JPH0481000A - 集積回路部品の付属電子回路装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明はプリント回路基板やフィルムに実装された後の
、集積回路部品の実装不良を検査する、付属電子回路を
内蔵した集積回路部品に関する。

従来の技術 近年、半導体集積回路を実装状態で検査する手段が重要
課題である。

一般に、第３図に示すような集積回路部品の実装不良を
検査するときに電気的検査を行う。電気的検査の中でイ
ンサーキットテスターは部品例々の検査を行ない、この
検査は不良部品が特定できることから広く使用されてい
る。（インサーキットテスターは実装された部品の全端
子にピンを接触し、部品ごとに決められた入カバターン
を印加し、出カバターンが正しいかどうかを確認するテ
スターである。） この場合、集積回路部品端子の接続不良を検出するため
には全入出力端子がハイレベルとロウレベルの両方の値
を取るようなテストパターンを作り、各端子の入出力が
テストパターンと一致していることを確認する。

発明が解決しようとする課題 このような従来の検査方法では、端子が多く、また、回
路が複雑な集積回路部品の場合には、長いテストパター
ンを必要とし、そのテヌトパタンを作るのが非常に困難
であるという問題があった。その結果、接続不良を検査
できない場合や、検査時間が長いために集積回路部品が
発熱するという問題があった。本発明は上記問題を解決
するもので、テストパターンを不用にし、かつ、全ての
集積回路部品の接続不良を簡単に短時間に検査する手段
を提供することを目的とする。

課題を解決するための手段 本発明は上記目的を達成するために、集積回路部品にお
いて、検査用入力端子と、検査用出力端子と、出力制御
手段および検査子８を設け、前記出力制御手段は前記集
積回路部の複数の出力をそれぞれ対応する出力端子に出
力するものであって、前記検査用入力端子入力に対応し
て複数の圧力の内の一部の端子を集積回路出力端から切
断、残りの端子で所定のレベルを出力するものとし、前
記検査手段はすべての入力端子における外部入力レベル
と前記切断される端子における外部入力レベルを入力し
、その入力レベルの組合せに対応する所定の検査出力を
圧力するものとする集積回路部品の付属電子回路装置と
する。

作　　用 不発明は上記構成により、出力制御回路により各圧力端
子を集積回路部から切り放して外部入力を可能とし、検
査手段が各出力端子および入力端子に加えた外部入力の
全てを入力して、その入力の組合せに対応する検査結果
を圧力する。検査入力端子入力は検頁時に前記出力ｉ′
１１釘ｌｏＪ路を動作可能とする。出力端子の一部は前
記恢査端子入力に対応して必ずハイまたはロウレベルが
出力されるものとして、外部入力を加えずに検査する。

実施例 以下本発明の第１実施例の集積回路部品Ｏ付属電子回路
装置について、図面を参照しなから「モ明する。

第１０は本発明の第１の実施例の集積回路部品の付属電
子回路装置の構成を示す回路図で、集積回路部がロジッ
ク回路である場合について説明する。

図において、集積回路ロジック部（集積回路部）８の入
力部はそれぞれ入力端子４，５，６．７およびナンド回
路９の入力端子に接続されている。

集積回路ロジック部８の出力部はそれぞれゲート付きバ
ッファー回路１ｏと１１の入力端子とオア回路１２と１
３の入力端子に接続されている。

検査用入力端子１はゲート付きバッファー回路１０およ
び１１のゲート端子とオア回路１２および１３の入力端
子に接続されている。ゲート付きバッファー回路１ｏと
１１の出力端子はそれぞれ出力端子１４と１５とナンド
回路９の入力端子に接続されている。オア回路１２と１
３の出力端子はそれぞれ出力端子１６と１７に接続され
ている。ナンド回路９の出力端子は償査用出力端子２に
接続されている。

上記構成において、その動作を説明する。

信号の入力と出力信号の検出は集積回路部品の端子、ま
たは端子が接続されたプリント回路基板やフィルム上の
箔から行なう。

検査用入力端子１をハイレベルにすると、ゲート付きバ
ッファー１ｏと１１の出力がハイインピーダンスになり
、出力端子１４と１５から入力が可能になる。また、オ
ア回路１２と１３の圧力は集積回路ロジック部８に関係
なくハイレベルになシ、出力端子１６と１７にハイレベ
ルが出力される。出力端子１６と１７には正常接続時は
ハイレベルが出力され、接続不良時はロウレベルが出力
されるので、接続不良を検査することができる。

次に、入力端子４，５．６および７と、ハイインピーダ
ンヌ状軽にある出力端子１４および１５をロウレベルに
する。このとき、ナンド回路９の圧力はハイレベルにな
シ、検査用出力端子２にそのハイレベルが圧力される。

入力端子４，５．６および７と、出力端子１４および１
５の中で接続不良の端子があると検査用出力端子２ｉｄ
ロウレベルが出力されるので、接続不良を便査すること
ができる。

上記実施例において出力端子１６および１７がオア回路
を介して圧力している理由は、速い応答速度を期待した
ことにあわ、出力端子１４および１５のようにゲート付
バッファ回路１ｏおよび１１を用いて応答速度が遅くな
るのを避けたことにある。このように、一部の高速な出
力端子に対してはオア回路を用いてハイレベルにホール
ドする手段で対応できる。

このように、本発明の第１の実施例の集積回路部品の付
属電子回路装置によれば、検査用入力端子と、検査用出
力端子と、圧力制御手段および検査手段を設け、前記出
力制御手段で出力端子を前記集積回路部の出力端から分
離して外部レベルを入力できるようにし、全ての入力端
子と全てまたは一部の出力端子に外部入力を加え、その
外部端子入力に対応する結果を検査手段で求めることで
、任意の集積回路部品において特別な検査パターン入力
を用いることなく端子の接続状態を検査することができ
、また、応答速度を要求する集積回路部品においても影
響のない付属電子回路装置ができる。

第３図は本発明の第２の実施例の集積回路部品の付属電
子回路装置の構成を示す回路図である。

この実施例は集積回路部品の出力端がすべてゲト付きバ
ッファを介して出力端子に接続されたものである。この
動作は第１の実施例の端子１４および１５と同様に、検
査用入力端子の入力に対応して全ての出力端子が集積回
路の出力端から分離され、各出力端子および入力端子の
外部入力レベルに対応して検査用出力端子が所定の検査
出力を圧力する。本発明の第２の実施例においても第１
の実施例と同じ効果が得られる。

なお、入力端子と出力端子以外の端子も同様の方法で接
続不良の検出が可能である。

また、検査用入力端子を省略し、代わりに複数の入力端
子へ特定の組合せの信号を入力することで使用したり、
検査用出力端子を省略し、代わりに複数の入出力端子へ
特定の組合せの信号を出力することで代用することがで
きる。また、集積回路部はロジック回路に限定されるも
のではない。

発明の効果 以上の実施例から明らかなように、本発明は入出力端子
を備え、集積回路部の入出力端が前記入出力端子を介し
て外部に圧力される集積回路部品において、検査用入力
端子と、検査用出力端子と、圧力制御手段および検査手
段を設け、前記出力制御手段は前記集積回路部の複数の
出力をそれぞれ対応する圧力端子に出力するものであっ
て、前記検査用入力端子入力に対応して複数の圧力の内
の一部の端子を集積回路圧力端から切断、残シの端子で
所定のレベルを出力するものとし、前記検査手段はすべ
ての入力端子における外部入力レベルと前記切断される
端子における外部入力レベルを入力し、その入力レベル
の組合せに対応する所定の検査出力を出力するものとす
る集積回路部品の付属電子回路装置とすることにより、
任意の集積回路部品において特別な検査パターン入力を
用いることなく端子の接続状態を検査することができ、
また、応答速度を要求する集積回路部品においても影響
のない付属電子回路装置ができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の第１の実施例の集積回路部品の付属電
子回路装置の構成を示す回路図、第２図は本発明の第２
の実施例の集積回路部品の付属電子回路装置の構成を示
す回路図、第３図は従来の集積回路部品の構成を示すブ
ロック図である。 １・・・・・・検査用入力端子、２・・・・・・検査用
出力端子、４．５，６．７・・・・・・入力端子、８・
・・・・・集積回路ロジック部（集積回路部）、１４　
、１５　、１６．１７・・・・・・出力端子、１８・・
・・・・出力制御手段、１９・・・・・・検査手段、２
０・・・・・・付属電子回路装置、２１・・・・・・集
積回路部品。 代理人の氏名　弁理士　粟　野　重　孝　ほか１名第 図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 　入出力端子を備え、集積回路部の入出力端が前記入出
   力端子を介して外部に出力される集積回路部品において
   、検査用入力端子と、検査用出力端子と、出力制御手段
   および検査手段を設け、前記出力制御手段は前記集積回
   路部の複数の出力をそれぞれ対応する出力端子に出力す
   るものであって、前記検査用入力端子入力に対応して複
   数の出力の内の一部の端子を集積回路出力端から切断、
   残りの端子で所定のレベルを出力するものとし、前記検
   査手段はすべての入力端子における外部入力レベルと前
   記切断される端子における外部入力レベルを入力し、そ
   の入力レベルの組合せに対応する所定の検査出力を出力
   するようにしてなる集積回路部品の付属電子回路装置。