JPH0334705Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 (1) 考案の技術分野 本考案は電子部品の試験回路に関する。

(2) 技術の背景 一般に集積回路、混成集積回路等の電子部品
は、種々の環境条件のもとで長い間正常に動作す
る高い信頼性が要求される。

このような電子部品の試験方法として種々の条
件（温度，湿度，抵動等）のもとで電子部品に所
定の入力信号をくり返し与えて、その部品の出力
信号を観測し、期待した値になつているか否かを
照合する試験が一般的に行われている。

(3) 従来技術と問題点 ところで部品の故障として、例えば内部ボンデ
イングの接触不良があり、しかもその接触状態が
微妙であり、きわめてまれにしか断線状態を示さ
ないような故障は、非常に見つけにくい。

従来は部品の直流出力レベル、交流出力レベル
をテスターやシンクロスコープによつて測定して
いたが、上述したように瞬間的にしか異常状態を
示さない故障を検出するのはきわめて困難であ
る。

(4) 考案の目的 本考案は以上の従来の問題点を解決するもの
で、一定の試験時間の中で例え瞬間でも異常出力
が検出された場合は、これを保持しておく試験回
路を提供するものである。

(5) 考案の構成 上記本考案の目的は、電子部品に所定入力信号
を繰返し与え、該入力信号に対する出力信号を検
出し、該電子部品の良否を試験する試験回路にお
いて、テストデータ入力信号を前記電子部品の入
力端子へ順次入力するテストデータ送出回路と、
前記電子部品からの出力信号レベルを判定して、
該出力信号が所定電圧範囲内に入つているか否か
を出力する比較回路と、期待値データを送出する
期待値データ送出回路と、前記比較回路よりの出
力値と前記期待値データ送出回路よりの期待値デ
ータとを同期させながら順次比較して、一致しな
い場合を電子部品の異常状態として出力する一致
回路と、該一致回路よりの異常動作出力を試験動
作中保持するラツチ回路を具備する電子部品の試
験回路により達成される。

(6) 考案の実施例 次に図面により本考案を具体的に説明する。

図は本考案の実施例により試験回路構成図であ
る。

テストデータ送出回路６からのテストデータが
被試験電子部品１の入力端子に順次入力されて、
被試験電子部品１からの出力信号が比較回路２を
経由して一致回路３へ入力される。

比較回路２は電子部品１からの出力レベルを判
定して、出力電圧が所定電圧範囲内に入つていれ
ば論理“１”または“０”として出力する。

一致回路３では電子部品１からの出力値と、期
待値データ送出回路５からの同期して送られて来
る期待値データとを順次比較して一致しない場合
はラツチ回路４へ信号を送る。そしてラツチ回路
４では試験動作中に異常があつた事を保持する。

ラツチ回路４の出力NGは図示しない表示回路
やプリント回路に接続されて、一連の試験期間に
異常出力があつた事を表示する。

電子部品に対する試験は環境条件を種々変化さ
せて、かつテストデータをくり返し入力して試験
をし、動作中に１回の瞬間的異常があつてもこれ
を保持する。

(7) 考案の効果 以上説明したように、本考案の試験回路では、
試験動作中に１回の瞬間的異常が発生しても、こ
れを確実に発見することができ、電子部品の試験
の信頼性を向上できる利点がある。

【図面の簡単な説明】

図は本考案の実施例による試験回路の構成を示
す図である。 図において、１は被試験回路、２は比較回路、
３は一致回路、４はラツチ回路、５は期待値デー
タ送出回路、６はテストデータ送出回路を示す。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 電子部品に所定入力信号を繰返し与え、該入力
   信号に対する出力信号を検出し、該電子部品の良
   否を試験する試験回路において、 テストデータ入力信号を前記電子部品の入力端
   子へ順次入力するテストデータ送出回路と、前記
   電子部品からの出力信号レベルを判定して、該出
   力信号が所定電圧範囲内に入つているか否かを出
   力する比較回路と、期待値データを送出する期待
   値データ送出回路と、前記比較回路よりの出力値
   と前記期待値データ送出回路よりの期待値データ
   とを同期させながら順次比較して、一致しない場
   合を電子部品の異常状態として出力する一致回路
   と、該一致回路よりの異常動作出力を試験動作中
   保持するラツチ回路を具備する電子部品の試験回
   路。