検査系列３２は
・２４を経て、検査用比較器２０に検査パターンを与え
ている。なお、当比較器は、出力期待値が不確定状態の
とき、比較を行わず、制御部２１へは、２つの入力が等
しいことを示す信号を出力する。

さらに第１図では、被検査回路１の出力制御信。

号１１に常に高論理レベルになる故障４０があり、入力
端子１４．１５にそれぞれ低論理レベル４１．４２を与
えた状態を示している。トライステート素子１０の制御
端子へ入力される論理値は、正常時が低論理レベル４３
、故障時が高論理レベル４４となるため、出力信号１３
は、正常時、ハイインピーダンス状態４５、故障時、低
論理レベル４６となる。このとき、出力期待値をハイイ
ンピーダンス状態４７を期待値入力端子２４より入力す
ることにより、検査用比較器２０が動作し、該当故障が
検出できる。

同様にして・出力制御信号１１の常に低論理レベルとな
る故障も別のパターンで検出できる０また、データ信号
１２、出力信号１６の常に高論理レベルもしくは低論理
レベルになる故障は、従来と同じ方法で検出できるので
、入力検査系列３０゜３１と、期待値検査系列３２が、
第２図に示す４パターン？もっているとき、全ての故障
が検出できる。

従って、本実施例によれば、故障検出率が６７Ｘから、
１００Ｘに増加し、偏傾性確保の面で効果があるＯ本発明を用いて、検査パターンを電子計算機により、自
動生成する方法もある０〔発明の効果〕本発明によれば、トライステート素子の出力制。

両信号を作成する論理回路に、常に高論理レベルもしく
は低論理レベルになる故障が存在する場合、当故障を１
００Ｘ検出できるので、従来に比べ、信頼性向上の効果
がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例の被検査回路と検査装置の模
型図、ならびに被検査回路の故障検出の状態図、第２図
は第１図の被検査回路の故障を検出するための検査パタ
ーン系列の説明図、第３図は、従来の検査方法による検
査パターン系列の説明図である。１・・・被検査回路、２・・・検査装置、１０・・・トライステート素子１１１・・・出力制御信号、１２・・・データ信号、１５・・・出力信号、１４．１５・・・入力端子、１６・・・出力端子、２０・・・検査用比較器、２１・・・検査装置制御部、２２・・・検査結果出力表示部、２３・・・検査用観測端子、２４・・・期待値入力端子、２５　、２６・・・検査用駆動端子、３０　、３１・・・入力検査系列飄５２・・・期待値検査系列。代理人弁理士　小　川　勝　男・；ｆ）。

Claims

【特許請求の範囲】

１、トライステート素子を搭載した大規模集積回路もし
くはプリント基板を被検査回路とし、該被検査回路から
得られる出力論理値と、あらかじめ求めた出力期待値と
比較して、該被検査回路の良否を判定する検査方法にお
いて、出力期待値にトライステート素子の出力のハイイ
ンピーダンス状態を設けたことを特徴とする論理回路の
検査方法。