CN110927999A - 显示面板及其测试方法 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种显示面板及其测试方法，所述显示面板通过在测试接垫与信号线路之间设置控制开关，在进行模组点灯测试时通过控制控制开关断开，避免了由于导电胶涂到测试接垫上导致两个或多个测试接垫短接，从而造成模组点灯测试时造成信号线路短路的问题，也避免了由于短路造成较大电流对线路的损坏；此外，还设置了与所述控制开关控制端连接的开关接垫，便于在使用治具进行CT测试时，通过治具与控制端连接控制控制开关连通，以使信号线路与所述测试接垫连通，保证CT测试的顺利进行。

Description

显示面板及其测试方法

技术领域

本申请涉及显示面板技术领域，尤其涉及一种显示面板及其测试方法。

背景技术

随着显示技术的发展，LCD显示面板得到了广泛的应用，现有TFT-LCD Full InCell显示面板中，一般是采用TFT Array侧的VCOM电极作为触控层，为了既防止静电干扰面板内液晶偏转，又不影响触控层对手指信号的侦测，会在彩膜层远离所述面制备一层去静电膜，然后通过导电胶(Ag胶)将去静电膜与接地接垫(Ag Pad)连接(接地接垫是接地的)。因此，若彩膜层玻璃背面有静电积累时，静电就可以依次通过去静电膜、导电胶、接地接垫接地，不会在彩膜层玻璃背侧积累静电，从而干扰液晶显示；

在TFT-LCD显示面板在制作过程中，会先进行Cell Test测试(即CT测试)，通过治具给Panel上的测试接垫(CT Pad)提供信号，测试接垫将信号传送给信号线路，由信号线路提供显示画面所需的信号，测试合格后进行模组(MOD)制作(至少包括导电胶涂布、集成电路绑定等)，然后进行模组点灯测试，现有显示面板由于精细化和高集成度，测试接垫与接地接垫距离较近，在涂布导电胶使高阻膜或导电偏光片与接地接垫连接的过程中，导电胶较有可能会涂到测试接垫上，将两个或多个测试接垫短接，或测试接垫与接地接垫短接，由于CT测试和模组点灯测试所用的信号线路直接相连，从而也会导致模组点灯测试时信号短路，画面显示异常，并有大电流等现象，不仅对电路造成损坏也影响模组点灯测试的进行。

发明内容

本申请实施例提供一种显示面板及其测试方法，以解决由于涂布导电胶使两个或多个测试接垫短接或测试接垫与接地接垫短接，导致模组点灯测试时信号短路的进行的问题。

本申请实施例提供了一种显示面板，包括显示区和非显示区；

所述显示面板包括：

基板；

TFT层，设置于所述基板上，所述TFT层包括TFT阵列子层和多条信号线路，所述TFT阵列子层与所述显示区相对应设置；

测试接垫组，设置于所述非显示区，所述测试接垫组包括多个测试接垫，多条所述信号线路一端与所述TFT阵列子层连接，多条所述信号线路另一端分别与各所述测试接垫连接；

两接地接垫，分别设置于所述测试接垫组两侧，且位于所述非显示区；

集成电路，设置于所述非显示区，每一所述信号线路与对应的所述测试接垫之间设有一与所述集成电路连接的测试节点，所述集成电路通过各所述测试节点分别与各所述信号线路连接；及

开关接垫组，设置于所述非显示区，所述开关接垫组至少包括一开关接垫；

其中，所述测试接垫组中至少部分靠近所述接地接垫的所述测试接垫通过控制开关与所述信号线路连接，每一所述控制开关的两通路端分别与对应的所述测试接垫和所述测试节点电性连接，各所述控制开关的控制端分别与所述开关接垫组和所述集成电路连接。

根据本申请一优选实施例，两所述接地接垫分别为第一接地接垫和第二接地接垫，所述测试接垫组包括靠近所述第一接地接垫的第一测试接垫子组、以及靠近所述第二接地接垫的第二测试接垫子组，所述开关接垫组设置于所述第一测试接垫子组与所述第二测试接垫子组之间。

根据本申请一优选实施例，所述第一测试接垫子组中部分靠近所述第一接地接垫的所述测试接垫通过所述控制开关与所述信号线路连接，所述第二测试接垫子组中部分靠近所述第二接地接垫的所述测试接垫通过所述控制开关与所述信号线路连接。

根据本申请一优选实施例，所述第一测试接垫子组中各所述测试接垫均通过所述控制开关与所述信号线路连接，所述第二测试接垫子组中各所述测试接垫均通过所述控制开关与所述信号线路连接。

根据本申请一优选实施例，所述开关接垫组包括一个开关接垫，各所述控制开关的控制端串联后与所述集成电路连接，串联的所述第一测试接垫子组连接的各所述控制开关的控制端与串联的所述第二测试接垫子组连接的各所述控制开关的控制端之间设有一控制节点，所述开关接垫通过所述控制节点与各所述控制开关的控制端连接。

根据本申请一优选实施例，所述开关接垫组包括一第一开关接垫和第二开关接垫，

所述第一测试接垫子组连接的各所述控制开关的控制端串联后两端分别与所述第一开关接垫和所述集成电路连接；

所述第二测试接垫子组连接的各所述控制开关的控制端串联后两端分别与所述第二开关接垫和所述集成电路连接。

根据本申请一优选实施例，所述控制开关为薄膜晶体管，所述控制开关的控制端为所述薄膜晶体管的栅极。

根据本申请一优选实施例，所述显示面板还包括设置于所述TFT层上的彩膜层，所述彩膜层远离所述TFT层的一侧设有去静电膜，各所述接地接垫与所述去静电膜通过导电胶电性连接。

本申请实施例还提供了一种如前所述显示面板的测试方法，包括如下步骤：

通过所述集成电路控制各所述控制开关断开，使所述测试接垫与所述信号线路处于断开状态；及

控制所述集成电路对各所述信号线路发送模组点灯测试信号，以对所述显示面板进行模组点灯测试。

根据本申请一优选实施例，在所述通过所述集成电路控制各所述控制开关断开之前，还包括：

通过一分别与所述测试接垫和所述开关接垫连接的测试治具控制各所述控制开关连通，以使所述测试接垫与所述信号线路处于连通状态；及

通过所述测试治具对所述信号线路发送CT测试信号，以对所述显示面板进行CT测试。

本申请的有益效果为：通过在测试接垫与所述信号线路之间设置控制开关，在进行模组点灯测试时通过控制控制开关断开，避免了由于导电胶涂到测试接垫上导致两个或多个测试接垫短接，从而造成模组点灯测试时造成信号线路短路的问题，也避免了由于短路造成较大电流对线路的损坏；此外，还设置了与所述控制开关控制端连接的开关接垫，便于在使用治具进行CT测试时，通过治具与控制端连接控制控制开关连通，以使信号线路与所述测试接垫连通，保证CT测试的顺利进行。

附图说明

下面结合附图，通过对本申请的具体实施方式详细描述，将使本申请的技术方案及其它有益效果显而易见。

图1为测试接垫未被导电胶短接的显示面板的结构示意图；

图2为本申请实施例提供的测试接垫被导电胶短接的显示面板的结构示意图；

图3为本申请实施例提供的显示面板的层级结构示意图；

图4为本申请实施例提供的显示面板中一种走线的结构示意图；

图5为本申请实施例提供的显示面板中另一种走线的结构示意图；

图6为本申请实施例提供的显示面板中又一种走线的结构示意图；

图7为本申请实施例提供的显示面板中另又一种走线的结构示意图；

图8为本申请实施例提供的一种显示面板的测试方法的流程示意框图；

图9为本申请实施例提供的另一种显示面板的测试方法的流程示意框图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

在本申请的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

在本申请的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接或可以相互通讯；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

在本申请中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

下文的公开提供了许多不同的实施方式或例子用来实现本申请的不同结构。为了简化本申请的公开，下文中对特定例子的部件和设置进行描述。当然，它们仅仅为示例，并且目的不在于限制本申请。此外，本申请可以在不同例子中重复参考数字和/或参考字母，这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施方式和/或设置之间的关系。此外，本申请提供了的各种特定的工艺和材料的例子，但是本领域普通技术人员可以意识到其他工艺的应用和/或其他材料的使用。

下面结合附图和实施例对本申请作进一步说明。

如图1至图7所示，本申请实施例提供了一种显示面板，包括显示区10和非显示区20；

所述显示面板包括：

基板100；

TFT层200，设置于所述基板100上，所述TFT层200包括TFT阵列子层(图中未出示)和多条信号线路210，所述TFT阵列子层与所述显示区10相对应设置；其中，所述TFT阵列子层和所述信号线路210均设于所述基板100上；

测试接垫组300，设置于所述非显示区20，所述测试接垫组300包括多个测试接垫301，多条所述信号线路210一端与所述TFT阵列子层连接，多条所述信号线路210另一端分别与各所述测试接垫301连接；

两接地接垫，分别设置于所述测试接垫301组300两侧，且位于所述非显示区20；

集成电路400，设置于所述非显示区20，每一所述信号线路210与对应的所述测试接垫301之间设有一与所述集成电路400连接的测试节点410，所述集成电路400通过各所述测试节点410分别与各所述信号线路210连接；及

开关接垫组500，设置于所述非显示区20，所述开关接垫组500至少包括一开关接垫；

其中，所述测试接垫301组300中至少部分靠近所述接地接垫的所述测试接垫301通过控制开关600与所述信号线路210连接，每一所述控制开关600的两通路端分别与对应的所述测试接垫301和所述测试节点410电性连接，各所述控制开关600的控制端分别与所述开关接垫组500和所述集成电路400连接。

可以理解的是，在显示面板的制作过程中，CT测试是在导电胶700涂布和集成电路400绑定之前进行的，因此，在CT测试时导电胶700还未涂布，不会有测试接垫301被导电胶700短接的现象，而在CT测试合格之后，进行导电胶700涂布和集成电路400绑定等工艺之后，才进行模组点灯测试，主要是由所述集成电路400(IC)对各所述信号线路210发送模组点灯测试信号，来对所述显示面板进行模组点灯测试；此时，如果所述测试接垫301被导电胶700短接，则会造成模组点灯测试时信号短路，画面显示异常，大电流等现象，从而影响模组点灯测试的进行；显然，本申请中所述控制开关600设置于对应的所述测试接垫301和所述测试节点410之间，用于实现对测试接垫301于其它线路的通断控制，所述控制开关600可以为多种形式的控制结构，具体的，，所述控制开关600为薄膜晶体管，所述控制开关600的控制端为所述薄膜晶体管的栅极，可以通过高低电平的切换控制所述薄膜晶体管的通断，以此来实现在模组点灯测试时，通过断开所述薄膜晶体管，使得所述模组点灯测试不受所述测试接垫301是否被导电胶700短接的影响。

如图1所示，为正常的导电胶700涂布设计结构，通过涂布呈L型，避免造成对所述测试接垫301的短接，如图2所示，为涂布导电胶700过程造成所述测试接垫301短接的情况，其中，所述导电胶700为Ag胶；如图3所示，为显示面板的层级结构示意图，所述显示面板还包括设置于所述TFT层200上的彩膜层910，所述彩膜层910远离所述TFT层200的一侧设有去静电膜920，各所述接地接垫与所述去静电膜920通过导电胶700电性连接；具体的，所述去静电膜920为高阻膜或导电偏光片，可以理解的是，所述集成电路400与所述信号线路210连接的走线可以是通过换层桥接的方式实现，当然，其中还有其它走线也可以是此种方式，在此不再赘述。

在一实施例中，如图3-图7所示，两所述接地接垫分别为第一接地接垫810和第二接地接垫820，所述测试接垫组300包括靠近所述第一接地接垫810的第一测试接垫子组310、以及靠近所述第二接地接垫820的第二测试接垫子组320，显然，为避免所述开关接垫组500也被所述导电胶700所短接，所述开关接垫组500设置于远离所述接地接垫的地方；具体的，所述开关接垫组500可以设置于所述第一测试接垫子组310与所述第二测试接垫子组320之间。

在一实施例中，如图4-图5所示，所述第一测试接垫子组310中部分靠近所述第一接地接垫810的所述测试接垫301通过所述控制开关600与所述信号线路210连接，所述第二测试接垫子组320中部分靠近所述第二接地接垫820的所述测试接垫301通过所述控制开关600与所述信号线路210连接；显然，此种部分接有控制开关600的结构，主要针对于靠近所述接地接垫的各所述测试接垫301，针对性较强，将电子元器件最少化，避免走线更加密集。

在一实施例中，如图4-图5所示，如图6-图7所示，所述第一测试接垫子组310中各所述测试接垫301均通过所述控制开关600与所述信号线路210连接，所述第二测试接垫子组320中各所述测试接垫301均通过所述控制开关600与所述信号线路210连接；显然，此种全部设有控制开关600的结构，便于更全面的应对，在极端情况下所述测试接垫301全部短接的情况。

在一实施例中，如图4和图6所示，所述开关接垫组500包括一个开关接垫530，各所述控制开关600的控制端串联后与所述集成电路400连接，串联的所述第一测试接垫子组310连接的各所述控制开关600的控制端与串联的所述第二测试接垫子组320连接的各所述控制开关600的控制端之间设有一控制节点531，所述开关接垫530通过所述控制节点531与各所述控制开关600的控制端连接；如前所述，所述开关接垫组500设置于所述第一测试接垫子组310与所述第二测试接垫子组320之间，在各所述控制开关600的控制端串联的情况下，所述开关接垫530通过在其中设置的控制节点531与各所述控制开关600的控制端连接。

在一实施例中，如图5和图7所示，所述开关接垫组500包括一第一开关接垫510和第二开关接垫520，

所述第一测试接垫子组310连接的各所述控制开关600的控制端串联后两端分别与所述第一开关接垫510和所述集成电路400连接；

所述第二测试接垫子组320连接的各所述控制开关600的控制端串联后两端分别与所述第二开关接垫520和所述集成电路400连接。显然，此种第一开关接垫510和第二开关接垫520的结构形式便于对两组所述第一测试接垫子组310和所述第二测试接垫子组320进行分别控制。

本申请实施例还提供了一种如前所述显示面板的测试方法，如图8所示，包括如下步骤：

步骤S30；通过所述集成电路400控制各所述控制开关600断开，使所述测试接垫301与所述信号线路210处于断开状态；及

步骤S40；控制所述集成电路400对各所述信号线路210发送模组点灯测试信号，以对所述显示面板进行模组点灯测试。

其中，控制开关600为薄膜晶体管，所述集成电路400通过给所述控制开关600的控制端发送低电平信号，以使所述控制开关600断开；然后控制所述集成电路400对各所述信号线路210发送模组点灯测试信号。

在一实施例中，如图9所示，在所述通过所述集成电路400控制各所述控制开关600断开之前，还包括：

步骤S10；通过一分别与所述测试接垫301和所述开关接垫连接的测试治具控制各所述控制开关600连通，以使所述测试接垫301与所述信号线路210处于连通状态；及

步骤S20；通过所述测试治具对所述信号线路210发送CT测试信号，以对所述显示面板进行CT测试。

其中，在进行CT测试时，所述导电胶700还未涂布，不会有测试接垫301被导电胶700短接的现象，并且，后续模组点灯测试是在所述CT测试合格的条件下，并进行导电胶700涂布和集成电路400绑定等工艺之后进行的，此外，所述测试治具上设有分别与所述所述测试接垫301和所述开关接垫对应的接垫，用于控制各所述控制开关600连通，以使所述测试接垫301与所述信号线路210处于连通状态，及通过所述测试治具对所述信号线路210发送CT测试信号，以对所述显示面板进行CT测试。

综上，通过在测试接垫301与所述信号线路210之间设置控制开关600，在进行模组点灯测试时通过控制控制开关600断开，避免了由于导电胶700涂到测试接垫301上导致两个或多个测试接垫301短接，从而造成模组点灯测试时造成信号线路210短路的问题，也避免了由于短路造成较大电流对线路的损坏；此外，还设置了与所述控制开关600控制端连接的开关接垫，便于在使用治具进行CT测试时，通过治具与控制端连接控制控制开关600连通，以使信号线路210与所述测试接垫301连通，保证CT测试的顺利进行。

在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。

以上对本申请实施例进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的技术方案及其核心思想；本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例的技术方案的范围。

Claims (10)

1.一种显示面板，其特征在于，包括显示区和非显示区；

所述显示面板包括：

基板；

TFT层，设置于所述基板上，所述TFT层包括TFT阵列子层和多条信号线路，所述TFT阵列子层与所述显示区相对应设置；

测试接垫组，设置于所述非显示区，所述测试接垫组包括多个测试接垫，多条所述信号线路一端与所述TFT阵列子层连接，多条所述信号线路另一端分别与各所述测试接垫连接；

两接地接垫，分别设置于所述测试接垫组两侧，且位于所述非显示区；

集成电路，设置于所述非显示区，每一所述信号线路与对应的所述测试接垫之间设有一与所述集成电路连接的测试节点，所述集成电路通过各所述测试节点分别与各所述信号线路连接；及

开关接垫组，设置于所述非显示区，所述开关接垫组至少包括一开关接垫；

其中，所述测试接垫组中至少部分靠近所述接地接垫的所述测试接垫通过控制开关与所述信号线路连接，每一所述控制开关的两通路端分别与对应的所述测试接垫和所述测试节点电性连接，各所述控制开关的控制端分别与所述开关接垫组和所述集成电路连接。

2.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，两所述接地接垫分别为第一接地接垫和第二接地接垫，所述测试接垫组包括靠近所述第一接地接垫的第一测试接垫子组、以及靠近所述第二接地接垫的第二测试接垫子组，所述开关接垫组设置于所述第一测试接垫子组与所述第二测试接垫子组之间。

3.如权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述第一测试接垫子组中部分靠近所述第一接地接垫的所述测试接垫通过所述控制开关与所述信号线路连接，所述第二测试接垫子组中部分靠近所述第二接地接垫的所述测试接垫通过所述控制开关与所述信号线路连接。

4.如权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述第一测试接垫子组中各所述测试接垫均通过所述控制开关与所述信号线路连接，所述第二测试接垫子组中各所述测试接垫均通过所述控制开关与所述信号线路连接。

5.如权利要求3或4任一项所述的显示面板，其特征在于，所述开关接垫组包括一个开关接垫，各所述控制开关的控制端串联后与所述集成电路连接，串联的所述第一测试接垫子组连接的各所述控制开关的控制端与串联的所述第二测试接垫子组连接的各所述控制开关的控制端之间设有一控制节点，所述开关接垫通过所述控制节点与各所述控制开关的控制端连接。

6.如权利要求3或4任一项所述的显示面板，其特征在于，所述开关接垫组包括一第一开关接垫和第二开关接垫，

所述第一测试接垫子组连接的各所述控制开关的控制端串联后两端分别与所述第一开关接垫和所述集成电路连接；

所述第二测试接垫子组连接的各所述控制开关的控制端串联后两端分别与所述第二开关接垫和所述集成电路连接。

7.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述控制开关为薄膜晶体管，所述控制开关的控制端为所述薄膜晶体管的栅极。

8.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括设置于所述TFT层上的彩膜层，所述彩膜层远离所述TFT层的一侧设有去静电膜，各所述接地接垫与所述去静电膜通过导电胶电性连接。

9.如权利要求1-8任一项所述的显示面板的测试方法，其特征在于，包括如下步骤：

通过所述集成电路控制各所述控制开关断开，使所述测试接垫与所述信号线路处于断开状态；及

控制所述集成电路对各所述信号线路发送模组点灯测试信号，以对所述显示面板进行模组点灯测试。

10.如权利要求9所述显示面板的测试方法，其特征在于，在所述通过所述集成电路控制各所述控制开关断开之前，还包括：

通过一分别与所述测试接垫和所述开关接垫连接的测试治具控制各所述控制开关连通，以使所述测试接垫与所述信号线路处于连通状态；及

通过所述测试治具对所述信号线路发送CT测试信号，以对所述显示面板进行CT测试。

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