JPH02269984A - 部品実装プリント基板試験方法 - Google Patents

部品実装プリント基板試験方法

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JPH02269984A
JPH02269984A JP1092205A JP9220589A JPH02269984A JP H02269984 A JPH02269984 A JP H02269984A JP 1092205 A JP1092205 A JP 1092205A JP 9220589 A JP9220589 A JP 9220589A JP H02269984 A JPH02269984 A JP H02269984A
Authority
JP
Japan
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signal
logic
circuit
terminal
board
Prior art date
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Pending
Application number
JP1092205A
Other languages
English (en)
Inventor
Yasuo Shida
紫田 康男
Toshiaki Honna
本名 利明
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
NEC Tohoku Corp
Original Assignee
NEC Corp
NEC Tohoku Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は部品実装プリント基板試験方法に関する。
〔従来の技術〕
従来、二の種の試験方法はプリント基板の信号入力端子
を通じてプリント基板に実装され相互接続された論理I
Cに試験信号を加え、論理IC内の論理回路を動作させ
、この結果論理ICから出力される信号プリント基板の
端子より検出して予め用意されている正しい信号と比較
し、良否を判定している。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した従来の試験方法においては、プリント基板に実
装された論理ICがプリント基板へ実装される以前に単
体で試験されていても、プリント基板の端子から試験信
号を入力し、論理IC内の論理回路を動作させる必要が
あり、またプリント基板上で複数の論理ICが接続され
る事により、試験の対象となる回路が複雑となり、プリ
ント基板の端子に入力する試験信号群が長大化すること
を免れ得す、場合によっては試験信号群を作成する事が
できない問題がある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明の部品実装プリント基板試験方法は内蔵する論理
回路の後段に前記論理回路の入力信号及び出力信号の(
1ずれかを外部からの制御信号に従って選択的に出力す
る信号選択回路を有する論理ICを実装したプリント基
板を試験する場合、前記論理IC内の前記信号選択回路
を前記論理回路の入力信号側へ切り換え、前記プリント
基板の端子から試験信号の印加及び出力信号の検出を行
う構成である。
〔実施例〕
次に、本発明について図面を参照して説明する。
本発明の一実施例を示す第1図を参照すると、プリント
基板1上に論理IC2を用いて論理回路が構成されてい
る。論理IC2の内部には、論理回路3及び信号選択回
路4が有り、論理IC2の入力端子8に加えられた信号
が論理回路3を通って信号選択回路4へ入り、論理IC
2の出力端子9へ出力される状態と、論理回路3を通ら
ずに信号選択回路4を通って出力端子9へ出力される状
態のいずれが選択信号入力端子10に入力される選択信
号により選択される。
この実施例の回路に通常使用時の動作を行わせる場合、
プリント基板1の制御信号入力端子7には論理IC2の
選択信号入力端子1oに信号選択回路4が論理回路3の
論理信号を出力端子9へ出力する制御信号が加えられる
この実施例の回路を試験する場合、プリント基板1の制
御信号入力端子7には、論理IC2の選択信号入力端子
10に信号選択回路4が論理回路3の入力信号を出力端
子9へ出力する制御信号が加えられる。その後、プリン
ト基板1の信号入力端子5より試験信号が入力され、こ
の試験信号は論理IC2の信号入力端子8、信号選択回
路4及び信号出力端子9を通じてプリント基板1の信号
出力端子6へ出力され、予め用意されている正しい出力
信号と比較され、プリント基板上の回路の良否が判定さ
れる。この時、論理IC2の論理回路3は試験の対象外
である。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明によれば、部品実装済みのプ
リント基板を試験する時に、プリント基板に実装された
論理IC内の信号選択回路を制御し、論理ICの入力端
子へ入力された信号を選択して論理ICの出力端子へ出
力し、論理IC内の論理回路を試験の対象外とすること
により、プリント基板上の回路を簡略化し、プリント基
板の端子を通じて試験信号の印加及び出力信号の検出を
行う試験を容易にする。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す図である。 1・・・プリント基板、2・・・論理ICl3・・・論
理回路、4・・・信号選択回路、5・・・信号入力端子
、6・・・信号出力端子、7・・・制御信号入力端子、
8・・・入力端子、9・・・出力端子、10・・・選択
信号入力端子。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 内蔵する論理回路の後段に前記論理回路の入力信号及び
    出力信号のいずれかを外部からの制御信号に従って選択
    的に出力する信号選択回路を有する論理ICを実装した
    プリント基板を試験する場合、前記論理IC内の前記信
    号選択回路を前記論理回路の入力信号側へ切り換え、前
    記プリント基板の端子から試験信号の印加及び出力信号
    の検出を行うことを特徴とする部品実装プリント基板試
    験方法。
JP1092205A 1989-04-11 1989-04-11 部品実装プリント基板試験方法 Pending JPH02269984A (ja)

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