JPH0291587A - 半導体論理集積回路 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は半導体論理集積回路に関し、特にその中に構成
されている回路についての検査をより容易にする半導体
論理集積回路に関する。

（従来の技術） 従来、この種の半導体論理集積回路（以下ＬＳＩと略称
する）は、印刷配線基板上に多数個実装され１枚のボー
ドとして使用されるが、その内の１つのＬＳＩが故障し
てもそのボードの不良となリーしいては装置の故障とな
ってシステムダウンにつながるため、使用されている個
々のＬＳＩに対しては非常に高度の信頼性が要求される
場合が多い。

（発明が解決しようとする課題） 上述のようにＬＳＩは通常は多数実装されて１枚のボー
ドとして使用されるが、信頼性の高いＬＳＩを得るため
には、まず個々のＬＳＩ単体の状態の時にＩＣテスター
等を使用してＬＳＩの動作を確認する。更に１枚のボー
ドの状態の時には、ボードテスター等を使用して、実装
されている全てのＬＳＩの動作を統合的に確認していた
。

従って高い信頼性のＬＳＩを得るためには、この動作確
認用の検査パターンを非常に大量に印加せねばならず、
結果的にはＩＣテストやボードテストの段階での検査時
間が長くなるばかりでなく、その検査パターン作成に多
大の工数を必要とする欠点があった。

（課題を解決するための手段） 本発明による半導体論理集積回路は、少なくとも１本以
上の回路部出力端子および回路部出力端末子を有し前記
回路部入力端子に所定の信号を入力した時に所定の動作
を実行して前記回路部出力端子に所定の信号を出力する
機能回路部と、前記回路部入力端子および前記回路部出
力端子と同数の端子数を有する入力端子部および出力端
子部と、前記入力端子部と前記回路部入力端子との間に
設けられ切換信号の有無によって前記入力端子部の接続
を制御する入力信号切換回路部と、前記出力端子部と前
記回路部出力端子との間に設けられ、前記切換信号の有
無によって前記回路部出力端子の接続を制御する出力信
号切換回路部と、外部から電源電圧が印加されたことを
検出して検知信号を出力する電源電圧検出部と、前記検
知信号によって駆動され、前記切換信号を発生して前記
入力および出力信号切換回路部を動作させて前記機能回
路部の前記回路部入力および出力端子からの信号を受信
し、予め内蔵されているテストパターンによって前記機
能回路部の動作を検査するＲ能を有する判断回路部と、
前記判断回路部の検査結果を外部に出力する出力端子部
とを１つの半導体チップ内に有する。

（実施例） 次に本発明について図面を参照して詳細に説明する。

第１図は、本発明による半導体論理集積回路の一実施例
を示すブロック図である。

半導体論理集積回路（ＬＳＩ）１は、基本的には機能回
路部４と入力端子部２と出力端子部８と入力信号切換回
路部３と出力信号切換回路部７と電源電圧検出部５と判
断回路部６および出力端子部９とを備えて構成されてい
る。

その動作は、ＬＳＩＩに電源電圧が外部から印加される
と電源電圧検出部５がこの電源電圧を検出し、検知信号
を線路Ｆを介して判断回路６に伝達する。この検知信号
によって判断回路６は起動を開始し、機能回路４を検査
するために予め判断回路６に内蔵されている検査パター
ンを線路Ｂと入力信号切換回路３と線路りを介して機能
回路４に印加し、それに対応する機能回路４の出カバタ
ーンを線路Ｅと出力信号切換回路７と線路Ｊを介して自
己に取り入れ、予め内蔵されている該当する正解値と比
較する。この動作を全検査パターンについて実行し、そ
の結果を線路にと出力端子９を介して外部に出力する。

その結果が否であれば動作は終了し、このままの状態即
ち第１図の状態を保持するが良である場合には更に判断
回路６は線路ＣとＧを介して切換信号を入力信号切換回
路３と出力信号切換回路７に送信し、両回路３と７を動
作させて線路ＡｉＤ、線路ＨとＥを各々接続させること
によって入力端子２と機能回路４、機能回路４と出力端
子８が接続されることにより、一般のＬＳＩとしてＬＳ
ｌｌを使用可能とならしめる。この状態を第２図に示す
。

第３図はこのようなＬＳＩが複数個印刷配線された基板
上に実装されであるアルゴリズムを有する電子回路ボー
ド１００を構成した場合を示す図である。

図中６０と７０は入出力端子部、２０〜２７は本発明に
よるＬＳｉ　３０〜３７は第１図の９の接続線である。

また、本図は簡明化のために実際の信号線は全て省略し
である。

さて第３図において各信号線３０〜３７をＡＮＤ回路５
０に入力させ、その出力４０を入出力端子部７０に接続
しておけば、このボード１００が正常に動作しているか
どうかの監視作業は入出力端子部７０を通して出力信号
４０をシステム側よりモニタすることによって可能とな
る。従って、このようなボードが一つのシステムに複数
枚数使用されているとしても上述の方法によってどのボ
ードが不良であるか瞬時にシステム側で判断が可能であ
りシステムダウンの時間が大幅に短縮される。

（発明の効果） 以上説明したように、本発明はＬＳＩ内部に上述した入
力信号切換回路、出力信号切換回路、機能回路、電源電
圧検出部、判断回路等を内蔵させることにより、装置レ
ベルで不良になった電子回路ボードを前工程のボード検
査へ戻入することなく、装置に実装したままで当該ボー
ドの印加電圧を再度加えることによって装置側より当該
ボードのどのＬＳＩ単体が不良であるかを瞬時に判断で
きる。また、この機能を逆用して、印加電圧を加える毎
に随時に、使用されている電子回路ボードの異常の有／
無を確認できる、即ちセルフチエツクが非常に容易に行
える効果がある。更に以上の効果は従来のＬＳＩの端子
数を最低限１ビン増加させるだけで可能となる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明による半導体論理集積回路の一実施例を
示すブロック図、第２図は第１図の一使用状態を示すブ
ロック図、第３図は第１図に示すＬＳＩが複数個回路基
板上に記載された図である。 ｌ・・・半導体論理集積回路（ＬＳＩ）、２・・・入力
端子部、３・・・入力信号切換回路部、４・・・機能回
路部、５・・・電源電圧検出部、６・・・判断回路部、
７・・・出力信号切換回路部、８．９・・・出力端子部
、２０〜２７・・・ＬＳＩ、５０・・・ＡＮＤ回路、６
０．７０・・・入出力端子部。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 少なくとも１本以上の回路部出力端子および回路部出力
   端末子を有し前記回路部入力端子に所定の信号を入力し
   た時に所定の動作を実行して前記回路部出力端子に所定
   の信号を出力する機能回路部と、前記回路部入力端子お
   よび前記回路部出力端子と同数の端子数を有する入力端
   子部および出力端子部と、前記入力端子部と前記回路部
   入力端子との間に設けられ切換信号の有無によって前記
   入力端子部の接続を制御する入力信号切換回路部と、前
   記出力端子部と前記回路部出力端子との間に設けられ、
   前記切換信号の有無によって前記回路部出力端子の接続
   を制御する出力信号切換回路部と、外部から電源電圧が
   印加されたことを検出して検知信号を出力する電源電圧
   検出部と、前記検知信号によって駆動され、前記切換信
   号を発生して前記入力および出力信号切換回路部を動作
   させて前記機能回路部の前記回路部入力および出力端子
   からの信号を受信し、予め内蔵されているテストパター
   ンによって前記機能回路部の動作を検査する機能を有す
   る判断回路部と、前記判断回路部の検査結果を外部に出
   力する出力端子部とを１つの半導体チップ内に有するこ
   とを特徴とする半導体論理集積回路。