JPH01140387A - Ｉｃカード接触不良検知回路 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、ＩＣカードとＩＣカード処理装置とを接続
した時に生しる電気的接触不良を検知する回路に関する
ものである。

〔従来の技術〕

第３図は、従来のＩＣカード接触不良検知方式を説明す
るためのブロック図であり、図において、１はＩＣカー
ド、２はＩＣカード処理装置、３はＩＣカード入出力用
接続端子、４はＩＣカード処理装置入出力用接続端子、
５は記憶素子、６はデータ処理部、２１は比較データ記
憶部、８はアドレス線、９はＴ／Ｏ線、／Ｏは制御線、
１１は接地線、１２は電源線を示す。

ＩＣカードｌと、ＩＣカード処理装置２は、各々の入出
力用接続端子３と４の結合により、電気的に接続される
。各々の入出力用接続端子３と４の電気的接続の原理は
、接続端子３と４が有する電気的導体部分同士の接触に
より得られた低電気抵抗の状態を利用するものであるが
、この接触部分に電気的絶縁体が存在したり、接触部分
に間隙が生じたりした場合、前記の低電気抵抗値を得る
ことが出来ない。この状態を接触（接続）不良状態とい
うが、前記接触不良の状態は電気的に回路が開放された
状態であり、ＩＣカード１とＩＣカード処理装置２との
間の正常な情報伝達が不可能となる。

接触不良検知回路はこの問題を解決する手段として従来
より利用されている。

次に動作について説明する。ＩＣカード処理装置２のデ
ータ処理部６はＩＣカード１の記憶素子５の一部分に記
憶された接触不良判定用データを読み出すため、アドレ
ス線８及び制御線／Ｏに信号を入力する。この信号を受
けた゛記憶素子５はＩＣカード処理装置２により指定さ
れたアドレスに記憶しているデータをＴ／Ｏ′１ＩＡ９
に入力する。

Ｔ／Ｏ線に入力された信号はＩＣカード処理装置２内の
データ処理部６で受信され、受信信号となる。比較デー
タ記憶部２１には、予め記ｔａ素子５に記憶された前記
の接触不良判定用データと全く同一のデータを記憶させ
ておく。データ処理部６では前記受信信号と比較データ
記憶部２１から読み出した接触不良判定用データとを比
較、照合及び検定し、比較、照合の不一致又は検定不合
格と判定したとき接触不良が発生していると判定し、異
常処理作業を行う。

〔発明が解決しようとする問題点〕

従来の接触不良検知方式は、ＩＣカードの記憶素子の一
部分に予め検知用の情報を記憶させることが必要で、記
憶素子として本来使用可能な容量が制限されてしまうと
いった問題点や、ＩＣカードの記憶素子が揮発性を有す
る場合、データ処理部による異常判定の原因が、記憶素
子の情報揮発によるものか、接触不良によるものかを区
別出来ないなどの問題点があった。

この発明は、上記のような従来のものの問題点を解消す
るためになされたもので、ＩＣカード内の記憶素子を利
用することなく接触不良検知が出来るとともに、記憶情
報の内容に影響されることなく接触不良のみを検知でき
るＩＣカード接触不良検知回路を得ることを目的とする
。

〔問題点を解決するための手段〕

この発明に係るＩＣカード接触不良検知回路は、ＩＣカ
ード処理装置内のデータ処理部により検知信号を発生し
て検知しようとする電気回路に検知信号を入力するとと
もに、接触不良が生じたとき前記検知信号と異なる電圧
の電圧信号を電気回路に印加するようにし、かつ前記電
気回路の入力信号の電圧値を判定することで接触不良の
有無を判定するようにしたものである。

〔作用〕

この発明においては、上述のように構成することにより
、入力された検知信号が接触不良によりＩＣカードに伝
達不能となった場合にのみ電圧を変化させ、正常な接触
により伝達された検知信号との区別が出来るようにした
ので、記イα素子の記憶容量の一部を占有することなく
、かつ、記ｔα素子の記憶情報の内容に影響されること
なくＩＣカード接続端子に発生した接触不良を確実に検
知出来る。

〔実施例〕

以下、この発明の一実施例を図について説明する。第１
図は本発明の一実施例によるＩＣカード接触不良検知回
路を示し、図において、１はＩＣカード、２はＩＣカー
ド処理装置、３はＩＣカード入出力用接続端子、４はＩ
Ｃカード処理装置入出力用接続端子、５は記憶素子、６
はデータ処理部、７はＩＣカード側判定部、８はアドレ
ス線、９はＩ／Ｏ線、／Ｏは制御線、１１は接地線、１
２は電源線、１３は判定出力線、１４は検知命令線、１
５はＩＣカード側電圧印加部、１６は抵抗、１７はＩＣ
カード処理装置側電圧印加部を示す。

次に動作について説明する。

ＩＣカードｌとＩＣカード処理装置２は双方の入出力端
子３及び４の結合により、電気的に接続される。即ちＩ
Ｃカード１とＩＣカード処理装置２のそれぞれのアドレ
ス線８．Ｉ／Ｏ線９．制御線／Ｏ．接地線１１．電源線
１２１判定出力線１３、検知命令線１４は相互に接続さ
れ、電気回路を構成する。

データ処理部６は本来の処理に先立って接触不良検知処
理を開始し、検知命令線１４に検知命令信号を、またア
ドレス線８．Ｉ／Ｏ線９及び制御線ｌＯの各線に検知信
号としてそれぞれ低電圧側（＋２．０Ｖ未満）の信号を
出力する。

まず接触不良等が存在しない場合の動作について説明す
る。前記低電圧側信号はＩＣカードｌの電圧印加部１５
に入力されるが、接触不良等が存在しないため電圧印加
部１５内で電源線（＋５．０Ｖ）１２に接続された抵抗
１６による高電圧側信号（＋２．０ν以上）への移動は
なく、低電圧側信号としてＩＣカード側判定部７に入力
される。

判定部７では全ての入力信号が低電圧側信号であること
を検知し、その判定出力を低電圧側信号として判定出力
ｖＡ１３に入力する。ＩＣカード処理装置２の出力判定
線１３に伝えられたＩＣカード１の判定出力はｒｃカー
ド処処理装置電電圧印加部１７入力されるが、低電圧側
信号に変化はなく、データ処理部６に低電圧側信号とし
て入力される。データ処理部６では検知命令信号出力時
の出力判定線が低電圧側信号であると判定し、接触不良
等がなかったものとして処理を続行する。

次に、アドレス線において接触不良が発生している場合
の動作は以下のようになる。即ち、データ処理部６によ
りＩＣカード処理装置２側のアドレス線８に入力された
低電圧側信号は、接続端子３．４間の接触不良によりＩ
Ｃカード１側のアドレス線には伝達されない、このため
ＩＣカード１側のアドレス線□には電圧印加部１５にお
いて電源線１２に接続された抵抗１６を介して電源電圧
（＋５．ＯＶ）が印加され、高電圧側信号があられれる
。

このアドレス線にあられれた高電圧側信号はＩＣカード
側判定部７に入力されるが、ＩＣカード側判定部７の期
待入力である低電圧側信号ではないため、ＩＣカード側
判定部７は否定の判定、即ち、判定出力線１３に対して
高電圧側信号を出力する。この高電圧側信号はＩＣＣカ
ード処理装置電電圧印加部１７伝えられ、電圧印加部１
７では高電圧側信号としてそのまま出力される。データ
処理部２では検知命令信号出力時の出力判定線入力が高
電圧側信号であると判定し、接触不良等が存在するとし
て異常処理を行う。

Ｉ／Ｏ線及び制御線における接触不良等の動作も上記ア
ドレス線の場合と同じである。

次に、出力判定ｖＡ１３に接触不良が発生している場合
の動作比ついて説明する。ＩＣカード側判定部７の判定
出力￥ｌｌＡ１３出力は、アドレス線８゜１／Ｏ線９．
制御線／Ｏの各線が正常に接続されていることにより、
低電圧側信号を出力する。この信号はＩＣＣカード処理
装置電圧印加部子７は伝わらず、データ処理部６の出力
判定線１３人力は電圧印加部１７により電源電圧まで高
められた高電圧側信号として入力される。データ処理部
６では検知命令信号出力時の出力判定線入力が高電圧側
信号であると判定し、接触不良等が存在するとして異常
処理を行う。

次に、検知命令線において接触不良が発生している場合
の動作について説明する。ＩＣカード側判定部７はデー
タ処理部６からの検知命令信号である低電圧側信号の入
力がある時のみ判定出力線１３に低電圧側信号の出力を
行うことが可能であり、検知命令信号入力が高電圧側信
号であれば判定出力線１３の出力は高電圧側信号の出力
のみとなる。検知命令線の接触不良時は電圧印加部１５
により判定部７の検知命令線入力が高電圧側信号にされ
るため、判定部７の出力判定線１３には高電圧側信号が
出力され、これを受けたデータ処理部６は接触不良等が
発生しているものとして異常処理を行う。

次に、データ処理部６が接触不良検知処理を正常終了し
た後の動作について説明する。

接触不良等が発生していないことを検知したデータ処理
部６は検知命令線１４に高電圧側信号を出力し、ＩＣカ
ード側判定部７及び記ｔ９素子５に対する接触不良検知
のための処理を終了すると同時に、ＩＣカードシステム
としての本来の動作である記憶素子５に対するデータの
入出力処理の開始を伝達する。同時に、データ処理部６
はアドレス線８．Ｉ／Ｏ線９．制御１線ＩＯに出力して
いた検知信号出力を解除する。

なお、上記実施例では判定部７をＩＣカード側に設けた
が、ＩＣカード処理装置側に設けるようにしでもよい。

また、上記実施例ではＩＣカードとＩＣカード処理装置
の間に判定出力線を設けることにより、判定出力を伝達
するようにしたが、この伝達はＩ／Ｏ線を利用して行な
ってもよい。第２図は■／Ｏ線を利用した判定出力の一
例で、図中、１８は出力データ切替部、１９はコード発
生部、２０はＩＣカード処理装置側判定部を示す。

次にこの実施例の動作について説明する。接触不良検知
処理はデータ処理部６が検知命令線１４に検知命令信号
と、アドレス線８及び制御線／Ｏに検知信号としての低
電圧側信号をそれぞれ出力することにより開始される。

まず接触不良のない場合の動作について説明する。ＩＣ
カード側に伝達された検知命令信号と検知信号は判定部
７により低電圧側信号であることが検知され、判定部７
はコード発生部１９に対し正常接触であることを伝える
信号を出力する。コード発生部１９では正常接触を意味
するコードである低電圧側信号を出力データ切替部１８
に出力する。出力データ切替部１８はコード発生部１９
からのコード入力と記憶素子５からの入力とを検知命令
線１４の入力により切替える機能をもつ。

ここでは検知命令信号の入力が低電圧側信号であるため
コード発生部１９から入力された低電圧側信号をＩ／Ｏ
線９に出力する。

この信号はＩＣカード処理装置２のＩ／Ｏ線９に伝達さ
れ、更に電圧印加部１７を通り、ＩＣカード処理装置側
判定部２０に低電圧側信号として入力される。判定部２
０での入力期待値は低電圧側信号であり、Ｉ／Ｏ線９か
らの入力はこれと一致するので、判定部２０はデータ処
理部６に対して接触正常信号を出力する。データ処理部
６は検知命令信号出力時に前記接触信号が入力されてい
ることを検知し、接触が正常であると判定した後、検知
命令ｖＡ１４に出力している検知命令信号を高電圧側信
号にすると同時にアドレス線８．制御線ｌＯに出力して
いる検知信号の出力を解除する。

次にアドレス線に発生した接触不良について説明する。

アドレス線８に発生した接触不良は判定部７で検出され
、判定部７は接触不良である旨の信号をコード発生部１
９に出力する。コード発生部１９は接触不良を意味する
高電圧側信号を出力データ切替部１８に出力する。出力
データ切替部１８はＩ／Ｏ線９に前記高電圧側信号を出
力する。

この信号はＩＣカード処理装置側判定部２０に人力され
、２０はデータ処理部６に対し接触異常信号を出力する
。データ処理部６は検知命令信号出力時に前記接触不良
信号が入力されていることを検知し、異常処理に移る。

なお、制御線の接触不良についても、上記と同様の動作
である。

次にＩ／Ｏ線に接触不良が発生した場合について説明す
る。アドレス線、制御線が正常接触している場合、ＩＣ
カードのＩ／Ｏ線９には出力データ切替部１８より出力
された低電圧側信号があられれている。このとき、接続
端子３．４間でＩ／Ｏ線９が接触不良となった場合、ｒ
ｃカード処理装置側のＩ／Ｏ線９は電圧印加部１７によ
り電源電圧が印加され、高電圧信号として判定部２０に
入力される。判定部２０はこの入力により接触不良信号
をデータ処理部６に出力し、データ処理部６は接触不良
と判断し異常処理に移る。

次に検知命令線１４に接触不良が発生した場合について
説明する。データ処理部６より出力された検知命令信号
は、低電圧側信号であるが、接続端子３．４間の接触不
良により、ＩＣカード内の検知命令線１４は電圧印加部
１５により電源電圧が印加され、高電圧側信号として判
定部７に入力される。判定部７では検知命令信号が高電
圧側であるのを受けて、コード発生部１９に接触不良で
ある信号を出力する。以下の動作は前記アドレス線に発
生した接触不良の動作と同様である。

なお、上記２つの実施例では電圧印加部で電源線に抵抗
を介して接続するようにしているが、接地線１１に抵抗
を介して接続してもよく、この場合、検知命令信号及び
検知信号の各入力を高電圧側信号にすればよ（、上記実
施例と同様の効果を奏する。

また、上記２つの実施例では、いずれも１つの信号線に
接触不良がある場合についてのみ説明したが、同時に２
本以上の信号線に接触不良がある場合であっても、問題
なく不良検出を行なえることはいうまでもない。

〔発明の効果〕

以上のように、この発明に係るＩＣカード接触不良検知
回路によれば、ＩＣカード処理装置内のデータ処理部に
より検知信号を発生して検知しようとする電気回路に検
知信号を入力するとともに、接触不良が生じたとき前記
検知信号と異なる電圧の電圧信号を電気回路に印加する
ようにし、かつ前記電気回路の入力信号の電圧値を判定
することで接触不良の有無を判定するようにしたので、
接触不良の検知を記憶素子を利用することなく実行でき
、記憶素子の記憶容量の一部を占有することなく記憶素
子の記憶情報の内容に影響されることなくＩＣカード接
続端子に発生した接触不良を確実に検知出来る効果があ
る。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例によるＩＣカード接触不良
検知回路の動作を説明するためのブロック図、第２図は
Ｉ／Ｏ線を利用してＩＣカード処理装置に接触不良を伝
達するようにした、この発明の他の実施例を示すブロッ
ク図、第３図は従来のｒｃカード接触不良検知方式を示
すブロック図である。 図中、１はＩＣカード、２はＩＣカード処理装置、３は
ＩＣカード入出力用接続端子、４はＩＣカード処理装置
入出力用接続端子、５は記憶素子、６はデータ処理部、
７はＩＣカード側判定部、８はアドレス線、９はＩ／Ｏ
線、／Ｏは制御線、ｌｌは接地線、１２は電源線、１３
は判定出力線、１４は検知命令線、１５はＩＣカード側
電圧印加部、１６は抵抗、１７はＩＣカード処理装置側
電圧印加部、１８は出力データ切替部、１９はコード発
生部、２０はＩＣカード処理装置側判定部を示す。 なお図中同一符号は同−又は相当部分を示す。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １）記憶素子を含む半導体集積回路を内蔵したＩＣカー
   ドと、該ＩＣカードとの間でそれぞれに設けられた入出
   力用接続端子を介して情報の伝達を行うＩＣカード処理
   装置とを接続したときの電気的な接触の良否を検知する
   回路であって、前記ＩＣカード処理装置側に設けられ、
   前記半導体集積回路に対し接触不良を検知するための検
   知信号を出力するデータ処理部と、前記ＩＣカード内に
   設けられ、接触不良等が存在する場合に前記検知信号と
   は異なった値の電圧信号を前記半導体集積回路に印加す
   る電圧印加部と、前記半導体集積回路の入力信号の電圧
   値を判定して接触不良の有無を判定する判定部とを備え
   たことを特徴とするＩＣカード接触不良検知回路。 （２）前記判定部は、前記ＩＣカード内に設けられてい
   ることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載のＩＣカ
   ード接触不良検知回路。 （３）前記判定部の判定出力信号は、前記ＩＣカード処
   理装置のデータ処理部に伝達されることを特徴とする特
   許請求の範囲第２項記載のＩＣカード接触不良検知回路
   。 （４）前記データ処理部は前記判定信号に応じて異常処
   理を行なうことを特徴とする特許請求の範囲第３項記載
   のＩＣカード接触不良検知回路。 （５）前記ＩＣカード処理装置内には、接触不良等が存
   在する場合に前記判定信号とは異なった値の電圧信号を
   前記データ処理部に印加する電圧印加部が設けられてい
   ることを特徴とする特許請求の範囲第４項記載のＩＣカ
   ード接触不良検知回路。 （６）前記判定信号の伝達を、前記ＩＣカードとＩＣカ
   ード処理装置との間のＩ／Ｏ線を用いて行なうようにし
   たことを特徴とする特許請求の範囲第５項記載のＩＣカ
   ード接触不良検知回路。