JPS6035274U - 電子部品の試験回路 - Google Patents

電子部品の試験回路

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JPS6035274U
JPS6035274U JP12700283U JP12700283U JPS6035274U JP S6035274 U JPS6035274 U JP S6035274U JP 12700283 U JP12700283 U JP 12700283U JP 12700283 U JP12700283 U JP 12700283U JP S6035274 U JPS6035274 U JP S6035274U
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JP
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component test
circuit
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川俣 誠一
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富士通株式会社
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
図は本考案の実施例による試験回路の構成を示す図であ
る。 図において、1は被試験回路、2は比較回路、3は一致
回路、4はラッチ回路、5は期待値データ送出回路、6
はテストデータ送出回路を示す。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 電子部品に所定入力信号を繰返し与え、該入力信号に対
    する出力を検出し、電子部品の良否を試験する試験回路
    において、該電子部品からの瞬間的な異常動作出力をラ
    ッチする回路を設けた事を特徴とする試験回路。
JP12700283U 1983-08-17 1983-08-17 電子部品の試験回路 Granted JPS6035274U (ja)

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JPH0334705Y2 JPH0334705Y2 (ja) 1991-07-23

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS54154953A (en) * 1978-05-29 1979-12-06 Nec Corp Fault searching system

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS54154953A (en) * 1978-05-29 1979-12-06 Nec Corp Fault searching system

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JPH0334705Y2 (ja) 1991-07-23

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