CN112015017B - 测试电路及显示面板测试方法 - Google Patents

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Abstract

本申请公开了一种测试电路及显示面板测试方法，所述测试电路用以测试显示面板，其包括：至少两个测试端子；至少两个薄膜晶体管，每一薄膜晶体管的源极电连接至一个测试端子，每一薄膜晶体管的漏极电连接至显示面板的显示区；驱动IC，其信号输出端电连接至所述显示面板的显示区和所述薄膜晶体管的漏极；保护电路，连接至所有薄膜晶体管的栅极；当所述测试端子之间未发生短路时，所述保护电路向所述薄膜晶体管的栅极输入高电平；当所述测试端子之间发生短路时，所述保护电路向所述薄膜晶体管的栅极输入低电平。

Description

测试电路及显示面板测试方法
技术领域
本申请涉及显示技术领域，尤其涉及一种测试电路及显示面板测试方法。
背景技术
为有效检出显示面板显示功能不良，一般会在阵列基板(Thin Film Transistor，TFT)端子区设置测试电路。测试电路设计多组测试端子(pad)，当TFT基板和彩膜基板(Color Filter，CF)组立成液晶盒(Cell)后，利用治工具探针将测试信号接入测试端子，即可对面板点亮，实现检测显示功能不良的目的。测试端子一般只用作液晶盒测试时信号输入，当液晶盒制作成显示模组后，测试信号通过驱动IC输入，此时测试端子已无测试需求。但是，由于测试端子与测试电路、驱动电路及像素电路连接，因此显示模组测试端子带有电性号。
在显示屏的模组制程中，为了消除CF基板与TFT基板之间的电势差，避免静电放电的现象发生，一般通过涂布银胶的方式将两者导通。银胶涂布的位置位于TFT基板端子区，与测试端子位置相近。具体的，如图1所示，所述TFT基板端子区包括接触端子H和测试端子T，测试端子T包括第一测试端子T1和第二测试端子T2，第一测试端子T1通过第一驱动信号线20a连接至驱动IC20，第二测试端子T2通过第二驱动信号线20b连接至驱动IC20。
由于银胶具有较强的流动性，相邻测试端子T之间间距很小，因此当涂布工艺精度欠佳时，银胶极易溢出(即银胶异常)导致相邻测试端子T发生短路，参照图2所示，导致连接测试端子T的两根线上信号相互影响，造成点灯异常，从而造成模组显示不良。另外，在测试端子T上修补银胶容易造成线路划伤。
发明内容
本发明的目的在于，提供一种测试电路及显示面板测试方法，以解决显示面板的银胶异常时导致相邻测试端子之间发生短路，且在修补银胶时造成线路划伤的技术问题。
为实现上述目的，本发明提供一种测试电路，用以测试显示面板，包括：
至少两个测试端子；至少两个薄膜晶体管，每一薄膜晶体管的源极电连接至一个测试端子，每一薄膜晶体管的漏极电连接至显示面板的显示区；驱动IC，其信号输出端电连接至所述显示面板的显示区和所述薄膜晶体管的漏极；保护电路，连接至所有薄膜晶体管的栅极；当所述测试端子之间未发生短路时，所述保护电路向所述薄膜晶体管的栅极输入高电平；当所述测试端子之间发生短路时，所述保护电路向所述薄膜晶体管的栅极输入低电平。
进一步地，当所述测试端子之间未发生短路时，所述保护电路为一电容，所述电容的一电极连接至所述薄膜晶体管的栅极，且输入高电平；所述电容的另一电极输入低电平。
进一步地，当所述测试端子之间发生短路时，所述保护电路为一信号线，其一端连接至所述薄膜晶体管的栅极，所述信号线用以输入低电平。
进一步地，当所述测试端子之间发生短路时，短路的测试端子之间相邻或不相邻，或有些测试端子之间相邻、有些测试端子之间不相邻。
进一步地，当所述测试端子之间发生短路时，所述薄膜晶体管的漏极产生的信号干扰所述驱动IC的驱动信号，所述显示面板画面产生异常。
进一步地，所述薄膜晶体管包括第一薄膜晶体管、第二薄膜晶体管；与所述第一薄膜晶体管连接的测试端子为第一测试端子，与所述第二薄膜晶体管连接的测试端子为第二测试端子，当所述第一测试端子和所述第二测试端子之间发生短路时，所述第一薄膜晶体管的漏极产生的信号干扰所述第一驱动信号线的驱动信号，所述第二薄膜晶体管的漏极产生的信号干扰所述第二驱动信号线的驱动信号，所述显示面板发生异常。
进一步地，所述显示面板包括：阵列基板；以及彩膜基板，与所述阵列基板相对设置；其中，所述阵列基板通过涂布银胶形成银胶层与所述彩膜基板导通。
进一步地，所述阵列基板包括：基板；介电层，设于所述基板上；源漏极层，设于所述介电层上；平坦层，设于所述源极层及所述介电层上，所述平坦层具有一通孔贯穿至所述源漏极层；以及像素电极层，且填充所述通孔且覆于所述平坦层上形成多个间隔设置的电极端子，所述电极端子包括接触端子和测试端子；其中，所述接触端子通过所述银胶层与所述彩膜基板导通。
为实现上述目的，本发明还提供一种显示面板测试方法，在显示面板中设置如前文所述的测试电路，所述测试方法包括如下步骤：
第一阶段，向至少两个测试端子输入信号，使得至少两个薄膜晶体管的源极接入源极信号，且向所述薄膜晶体管的栅极输入高电平，打开所述薄膜晶体管的栅极；
第二阶段，通过驱动IC向一显示面板输入驱动信号，并检测测试端子之间是否发生短路，若是，保护电路向所述薄膜晶体管的栅极输入低电平，并进入下一步；若否，所述保护电路向所述薄膜晶体管的栅极输入高电平，并结束测试；
第三阶段，通过激光修补的方式关闭所述薄膜晶体管的栅极，以屏蔽所述测试端子的信号传输，防止所述薄膜晶体管的漏极产生的信号干扰驱动信号。
进一步地，在所述第二阶段中，当所述测试端子之间未发生短路时，所述保护电路为一电容，所述电容的一电极连接至所述薄膜晶体管的栅极，且输入高电平；所述电容的另一电极输入低电平；当所述测试端子之间发生短路时，所述保护电路为一信号线，其一端连接至所述薄膜晶体管的栅极，所述信号线用以输入低电平，所述薄膜晶体管的漏极产生的信号干扰所述驱动IC的驱动信号，所述显示面板画面产生异常。
本发明的技术效果在于，提供一种测试电路及显示面板测试方法，通过在测试端子的信号输入线上增加薄膜晶体管器件，以及在薄膜晶体管的栅极端连接一电容，当测试端子之间发生短路时，通过激光修补的方式关闭薄膜晶体管的栅极，以屏蔽测试端子的信号传输，从而防止薄膜晶体管的漏极产生的信号干扰驱动IC的驱动信号，有效防止显示面板画面产生异常，挽救显示模组的良率。
附图说明
下面结合附图，通过对本申请的具体实施方式详细描述，将使本申请的技术方案及其它有益效果显而易见。
图1为现有测试端子未发生短路的测试电路图。
图2为现有测试端子之间发生短路的测试电路图。
图3为本申请实施例测试端子未发生短路的测试电路图。
图4为本申请实施例显示面板的结构示意图。
图5为本申请实施例测试端子未发生短路的测试电路图。
附图部件标识如下：
100测试电路；200电极端子；
10显示面板；10a显示区；20驱动IC；30保护电路；
20a第一驱动信号线；20b第二驱动信号线；
T测试端子；H接触端子；
T1第一测试端子；T2第二测试端子；L信号线；
TFT薄膜晶体管；TFT1第一薄膜晶体管；TFT2第二薄膜晶体管；
101阵列基板；102彩膜基板；103银胶层；
1011基板；1012介电层；1013源漏极层；
1014平坦层；1015像素电极层；
1014a通孔；1021衬底层；1022偏光片。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。在本申请的描述中，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述特征。在本申请的描述中，术语“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是电连接或可以相互通讯；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。
实施例1
如图3所示，图3为测试端子未发生短路的测试电路图。本实施例提供一种测试电路100，用以测试显示面板10，该显示面板10优选为液晶显示面板。测试电路100包括：至少两个测试端子T、至少两个薄膜晶体管TFT、驱动IC20以及保护电路30。
至少两个薄膜晶体管TFT，每一薄膜晶体管的源极电连接至一个测试端子，每一薄膜晶体管TFT的漏极D电连接至显示面板10的显示区10a。
具体的，如图4所示，图4为显示面板的结构示意图。显示面板10为液晶显示面板，其包括阵列基板101和彩膜基板102。阵列基板101与彩膜基板102相对设置，且阵列基板101通过涂布银胶形成银胶层103与彩膜基板102导通。
阵列基板101包括基板1011、介电层1012、源漏极层1013、平坦层1014以及像素电极层1015。介电层1012设于基板1011上。源漏极层1013设于介电层1012上。平坦层1014设于源漏极层1013及所述介电层上，平坦层1014具有一通孔1014a贯穿至源漏极层1013。像素电极层1015且填充通孔1014a且覆于平坦层1014上形成多个间隔设置的电极端子200，电极端子200包括接触端子H和测试端子T。其中，接触端子H通过银胶层103与彩膜基板102导通。
彩膜基板102包括一衬底层1021和一偏光片1022，偏光片1022设于衬底层1021上表面。其中，接触端子H通过银胶层103连接至偏光片1022，从而使得阵列基板101与彩膜基板102相互导通。在本实施例中，在彩膜基板102和阵列基板101之间还设有液晶层、配向层等膜层，在此不一一赘述。
请继续参照图3，测试电路100还包括驱动IC20，其信号输出端电连接至显示面板10的显示区10a和薄膜晶体管TFT的漏极D。
保护电路30连接至所有薄膜晶体管TFT的栅极G。当测试端子T之间未发生短路时，保护电路30向薄膜晶体管TFT的栅极G输入高电平Vgh；当测试端子T之间发生短路时，保护电路30向薄膜晶体管TFT的栅极G输入低电平Vgl。
本实施例中，薄膜晶体管TFT包括第一薄膜晶体管TFT1、第二薄膜晶体管TFT2。其中，与第一薄膜晶体管TFT1的源极S连接的测试端子T为第一测试端子T1，与第二薄膜晶体管TFT2的源极S连接的测试端子为第二测试端子T2。驱动IC20具有多条驱动信号线。其中，与第一薄膜晶体管TFT1的漏极D连接的驱动信号线为第一驱动信号线20a，与第二薄膜晶体管TFT2的漏极D连接的驱动信号线为第二驱动信号线20b。
如图5所示，图5为测试端子之间发生短路的测试电路图。当测试端子T之间未发生短路时，保护电路30为一电容C，电容C的一电极连接至薄膜晶体管TFT的栅极G，且输入高电平Vgh；电容C的另一电极输入低电平Vgl，显示面板10正常显示，具有良好的画面显示效果。
当第一测试端子T1和第二测试端子T2发生短路时，第一薄膜晶体管TFT1的漏极D产生的信号干扰第一驱动信号线20a的驱动信号，第二薄膜晶体管TFT2的漏极D产生的信号干扰第二驱动信号线20b的驱动信号，显示面板10发生异常，影响显示画面的品质。
为了解决显示面板10因测试端子之间发生短路导致显示异常的问题，本实施例的具体方案如下：
如图3-5所示，当测试端子T之间因涂覆银胶而发生短路时，测试电路100从图3的工作状态转换成图5的工作状态。具体的，当第一测试端子T1和第二测试端子T2发生短路时，保护电路30的电容C的两个电极、第一薄膜晶体管TFT1的栅极G以及第二薄膜晶体管TFT2的栅极G都输入低电平Vgl，使得保护电路30为从一电容C变成一信号线L。在此过程中，通过激光(laser)修补的方式关闭第一薄膜晶体管TFT1和第二薄膜晶体管TFT2的开关(即栅极)，以屏蔽第一测试端子T1和第二测试端子T2的信号传输，从而避免薄膜晶体管TFT的漏极D产生的信号干扰驱动IC20的驱动信号，并有效防止显示面板画面10因测试端子之间发生短路产生异常，挽救显示模组的良率。简单地说，当测试端子T之间发生短路时，保护电路30为一信号线L，其一端连接至薄膜晶体管TFT的栅极G，信号线L用以输入低电平Vgl，从而避免薄膜晶体管TFT的漏极D产生的信号干扰驱动IC20的驱动信号，以有效防止显示面板画面10产生异常。
需要说明的是，本实施例中，当测试端子T之间发生短路时，短路的情况有以下几种，短路的测试端子T之间相邻或不相邻，或有些测试端子T之间相邻、有些测试端子T之间不相邻。换句话来说，在测试电路100中，具有多个测试端子T，有可能是相邻的两个测试端子T发生短路，也有可能是相邻的两个以上的测试端子T发生短路，也有可能是测试电路100具有多处的测试端子T发生短路。
本实施例提供一种测试电路，通过在测试端子的信号输入线上增加薄膜晶体管器件，以及在薄膜晶体管的栅极端连接一电容，当测试端子之间因银胶异常而发生短路时，通过激光修补的方式关闭薄膜晶体管的栅极，以屏蔽测试端子的信号传输，从而防止薄膜晶体管的漏极产生的信号干扰驱动IC的驱动信号，有效防止显示面板画面产生异常，挽救显示模组的良率。
本实施例还提供一种显示面板测试方法，在显示面板中设置如前文所述的测试电路，所述测试方法包括如下步骤S1)-S3)。
S1)第一阶段，向至少两个测试端子输入信号，使得至少两个薄膜晶体管的源极接入源极信号，且向所述薄膜晶体管的栅极输入高电平，打开所述薄膜晶体管的栅极。
S2)第二阶段，通过驱动IC向一显示面板输入驱动信号，并检测测试端子之间是否发生短路，若是，保护电路向所述薄膜晶体管的栅极输入低电平，并进入下一步；若否，所述保护电路向所述薄膜晶体管的栅极输入高电平，并结束测试。
具体的，当所述测试端子之间未发生短路时，所述保护电路为一电容，所述电容的一电极连接至所述薄膜晶体管的栅极，且输入高电平；所述电容的另一电极输入低电平；
当所述测试端子之间发生短路时，所述保护电路为一信号线，其一端连接至所述薄膜晶体管的栅极，所述信号线用以输入低电平，所述薄膜晶体管的漏极产生的信号干扰所述驱动IC的驱动信号，所述显示面板画面产生异常。
S3)第三阶段，通过激光修补的方式关闭所有薄膜晶体管的栅极，以屏蔽所述测试端子的信号传输，防止所述薄膜晶体管的漏极产生的信号干扰驱动信号。
具体的，如图3-5所示，当测试端子T之间发生短路时，测试电路100从图3的工作状态转换成图5的工作状态。具体的，当第一测试端子T1和第二测试端子T2发生短路时，保护电路30的电容C的两个电极、第一薄膜晶体管TFT1的栅极G以及第二薄膜晶体管TFT2的栅极G都输入低电平Vgl，使得保护电路30为从一电容C变成一信号线L。在此过程中，通过激光(laser)修补的方式关闭第一薄膜晶体管TFT1和第二薄膜晶体管TFT2的开关(即栅极)，以屏蔽第一测试端子T1和第二测试端子T2的信号传输，从而防止薄膜晶体管TFT的漏极D产生的信号干扰驱动IC20的驱动信号，并有效防止显示面板画面10因测试端子之间发生短路产生异常，挽救显示模组的良率。简单地说，当测试端子T之间发生短路时，保护电路30为一信号线L，其一端连接至薄膜晶体管TFT的栅极G，信号线L用以输入低电平Vgl，从而避免薄膜晶体管TFT的漏极D产生的信号干扰驱动IC20的驱动信号，以有效防止显示面板画面10产生异常。
在其他实施例中，所述测试电路可以包括多个薄膜晶体管、多个测试端子、多条驱动信号线等等，在此不一一赘述。
本实施例提供一种测试电路及显示面板测试方法，通过在测试端子的信号输入线上增加薄膜晶体管器件，以及在薄膜晶体管的栅极端连接一电容，当测试端子之间发生短路时，通过激光修补的方式关闭薄膜晶体管的栅极，以屏蔽测试端子的信号传输，从而防止薄膜晶体管的漏极产生的信号干扰驱动IC的驱动信号，有效防止显示面板画面产生异常，挽救显示模组的良率，同时避免了在修补银胶时造成线路划伤的问题。
以上对本申请实施例所提供的一种测试电路及显示面板测试方法进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的技术方案及其核心思想；本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例的技术方案的范围。

Claims (7)

1.一种显示面板测试方法，其特征在于，在显示面板中设置一测试电路，所述测试电路包括：
至少两个测试端子；至少两个薄膜晶体管，每一薄膜晶体管的源极电连接至一个测试端子，每一薄膜晶体管的漏极电连接至显示面板的显示区；驱动IC，其信号输出端电连接至所述显示面板的显示区和所述薄膜晶体管的漏极；以及保护电路，连接至所有薄膜晶体管的栅极；
其中，所述测试方法包括如下步骤：
第一阶段，向至少两个测试端子输入信号，使得至少两个薄膜晶体管的源极接入源极信号，且向所述薄膜晶体管的栅极输入高电平，打开所述薄膜晶体管的栅极；
第二阶段，通过驱动IC向一显示面板输入驱动信号，并检测测试端子之间是否发生短路，若是，保护电路向所述薄膜晶体管的栅极输入低电平，并进入下一步；若否，所述保护电路向所述薄膜晶体管的栅极输入高电平，并结束测试；
第三阶段，通过激光修补的方式关闭所述薄膜晶体管的栅极，以屏蔽所述测试端子的信号传输，防止所述薄膜晶体管的漏极产生的信号干扰驱动信号。
2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，
在所述第二阶段中，
当所述测试端子之间未发生短路时，所述保护电路为一电容，所述电容的一电极连接至所述薄膜晶体管的栅极，且输入高电平；所述电容的另一电极输入低电平；
当所述测试端子之间发生短路时，所述保护电路为一信号线，其一端连接至所述薄膜晶体管的栅极，所述信号线用以输入低电平，所述薄膜晶体管的漏极产生的信号干扰所述驱动IC的驱动信号，所述显示面板画面产生异常。
3.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，
在所述第二阶段中，
当所述测试端子之间发生短路时，短路的测试端子之间相邻或不相邻，或有些测试端子之间相邻、有些测试端子之间不相邻。
4.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，
在所述第二阶段中，
当所述测试端子之间发生短路时，所述薄膜晶体管的漏极产生的信号干扰所述驱动IC的驱动信号，所述显示面板画面产生异常。
5.根据权利要求4所述的测试方法，其特征在于，
所述薄膜晶体管包括第一薄膜晶体管、第二薄膜晶体管；与所述第一薄膜晶体管连接的测试端子为第一测试端子，与所述第二薄膜晶体管连接的测试端子为第二测试端子；
在所述第二阶段中，
当所述第一测试端子和所述第二测试端子之间发生短路时，所述第一薄膜晶体管的漏极产生的信号干扰第一驱动信号线的驱动信号，所述第二薄膜晶体管的漏极产生的信号干扰第二驱动信号线的驱动信号，所述显示面板发生异常。
6.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述显示面板包括：
阵列基板；以及
彩膜基板，与所述阵列基板相对设置；
其中，所述阵列基板通过涂布银胶形成银胶层与所述彩膜基板导通。
7.根据权利要求6所述的测试方法，其特征在于，所述阵列基板包括：
基板；
介电层，设于所述基板上；
源漏极层，设于所述介电层上；
平坦层，设于所述源漏极层及所述介电层上，所述平坦层具有一通孔贯穿至所述源漏极层；以及
像素电极层，且填充所述通孔且覆于所述平坦层上形成多个间隔设置的电极端子，所述电极端子包括接触端子和测试端子；
其中，所述接触端子通过所述银胶层与所述彩膜基板导通。
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