KR101924149B1 - 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 전자기기나 장치의 통합적인 성능검사를 위한 시스템에 관한 것으로서, 검사하고자 하는 전자기기에 대해 전원을 인가한 후, 이들 전자기기의 검사 대상 순서를 설정하고, 이에 따라 안전 검사, 성능 검사, 결선 검사, 통신 검사를 동시다발적으로 실행하도록 하는 시스템을 개시한다.
Description
본 발명은 전자기기나 장치의 통합적인 성능검사를 위한 시스템에 관한 것으로서, 보다 자세하게는, 전자기기 등의 안전검사, 성능 검사, 부품의 결선 검사 또는 통신 기능의 검사 등을 동시 또는 이시에 수행할 수 있도록 하는 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템에 관한 기술 분야이다.
최근 초연결성에 기초하는 이른바 제4차 산업혁명은 기존의 제조업과 ICT 기술이 융합된 지능혁명으로 정의하고 있는데, 이러한 혁명적인 기술 트렌드에서는 각종의 장비들이 전자 모듈화가 진행되고 있다.
이에 따라, 각 단말기들은 IoT 즉, 단말 상호간의 네트워킹 송수신을 위하여, 상호간의 통신의 안정성이 대두되고 있으며, 이에 더하여 단말기를 이루는 모듈 상호간에는 전기 및 전자적 안정성이 전제되어야 하는 이슈가 부각되고 있다.
이러한 기술 트렌드의 쓰나미에 힘입어, 각 전자 제품, 전자 부품, 전자 모듈들의 전기 안전 검사나 성능의 검사, 그리고 부품의 결선의 검사는 물론, 통신 기능의 안정성 등에 대한 검사 장비의 시장이 크게 성장할 것으로 전망하고 있다.
이에 따라, 전자 장비 등의 성능 검사를 위한 기술적인 성숙도는 요구되고 있는데, 이러한 성능 검사 장비는 단발적이면서도 동시에 개별적인 시도들만 진행되고 있다.
전자 장비 등에 대한 성능 검사 시스템에 관한 기술적인 시도는 여럿 존재해 왔다.
전자 장비에 관한 성능 검사 등에 대한 선행 특허 기술로는 "전자 회로와 통신 기능 검사 방법(등록번호 제10-1607723호, 이하 특허문헌 1이라 한다)"이 존재한다.
특허문헌 1의 경우, 서로 유도 결합되어 서로 간에 통신을 하는 반도체 칩의 테스트를 용이하게 실시할 수 있는 전자 회로 및 이 전자 회로에서 실시되는 검사 방법을 제공한다. 특허문헌1의 전자 회로는, 제 1 기판; 배선에 의해 형성되고 신호를 송신하는 제 1 송신 코일; 제 1 송신 코일에 신호를 출력하는 제 1 송신 회로; 제 1 수신 코일로서, 제 1 수신 코일이 제 1 송신 코일에 유도 결합되는 위치에서 배선로 형성되고 제 1 송신 코일로부터 신호를 수신하는, 제 1수신 코일; 제 1 수신 코일로부터 신호를 수신하는 제 1 수신 회로; 및 제 1 송신 회로에 입력된 데이터와 제 1수신 회로로부터의 출력 데이터를 비교하는 제 1 판정 회로를 포함하고, 제 1 송신 코일, 제 1 송신 회로, 제 1수신 코일, 제 1 수신 회로 및 제 1 판정 회로는 제 1 기판 상에 장착된다.
또 다른 선행기술로는 "전력전자 회로, 전기기계, 및 전력전자 회로의 기능성을 검사하기 위한 방법(공개번호 제10-2014-0051799호, 이하 특허문헌2라 한다.)"도 존재한다.
특허문헌2의 경우, 전력전자 회로, 상기 전력전자 회로를 갖는 전기기계, 및 전력전자 회로의 기능성을 검사하기 위한 방법에 관한 것이다.
특허문헌 2의 전력전자 회로는 적어도 하나의 전력 반도체 스위치의 교번적인 스위칭 온 및 스위칭 오프를 근거로 한 전압으로부터 전기적 로드를 위한 클럭식 전압을 발생시키도록 구성되고, 적어도 하나의 전력 반도체 스위치를 갖는 전력부와, 상기 전력 반도체 스위치를 교번적인 스위칭 온 및 스위칭 오프를 위해 제어하도록 구성되는 제어 전자장치를 포함한다.
마찬가지로, 관련 선행기술로는 "지능형전자장치 성능검증 장치, 지능형전자장치 성능검증 시스템 및 컴퓨터 판독가능 기록 매체(공개번호 제10-2018-0008088호, 이하 특허문헌3이라 한다.)"도 존재한다.
특허문헌 3에 따른 지능형전자장치 성능검증 장치의 경우, 지능형전자장치의 내부 데이터와 지능형전자장치의 외부 데이터를 포함하는 지능형전자장치 설정파일을 입력받아 통신환경 설정을 제어하는 설정 모듈과, 내부데이터에 기초하여 지능형전자장치가 신호처리환경을 설정하도록 지능형전자장치와 통신을 수행하는 신호검출 모듈과, 외부 데이터에 기초하여 지능형전자장치의 외부신호 통신환경을 설정하고 외부신호 통신환경에 기초하여 고속신호를 발생시켜 지능형전자장치에 전송하는 고속신호 발생 모듈과, 지능형전자장치로부터 고속신호에 대한 응답신호를 수신하는 응답신호 수신 모듈을 포함하고 있다.
이들 선행 특허문헌들의 경우, 종래의 개별 성능 검사에 대한 기술적인 틀을 벗어나지 못하는 문제점들이 있다.
구체적으로는, 통신 기능을 검사하기 위한 기능만을 구비하고 있다거나, 접지 저항만을 체크할 수 있는 기능만을 구비하고 있다거나, 소비전력이 정격화되어 있는지 여부만을 체크할 수 있다거나 하는 문제점이 있어, 성능 검사를 하는 기업의 입장에서는 해당 장비는 특정 1 기능만을 구비하고 있으며, 해당 장비의 구비를 통해 수행할 수 있는 전자 장비의 성능 검사는 매우 제한적이었기 때문에, 시간에 따라 빠르게 급변하는 IoT(Internet of Things), ICT(Information & Communication Technology) 모듈, 부품들에 대한 적응력이 매우 떨어지는 문제점이 있었다.
본 발명에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템은 상기한 바와 같은 종래 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로서, 하나의 시스템을 통해 전자 장비의 다양한 성능을 테스트할 수 있는 시스템을 제공하고자 한다.
본 발명의 해결 과제는 이상에서 언급된 것들에 한정되지 않으며, 언급되지 아니한 다른 해결과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
본 발명에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템은 상기의 해결하고자 하는 과제를 위하여 다음과 같은 과제 해결 수단을 가진다.
본 발명에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템은 복수 개의 전자기기들의 성능을 검사하기 위한 시스템으로서, 상기 전자기기들에 전력을 인가하여, 상기 전자기기들 내 검사 대상 모듈들을 검사 준비 단계로 설정시키는 전원 인가 유닛; 상기 검사 대상 모듈들 중 검사 준비 단계로 설정되는 시간적 순서를 인식하고, 상기 시간적 순서에 따라 상기 검사 대상 모듈들의 검사 진행 순서를 오더링(ordering)하는 큐잉 유닛(queuing unit); 상기 큐잉 유닛이 오더링한 검사 진행 순서에 따라, 상기 검사 대상 모듈들의 1) 누설 전류(leakage current) 검사, 2) 접지 저항(ground bonding) 검사, 3) 절연 저항(insulation resistance) 검사 또는 4) 내전압(withstanding voltage) 검사 중 복수 개의 검사를 동시에 실행하는 안전 검사 유닛; 상기 큐잉 유닛이 오더링한 검사 진행 순서에 따라, 상기 검사 대상 모듈들의 1) 기동 전류 검사, 2) 전체 소비 전력 검사, 3) 기능 소비 전력 검사 또는 4) RF 누설 검사 중 복수 개의 검사를 동시에 실행하는 성능 검사 유닛; 상기 큐잉 유닛이 오더링한 검사 진행 순서에 따라, 상기 검사 대상 모듈들의 결선 누락 검사 또는 동작 불능 검사를 동시에 실행하는 결선 검사 유닛; 상기 큐잉 유닛이 오더링한 검사 진행 순서에 따라, 상기 검사 대상 모듈들의 통신 동작 검사 또는 센서 동작 검사를 선택적으로 실행하는 통신 검사 유닛; 상기 안전 검사 유닛, 상기 성능 검사 유닛, 상기 결선 검사 유닛 또는 상기 통신 검사 유닛으로부터 검사 결과들을 수신하고, 상기 검사 결과들을 미리 저장된 디폴트 설정치와 비교한 후, 상기 검사 결과의 정상 유무를 인식하는 결과 판정 유닛; 및 상기 결과 판정 유닛으로부터 상기 검사 결과의 정상 유무에 대한 정보를 수신하고 저장하는 저장 유닛을 포함하는 것을 특징으로 할 수 있다.
본 발명에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 상기 안전 검사 유닛의 상기 누설 전류 검사는, 상기 검사 대상 모듈에 접속되는 EMI(Electromagnetic Interference) Filter가 인가되는 경우, 상기 EMI Filter를 통해 측정되는 누설 전류는 0.5mA이하로 설정하며, 상기 EMI Filter를 인가하지 않는 경우, 측정되는 누설 전류는 0.75mA 이하로 설정하는 것을 특징으로 할 수 있다.
본 발명에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 상기 안전 검사 유닛의 상기 접지 저항 검사는, 상기 검사 대상 모듈의 접지 전극에 25A 이상의 고전류 소스(High Current Source)를 인가하고, 상기 접지 전극에 캘빈 센서(Kelvin Sensor)를 인가하여, 상기 검사 대상 모듈의 접지 저항이 100m Ω 보다 작은지 여부를 측정하는 것을 특징으로 할 수 있다.
본 발명에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 상기 안전 검사 유닛의 상기 절연 저항 검사는, 상기 검사 대상 모듈에 DC 전원을 인가한 후, 상기 검사 대상 모듈에 발생하는 전류를 측정한 후, 상기 검사 대상 모듈의 절연 저항값을 산출한 후, 상기 절연 저항값이 10M Ω 보다 큰지 여부를 측정하며, 상기 안전 검사 유닛의 상기 내전압 검사는, 상기 검사 대상 모듈에 AC 전원을 인가한 후, 상기 검사 대상 모듈에 발생하는 전류가 10mA이하인지 여부를 측정하는 것을 특징으로 할 수 있다.
본 발명에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 상기 결선 검사 유닛은, 전원이 인가된 상기 검사 대상 모듈에 전기전자계측기(Oscilloscope)를 제공한 후, 상기 검사 대상 모듈의 소비 전력을 0.02~0.03초 간격으로 측정하여, 측정된 상기 소비 전력을 최대, 최소 및 평균치를 산출한 후, 상기 소비 전력이 시간의 추이에 따라 미리 설정된 디폴트 값에 부합하는지 여부를 측정하는 것을 특징으로 할 수 있다.
본 발명에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 상기 성능 검사 유닛은, 전원이 인가된 상기 검사 대상 모듈에 DMM(Digital Multi Meter)을 인가하여, 상기 검사 대상 모듈의 소비 전력을 0.5~1.0초 간격으로 측정하여, 측정된 상기 소비 전력이 시간의 추이에 따라 미리 설정된 스펙에 부합하는지 여부를 측정하는 것을 특징으로 할 수 있다.
이상과 같은 구성의 본 발명에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템은 다음과 같은 효과를 제공한다.
첫째, 하나의 검사 대상 모듈에 대해 여러 검사가 필요한 경우에도 하나의 시스템을 통해 동시에 수행하도록 하는 효과를 제공한다.
둘째, 검사 대상 모듈에 여러 검사를 수행하도록 하는바, 해당 시스템의 도입을 통해 검사 대상 모듈이 변동되어 검사하고자 하는 기능이 변화하는 경우에도 시스템의 변경이 필요 없이 활용할 수 있도록 하게 된다.
본 발명의 효과는 이상에서 언급한 것들에 한정되지 않으며, 언급되지 아니한 다른 효과들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 마스터 PC와 이를 통해 검사를 하고자 하는 검사장비들을 도시한 개념도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 각 구성들을 도시한 블록도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템을 실행한 메인 화면이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템을 실행한 매뉴얼 제어화면이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템을 실행한 검사 공정 초기화면이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 일 구성요소인 안전 검사 유닛의 누설 전류 검사를 위한 회로도이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 일 구성요소인 안전 검사 유닛의 접지 저항 검사를 위한 회로도이다.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 일 구성요소인 안전 검사 유닛의 절연 저항 검사를 위한 회로도이다.
도 9는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 일 구성요소인 안전 검사 유닛의 내 전압 시험을 위한 회로도이다.
도 10은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 일 구성요소인 안전 검사 유닛의 바람직한 개념도이다.
도 11은 도 10의 전기 안전 검사 계측기의 바람직한 일 실시예에 따른 회로 구성도이다.
도 12는 도 10의 전기 안전 검사 계측기 전원 셀렉터(selector)의 바람직한 회로 구성도이다.
도 13은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 일 구성요소인 결선 검사 유닛의 실행 예시 화면이다.
도 14는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 일 구성요소인 결선 검사 유닛의 바람직한 개념도이다.
도 15는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 일 구성요소인 결선 검사 유닛의 바람직한 회로도이다.
도 16은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 일 구성요소인 결선 검사 유닛의 모델 셋팅 GUI이다.
도 17은 도 16의 세부항목에 대한 설명을 위한 도면이다.
도 18은 도 16의 최신 검사 그래프와 이에 저장된 검사 데이트를 이용하여 검사 스펙(specification)을 자동 설정하는 것을 도시한 그래프이다.
도 19는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 일 구성요소인 결선 검사 유닛의 GUI이다
도 20은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 일 구성요소인 성능 검사 유닛의 예시 화면이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 각 구성들을 도시한 블록도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템을 실행한 메인 화면이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템을 실행한 매뉴얼 제어화면이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템을 실행한 검사 공정 초기화면이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 일 구성요소인 안전 검사 유닛의 누설 전류 검사를 위한 회로도이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 일 구성요소인 안전 검사 유닛의 접지 저항 검사를 위한 회로도이다.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 일 구성요소인 안전 검사 유닛의 절연 저항 검사를 위한 회로도이다.
도 9는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 일 구성요소인 안전 검사 유닛의 내 전압 시험을 위한 회로도이다.
도 10은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 일 구성요소인 안전 검사 유닛의 바람직한 개념도이다.
도 11은 도 10의 전기 안전 검사 계측기의 바람직한 일 실시예에 따른 회로 구성도이다.
도 12는 도 10의 전기 안전 검사 계측기 전원 셀렉터(selector)의 바람직한 회로 구성도이다.
도 13은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 일 구성요소인 결선 검사 유닛의 실행 예시 화면이다.
도 14는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 일 구성요소인 결선 검사 유닛의 바람직한 개념도이다.
도 15는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 일 구성요소인 결선 검사 유닛의 바람직한 회로도이다.
도 16은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 일 구성요소인 결선 검사 유닛의 모델 셋팅 GUI이다.
도 17은 도 16의 세부항목에 대한 설명을 위한 도면이다.
도 18은 도 16의 최신 검사 그래프와 이에 저장된 검사 데이트를 이용하여 검사 스펙(specification)을 자동 설정하는 것을 도시한 그래프이다.
도 19는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 일 구성요소인 결선 검사 유닛의 GUI이다
도 20은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 일 구성요소인 성능 검사 유닛의 예시 화면이다.
본 발명에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 실시예를 가질 수 있는바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 상세한 설명에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 기술적 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 마스터 PC와 이를 통해 검사를 하고자 하는 검사장비들을 도시한 개념도이다. 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 각 구성들을 도시한 블록도이다. 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템을 실행한 메인 화면이다. 도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템을 실행한 매뉴얼 제어화면이다. 도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템을 실행한 검사 공정 초기화면이다. 도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 일 구성요소인 안전 검사 유닛의 누설 전류 검사를 위한 회로도이다. 도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 일 구성요소인 안전 검사 유닛의 접지 저항 검사를 위한 회로도이다. 도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 일 구성요소인 안전 검사 유닛의 절연 저항 검사를 위한 회로도이다. 도 9는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 일 구성요소인 안전 검사 유닛의 내 전압 시험을 위한 회로도이다. 도 10은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 일 구성요소인 안전 검사 유닛의 바람직한 개념도이다. 도 11은 도 10의 전기 안전 검사 계측기의 바람직한 일 실시예에 따른 회로 구성도이다. 도 12는 도 10의 전기 안전 검사 계측기 전원 셀렉터의 바람직한 회로 구성도이다. 도 13은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 일 구성요소인 결선 검사 유닛의 실행 예시 화면이다. 도 14는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 일 구성요소인 결선 검사 유닛의 바람직한 개념도이다. 도 15는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 일 구성요소인 결선 검사 유닛의 바람직한 회로도이다. 도 16은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 일 구성요소인 결선 검사 유닛의 모델 셋팅 GUI이다. 도 17은 도 16의 세부항목에 대한 설명을 위한 도면이다. 도 18은 도 16의 최신 검사 그래프와 이에 저장된 검사 데이트를 이용하여 검사 스펙(spec)을 자동 설정하는 것을 도시한 그래프이다. 도 19는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 일 구성요소인 결선 검사 유닛의 GUI이다. 도 20은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 일 구성요소인 성능 검사 유닛의 예시 화면이다.
본 발명에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 경우, 전기 제품, 전자 부품, 전장(電裝), 센서 등의 완제품은 물론 부품, 모듈 등에 대한 각종의 전기 정자적인 안전 검사나, 성능 검사, 그리고 부품의 결선 검사, 통신 네트워킹의 검사를 위한 통합 검사를 동시 또는 이시에 실행할 수 있는 기술적 사상을 개시한다.
도 1에 도시된 바와 같이, 마스터 PC(10)는 검사 장비들(20a~20n)에 접속되어 이들 장비들의 각종의 성능과 안전 진단에 대한 테스트를 진행한다.
도 1에 따른 마스터 PC(10)는 최상위 서버의 단말기 예컨대 PC나 HMI(Human Machine Interface)의 형태로 실시될 수 있으며, 이러한 단말기의 바람직한 디스플레이 화면은 도 3과 같이 구현될 수 있다.
도 3에 따른 바람직한 실시예에 따른 메인 화면의 경우, 구간별 정보 예컨대, 상태(대기, 검사 중, 합격, 불합격, 통과)에 관한 정보를 제시하며, 현재 모델(바코드, 모델명, 전원 사양)에 관한 정보도 제시할 수 있다.
아울러 도 3의 화면에서는 시스템의 상태인 통신 상태나 동작의 상태 등에 대한 정상/비정상에 대한 정보를 제시하기도 한다.
또한 도 3의 화면에서는 최근의 에러 메시지나, 검시 시스템의 시작/정지의 상태 제어 화면, 그리고 시스템의 진행 시간과 현재 프로그램의 버전, 그리고 최근 프로그램의 실행 일시에 대한 정보도 제시할 수 있다.
도 4의 경우, 상술한 바와 같이, 메뉴얼 제어화면인데, 이러한 화면에서는 I/O리스트, 각 계측기의 초기 설정 상태, 각 셀 별/제품별 옵셋(offset) 설정에 대한 정보는 물론 인풋 릴레이(Input Relay) 수동 제어 등에 대한 안내 정보까지 포함할 수 있다.
이를 위하여, 본 발명에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템은 도 2에 도시된 바와 같이, 전원 인가 유닛(110), 큐잉 유닛(queueing unit, 120), 안전 검사 유닛(130), 성능 검사 유닛(150), 결선 검사 유닛(160), 통신 검사 유닛(170), 결과 판정 유닛(180) 및 저장 유닛(190)을 포함할 수 있다.
도 2에 도시된 바와 같이, 이들 안전 검사 유닛(130), 성능 검사 유닛(150), 결선 검사 유닛(160), 통신 검사 유닛(170) 등의 선택적으로, 그리고 동시에 선택되어 실행될 수 있음은 물론이다.
그리고 판정 결과 유닛(180)에 따른 결과를 큐잉 유닛(120)에 피드백(Feedback)하여, 큐잉 유닛(120)의 오더링에 재반영하고, 이에 따라 우선적으로 다시 검사해야하는 기능을 먼저 수행하도록 할 수 있게 된다.
먼저, 전원 인가 유닛(110)은 전자기기들인 검사장비들(도 1의 20a~20n 참조)에 전력을 인가하도록 하는 구성이다.
전원 인가 유닛(110)은 검사 대상 모듈들에 전원을 인가한 후, 안전, 성능, 결선, 통신 검사 등을 위한 준비 단계로 진입하게 된다.
본 발명에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 큐잉 유닛(queuing unit, 120)의 경우, 전원이 인가된 이들 검사 대상 모듈들이 준비 단계로 설정되는 시간적인 순서를 차례로 인식하게 되며, 이들의 검사 대상 모듈들을 검사 진행 순서를 오더링(ordering)하게 된다.
큐잉 유닛(120)은 시간적으로 준비 단계에 진입한 검사 대상 모듈들을 시간에 따라 순차적으로 검사 준비가 된 순서에 따라 자동적으로 오더링할 수도 있으며, 관리자의 임의의 조절에 의하여 그 순서를 변경할 수 있다.
본 발명에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 안전 검사 유닛(130)은 누설 전류 검사를 수행할 수 있는데, 도 6에 도시된 바와 같이, 검사 대상 모듈에 접속되는 EMI(Electromagnetic Interference) Filter가 인가되는 경우, EMI Filter를 통해 측정되는 누설 전류는 0.5mA이하로 설정하며, EMI Filter를 인가하지 않는 경우, 측정되는 누설 전류는 0.75mA 이하로 설정할 수 있다.
안전 검사 유닛(130)이 검사하는 누설 전류의 경우, Earth, Enclosure, Patient, Patient Auxiliary 등일 수 있다.
누설 전류 검사는 절연체 등에 흐르는 Steady-state 상태의 전류를 측정하여 검사할 수 있으며, 제품에 실제로 전원이 인가되어 동작 중일 때에 제품 외부에 노출된 도체 부분을 사용자가 만졌을 당시에 인체를 통해 흐르는 누설 전류(Human body RC network참조)가 안전한 것인지 여부를 중점적으로 검사하게 되는 것이다.
본 발명에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 안전 검사 유닛(130)은 도 7에 도시된 바와 같이, 접지 저항 검사를 수행할 수도 있다.
안전 검사 유닛(130)의 접지 저항 검사는 검사 대상 모듈의 접지 전극에 25A 이상의 고전류 소스(High Current Souce)를 인가하고, 접지 전극에 캘빈 센서(Kelvin Sensor)를 인가하여, 검사 대상 모듈의 접지 저항이 100m Ω 보다 작은지 여부를 측정하여 검사할 수 있다.
아울러 본 발명에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 안전 검사 유닛(130)은 도 8에 도시된 바와 같이, 절연 저항 검사를 수행할 수 있다.
안전 검사 유닛(130)의 절연 저항 검사의 경우, 검사 대상 모듈에 DC 전원을 인가한 후, 검사 대상 모듈에 발생하는 전류를 측정한 후, 검사 대상 모듈의 절연 저항값을 산출한 후, 절연 저항값이 10M Ω 보다 큰지 여부를 측정하게 된다.
본 발명에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 안전 검사 유닛(130)은 도 9와 같이, 내전압 검사도 수행할 수 있다.
안전 검사 유닛(130)의 내전압 검사의 경우, 검사 대상 모듈에 AC 전원을 인가한 후, 검사 대상 모듈에 발생하는 전류가 10mA이하인지 여부를 측정하게 된다.
도 9에서의 내전압 시험의 경우, 검사 대상 모듈(Appliance 참조)이 AC 제품인 경우, 규격 1500Vac에 초당 10mA 이하가 흘러야 하며, DC 제품인 경우, 규격 2500Vac에 초당 10mA이하가 흘러야 한다.
도 10을 참조하면, 안전 검사의 항목과 방식을 개념적으로 도시하고 있다.
좌측의 로드와 멀티 콘센트의 영역은 Input의 영역이며, 중앙은 전기 안전 검사 계측기 부분의 영역이며, 우측의 경우 Output의 영역이다.
안전 검사 계측기의 경우, 2열 Line 구성에 따른 1PC일 수 있으며, 2 구간 순차 제어 사양으로 구성될 수 있다.
PC 1대의 경우, 일상 교정 점검을 위한 JIG 내장형일 수 있다.
접지봉 교체 편의를 위해 단자 연결로 구성하며 측정 부위에 자석을 이용하여 부착할 수 있다.
전기 안전 검사 계측기의 서킷(circuit) 구성도는 도 11에 도시된 바와 같이 구성될 수 있으며, 전기 안전 검사 계측기 전원의 셀렉터 서킷(circuit) 구성도는 도 12와 같이 구성될 수 있다.
본 발명에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 성능 검사 유닛(150)의 경우, 전원이 인가된 상기 검사 대상 모듈에 DMM(Digital Multi Meter)을 인가하여, 검사 대상 모듈의 소비 전력을 0.5~1.0초 간격으로 측정하여, 측정된 소비 전력이 시간의 추이에 따라 미리 설정된 스펙에 부합하는지 여부를 측정하게 된다.
큐잉 유닛(120)이 오더링한 검사 진행 순서에 따라, 검사 대상 모듈들의 1) 기동 전류 검사, 2) 전체 소비 전력 검사, 3) 기능 소비 전력 검사 또는 4) RF 누설 검사 중 복수 개의 검사를 동시에 실행할 수 있다.
성능 검사 유닛(150)은 완성 제품의 상태를 검사하여, 품질을 보증하기 위해 검사를 시행하는 것인데, 제품의 기능과 동작 상태, 그리고 운전 상태 등을 소비 전력으로 판정하게 된다.
성능 검사 유닛(150)의 검사 항목의 경우, 히터, 모터, 디스플레이 엘이디, 및 기타 메시지 및 동작 상태 등을 살펴 볼 수 있다.
성능 검사 유닛(150)의 검사 원리는 제품에 전원을 인가하여 파워 메타를 이용하여 동작되는 소비전력 및 운전 전류를 측정하여 기능별 상태를 기록하여 판정하게 된다.
성능 검사 유닛(150)의 경우, 전장 부품의 동작 사양을 검사할 수 있는데, 예컨대 전자레인지를 10 내지 20초 동안 직접 동작시켜 측정할 수도 있다. 이때 데이터 측정 간격은 0.5~1.0초로 설정한다.
이후, 이들 0.5~1.0초 간격으로 데이터를 기록하여 소비전력 판정 기준과 비교하여 합치 혹은 불합치 판정을 하게 된다.
판정 기준 및 판정 시간 설정은 모델 관리 프로그램에서 설정하거나 추가가능하다.
본 발명에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 결선 검사 유닛(160)의 경우, 큐잉 유닛(120)이 오더링한 검사 진행 순서에 따라, 검사 대상 모듈들의 결선 누락 검사 또는 동작 불능 검사를 동시에 실행하게 된다.
본 발명에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 결선 검사 유닛(160)은 전원이 인가된 검사 대상 모듈에 전기전자계측기(Oscilloscope)를 제공한 후, 검사 대상 모듈의 소비 전력을 0.02~0.03초 간격으로 측정하여, 측정된 소비 전력을 최대, 최소 및 평균치를 산출한 후, 소비 전력이 시간의 추이에 따라 미리 설정된 디폴트 값에 부합하는지 여부를 측정하게 된다.
보다 자세하게 설명하면, 도 13 및 14에 도시된 바와 같이, 결선 검사 유닛(160)의 경우, 전원이 인가된 검사 대상 모듈에 전기전자계측기(Oscilloscope)를 제공한 후, 검사 대상 모듈의 소비 전력을 0.02~0.03초 간격으로 측정하여, 측정된 소비 전력을 최대, 최소 및 평균치를 산출한 후, 소비 전력이 시간의 추이에 따라 미리 설정된 디폴트 값에 부합하는지 여부를 측정하게 된다.
부품 결선 검사를 위한 검사기의 써킷(Circuit)은 도 15에 도시된 바와 같이 구현될 수 있다.
도 16에 도시된 바와 같이, (1)의 영역의 경우, 모델 등록 리스트이며, 이러한 모델 등록 리스트의 경우 등록된 모델 리스트를 표시하게 된다.
도 16의 (2)의 영역의 경우, 모델 정보를 제시하는데, 모델명과 모델 코드를 제시한다.
도 16의 (3)의 영역의 경우, 측정을 설정하는 것인데, 검사 시작 신호 그래프 전류나 전원 사양을 설정하게 된다.
도 16의 (4)의 영역의 경우, 검사 설정 그래프이다. 측정 그래프와 검사 별 측정 범위는 물론 위치, 시간을 표시하게 된다.
도 16의 (5)의 영역의 경우, 검사 목록이다. (5)에서는 전체 검사 항목을 표시하게 된다.
도 16의 (6)의 경우, 검사 설정 항목인데, 검사 방식/범위/측정 시간을 설정하게 된다.
도 16의 (7)의 경우, 수동 검사 제어이다. (7)에서는 수동 검사 진행하여 그래프를 갱신할 수 있다.
도 16의 (8)은 선택 구간 표시이다. (6) 항목 중에서 선택되어진 사양을 표시하게 된다.
도 16의 (9)의 경우, 그래프 불러오기 이다. 가장 최근의 검사 데이트 그래프를 불러온다.
도 16의 (10)의 경우, 검사 순서를 변경하는 것인데, (6) 항목의 검사 순서를 변경하거나 삭제할 수 있다.
도 17에서는 성능 검사 계측기의 모델 세팅 GUI이다.
모드별 설명과 시간 대비 그래프는 물론, 테스트 모드에서의 맥스 스펙과 미니멈 스펙, 그리고 스타팅 타임, 엔딩 타임은 물론 스킵(skip) 여부까지 체크할 수 있다.
이러한 결과는 도 18에 도시된 바와 같은 최근 검사 그래프(상)나, 저장된 검사 데이터를 이용하여 검사 스펙을 자동 설정하는 그래프(하)로 제시될 수 있다.
개략적으로, 부품 결선 검사기의 검사 GUI를 나타내면, 도 19와 같이 구현될 수 있는데, 제품 전원인가 전 AVR 전원이 모델 전원 사양과 맞는지 확인 후 제품에 전원 입력하고 제품을 보호할 수도 있다.
본 발명에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 통신 검사 유닛(170)은 큐잉 유닛(120)이 오더링한 검사 진행 순서에 따라, 검사 대상 모듈들의 통신 동작 검사 또는 센서 동작 검사를 선택적으로 실행하게 된다.
본 발명에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 결과 판정 유닛(180)은 안전 검사 유닛(130), 성능 검사 유닛(150), 결선 검사 유닛(160) 또는 통신 검사 유닛(170)으로부터 검사 결과들을 수신한다.
본 발명에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 결과 판정 유닛(180)은 검사 결과들을 미리 저장된 디폴트 설정치와 비교한 후, 검사 결과의 정상 유무를 인식하게 된다.
아울러, 본 발명에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 저장 유닛(190)의 경우, 결과 판정 유닛(180)으로부터 검사 결과의 정상 유무에 대한 정보를 수신하고 저장하게 된다.
본 발명의 권리 범위는 특허청구범위에 기재된 사항에 의해 결정되며, 특허 청구범위에 사용된 괄호는 선택적 한정을 위해 기재된 것이 아니라, 명확한 구성요소를 위해 사용되었으며, 괄호 내의 기재도 필수적 구성요소로 해석되어야 한다.
10: 마스터 PC 20a~20n: 검사장비a~n
110: 전원 인가 유닛 120: 큐잉 유닛
130: 안전 검사 유닛 150: 성능 검사 유닛
160: 결선 검사 유닛 170: 통신 검사 유닛
180: 결과 판정 유닛 190: 저장 유닛
300: 수평 구동부
110: 전원 인가 유닛 120: 큐잉 유닛
130: 안전 검사 유닛 150: 성능 검사 유닛
160: 결선 검사 유닛 170: 통신 검사 유닛
180: 결과 판정 유닛 190: 저장 유닛
300: 수평 구동부
Claims (6)
- 삭제
- 복수 개의 전자기기들의 성능을 검사하기 위한 시스템에 있어서,
상기 전자기기들에 전력을 인가하여, 상기 전자기기들 내 검사 대상 모듈들을 검사 준비 단계로 설정시키는 전원 인가 유닛;
상기 검사 대상 모듈들 중 검사 준비 단계로 설정되는 시간적 순서를 인식하고, 상기 시간적 순서에 따라 상기 검사 대상 모듈들의 검사 진행 순서를 오더링(ordering)하는 큐잉 유닛(queuing unit);
상기 큐잉 유닛이 오더링한 검사 진행 순서에 따라, 상기 검사 대상 모듈들의 1) 누설 전류(leakage current) 검사, 2) 접지 저항(ground bonding) 검사, 3) 절연 저항(insulation resistance) 검사 또는 4) 내전압(withstanding voltage) 검사 중 복수 개의 검사를 동시에 실행하는 안전 검사 유닛;
상기 큐잉 유닛이 오더링한 검사 진행 순서에 따라, 상기 검사 대상 모듈들의 1) 기동 전류 검사, 2) 전체 소비 전력 검사, 3) 기능 소비 전력 검사 또는 4) RF 누설 검사 중 복수 개의 검사를 동시에 실행하는 성능 검사 유닛;
상기 큐잉 유닛이 오더링한 검사 진행 순서에 따라, 상기 검사 대상 모듈들의 결선 누락 검사 또는 동작 불능 검사를 동시에 실행하는 결선 검사 유닛;
상기 큐잉 유닛이 오더링한 검사 진행 순서에 따라, 상기 검사 대상 모듈들의 통신 동작 검사 또는 센서 동작 검사를 선택적으로 실행하는 통신 검사 유닛;
상기 안전 검사 유닛, 상기 성능 검사 유닛, 상기 결선 검사 유닛 또는 상기 통신 검사 유닛으로부터 검사 결과들을 수신하고, 상기 검사 결과들을 미리 저장된 디폴트 설정치와 비교한 후, 상기 검사 결과의 정상 유무를 인식하는 결과 판정 유닛; 및
상기 결과 판정 유닛으로부터 상기 검사 결과의 정상 유무에 대한 정보를 수신하고 저장하는 저장 유닛을 포함하되,
상기 안전 검사 유닛의 상기 누설 전류 검사는,
상기 검사 대상 모듈에 접속되는 EMI(Electromagnetic Interference) Filter가 인가되는 경우, 상기 EMI Filter를 통해 측정되는 누설 전류는 0.5mA이하로 설정하며,
상기 EMI Filter를 인가하지 않는 경우, 측정되는 누설 전류는 0.75mA 이하로 설정하는 것을 특징으로 하는 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템.
- 복수 개의 전자기기들의 성능을 검사하기 위한 시스템에 있어서,
상기 전자기기들에 전력을 인가하여, 상기 전자기기들 내 검사 대상 모듈들을 검사 준비 단계로 설정시키는 전원 인가 유닛;
상기 검사 대상 모듈들 중 검사 준비 단계로 설정되는 시간적 순서를 인식하고, 상기 시간적 순서에 따라 상기 검사 대상 모듈들의 검사 진행 순서를 오더링(ordering)하는 큐잉 유닛(queuing unit);
상기 큐잉 유닛이 오더링한 검사 진행 순서에 따라, 상기 검사 대상 모듈들의 1) 누설 전류(leakage current) 검사, 2) 접지 저항(ground bonding) 검사, 3) 절연 저항(insulation resistance) 검사 또는 4) 내전압(withstanding voltage) 검사 중 복수 개의 검사를 동시에 실행하는 안전 검사 유닛;
상기 큐잉 유닛이 오더링한 검사 진행 순서에 따라, 상기 검사 대상 모듈들의 1) 기동 전류 검사, 2) 전체 소비 전력 검사, 3) 기능 소비 전력 검사 또는 4) RF 누설 검사 중 복수 개의 검사를 동시에 실행하는 성능 검사 유닛;
상기 큐잉 유닛이 오더링한 검사 진행 순서에 따라, 상기 검사 대상 모듈들의 결선 누락 검사 또는 동작 불능 검사를 동시에 실행하는 결선 검사 유닛;
상기 큐잉 유닛이 오더링한 검사 진행 순서에 따라, 상기 검사 대상 모듈들의 통신 동작 검사 또는 센서 동작 검사를 선택적으로 실행하는 통신 검사 유닛;
상기 안전 검사 유닛, 상기 성능 검사 유닛, 상기 결선 검사 유닛 또는 상기 통신 검사 유닛으로부터 검사 결과들을 수신하고, 상기 검사 결과들을 미리 저장된 디폴트 설정치와 비교한 후, 상기 검사 결과의 정상 유무를 인식하는 결과 판정 유닛; 및
상기 결과 판정 유닛으로부터 상기 검사 결과의 정상 유무에 대한 정보를 수신하고 저장하는 저장 유닛을 포함하되,
상기 안전 검사 유닛의 상기 접지 저항 검사는,
상기 검사 대상 모듈의 접지 전극에 25A 이상의 고전류 소스(High Current Souce)를 인가하고, 상기 접지 전극에 캘빈 센서(Kelvin Sensor)를 인가하여, 상기 검사 대상 모듈의 접지 저항이 100m Ω 보다 작은지 여부를 측정하는 것을 특징으로 하는, 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템.
- 복수 개의 전자기기들의 성능을 검사하기 위한 시스템에 있어서,
상기 전자기기들에 전력을 인가하여, 상기 전자기기들 내 검사 대상 모듈들을 검사 준비 단계로 설정시키는 전원 인가 유닛;
상기 검사 대상 모듈들 중 검사 준비 단계로 설정되는 시간적 순서를 인식하고, 상기 시간적 순서에 따라 상기 검사 대상 모듈들의 검사 진행 순서를 오더링(ordering)하는 큐잉 유닛(queuing unit);
상기 큐잉 유닛이 오더링한 검사 진행 순서에 따라, 상기 검사 대상 모듈들의 1) 누설 전류(leakage current) 검사, 2) 접지 저항(ground bonding) 검사, 3) 절연 저항(insulation resistance) 검사 또는 4) 내전압(withstanding voltage) 검사 중 복수 개의 검사를 동시에 실행하는 안전 검사 유닛;
상기 큐잉 유닛이 오더링한 검사 진행 순서에 따라, 상기 검사 대상 모듈들의 1) 기동 전류 검사, 2) 전체 소비 전력 검사, 3) 기능 소비 전력 검사 또는 4) RF 누설 검사 중 복수 개의 검사를 동시에 실행하는 성능 검사 유닛;
상기 큐잉 유닛이 오더링한 검사 진행 순서에 따라, 상기 검사 대상 모듈들의 결선 누락 검사 또는 동작 불능 검사를 동시에 실행하는 결선 검사 유닛;
상기 큐잉 유닛이 오더링한 검사 진행 순서에 따라, 상기 검사 대상 모듈들의 통신 동작 검사 또는 센서 동작 검사를 선택적으로 실행하는 통신 검사 유닛;
상기 안전 검사 유닛, 상기 성능 검사 유닛, 상기 결선 검사 유닛 또는 상기 통신 검사 유닛으로부터 검사 결과들을 수신하고, 상기 검사 결과들을 미리 저장된 디폴트 설정치와 비교한 후, 상기 검사 결과의 정상 유무를 인식하는 결과 판정 유닛; 및
상기 결과 판정 유닛으로부터 상기 검사 결과의 정상 유무에 대한 정보를 수신하고 저장하는 저장 유닛을 포함하되,
상기 안전 검사 유닛의 상기 절연 저항 검사는,
상기 검사 대상 모듈에 DC 전원을 인가한 후, 상기 검사 대상 모듈에 발생하는 전류를 측정한 후, 상기 검사 대상 모듈의 절연 저항값을 산출한 후, 상기 절연 저항값이 10M Ω 보다 큰지 여부를 측정하며,
상기 안전 검사 유닛의 상기 내전압 검사는,
상기 검사 대상 모듈에 AC 전원을 인가한 후, 상기 검사 대상 모듈에 발생하는 전류가 10mA이하인지 여부를 측정하는 것을 특징으로 하는 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템.
- 복수 개의 전자기기들의 성능을 검사하기 위한 시스템에 있어서,
상기 전자기기들에 전력을 인가하여, 상기 전자기기들 내 검사 대상 모듈들을 검사 준비 단계로 설정시키는 전원 인가 유닛;
상기 검사 대상 모듈들 중 검사 준비 단계로 설정되는 시간적 순서를 인식하고, 상기 시간적 순서에 따라 상기 검사 대상 모듈들의 검사 진행 순서를 오더링(ordering)하는 큐잉 유닛(queuing unit);
상기 큐잉 유닛이 오더링한 검사 진행 순서에 따라, 상기 검사 대상 모듈들의 1) 누설 전류(leakage current) 검사, 2) 접지 저항(ground bonding) 검사, 3) 절연 저항(insulation resistance) 검사 또는 4) 내전압(withstanding voltage) 검사 중 복수 개의 검사를 동시에 실행하는 안전 검사 유닛;
상기 큐잉 유닛이 오더링한 검사 진행 순서에 따라, 상기 검사 대상 모듈들의 1) 기동 전류 검사, 2) 전체 소비 전력 검사, 3) 기능 소비 전력 검사 또는 4) RF 누설 검사 중 복수 개의 검사를 동시에 실행하는 성능 검사 유닛;
상기 큐잉 유닛이 오더링한 검사 진행 순서에 따라, 상기 검사 대상 모듈들의 결선 누락 검사 또는 동작 불능 검사를 동시에 실행하는 결선 검사 유닛;
상기 큐잉 유닛이 오더링한 검사 진행 순서에 따라, 상기 검사 대상 모듈들의 통신 동작 검사 또는 센서 동작 검사를 선택적으로 실행하는 통신 검사 유닛;
상기 안전 검사 유닛, 상기 성능 검사 유닛, 상기 결선 검사 유닛 또는 상기 통신 검사 유닛으로부터 검사 결과들을 수신하고, 상기 검사 결과들을 미리 저장된 디폴트 설정치와 비교한 후, 상기 검사 결과의 정상 유무를 인식하는 결과 판정 유닛; 및
상기 결과 판정 유닛으로부터 상기 검사 결과의 정상 유무에 대한 정보를 수신하고 저장하는 저장 유닛을 포함하되,
상기 결선 검사 유닛은,
전원이 인가된 상기 검사 대상 모듈에 전기전자계측기(Oscilloscope)를 제공한 후, 상기 검사 대상 모듈의 소비 전력을 0.02~0.03초 간격으로 측정하여, 측정된 상기 소비 전력을 최대, 최소 및 평균치를 산출한 후, 상기 소비 전력이 시간의 추이에 따라 미리 설정된 디폴트 값에 부합하는지 여부를 측정하는 것을 특징으로 하는, 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템.
- 복수 개의 전자기기들의 성능을 검사하기 위한 시스템에 있어서,
상기 전자기기들에 전력을 인가하여, 상기 전자기기들 내 검사 대상 모듈들을 검사 준비 단계로 설정시키는 전원 인가 유닛;
상기 검사 대상 모듈들 중 검사 준비 단계로 설정되는 시간적 순서를 인식하고, 상기 시간적 순서에 따라 상기 검사 대상 모듈들의 검사 진행 순서를 오더링(ordering)하는 큐잉 유닛(queuing unit);
상기 큐잉 유닛이 오더링한 검사 진행 순서에 따라, 상기 검사 대상 모듈들의 1) 누설 전류(leakage current) 검사, 2) 접지 저항(ground bonding) 검사, 3) 절연 저항(insulation resistance) 검사 또는 4) 내전압(withstanding voltage) 검사 중 복수 개의 검사를 동시에 실행하는 안전 검사 유닛;
상기 큐잉 유닛이 오더링한 검사 진행 순서에 따라, 상기 검사 대상 모듈들의 1) 기동 전류 검사, 2) 전체 소비 전력 검사, 3) 기능 소비 전력 검사 또는 4) RF 누설 검사 중 복수 개의 검사를 동시에 실행하는 성능 검사 유닛;
상기 큐잉 유닛이 오더링한 검사 진행 순서에 따라, 상기 검사 대상 모듈들의 결선 누락 검사 또는 동작 불능 검사를 동시에 실행하는 결선 검사 유닛;
상기 큐잉 유닛이 오더링한 검사 진행 순서에 따라, 상기 검사 대상 모듈들의 통신 동작 검사 또는 센서 동작 검사를 선택적으로 실행하는 통신 검사 유닛;
상기 안전 검사 유닛, 상기 성능 검사 유닛, 상기 결선 검사 유닛 또는 상기 통신 검사 유닛으로부터 검사 결과들을 수신하고, 상기 검사 결과들을 미리 저장된 디폴트 설정치와 비교한 후, 상기 검사 결과의 정상 유무를 인식하는 결과 판정 유닛; 및
상기 결과 판정 유닛으로부터 상기 검사 결과의 정상 유무에 대한 정보를 수신하고 저장하는 저장 유닛을 포함하되,
상기 성능 검사 유닛은,
전원이 인가된 상기 검사 대상 모듈에 DMM(Digital Multi Meter)을 인가하여, 상기 검사 대상 모듈의 소비 전력을 0.5~1.0초 간격으로 측정하여, 측정된 상기 소비 전력이 시간의 추이에 따라 미리 설정된 스펙에 부합하는지 여부를 측정하는 것을 특징으로 하는, 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020180052833A KR101924149B1 (ko) | 2018-05-09 | 2018-05-09 | 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020180052833A KR101924149B1 (ko) | 2018-05-09 | 2018-05-09 | 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR101924149B1 true KR101924149B1 (ko) | 2018-11-30 |
Family
ID=64561015
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020180052833A KR101924149B1 (ko) | 2018-05-09 | 2018-05-09 | 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR101924149B1 (ko) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111257676A (zh) * | 2020-02-24 | 2020-06-09 | 西安电子科技大学 | 一种电磁脉冲干扰测试系统及方法 |
| WO2021010547A1 (ko) * | 2019-07-17 | 2021-01-21 | 주식회사 이노인텍 | 스마트 전기·전자제품 시험 계측기 |
| KR102380506B1 (ko) * | 2020-10-29 | 2022-03-31 | 포스필 주식회사 | 전자기기 자가 진단 장치 |
| KR102597312B1 (ko) | 2023-05-03 | 2023-11-02 | (주)스마트랩 | 스마트폰의 배터리 상태와 데이터 전송상태와 작동상태를 포함하는 다양한 정보를 검사하는 스마트폰 검사기 |
-
2018
- 2018-05-09 KR KR1020180052833A patent/KR101924149B1/ko active IP Right Grant
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2021010547A1 (ko) * | 2019-07-17 | 2021-01-21 | 주식회사 이노인텍 | 스마트 전기·전자제품 시험 계측기 |
| CN111257676A (zh) * | 2020-02-24 | 2020-06-09 | 西安电子科技大学 | 一种电磁脉冲干扰测试系统及方法 |
| CN111257676B (zh) * | 2020-02-24 | 2021-04-13 | 西安电子科技大学 | 一种电磁脉冲干扰测试系统 |
| KR102380506B1 (ko) * | 2020-10-29 | 2022-03-31 | 포스필 주식회사 | 전자기기 자가 진단 장치 |
| KR102597312B1 (ko) | 2023-05-03 | 2023-11-02 | (주)스마트랩 | 스마트폰의 배터리 상태와 데이터 전송상태와 작동상태를 포함하는 다양한 정보를 검사하는 스마트폰 검사기 |
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