CN111257676B - 一种电磁脉冲干扰测试系统 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种电磁脉冲干扰测试系统及方法；该系统包括：传输线脉冲测试设备、待测的数字电路以及辅助监控设备；其中，数字电路具有预先指定的至少一个待测端口、至少一个状态端口，以及每个待测端口对应的输出端口；其中，至少一个状态端口为表征数字电路的工作状态的端口；传输线脉冲测试设备，用于向每个待测端口注入电磁脉冲，并监测该待测端口对应的输出端口的泄漏电流；辅助监控设备，包括多个辅助监控单元；每个状态端口，均与多个辅助监控单元中的一个对应相连；每个连接有一状态端口的辅助监控单元，用于对所连接的状态端口的信号进行实时监控。本发明可以提高电磁脉冲干扰测试的测试效率。

Description

一种电磁脉冲干扰测试系统

技术领域

本发明属于电磁脉冲干扰测试技术领域，具体涉及一种电磁脉冲干扰测试系统。

背景技术

随着脉冲功率放大技术、雷达天线技术以及脉冲武器等技术的发展，电磁环境越来越复杂，数字电路越来越容易受到电磁脉冲的干扰；当电磁脉冲耦合到数字电路中时，会产生瞬时的高幅值的电压和/或电流；当所产生的电压和/或电流超过电路的承受能力时，会对数字电路造成损伤甚至损毁。因此，有必要对数字电路开展电磁脉冲干扰测试，以了解数字电路对电磁脉冲的抗干扰性。在测试时，需要向数字电路输入电压等级逐渐增高的电磁脉冲，且所输入的电磁脉冲的上升沿，其上升时间需要足够快；此外，还需要对数字电路的泄漏电流进行监测，从而根据数字电路的泄漏电流的大小确定数字电路对于各种电压等级下的电磁脉冲是否具有抗干扰性。

在现有的电磁脉冲干扰测试系统中，利用高斯脉冲发生器或双指数脉冲发生器产生电磁脉冲，并利用额外的监测设备监测数字电路的泄漏电流。其中，监测设备通常为SMU(Source Measure Unit，源测试单元)和/或示波器；这里，SMU为一种可精确地采集电压和/或电流的设备。

然而，利用现有的电磁脉冲干扰测试系统对数字电路开展电磁脉冲干扰测试的过程中，每当数字电路的泄漏电流出现畸变，需要人为地暂停向数字电路输入电磁脉冲，并利用额外的测试仪表对数字电路的功能正常与否进行测试；若数字电路的功能正常，才会继续测试。这样，使得对数字电路开展电磁脉冲干扰测试的效率较为低下。

发明内容

为了解决现有技术中存在的上述问题，本发明实施例提供了一种电磁脉冲干扰测试系统及方法。

本发明要解决的技术问题通过以下技术方案实现：

第一方面，本发明实施例提供了一种电磁脉冲干扰测试系统，包括：

传输线脉冲测试设备、待测的数字电路以及辅助监控设备；

其中，所述数字电路具有预先指定的至少一个待测端口、至少一个状态端口，以及每个所述待测端口对应的输出端口；其中，所述至少一个状态端口为表征所述数字电路的工作状态的端口；

所述传输线脉冲测试设备，用于向每个所述待测端口注入电磁脉冲，并监测该待测端口对应的输出端口的泄漏电流；

所述辅助监控设备，包括多个辅助监控单元；每个所述状态端口，均与所述多个辅助监控单元中的一个对应相连；每个连接有一状态端口的辅助监控单元，用于对所连接的状态端口的信号进行实时监控。

在本发明的一个实施例中，所述数字电路还具有预先指定的至少一个观测端口；

所述系统还包括：用于对所述至少一个观测端口的信号进行监测的测试仪表，以及用于对所述测试仪表进行电力保护的辅助保护设备。

在本发明的一个实施例中，每个所述辅助监控单元中均包括一LED二极管；

每个连接有一状态端口的辅助监控单元，具体用于：利用自身包括的LED二极管对所连接的状态端口的信号进行实时显示。

在本发明的一个实施例中，每个所述辅助监控单元中还包括一个二选一拨码开关以及一个反相器；

每个连接有一状态端口的辅助监控单元中，所包含的反相器用于对该状态端口的信号进行取非，所包含的二选一拨码开关用于响应于用户选择的开关状态，将该状态端口的信号或取非后的该状态端口的信号发送给该辅助监控单元所包含的LED二极管进行实时显示。

在本发明的一个实施例中，所述辅助监控设备还包括：报警单元；

所述报警单元，用于当任一连接有一状态端口的辅助监控单元中的LED二极管的显示状态与预设状态不同时，输出所述数字电路的工作状态出现异常的报警信号。

在本发明的一个实施例中，所述辅助保护设备，包括多个稳压二极管对，每个所述稳压二极管对，均由正负极相接的两个稳压二极管构成；

其中，所述多个稳压二极管对，与所述测试仪表的各个监测端口一一对应相连，并与所述数字电路的各个观测端口一一对应相连；每个稳压二极管对，用于对所连接的测试仪表的监测端口进行过压保护和欠压保护。

第二方面，本发明实施例提供了一种电磁脉冲干扰测试方法，包括：

利用上述任一种电磁脉冲干扰测试系统，对待测的数字电路进行电磁脉冲干扰测试，得到所述数字电路的电磁脉冲抗干扰结果。

本发明的有益效果：

本发明实施例提供的电磁脉冲干扰测试系统中，利用辅助监控设备，对数字电路的状态端口的信号进行实时监控，该状态端口为表征数字电路的工作状态的端口；因此，利用该系统对数字电路开展电磁脉冲干扰测试的过程中，用户可以直接从辅助监控设备中了解到数字电路的工作状态是否存在异常；这样，当数字电路的泄漏电流出现畸变，但数字电路的工作状态仍是正常状态时，无需暂停测试，也无需另外对数字电路的功能正常与否进行测试。可见，利用本发明实施例提供的电磁脉冲干扰系统对数字电路开展电磁脉冲干扰测试，可以提高测试效率。

并且，由于辅助监控设备可以对数字电路的状态端口的信号进行实时监控；因此，在向数字电路注入电磁脉冲的过程中，辅助监控设备也可以监控到数字电路的工作状态；相比于现有技术中，在暂停向数字电路输入电磁脉冲之后，才利用额外的测试仪表对数字电路的功能正常与否进行测试，本方案还可以监控到数字电路在承受电磁脉冲干扰的过程中所出现的瞬态的功能异常，从而发现数字电路潜在的故障。

另外，本方案中，利用传输线脉冲测试设备向待测端口注入电磁脉冲，并监测输出端口的泄漏电流；该传输线脉冲测试设备通常为用于模拟静电放电测试的，输出的脉冲信号的上升沿能够满足电磁脉冲测试的要求；因此，利用传输线脉冲测试设备来进行电磁脉冲干扰测试，能够达到与常用的电磁脉冲测试系统相同的测试效果。

此外，常用的电磁脉冲测试系统中，通常采用高斯脉冲发生器或双指数脉冲发生器加功率放大器的组合作为电磁脉冲的发生源，造价较高。因此，本发明实施例提供的电磁脉冲干扰测试系统，还具有比现有的电磁脉冲干扰测试系统造价低的优点。

以下将结合附图及实施例对本发明做进一步详细说明。

附图说明

图1是本发明实施例提供的一种电磁脉冲干扰测试系统的结构示意图；

图2是本发明实施例提供的另一种电磁脉冲干扰测试系统的结构示意图；

图3是利用本发明实施例提供的一种电磁脉冲干扰测试系统，对数字电路开展电磁脉冲干扰测试的流程图。

具体实施方式

下面结合具体实施例对本发明做进一步详细的描述，但本发明的实施方式不限于此。

为了提供电磁脉冲干扰测试的测试效率，本发明实施例提供了一种电磁脉冲干扰测试系统及方法。

首先，对本发明实施例提供的一种电磁脉冲干扰测试系统进行详细说明。如图1所示，该系统可以包括：传输线脉冲测试设备10、待测的数字电路20以及辅助监控设备30；

其中，数字电路20具有预先指定的至少一个待测端口、至少一个状态端口，以及每个待测端口对应的输出端口；其中，至少一个状态端口为表征数字电路的工作状态的端口。

在实际应用中，至少一个待测端口可以是的数字电路20中的下述端口中的一个或多个：电源端口、数据输入端口、数据输出端口、接地端口以及控制端口。其中，每个待测端口对应的输出端口可以根据待测端口的类型而预先指定。例如，当待测端口是电源端口时，对应的输出端口可以是数据输出端口和/或接地端口等；当待测端口是数据输入端口时，对应的输出端口也可以是数据输出端口和/或接地端口等。

可以理解的是，每个待测端口对应的输出端口可以包括一个或多个；并且，不同的待测端口对应的输出端口可以是相同的，也可以是不同的。另外，除待测端口以及待测端口对应的输出端口不可是同一端口外，预先指定的各种端口可以是相同的，例如，一电源端口既可以作为一个待测端口，也可以作为其他待测端口对应的输出端口。

传输线脉冲测试设备10，用于向每个待测端口注入电磁脉冲，并监测该待测端口对应的输出端口的泄漏电流。

在实际应用中，该传输线脉冲测试设备10也可以称为TLP(Transmission LinePulse，传输线脉冲)测试系统；该TLP测试系统中，集成有控制PC(Personal Computer，个人计算机)、传输线脉冲发生器、SMU以及示波器等；其中，传输线脉冲发生器用于输出电磁脉冲，SMU用于对数字电路的输出端口的泄漏电流进行监测；控制PC可以根据传输线脉冲发生器所输出电磁脉冲的电压以及SMU所监测的泄漏电流生成I-V曲线数据；示波器可用于对输入到待测端口的电磁脉冲的电压及电流波形进行监控和显示，或者，示波器也可以对输出端口的泄漏电流的波形进行监控和显示。

此外，该TLP测试系统中提供有插针盘；利用与插针盘匹配的插针以及简单的导线，便可以将数字电路的待测端口以及输出端口的引脚与TLP测试系统进行连接，无需考虑额外的匹配。

辅助监控设备30，包括多个辅助监控单元301；数字电路20的每个状态端口，均与多个辅助监控单元301中的一个对应相连；每个连接有一状态端口的辅助监控单元301，用于对所连接的状态端口的信号进行监控。

在实际应用中，辅助监控设备所包含的辅助监控单元301的个数较多，通常是大于数字电路的状态端口的个数的。

其中，能够达到对状态端口的信号进行实时监控的辅助监控设备30的结构组成存在多种。为了方案清楚及布局清晰，后续对辅助监控设备30的结构组成进行示例性的说明。

本发明实施例提供的电磁脉冲干扰测试系统中，利用辅助监控设备，对数字电路的状态端口的信号进行实时监控，该状态端口为表征数字电路的工作状态的端口；因此，利用该系统对数字电路开展电磁脉冲干扰测试的过程中，可以直接从辅助监控设备中了解到数字电路的工作状态是否存在异常；这样，当数字电路的泄漏电流出现畸变，但数字电路的工作状态仍是正常状态时，无需暂停测试，也无需另外对数字电路的功能正常与否进行测试。可见，利用本发明实施例提供的电磁脉冲干扰系统对数字电路开展电磁脉冲干扰测试，可以提高测试效率。

并且，由于辅助监控设备可以对数字电路的状态端口的信号进行实时监控；因此，在向数字电路注入电磁脉冲的过程中，辅助监控设备也可以监控到数字电路的工作状态；相比于现有技术中，在暂停向数字电路输入电磁脉冲之后，才利用额外的测试仪表对数字电路的功能正常与否进行测试，本方案还可以监控到数字电路在承受电磁脉冲干扰的过程中所出现的瞬态的功能异常，从而提高测试结果的准确性。

另外，本方案中，利用传输线脉冲测试设备向待测端口注入电磁脉冲，并监测输出端口的泄漏电流；该传输线脉冲测试设备通常为用于模拟静电放电测试的，输出的脉冲信号的上升沿能够满足电磁脉冲测试的要求；因此，利用传输线脉冲测试设备来进行电磁脉冲干扰测试，能够达到与常用的电磁脉冲测试系统相同的测试效果。

此外，常用的电磁脉冲测试系统中，通常采用高斯脉冲发生器或双指数脉冲发生器加功率放大器的组合作为电磁脉冲的发生源，造价较高。因此，本发明实施例提供的电磁脉冲干扰测试系统，还具有比现有的电磁脉冲干扰测试系统造价低的优点。

下面，对辅助监控设备30的结构组成进行示例性的说明。示例性的，在一种可选的方案中，辅助监控设备30的每个辅助监控单元301中均包括一LED二极管；

每个连接有一状态端口的辅助监控单元301，具体用于：利用自身包括的LED二极管对所连接的状态端口的信号进行实时显示。

可以理解的是，利用LED二极管将数字电路的各个状态端口的信号进行实时显示，可以便于用户实时查看这些状态端口的信号，从而实时的了解数字电路的工作状态。

在另一种可选的方案中，辅助监控设备30的每个辅助监控单元301中除了包括有一LED二极管，还可以包括一个二选一拨码开关以及一个反相器；

每个连接有一状态端口的辅助监控单元301中，所包含的反相器用于对该状态端口的信号进行取非，所包含的二选一拨码开关用于响应于用户选择的开关状态，将该状态端口的信号或取非后的该状态端口的信号发送给该辅助监控单元所包含的LED二极管进行实时显示。

可以理解的是，当数字电路正常工作时，不同状态端口的信号电平可能是不同的；在上一方案中，当状态端口的数量较多时，用户难以根据多个LED二极管的显示状态，准确地了解数字电路的工作状态是否正常。而在本方案中，用户可以利用二选一拨码开关，选择将每个状态端口的信号发给LED二极管进行显示，或选择取非后的该状态端口的信号发给LED二极管进行显示；在选择时，可以遵循一个原则：选择的结果使得数字电路正常工作时，各LED二极管的显示状态保持一致的预设状态。例如，数字电路正常工作时，各LED二极管均呈点亮状态；或者，数字电路正常工作时，各LED二极管均呈灭灯状态；这样，当任一LED二极管的显示状态与预设状态不同时，用户便可以获知数字电路的功能出现了异常。并且，用户还可以根据显示状态异常的二极管，确定与该二极管对应的状态端口是哪一个，从而确定数字电路中的哪一部分电路出现了异常。

在另一种可选的方案中，辅助监控设备30中还可以包括一个报警单元；

该报警单元，用于当任一连接有一状态端口的辅助监控单元中的LED二极管的显示状态与预设状态不同时，输出数字电路的工作状态出现异常的报警信号。

其中，该报警单元具体可以由逻辑与门电路以及一个颜色或位置异于上述LED二极管的报警LED二极管；当任一连接有一状态端口的辅助监控单元中的LED二极管的显示状态与预设状态不同时，逻辑与门电路输出点亮报警LED二极管的信号，通知用户数字电路的工作状态出现了异常；这样，用户只需查看该报警LED二极管的显示状态，即可实时地了解到数字电路的工作状态是否出现了异常。

或者，该报警单元具体可以由逻辑与门电路以及一个蜂鸣器组成；当任一连接有一状态端口的辅助监控单元中的LED二极管的显示状态与预设状态不同时，逻辑与门电路输出激发蜂鸣器鸣响的信号，通知用户数字电路的工作状态出现了异常；这样，对于LED二极管的显示状态不敏感的用户，也可以及时的了解到数字电路的工作状态出现了异常。

以上，为对辅助监控设备30的结构组成进行示例性的说明。

另外，在实际测试中，可能存在对数字电路的某些端口输出的信号进行监测的需求，即数字电路还可以具有预先指定的至少一个观测端口；为了满足这种需求，本发明实施例提供的电磁脉冲干扰测试系统还可以包括：

用于对数字电路的至少一个观测端口的信号进行监测的测试仪表40，以及用于对测试仪表进行电力保护的辅助保护设备50。

这里所说的测试仪表，具体可以包括一台或多台；每台测试仪表可以具有多个可用于监测的端口；本发明实施例中，将测试仪表中具体承担对观测端口的监测任务的端口称为监测端口。

可以理解的是，测试仪表通常是高值仪表，而数字电路在电磁脉冲的刺激下，在观测端口输出的信号不可预期，一旦观测端口输出了超出测试仪表所不能承受的信号，便可能损坏甚至损毁测试仪表；因此，为了对系统中的高值仪表进行保护，本发明实施例在电磁脉冲干扰测试系统中设置了辅助保护设备。

其中，能够实现对测试仪表进行电力保护的辅助保护设备的结构组成存在多种。示例性的，在一种可选的方案中，辅助保护设备中可以包括多个稳压二极管；

其中，所述多个稳压二极管，与测试仪表的各个监测端口一一对应相连，并与数字电路的各个观测端口一一对应相连；每个稳压二极管，用于对所连接的测试仪表的监测端口进行过压保护或欠压保护。

可以理解的是，当稳压二极管用于对所连接的监测端口进行过压保护时，该稳压二极管的负极连接上钳位电压，正极连接观测端口；这样，当观测端口的信号电平大于上钳位电压时，稳压二极管导通，将该信号电平钳位在上钳位电压；而当稳压二极管用于对所连接的监测端口进行欠压保护时，该稳压二极管的正极连接下钳位电压，负极连接观测端口；这样，当观测端口的信号电平小于下钳位电压时，稳压二极管导通，将该信号电平钳位在下钳位电压。其中，上钳位电压和下钳位电压的选取原则，均可以是在不损害测试仪表的监测端口的前提下，尽可能使更多等级的电压通过稳压二极管，进入到测试仪表的监测端口中。

在另一种可选的方案中，辅助保护设备中可以包括多个稳压二极管对；每个稳压二极管对，均由正负极相接的两个稳压二极管构成；

其中，所述多个稳压二极管对，与测试仪表的各个监测端口一一对应相连，每个稳压二极管对，均用于对所连接的监测端口进行过压保护以及欠压保护。

可以理解的是，每个稳压二极管对中，两个稳压二极管的正负极相接后连接观测端口；未相接的两个电极中，正极连接下钳位电压，负极连接上钳位电压；这样，当观测端口的信号电平大于上钳位电压时，负极连接上钳位电压的稳压二极管导通，将该信号电平钳位在上钳位电压；当观测端口的信号电平小于下钳位电压时，正极连接下钳位电压的稳压二极管导通，将该信号电平钳位在下钳位电压。

基于上述的电磁脉冲干扰测试系统，本发明实施例还提供了一种电磁脉冲干扰测试方法，该方法包括：

利用上述的电磁脉冲干扰测试系统，对待测的数字电路进行电磁脉冲干扰测试，得到数字电路的电磁脉冲抗干扰结果。

其中，该电磁脉冲抗干扰结果，可以是数字电路对于预设的电压等级下的电磁脉冲的抗干扰性能；具体的，可以是数字电路在预设的电压等级下的电磁脉冲的干扰下，是否会出现功能异常的结果。

或者，该电磁脉冲抗干扰结果，可以是数字电路的电磁脉冲干扰阈值。

为了方案清楚，下面以电磁脉冲抗干扰结果为电磁脉冲干扰阈值为例，对利用本发明实施例提供的一种电磁脉冲干扰测试系统，对数字电路开展电磁脉冲干扰测试的方法进行示例性的说明。如图3所示，该方法可以包括以下步骤：

S10：利用传输线脉冲测试设备，以第一初始电压和第一电压步进，向第一数字电路的待测端口输入电磁脉冲，并监测第一数字电路的泄漏电流。

该步骤中，第一初始电压和第一电压步进可以由用户根据测试经验预先确定；第一数字电路的泄漏电流具体指第一数字电路的待测端口对应的输出端口的泄漏电流。

S20：当第一数字电路的泄漏电流出现电流畸变，或辅助监控设备监控到第一数字电路的功能出现异常时，记录当前的电磁脉冲的电压，作为第一电压。

其中，泄漏电流出现电流畸变可以是畸变前后的电流的量级差不小于10³。例如，畸变前的泄漏电流为0.1mA，畸变后的泄漏电流为1A。

S30：利用传输线脉冲测试设备，以第二初始电压和第二电压步进，向第二数字电路的待测端口输入电磁脉冲，并监测第二数字电路的泄漏电流。

这里，第二数字电路的泄漏电流具体指第二数字电路的待测端口对应的输出端口的泄漏电流。

其中，第二数字电路为与第一数字电路相同的电路；第二初始电压，为根据第一电压以及预设的第一电压浮动值所计算电压区间的下限电压；第一电压浮动值，数倍于第二电压步进；第二电压步进小于第一电压步进。

可以理解的是，第二数字电路的待测端口，与第一数字电路的待测端口相同；相应的，第二数字电路的输出端口，与第一数字电路的输出端口也相同。

S40：当第二数字电路的泄漏电流出现电流畸变，或辅助监控设备监控到第二数字电路的功能出现异常时，记录当前的电磁脉冲的电压，作为第二电压。

S50：判断第一电压和第二电压之差是否小于预设的阈值；如果是，执行步骤S60；如果否，执行步骤S70-S80。

这里，预设的阈值可以理解为判定第一电压和第二电压是否接近的依据；这样，当第一电压和第二电压之差小于预设的阈值时，可以理解为第二电压接近于第一电压，由此可以判定第一数字电路的泄漏电流出现电流畸变或第一数字电路的功能出现异常与累积效应无关；当第一电压和第二电压之差不小于预设的阈值时，可以理解为第二电压与第一电压并不接近，由此可以判定第一数字电路的泄漏电流出现电流畸变或第一数字电路的功能出现的异常与累积效应有关。

S60：将第一电压作为第一数字电路和第二数字电路的电磁脉冲干扰阈值。

可以理解的是，该步骤中所得到的电磁脉冲干扰阈值是与累积效应无关的电磁脉冲干扰阈值；与累积效应无关的电磁脉冲干扰阈值，对于后续指导相同或相似电路的研发、测试以及生产等环节具有重要的参考意义。而与累积效应有关的电磁脉冲干扰阈值，由于产生累积效果的过程的多变性，对于后续指导相同或相似电路的研发、测试以及生产等环节的参考意义并不很大。

S70：利用传输线脉冲测试设备，以第三初始电压和第三电压步进，向第三数字电路的待测端口输入电磁脉冲，并监测第三数字电路的泄漏电流。

这里，第三数字电路的泄漏电流具体指第三数字电路的待测端口对应的输出端口的泄漏电流。

其中，第三数字电路为与第一数字电路、第二数字电路均相同的电路；第三数字电路的待测端口，与第一数字电路以及第三数字电路的待测端口均相同；第三数字电路的输出端口，与第一数字电路以及第三数字电路的输出端口均相同。

此外，第三初始电压，为根据第二电压以及预设的第二电压浮动值所计算电压区间的下限电压；第二电压浮动值，小于第一电压浮动值，且数倍于第三电压步进；第三电压步进小于或等于第二电压步进，且第三电压步进不大于5V。

S80：当第三数字电路的泄漏电流出现电流畸变，或辅助监控设备监控到第三数字电路的功能出现异常时，将当前的电磁脉冲的电压，作为第一数字电路、第二数字电路以及第三数字电路的电磁脉冲干扰阈值。

可以理解的是，相比于第一电压和第二电压，给第三数字电路输入的电磁脉冲的电压已经很接近真实的、与累积效应无关的电磁脉冲干扰阈值；并且，由于第三电压步进较小，因此，当第三数字电路的泄漏电流出现电流畸变，或第三数字电路的功能出现异常时，可以直接将当前输入至第三数字电路中的电磁脉冲的电压，作为最终的电磁脉冲干扰阈值。这样，即使测试得到的电磁脉冲干扰阈值与真实的电磁脉冲干扰阈值存在一点差距，也并不会影响后续指导相同或相似电路的研发、测试以及生产等环节时的指导效果。

另外，通过进一步判断第三电压和第二电压之差是否小于预设的阈值，可以获知第二数字电路的泄漏电流出现电流畸变或第二数字电路的功能出现异常与累积效应是否相关；具体的，当判断结果为是时，判定第二数字电路的泄漏电流出现电流畸变或第一数字电路的功能出现异常与累积效应无关；当判断结果为否时，判定第二数字电路的泄漏电流出现电流畸变或第一数字电路的功能出现异常与累积效应有关。

可以理解的是，对于具有一定的抗电磁脉冲干扰性的数字电路来说，在电磁脉冲对该数字电路进行干扰的过程中，该数字电路可能出现功能异常，当干扰结束后，该数字电路的功能可能会恢复正常。然而，此时数字电路的内部可能已经存在一定程度的损坏，因此，用户可能更期望能够检测到这种潜在的异常。针对这种情况，本发明实施例提供的电磁脉冲干扰测试系统中，辅助监控设备监控可以实时地监控到干扰过程中数字电路出现的瞬态功能异常，从而使测试得到电磁脉冲干扰阈值，能够帮助用户发掘数字电路中潜在的设计缺陷。

需要说明的是，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例进行接合和组合。

尽管在此结合各实施例对本申请进行了描述，然而，在实施所要求保护的本申请过程中，本领域技术人员通过查看所述附图、公开内容、以及所附权利要求书，可理解并实现所述公开实施例的其他变化。在权利要求中，“包括”(comprising)一词不排除其他组成部分或步骤，“一”或“一个”不排除多个的情况。单个处理器或其他单元可以实现权利要求中列举的若干项功能。相互不同的从属权利要求中记载了某些措施，但这并不表示这些措施不能组合起来产生良好的效果。

以上内容是结合具体的优选实施方式对本发明所作的进一步详细说明，不能认定本发明的具体实施只局限于这些说明。对于本发明所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本发明的保护范围。

Claims (4)

1.一种电磁脉冲干扰测试系统，其特征在于，包括：传输线脉冲测试设备、待测的数字电路以及辅助监控设备；

其中，所述数字电路具有预先指定的至少一个待测端口、至少一个状态端口，以及每个所述待测端口对应的输出端口；其中，所述至少一个状态端口为表征所述数字电路的工作状态的端口；

所述传输线脉冲测试设备，用于向每个所述待测端口注入电磁脉冲，并监测该待测端口对应的输出端口的泄漏电流；

所述辅助监控设备，包括多个辅助监控单元；每个所述状态端口，均与所述多个辅助监控单元中的一个对应相连；每个连接有一状态端口的辅助监控单元，用于对所连接的状态端口的信号进行实时监控；

每个所述辅助监控单元中均包括一LED二极管；每个连接有一状态端口的辅助监控单元，具体用于：利用自身包括的LED二极管对所连接的状态端口的信号进行实时显示；

每个所述辅助监控单元中还包括一个二选一拨码开关以及一个反相器；每个连接有一状态端口的辅助监控单元中，所包含的反相器用于对该状态端口的信号进行取非，所包含的二选一拨码开关用于响应于用户选择的开关状态，将该状态端口的信号或取非后的该状态端口的信号发送给该辅助监控单元所包含的LED二极管进行实时显示。

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述数字电路还具有预先指定的至少一个观测端口；

所述系统还包括：用于对所述至少一个观测端口的信号进行监测的测试仪表，以及用于对所述测试仪表进行电力保护的辅助保护设备。

3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述辅助监控设备还包括：报警单元；

所述报警单元，用于当任一连接有一状态端口的辅助监控单元中的LED二极管的显示状态与预设状态不同时，输出所述数字电路的工作状态出现异常的报警信号。

4.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述辅助保护设备，包括多个稳压二极管对，每个所述稳压二极管对，均由正负极相接的两个稳压二极管构成；

其中，所述多个稳压二极管对，与所述测试仪表的各个监测端口一一对应相连，并与所述数字电路的各个观测端口一一对应相连；每个稳压二极管对，用于对所连接的测试仪表的监测端口进行过压保护和欠压保护。

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