JPH01237894A - 半導体記録装置の端子接続検出方式 - Google Patents
半導体記録装置の端子接続検出方式Info
- Publication number
- JPH01237894A JPH01237894A JP63065265A JP6526588A JPH01237894A JP H01237894 A JPH01237894 A JP H01237894A JP 63065265 A JP63065265 A JP 63065265A JP 6526588 A JP6526588 A JP 6526588A JP H01237894 A JPH01237894 A JP H01237894A
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 17
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 14
- 230000010365 information processing Effects 0.000 claims description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 3
- 206010008631 Cholera Diseases 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業−にの利用分野］
この発明は、半導体記録装置の端子接続検出方式に関し
、詳しくは、ＩＣカードと、これが装着されるＩＣカー
ドリーダ・ライタ等の外部装置との接点同士か電気的に
確実に接続されているかとうかをＦｔｆｉ単に検出する
ことができるような端子接続検出方式に関する。
、詳しくは、ＩＣカードと、これが装着されるＩＣカー
ドリーダ・ライタ等の外部装置との接点同士か電気的に
確実に接続されているかとうかをＦｔｆｉ単に検出する
ことができるような端子接続検出方式に関する。
［従来の技術］
従来、ＩＣカードリーダ・ライタ等の外部装置とこれに
装着されて使用されるＩＣカードとは、それぞれのコネ
クタを介して複数の接触端子同士が接触して電気的接続
されることになるが、これらの端子が確実に接続されて
いないと誤ったデー夕の授受がなされたり、装置が誤動
作したりすることになる。そこで、各端子が確実に接続
されているかとうかをあらかじめ検出することが必要と
なる。
装着されて使用されるＩＣカードとは、それぞれのコネ
クタを介して複数の接触端子同士が接触して電気的接続
されることになるが、これらの端子が確実に接続されて
いないと誤ったデー夕の授受がなされたり、装置が誤動
作したりすることになる。そこで、各端子が確実に接続
されているかとうかをあらかじめ検出することが必要と
なる。
この種の端子接続検出方式としては、例えば、特開昭６
１−５９５８５号公報に示されているようなものを挙げ
ることができる。これは、ＩＣカード上の１つの端子に
２つのコンタクトピンをそれぞれ接触させ、２つのうち
の一方のコンタクトピンより信号を発生して他方のコン
タクトピンによりその信号を受信することでコンタクト
ピンがＩＣカード上の端子に確実に接触していか否かを
検出するものである。
１−５９５８５号公報に示されているようなものを挙げ
ることができる。これは、ＩＣカード上の１つの端子に
２つのコンタクトピンをそれぞれ接触させ、２つのうち
の一方のコンタクトピンより信号を発生して他方のコン
タクトピンによりその信号を受信することでコンタクト
ピンがＩＣカード上の端子に確実に接触していか否かを
検出するものである。
［解決しようとする課題］
しかし、このような端子の接続検出方式では、ＩＣカー
ドリーダ・ライタ等の外部装置側にほぼ倍の数のコンタ
クトピンが必要となる上、１つのコンタクトピンがＩＣ
カード上の複数の端子に接触している状態とか、ＩＣカ
ード上の端子同士が短絡しているような状態については
検出できない欠点がある。
ドリーダ・ライタ等の外部装置側にほぼ倍の数のコンタ
クトピンが必要となる上、１つのコンタクトピンがＩＣ
カード上の複数の端子に接触している状態とか、ＩＣカ
ード上の端子同士が短絡しているような状態については
検出できない欠点がある。
゛この発明は、このような従来技術の問題点を解決する
ものであって、ＩＣカードリーダ・ライタ等の外部装置
におけるコンタクトピンを多くシなくても確実に端ｒ同
士の接続状態が検出できる半導体記録装置の端子接続検
出方式を提供することを口を白とする。
ものであって、ＩＣカードリーダ・ライタ等の外部装置
におけるコンタクトピンを多くシなくても確実に端ｒ同
士の接続状態が検出できる半導体記録装置の端子接続検
出方式を提供することを口を白とする。
［課題を解決するための手段コ
このような目的を達成するためのこの発明の半導体記録
装置の端子接続検出方式の構成は、半導体回路を内蔵し
、接続コネクタを介して情報処理装置に設けられた装置
側コネクタと電気的に接続され、この情報処理装置との
間でデータの授受を行う半導体記録装置において、接続
コネクタが電源端子と共通端子と複数の信号端子とを備
えていて、複数の信号端子が、それぞれ電源端子と共通
端子との間に接続された第１及び第２の抵抗からなる直
列回路のこれら抵抗の接続点に接続され、電源端子と共
通端子とに所定の電圧が印加されたどきに、装置側コネ
クタにおいて複数の各信号端子に対応する端子に得られ
る第１及び第２の抵抗により分圧された電圧を検出する
ものである。
装置の端子接続検出方式の構成は、半導体回路を内蔵し
、接続コネクタを介して情報処理装置に設けられた装置
側コネクタと電気的に接続され、この情報処理装置との
間でデータの授受を行う半導体記録装置において、接続
コネクタが電源端子と共通端子と複数の信号端子とを備
えていて、複数の信号端子が、それぞれ電源端子と共通
端子との間に接続された第１及び第２の抵抗からなる直
列回路のこれら抵抗の接続点に接続され、電源端子と共
通端子とに所定の電圧が印加されたどきに、装置側コネ
クタにおいて複数の各信号端子に対応する端子に得られ
る第１及び第２の抵抗により分圧された電圧を検出する
ものである。
［作用コ
このように半導体記録装置の１つとして、例えば、ＩＣ
カードにあっては、その複数の信号端子がそれぞれ、電
源端子と共通端子との間に接続された第１及び第２の抵
抗からなる直列回路のこれら抵抗の接続点に接続されて
いるので、それぞれの信号端子がその端子に接続される
第１及び第２の抵抗よりなる電源電圧分圧回路により決
定される所定の電圧を発生する。
カードにあっては、その複数の信号端子がそれぞれ、電
源端子と共通端子との間に接続された第１及び第２の抵
抗からなる直列回路のこれら抵抗の接続点に接続されて
いるので、それぞれの信号端子がその端子に接続される
第１及び第２の抵抗よりなる電源電圧分圧回路により決
定される所定の電圧を発生する。
そこで、ＩＣカードリーダ・ライタ等の外部装置に設け
れたＩＣカードとの接続部（例えばコンタクトピン）の
それぞれに接続された電圧検出回路により電源電圧を印
加した際の各信号端子の電圧を所定の比較電圧と比較す
ることで接触不良等の接続状態と電源電圧が正常に印加
されているか否か、さらに各コンタクトピンがＩＣカー
ドの所定の端子のみに接触しているか否かを検出するこ
とができる。
れたＩＣカードとの接続部（例えばコンタクトピン）の
それぞれに接続された電圧検出回路により電源電圧を印
加した際の各信号端子の電圧を所定の比較電圧と比較す
ることで接触不良等の接続状態と電源電圧が正常に印加
されているか否か、さらに各コンタクトピンがＩＣカー
ドの所定の端子のみに接触しているか否かを検出するこ
とができる。
また、前記所定の比較電圧との対比してそれに応じた差
の電圧を発生するようにすれば、ＩＣカードの端子同士
が短絡していないことなどをその検出市川の相違で検出
することができる。
の電圧を発生するようにすれば、ＩＣカードの端子同士
が短絡していないことなどをその検出市川の相違で検出
することができる。
［実施例］
以下、この発明の一実施例について図面を参照して詳細
に説明する。
に説明する。
第１図は、この発明の半導体記録装置の端子接続検出方
式をＩＣカードシステムに適用した場合のＩＣカード側
の一実施例のブロフク図、第２図は、そのＩＣカードリ
ーダ・ライタ側の一実施例のブロック図である。
式をＩＣカードシステムに適用した場合のＩＣカード側
の一実施例のブロフク図、第２図は、そのＩＣカードリ
ーダ・ライタ側の一実施例のブロック図である。
第１図において、１は、ＩＣチップ２を内蔵するＩＣカ
ードであり、ＩＣチップ２は、マイクロプロセッサと、
メモリ、そして外部装置との通信インタフェースとして
の通信制御回路等の各回路を備えていて、これらをワン
チップとして集積している。
ードであり、ＩＣチップ２は、マイクロプロセッサと、
メモリ、そして外部装置との通信インタフェースとして
の通信制御回路等の各回路を備えていて、これらをワン
チップとして集積している。
ＴＶは、電源端ｒであり、集積された各回路の電源供給
端子に接続され、ＴＧは、共通端子であリ、集積された
各回路の接地（ＧＮＤ）に接続されている。また、信号
端子ＴＩＴ２．Ｔ３． ・・・は、それぞれ通信制御
回路のデータ入出力端子等に接続されている。
端子に接続され、ＴＧは、共通端子であリ、集積された
各回路の接地（ＧＮＤ）に接続されている。また、信号
端子ＴＩＴ２．Ｔ３． ・・・は、それぞれ通信制御
回路のデータ入出力端子等に接続されている。
ソシテ、Ｋ抗ＲＩｖ、抵抗Ｒ２Ｖ、抵抗Ｒ３Ｖ、−＊・
が電源端子ＴＶと信号端子ＴＩ 、Ｔ２．Ｔ３゜・φ・
の各端子との間にそれぞれ接続され、さらに、コレラ抵
抗ＲＩＶ、抵抗Ｒ２Ｖ、抵抗Ｒ３Ｖ、−拳・の各抵抗に
対応してそれぞれ抵抗ＲＩＧ、抵抗Ｒ２Ｇ、抵抗Ｒ３Ｇ
、 拳・・が信号端子ＴＩ、Ｔ２゜Ｔ３． ・・
・の各端子と共通端子ＴＧとの間に対をなすように接続
されている。
が電源端子ＴＶと信号端子ＴＩ 、Ｔ２．Ｔ３゜・φ・
の各端子との間にそれぞれ接続され、さらに、コレラ抵
抗ＲＩＶ、抵抗Ｒ２Ｖ、抵抗Ｒ３Ｖ、−拳・の各抵抗に
対応してそれぞれ抵抗ＲＩＧ、抵抗Ｒ２Ｇ、抵抗Ｒ３Ｇ
、 拳・・が信号端子ＴＩ、Ｔ２゜Ｔ３． ・・
・の各端子と共通端子ＴＧとの間に対をなすように接続
されている。
これらの１対の各抵抗は、電源端子ＴＶと共通端子ＴＧ
との間で信号端子ＴＩ 、Ｔ２．Ｔ３． ・・・の各
信号端子に対し、電源電圧をそれぞれの抵抗で分圧する
分圧回路を形成している。
との間で信号端子ＴＩ 、Ｔ２．Ｔ３． ・・・の各
信号端子に対し、電源電圧をそれぞれの抵抗で分圧する
分圧回路を形成している。
ここで、電源端子ＴＶに電源電圧ＶＣＣが供給され、共
通端子ＴＧが接地されているとすると、各信号端子電圧
をＶｊ （但し、ｉ＝１〜ｎ＋ｎは端子総数）とし、
また、電源電圧ＶＣＣ供給直後においてはＩＣカード１
の各端子は、入力状態又は３−ステート状態であるため
入力抵抗は非常に大きく、ＩＣカード１へ流入する電流
を無視すると下記の式が成立する。
通端子ＴＧが接地されているとすると、各信号端子電圧
をＶｊ （但し、ｉ＝１〜ｎ＋ｎは端子総数）とし、
また、電源電圧ＶＣＣ供給直後においてはＩＣカード１
の各端子は、入力状態又は３−ステート状態であるため
入力抵抗は非常に大きく、ＩＣカード１へ流入する電流
を無視すると下記の式が成立する。
ＲＩＧ
ｖ ｎ 、 ＋ ｖ ＋ ＋ ｃ ｘ Ｖ ｃ
ｃただし、信号端子の総数をｎとし、Ｒ＋ｖは、１〜ｎ
までの電源端子ＴＶと各信号端子との間に挿入された抵
抗の抵抗値であり、ＲＩＧは、１〜ｎまでの各信号端子
と共通端子ＴＯとの間に挿入された抵抗の抵抗値である
。
ｃただし、信号端子の総数をｎとし、Ｒ＋ｖは、１〜ｎ
までの電源端子ＴＶと各信号端子との間に挿入された抵
抗の抵抗値であり、ＲＩＧは、１〜ｎまでの各信号端子
と共通端子ＴＯとの間に挿入された抵抗の抵抗値である
。
その結果、電源端子ＴＶと共通端子ＴＧとの間で各信号
端子に接続されている２ケの抵抗の抵抗値を決めること
により、各信号端子に所定の電圧を発生させることがで
き、これら各信号端子の発生電圧を異ならしめるとがで
きる。
端子に接続されている２ケの抵抗の抵抗値を決めること
により、各信号端子に所定の電圧を発生させることがで
き、これら各信号端子の発生電圧を異ならしめるとがで
きる。
なお、ＩＣカードリーダΦライタにＩＣカード１が装着
されてＩＣカードリーダ・ライタ側がら信号が供給され
た際には、ＩＣカード１の各信号端子ＴＩ−Ｔｎは、電
源端子ＴＶと共通端子ＴＧとの間で各信号端子’ｒｌ−
Ｔｎに接続されている２ケの抵抗値の影響を無視でき、
そのデータの授受い十分な信号レベルになり、さらにＩ
Ｃカード１の端子で出力状態となり得る端子に関しても
同様に２ケの抵抗値の影響を無視できる程度の大きなイ
ンピーダンスになるように、ここでは、前記の分圧電圧
を発生する各抵抗の抵抗値が設定されているものとする
。
されてＩＣカードリーダ・ライタ側がら信号が供給され
た際には、ＩＣカード１の各信号端子ＴＩ−Ｔｎは、電
源端子ＴＶと共通端子ＴＧとの間で各信号端子’ｒｌ−
Ｔｎに接続されている２ケの抵抗値の影響を無視でき、
そのデータの授受い十分な信号レベルになり、さらにＩ
Ｃカード１の端子で出力状態となり得る端子に関しても
同様に２ケの抵抗値の影響を無視できる程度の大きなイ
ンピーダンスになるように、ここでは、前記の分圧電圧
を発生する各抵抗の抵抗値が設定されているものとする
。
第２図は、このようなＩＣカード１が装着され、これを
受けるＩＣカードリーダ・ライタ３の具体例である。
受けるＩＣカードリーダ・ライタ３の具体例である。
ＩＣカードリーダーライタ３は、その内部に制御部４と
、信号端子ＴＩ、Ｔ２．Ｔ３． ・・・の各端子に接
触するコンタクトピン等で構成されるフンタクト部８ａ
＋８ｂ＋−・・、８ｎと、これらコンタクト部のそれぞ
れに対応して設けられ、これらフンタクト部からの信号
をそれぞれ受ける制御信号インターフェイス部５ａ、Ｅ
＋ｂ、 ・・働。
、信号端子ＴＩ、Ｔ２．Ｔ３． ・・・の各端子に接
触するコンタクトピン等で構成されるフンタクト部８ａ
＋８ｂ＋−・・、８ｎと、これらコンタクト部のそれぞ
れに対応して設けられ、これらフンタクト部からの信号
をそれぞれ受ける制御信号インターフェイス部５ａ、Ｅ
＋ｂ、 ・・働。
５ｎと、コンタクト部８ ａ ＋ ８ｂ Ｉ ＠
・” Ｈ８ｎのそれぞれに対応して設けられ、これらフ
ンタクト部からの信号をそれぞれ受ける電圧検出回路と
してのコンパレータ６ａ ＋ ６ｂ ＋ ・・・、
Ｅ３ｎとを備えている。そして、各コンパレータ６ａ、
６ｂ、・・・ｔｅｎには、それぞれ電源として示す比較
電圧発生回路７ａ＋７ｂ、＊・・、７ｎがそれぞれの比
較入力に加えられている。
・” Ｈ８ｎのそれぞれに対応して設けられ、これらフ
ンタクト部からの信号をそれぞれ受ける電圧検出回路と
してのコンパレータ６ａ ＋ ６ｂ ＋ ・・・、
Ｅ３ｎとを備えている。そして、各コンパレータ６ａ、
６ｂ、・・・ｔｅｎには、それぞれ電源として示す比較
電圧発生回路７ａ＋７ｂ、＊・・、７ｎがそれぞれの比
較入力に加えられている。
ここで、ＩＣカードリーダ・ライタ３からＩＣカードｌ
の電源端子ＴＶに電源電圧を印加した際に、コンタクト
部ｇａ、 コンタクトｍ＜８ｂ、−Ｉ・、コンタクト？
３＜ ８ ｎのそれぞれに接触するＩＣカードｌの信号
端子ＴＩ 、Ｔ２．Ｔ３． ・ａｍの各端子に発生す
る相違する電圧をそれぞれ’Ｊ ８ａ。
の電源端子ＴＶに電源電圧を印加した際に、コンタクト
部ｇａ、 コンタクトｍ＜８ｂ、−Ｉ・、コンタクト？
３＜ ８ ｎのそれぞれに接触するＩＣカードｌの信号
端子ＴＩ 、Ｔ２．Ｔ３． ・ａｍの各端子に発生す
る相違する電圧をそれぞれ’Ｊ ８ａ。
ｖｓｂ、 ＊・・、Ｖ８ｎとすると、これらがそれぞ
れコンパレータ６ａ＋８ｂ、 ・・・、６ｎによって
そのそれぞれの比較電圧発生回路７ａ＋７ｂ＋ ・・
・＋７ｎの電圧と比較され、その結果が比較電圧発生回
路から制御部４に送出される。なお、比較電圧発生回路
７ａ、７ｂ、 ・・・、７ｎの電圧は、それぞれ電圧
Ｖ８ａ、 ｖ８ｂ、 ＠ ＠ １１． Ｖ８ｎに対応
してこれらを検出できる値に設定されている。
れコンパレータ６ａ＋８ｂ、 ・・・、６ｎによって
そのそれぞれの比較電圧発生回路７ａ＋７ｂ＋ ・・
・＋７ｎの電圧と比較され、その結果が比較電圧発生回
路から制御部４に送出される。なお、比較電圧発生回路
７ａ、７ｂ、 ・・・、７ｎの電圧は、それぞれ電圧
Ｖ８ａ、 ｖ８ｂ、 ＠ ＠ １１． Ｖ８ｎに対応
してこれらを検出できる値に設定されている。
そこで、この各比較結果信号を制御部４で得ることで、
ＩＣカード１に電源電圧が正常に印加されたことと、各
コンタクト部のコンタクトピンが市常に接触しているか
否か等を同時に判定できる。
ＩＣカード１に電源電圧が正常に印加されたことと、各
コンタクト部のコンタクトピンが市常に接触しているか
否か等を同時に判定できる。
なお、このような処理を行うときには、制御部４より、
制御信号インターフェイス部５ａ＋５ｂ＋・・・＋５ｎ
を制御し、各ＩＣカード１側見たコンタクト部から見た
制御信号インターフェイス部のインピーダンスがＩＣカ
ードから発生する電圧に影響を与えないほど大きくなっ
ているものとする。
制御信号インターフェイス部５ａ＋５ｂ＋・・・＋５ｎ
を制御し、各ＩＣカード１側見たコンタクト部から見た
制御信号インターフェイス部のインピーダンスがＩＣカ
ードから発生する電圧に影響を与えないほど大きくなっ
ているものとする。
また、ここで、各コンパレータｅａ、ｅｂｂｓ・・、
６ｎは、ＩＣカード１における各接触端子に接続された
抵抗値のばらつき等による電圧Ｖ８ａ。
６ｎは、ＩＣカード１における各接触端子に接続された
抵抗値のばらつき等による電圧Ｖ８ａ。
ｖｓｂ、 拳・・、Ｖ８ｎのばらつきを１−分収吸で
きるようにその比較電圧範囲が設定されている。
きるようにその比較電圧範囲が設定されている。
ところで、何らかの原因により、ＩＣカード１の端子同
士、例えば、コンタクト部８ａ＋ コンタクト部８ｂ、
・・・、コンタクト部８ｎのうちいずれかの対応す
る端子が短絡した場合は、そこに得られる検出電圧は、
本来の電圧とからかけ離れた電圧となるため、各コンパ
レータ（３ａ、６ｂ。
士、例えば、コンタクト部８ａ＋ コンタクト部８ｂ、
・・・、コンタクト部８ｎのうちいずれかの対応す
る端子が短絡した場合は、そこに得られる検出電圧は、
本来の電圧とからかけ離れた電圧となるため、各コンパ
レータ（３ａ、６ｂ。
拳・−、６ｎを比較電圧との差に応じた出力電圧を発生
するアナログコンパレータ又はこの差値をデジタル値に
変換するＡ／Ｄコンバータを含む電圧検出回路とすれば
、各コンパレータ６ａ１６ｂｌ・拳・、（３ｎによりそ
の発生電圧を検出することができる。同様にＩＣカード
１に電源電圧が正常に印加されない場合も前記のコンパ
レータによりこれを検出することができる。
するアナログコンパレータ又はこの差値をデジタル値に
変換するＡ／Ｄコンバータを含む電圧検出回路とすれば
、各コンパレータ６ａ１６ｂｌ・拳・、（３ｎによりそ
の発生電圧を検出することができる。同様にＩＣカード
１に電源電圧が正常に印加されない場合も前記のコンパ
レータによりこれを検出することができる。
したがって、このことによりＩＣカードの端子同士の短
絡などを含めてＩＣカードとＩＣカードリーダ・ライタ
との接触不良を判断できる。
絡などを含めてＩＣカードとＩＣカードリーダ・ライタ
との接触不良を判断できる。
以」二説明してきたが、実施例では、電源電圧を分圧す
る抵抗をン個としているが、これは複数個あればよく、
供給される電源電圧は、ＩＣカードが装着される外部装
置から供給されるものでなくてもよい。
る抵抗をン個としているが、これは複数個あればよく、
供給される電源電圧は、ＩＣカードが装着される外部装
置から供給されるものでなくてもよい。
実施例では、コンパレータによりＩＣカード側のイ＞号
端子の電圧を検出しているが、これは、信号端子の電圧
をＡ／Ｄコンバータで変換して制御回路に送り、その電
圧の状態をここで判定するようにしてもよい。なお、Ｉ
Ｃカードの各信号端子に発生する各電圧を実施例では相
違させているが、これらのいつくか或いはすべてを同一
の電圧を発生するように設定してもよいことはもちろん
である。
端子の電圧を検出しているが、これは、信号端子の電圧
をＡ／Ｄコンバータで変換して制御回路に送り、その電
圧の状態をここで判定するようにしてもよい。なお、Ｉ
Ｃカードの各信号端子に発生する各電圧を実施例では相
違させているが、これらのいつくか或いはすべてを同一
の電圧を発生するように設定してもよいことはもちろん
である。
また、実施例では、ＩＣカードを中心として説明してい
るが、この発明は、このようなものに限定されるもので
はなく、メモリカードとか、ファイルメモリ等のように
複数の信号端子を持っていて、外部装置とコネクタ接続
されるような半導体記録装置一般に適用できることはも
ちろんである。
るが、この発明は、このようなものに限定されるもので
はなく、メモリカードとか、ファイルメモリ等のように
複数の信号端子を持っていて、外部装置とコネクタ接続
されるような半導体記録装置一般に適用できることはも
ちろんである。
［発明の効果コ
以−１几説明したように、この発明では、半導体記録装
置の１つとして、例えば、ＩＣカードにあっては、その
複数の信号端子がそれぞれ、電源端子と共通端子との間
に接続された第１及び第２の抵抗からなる直列回路のこ
れら抵抗の接続点に接続されているので、それぞれの信
号端子がその端子に接続される第１及び第２の抵抗より
なる電源電圧分圧回路により決定される所定の電圧を発
生する。
置の１つとして、例えば、ＩＣカードにあっては、その
複数の信号端子がそれぞれ、電源端子と共通端子との間
に接続された第１及び第２の抵抗からなる直列回路のこ
れら抵抗の接続点に接続されているので、それぞれの信
号端子がその端子に接続される第１及び第２の抵抗より
なる電源電圧分圧回路により決定される所定の電圧を発
生する。
そこで、ＩＣカードリーダφライタ等の外部装置に設け
れたＩＣカードとの接続部（例えばコンタクトピン）の
それぞれに接続された電圧検出回路により電源電圧を印
加した際の各信号端子の電圧を所定の比較電圧と比較す
ることで接触不良等の接続状態と電源電圧が正常に印加
されているか否か、さらに各コンタクトピンがＩＣカー
ドの所定の端子のみに接触しているか否かを検出するこ
とができる。
れたＩＣカードとの接続部（例えばコンタクトピン）の
それぞれに接続された電圧検出回路により電源電圧を印
加した際の各信号端子の電圧を所定の比較電圧と比較す
ることで接触不良等の接続状態と電源電圧が正常に印加
されているか否か、さらに各コンタクトピンがＩＣカー
ドの所定の端子のみに接触しているか否かを検出するこ
とができる。
また、前記所定の比較電圧との対比してそれに応じた差
の電圧を発生するようにすれば、ＩＣカードの端子同士
が短絡していないことな、どをその検出電圧の相違で検
出することができる。
の電圧を発生するようにすれば、ＩＣカードの端子同士
が短絡していないことな、どをその検出電圧の相違で検
出することができる。
第１図は、この発明の半導体記録装置の端ｒ接続検出方
式をＩＣカードシステムに適用した場合のＩＣカード側
の一実施例のブロフク図、第２図は、そのＩＣカードリ
ーダ・ライタ側の一実施例のブロック図である。 １・・・ＩＣカード、２・・・ＩＣチ、プ、３・・・Ｉ
ＣＣカードリーダウライタ４・・・制御部、５ａ、５ｂ
、５ｎ・・・ 制御信号インターフェイス部、８ａ、８
ｂ、ａｎ・・・コンパレータ、７ａ、７ｂ、７ｎ・・・
比較電圧回路、８ａ、８ｂ、８ｎ・・・コンタクト部。 ＴＶ・・・電源端子、ＴＧ・・・共通用端子、ＴＩ 、
Ｔ２．Ｔ３・・・信号端子、 ＲＩＶ 、 Ｒ２Ｖ、 Ｒ３Ｖ、 ＲＩＧ 、 Ｒ
２Ｏ，Ｒ２Ｏ・・・抵抗。 特許出願人 日立マクセル株式会社 代理人 弁理士 梶 山 信 是
式をＩＣカードシステムに適用した場合のＩＣカード側
の一実施例のブロフク図、第２図は、そのＩＣカードリ
ーダ・ライタ側の一実施例のブロック図である。 １・・・ＩＣカード、２・・・ＩＣチ、プ、３・・・Ｉ
ＣＣカードリーダウライタ４・・・制御部、５ａ、５ｂ
、５ｎ・・・ 制御信号インターフェイス部、８ａ、８
ｂ、ａｎ・・・コンパレータ、７ａ、７ｂ、７ｎ・・・
比較電圧回路、８ａ、８ｂ、８ｎ・・・コンタクト部。 ＴＶ・・・電源端子、ＴＧ・・・共通用端子、ＴＩ 、
Ｔ２．Ｔ３・・・信号端子、 ＲＩＶ 、 Ｒ２Ｖ、 Ｒ３Ｖ、 ＲＩＧ 、 Ｒ
２Ｏ，Ｒ２Ｏ・・・抵抗。 特許出願人 日立マクセル株式会社 代理人 弁理士 梶 山 信 是
Claims (2)
- （１）半導体回路を内蔵し、接続コネクタを介して情報
処理装置に設けられた装置側コネクタと電気的に接続さ
れ、この情報処理装置との間でデータの授受を行う半導
体記録装置において、前記接続コネクタは、電源端子と
共通端子と複数の信号端子とを備え、前記複数の信号端
子は、それぞれ前記電源端子と前記共通端子との間に接
続された第１及び第２の抵抗からなる直列回路のこれら
抵抗の接続点に接続され、前記電源端子と前記共通端子
とに所定の電圧が印加されたときに、前記装置側コネク
タにおいて前記複数の各信号端子に対応する端子に得ら
れる第１及び第２の抵抗により分圧された電圧を検出す
ることを特徴とする半導体記録装置の端子接続検出方式
。 - （２）情報処理装置はＩＣカードリーダ・ライタであり
、半導体記録装置はＩＣカードであり、前記ＩＣカード
リーダ・ライタは、前記ＩＣカードの電源端子に電源電
圧を印加したときに、前記ＩＣカードの各信号端子の電
圧レベルを検出することにより前記ＩＣカードの接続コ
ネクタと自己の装置側コネクタとの接続状態を検知する
ことを特徴とする半導体記録装置の端子接続検出方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63065265A JPH01237894A (ja) | 1988-03-18 | 1988-03-18 | 半導体記録装置の端子接続検出方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63065265A JPH01237894A (ja) | 1988-03-18 | 1988-03-18 | 半導体記録装置の端子接続検出方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01237894A true JPH01237894A (ja) | 1989-09-22 |
Family
ID=13281917
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63065265A Pending JPH01237894A (ja) | 1988-03-18 | 1988-03-18 | 半導体記録装置の端子接続検出方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01237894A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1134589A2 (de) * | 2000-01-21 | 2001-09-19 | Volkswagen Aktiengesellschaft | Verfahren zur Detektion einer fehlerhaften Masseverbindung in einer elektrischen Einrichtung insbesondere eines Kraftfahrzeugs |
| EP1227329A1 (fr) * | 2001-01-30 | 2002-07-31 | STMicroelectronics S.A. | Circuit de détection de mauvaise connexion d'alimentation |
| EP1400765A2 (en) | 2002-09-17 | 2004-03-24 | Kabushiki Kaisha Kobe Seiko Sho | Screw refrigerating apparatus |
-
1988
- 1988-03-18 JP JP63065265A patent/JPH01237894A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1134589A2 (de) * | 2000-01-21 | 2001-09-19 | Volkswagen Aktiengesellschaft | Verfahren zur Detektion einer fehlerhaften Masseverbindung in einer elektrischen Einrichtung insbesondere eines Kraftfahrzeugs |
| EP1134589A3 (de) * | 2000-01-21 | 2003-06-25 | Volkswagen Aktiengesellschaft | Verfahren zur Detektion einer fehlerhaften Masseverbindung in einer elektrischen Einrichtung insbesondere eines Kraftfahrzeugs |
| EP1227329A1 (fr) * | 2001-01-30 | 2002-07-31 | STMicroelectronics S.A. | Circuit de détection de mauvaise connexion d'alimentation |
| FR2820212A1 (fr) * | 2001-01-30 | 2002-08-02 | St Microelectronics Sa | Circuit de detection de mauvaise connexion d'alimentation |
| US6774663B2 (en) | 2001-01-30 | 2004-08-10 | Stmicroelectronics Sa | Circuit for the detection of a defective power supply connection |
| EP1400765A2 (en) | 2002-09-17 | 2004-03-24 | Kabushiki Kaisha Kobe Seiko Sho | Screw refrigerating apparatus |
| EP2218983A2 (en) | 2002-09-17 | 2010-08-18 | Kabushiki Kaisha Kobe Seiko Sho | Screw refrigerating apparatus |
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