JPS6255573A - 電子回路ボ−ドの故障診断装置 - Google Patents

電子回路ボ−ドの故障診断装置

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Publication number
JPS6255573A
JPS6255573A JP60195425A JP19542585A JPS6255573A JP S6255573 A JPS6255573 A JP S6255573A JP 60195425 A JP60195425 A JP 60195425A JP 19542585 A JP19542585 A JP 19542585A JP S6255573 A JPS6255573 A JP S6255573A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
board
clock
circuit
section
defective
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP60195425A
Other languages
English (en)
Inventor
Hideyuki Kori
郡 秀之
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP60195425A priority Critical patent/JPS6255573A/ja
Publication of JPS6255573A publication Critical patent/JPS6255573A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、電子回路ボードの故障診断に関し、特にダイ
ナミック回路を有する電子回路ボードの故障診断に関す
る。
〔従来の技術〕
従来、ダイナミック回路を有する電子回路ボードの故障
診断は、ロジックアナライザー利用による論理タイミン
グチェック、または、シダナチャー利用によるシグナチ
ャー解析を実施して行なっていた。
〔解決すべき問題点〕
上述した従来のダイナミック回路を有する電子回路ボー
ドの故障診断は、ロジックアナライザーによるタイミン
グ解析を行なう場合、すぐれた技術者がいないと故障の
発見ができないか、多大の時間を必要とするという問題
点がある。
また、シダナチャー利用によるアナライザーを使用する
場合、一般に電子回路ボードから、スタート信号および
ストップ信号を必要とし、同一のテスト範囲を明確にす
るためのスタート・ストップ信号を決めることのできな
い電子回路ボードについては試験できな込という問題点
がある。
〔問題点の解決手段〕
本発明は上記問題点を解決したものであシ、汎用試験機
または実機とのインターフェース部と、正常に動作する
第1のボードを挿入するための第1のコネクタと故障診
断したい第2のボードを挿入するための第2のコネクタ
とを有するインターフェース部と、および前記第1及び
第2のボードから信号を受けとる信号抽出部と、抽出し
た信号を比較する信号比較回路と、前記第1のボードか
らクロックを受けとるクロック受信部と、前記クロック
を利用して比較結果をラッチするための内部クロックを
作成するクロック作成回路と、前記比較結果をラッチす
る比較結果ラッチ回路と、該比較結果ラッチ回路の出力
を表示する表示部とを有する構成としてなるものである
〔実施例〕 次に、その実施例を第1図、第2図と共に説明する。
第1図は本発明に係る電子回路ボードの故障診断装置の
インターフェース部の斜視図、第2図は上記装置のブロ
ック図である。
第1図中、ダイナミック回路を有する不良品ボードの故
障診断を行なう場合、汎用試験機または実機とのインタ
ーフェース部4と第2のボードとしての不良品ボード5
及び第1のボードとしての良品ボード6との接続を内部
布線相部3で行なう。
接続に関して、不良品ボード挿入コネクタ1は、入力信
号線のみの接続を、父良品ボード挿入コネクタ2は、入
出力信号線の接続を夫々行なう。
その組付については、不良品ボード5を不良品ボード挿
入コネクタ1へ挿入し、父良品ボード6を良品ボード挿
入コネクタ2へ挿入し、更にクロック受信部8(第2図
参照)を良品ボード6のクロックへ接続する。汎用試験
機または、実機を動作させて、不良品ボード5.良品ボ
ード6を動作状態に維持しておき、一対の信号抽出部7
(第2図参照)をそれぞれ両ボード5.6の同じ部分に
あてる。
第2図中、クロック受信部8からのクロックは、クロッ
ク作成回路10によシ内部クロックに変換され、内部ク
ロック線13を経て、比較結果ラッチ回路14に送られ
る。
又各信号抽出部7から入力された信号は、信号比較回路
9に送出され、原信号を逐次比較する。
そして、一致・不一致の結果は、比較回路出力線12を
経て、比較結果ラッチ回路14へ送られ、クロック作成
回路10で作成された内部クロックによりラッチされる
。信号の一致・不一致結果は、更に比較結果出力線15
を通して出力表示部16で表示される。
ま九、信号抽出部7からの信号線11を経て入力された
良品・不良品の信号は、出力表示部16へ送出され、信
号の変化を表示する。
以上のような形式で不良品ボード5と良品ボード6の同
じ部分をあたシ、不一致部分を調べていくことにより、
不良箇所を検出するものである。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明は、ダイナミック回路を有
する不良品ボードの故障診断を行なう場合、すぐれた技
術者でなくても容易に診断を行なうことができ、また被
試験ボードのテスト範囲の同一化を明確にする必要もな
く、原信号を同一人力に対して比較し、故障診断を行な
うことができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る電子回路ボードの故障診断装置の
インターフェース部の斜視図、第2図は上記装置のブロ
ック図である。 1・・・不良品ボード挿入コネクタ 2・・・良品ボード挿入コネクタ 3・・・内部布線笛部

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 汎用試験機または実機とのインターフェース部と、正常
    に動作する第1のボードを挿入するための第1のコネク
    タと故障診断したい第2のボードを挿入するための第2
    のコネクタとを有するインターフェース部と、および前
    記第1及び第2のボードから信号を受けとる信号抽出部
    と、抽出した信号を比較する信号比較回路と、前記第1
    のボードからクロックを受けとるクロック受信部と、前
    記クロックを利用して比較結果をラッチするための内部
    クロックを作成するクロック作成回路と、前記比較結果
    をラッチする比較結果ラッチ回路と、該比較結果ラッチ
    回路の出力を表示する表示部とを有する構成としてなる
    電子回路ボードの故障診断装置。
JP60195425A 1985-09-04 1985-09-04 電子回路ボ−ドの故障診断装置 Pending JPS6255573A (ja)

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JPS6255573A true JPS6255573A (ja) 1987-03-11

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JP (1) JPS6255573A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009040637A (ja) * 2007-08-09 2009-02-26 Denso Corp 炭化珪素単結晶の製造方法および製造装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009040637A (ja) * 2007-08-09 2009-02-26 Denso Corp 炭化珪素単結晶の製造方法および製造装置

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