KR100782454B1 - 평판표시장치 및 이의 검사방법 - Google Patents

평판표시장치 및 이의 검사방법 Download PDF

Info

Publication number
KR100782454B1
KR100782454B1 KR1020050126354A KR20050126354A KR100782454B1 KR 100782454 B1 KR100782454 B1 KR 100782454B1 KR 1020050126354 A KR1020050126354 A KR 1020050126354A KR 20050126354 A KR20050126354 A KR 20050126354A KR 100782454 B1 KR100782454 B1 KR 100782454B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
fpc
inspection
flat panel
panel display
display device
Prior art date
Application number
KR1020050126354A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20070065677A (ko
Inventor
김종진
Original Assignee
삼성에스디아이 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성에스디아이 주식회사 filed Critical 삼성에스디아이 주식회사
Priority to KR1020050126354A priority Critical patent/KR100782454B1/ko
Publication of KR20070065677A publication Critical patent/KR20070065677A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100782454B1 publication Critical patent/KR100782454B1/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1345Conductors connecting electrodes to cell terminals
    • G02F1/13458Terminal pads
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362Active matrix addressed cells
    • G02F1/136254Checking; Testing
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F2202/00Materials and properties

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Abstract

본 발명은 제1에프피씨를 구비하여 패드부의 손상을 방지함으로써, 제품의 신뢰성을 향상시킬 수 있는 평판표시장치 및 이의 검사방법에 관한 것이다.
본 발명은 기판, 봉지기판, 표시부 및 패드부를 구비하는 패널; 상기 패드부와 연결되는 베이스 필름 상에 다수의 패턴 및 그 상부에 보호 필름이 형성되어 있는 제1에프피씨; 및 상기 제1에프피씨와 연결되는 베이스 필름 상에 다수의 패턴 및 그 상부에 보호 필름이 형성되어 있는 제2에프피씨를 포함하는 것을 특징으로 한다.
에프피씨, 평판표시장치

Description

평판표시장치 및 이의 검사방법{Flat Panel Display And Method For Inspection Of The Same}
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 평판표시장치의 평면도.
도 2는 본 발명의 실시 예에 따른 평판표시장치의 패드부의 단면도.
도 3a 및 도 3b는 본 발명의 실시 예에 따른 제1에프피씨의 평면도.
도 4 및 도 5는 본 발명의 실시 예에 따른 평판표시장치의 패드부의 단면도.
도 6a 및 도 6b는 본 발명의 실시 예에 따른 검사용 에프피씨의 평면도.
도 7은 본 발명의 실시 예에 따른 평판표시장치의 단면도.
<도면 주요부호에 대한 부호의 설명>
100 : 기판 110 : 표시부
120 : 패드부 130 : 구동 드라이버
140 : 패드단 150 : 금속층
155 : 보호막 160 : 비어홀
165 : 금속배선 170 : 제1에프피씨
190 : 이방성 도전합착수지 195: 도전볼
200 : 검사용 에프피씨 220 : 검사장치
본 발명은 평판표시장치 및 이의 검사방법에 관한 것으로, 보다 자세하게는 제1에프피씨(Flexible Printed Circuit)를 구비하여 패드부의 손상을 방지함으로써 제품의 신뢰성을 향상시킬 수 있는 평판표시장치 및 이의 검사방법에 관한 것이다.
오늘날과 같은 정보화 사회에 있어서 전자 디스플레이 장치(electronic display device)의 역할은 갈수록 중요해지며, 각종 전자 디스플레이 장치가 다양한 산업 분야에 광범위하게 사용되고 있다. 이러한 전자 디스플레이 분야는 발전을 거듭하여 다양화하는 정보화 사회의 요구에 적합한 새로운 기능의 전자 디스플레이 장치가 계속 개발되고 있다.
일반적으로 전자 디스플레이 장치란 다양한 정보를 시각을 통하여 인간에게 전달하는 장치를 말한다. 즉, 전자 디스플레이 장치란 각종 전자 기기로부터 출력되는 전기적 정보 신호를 인간의 시각을 통하여 인간에게 전달하는 장치를 말한다. 즉, 전자 디스플레이 장치란 각종 전자 기기로부터 출력되는 전기적 정보 신호를 인간의 시각으로 인식 가능한 광 정보 신호로 변환하는 전자 장치이고, 인간과 전자기기를 연결하는 가교적인 역할을 담당하는 장치라고 할 수 있다.
이러한 전자 디스플레이 장치에 있어서, 광 정보 신호가 발광 현상에 의해 표시되는 경우에는 발광형 표시(emissive display)장치로 불려지며, 반사, 산란, 간섭 현상 등에 의하여 광 변조로 표시되는 경우에는 수광형 표시(non-emissive display)장치로 일컬어진다. 능동형 표시 장치라고도 불리는 상기 발광형 표시 장치로는 음극선관(cathode ray tube ; CRT), 플라즈마 디스플레이 패널(plasma display panel ; PDP), 발광 다이오드(light emitting diode ; LED) 및 일렉트로 루미네슨트 디스플레이(electroluminescence display ; ELD) 등을 들 수 있다. 또한, 수동형 표시 장치인 상기 수광형 표시 장치로서는 액정표시 장치(liquid crystal display ; LCD) 및 전기 영동 표시 장치(electrophoretic image display ; EPID) 등을 들 수 있다.
텔레비전이나 컴퓨터용 모니터 등과 같은 화상표시 장치에 사용되는 가장 오랜 역사를 갖는 디스플레이 장치인 음극선관(CRT)은 표시 품질 및 경제성 등의 면에서 가장 높은 점유율을 차지하고 있으나, 무거운 중량, 큰 용적 및 높은 소비 전력 등과 같은 단점을 가지고 있다.
그러나, 반도체 기술의 급속한 진보에 의하여 각종 전자 장치의 고체화, 저 전압 및 저 전력화와 함께 전자 기기의 소형 및 경량화에 따라 새로운 환경에 적합한 전자 디스플레이 장치, 즉 얇고 가벼우면서도 낮은 구동 전압 및 낮은 소비 전력의 특정을 갖춘 평판 패널(plat panel)형 디스플레이 장치에 대한 요구가 급격히 증대하고 있다.
일반적으로 패널을 제작한 후, 작동 여부의 테스트, 즉 패널의 점등 여부를 테스트하는 공정이 실시된다. 이를 위해, 패널의 패드부를 점등 검사 장치에 전기적으로 연결시켜 패널의 점등 여부를 테스트하게 된다. 이후에, 정상적으로 작동하는 패널은 에프피씨(flexible printed circuit ; FPC)를 부착하여 다음 공정으로 사용되게 된다.
그러나, 종래 패널의 점등 여부를 테스트 하는 공정은 패드부의 금속배선에 검사 장치를 직접 접촉시켜서 검사를 함으로써, 패드부에 형성되어 있는 금속배선들이 물리적인 손상을 입게 되어 구동불량 및 신뢰성을 저하시키는 단점이 있다.
따라서, 본 발명은 상기와 같은 종래 기술의 제반단점과 문제점을 해결하기 위한 것으로, 제1에프피씨를 구비하여 패드부의 손상을 방지함으로써, 제품의 신뢰성을 향상시킬 수 있는 평판표시장치 및 이의 검사방법을 제공함에 본 발명의 목적이 있다.
본 발명의 상기 목적은 기판, 봉지기판, 표시부 및 패드부를 구비하는 패널;
상기 패드부와 연결되는 베이스 필름 상에 다수의 패턴 및 그 상부에 보호 필름이 형성되어 있는 제1에프피씨; 및 상기 제1에프피씨와 연결되는 베이스 필름 상에 다수의 패턴 및 그 상부에 보호 필름이 형성되어 있는 제2에프피씨를 포함하는 것을 특징으로 하는 평판표시장치에 의해 달성된다.
본 발명의 상기 목적과 기술적 구성 및 그에 따른 작용효과에 관한 자세한 사항은 본 발명의 바람직한 실시예를 도시하고 있는 도면을 참조한 이하 상세한 설명에 의해 보다 명확하게 이해될 것이다. 또한 도면들에 있어서, 층 및 영역의 길이, 두께등은 편의를 위하여 과장되어 표현될 수도 있다. 명세서 전체에 걸쳐서 동일한 참조번호들은 동일한 구성요소들을 나타낸다.
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 평판표시장치의 평면도이다.
도 1을 참조하면, 기판(100) 상에 봉지기판(105)으로 합착된 표시부(110)와 패드부(120)가 구비되어 있고, 상기 패드부(120)에는 구동 드라이버(130)와 상기 패드부(120) 하부에는 추후 에프피씨와 연결되는 패드단(140)이 구비되어 있다.
이어서, 도 2는 도 1의 A-A'에 따른 평판표시장치의 패드부의 단면도이다.
도 2를 참조하면, 기판(100) 상에 표시부(110)와 연결되는 금속층(150)이 형성되어 있고, 상기 금속층(150) 상에 보호막(155)이 구비되어 있다. 상기 보호막(155)은 추후 제1에프피씨와 연결할 수 있게 비어홀(160)이 구비되어 있다. 상기 비어홀(160) 상에 제1에프피씨와 전기적으로 연결되는 금속배선(165)이 형성되어 있다.
종래에는 상기 금속배선(165)에 검사장치를 직접 접촉하므로써, 상기 금속배선(165)에 물리적인 손상이 가해져 구동 불량으로 인한 신뢰성 문제가 있었다.
본 발명은 상기와 같은 문제를 해결하기 위해, 평판표시장치 및 이의 검사방법을 제공한다.
도 3a 및 도 3b는 본 발명의 제1에프피씨의 단면도 및 평면도이다.
도 3a를 참조하면, 상기 제1에프피씨(170)는 폴리이미드 또는 폴리에틸렌 나프타 레이트중 어느 하나의 물질로 이루어진 베이스 필름(171) 상에 동으로 이루어진 다수의 패턴(172)을 형성하고, 상기 패턴(172)이 상기 베이스 필름(171)의 양측부에 드러나게끔 상기 패턴(172) 상부에 보호 필름(173)을 형성하여 완성한다.
도 3b을 참조하면, 상기 패드부의 패드단(140)과 연결되는 제1에프피씨 상부에 노출된 패턴(172)을 제1에프피씨 상부 패턴(175)으로 하고, 상기 제1에프피씨(170)의 하부에 노출된 패턴(172)을 제1에프피씨 하부 패턴(180)으로 한다.
이때, 상기 제1에프피씨 상부 패턴(175)과 제1에프피씨 하부 패턴(180)의 피치(pitch)는 동일하게 형성한다. 이는 상기 제1에프피씨(170)가 추후 검사용 에프피씨 또는 데이터 드라이버 또는 게이트 드라이버와 연결되는 제2에프피씨에 연결할 수 있도록 하기 위함이다.
이어서, 도 4 내지 도 6은 본 발명의 실시 예에 따른 평판표시장치의 단면도이다.
도 4을 참조하면, 상기 패드단(140)에 이방성 도전합착수지(190)를 도포한다. 상기 이방성 도전합착수지(190)는 다수의 도전볼(195)을 포함하고 있다.
이어서, 도 5를 참조하면, 상기 패드단(140)에 제1에프피씨(170)의 상부 패턴(175)을 얼라인하고 부착하여 본 발명의 제1에프피씨를 구비한 평판표시장치를 완성한다. 즉, 상기 패드단(140) 상에 도포되어 있는 이방성 도전합착수지(190) 상에 상기 제1에프피씨(170)의 상부 패턴(175)을 얼라인한 후, 일정 압력을 가하게 되면 상기 이방성 도전합착수지(190)내의 다수의 도전볼(195)이 깨지면서 전기적으로 연결되면서 부착된다.
이후에 상기 완성된 평판표시장치의 점등 여부를 확인하기 위한 검사방법을 개시한다.
도 6a 및 도 6b는 본 발명의 검사용 에프피씨의 단면도 및 평면도이다.
즉, 도 6a를 참조하면, 검사용 에프피씨(200)는 상기 제1에프피씨(170)와 동일한 구조를 갖도록 형성한다. 즉, 폴리이미드 또는 폴리에틸렌 나프타 레이트중 어느 하나의 물질로 이루어진 베이스 필름(201) 상에 동으로 이루어진 다수의 패턴(202)을 형성하고, 상기 패턴(202)이 상기 베이스 필름(201)의 양측부에 드러나게끔 상기 패턴(202) 상부에 보호 필름(203)을 형성하여 완성한다.
도 6b을 참조하면, 상기 제1에프피씨(170)와 연결되는 상기 검사용 에프피씨(200)의 상부에 노출된 패턴(202)을 에프피씨 상부 패턴(205)이라 하고, 상기 검사용 에프피씨(200)의 하부에 노출된 패턴(202)을 에프피씨 하부 패턴(210)으로 한다.
이때, 상기 검사용 에프피씨(200) 상부 패턴(205)과 검사용 에프피씨(200) 하부 패턴(210)의 피치(pitch)는 동일하게 형성한다. 이는 상기 검사용 에프피씨(200)가 추후 검사장치(220) 또는 제1에프피씨(170)에 연결할 수 있도록 하기 위함이다.
도 7은 본 발명의 평판표시장치의 단면도이다.
도 7을 참조하면, 상기 제1에프피씨(170)의 하부 패턴(180)에 상기 제1에프피씨(170)와 동일한 구조를 가진 검사용 에프피씨(200)의 상부 패턴(205)을 이방성 도전합착수지로 접착시킨 후, 상기 검사용 에프피씨 하부 패턴(210)에 검사장치를 접촉시켜 검사를 시행한다.
이후에, 검사가 끝나면, 상기 제1에프피씨(170)와 검사용 에프피씨(200)의 접촉부분을 핫플레이트 등으로 120도 정도로 가열하여 제거할 수 있고, 잔류물은 상용용매, 예를 들어 메틸에틸케톤(Methyl Ethyl Ketone ; MEK) 또는 톨루엔을 사용하여 제거할 수 있다. 이후, 추후 공정에서 상기 제1에프피씨(170)에 데이터 드라이버 또는 게이트 드라이버와 연결되는 제2에프피씨를 부착하게 된다.
상기와 같이, 평판표시장치를 제공함으로써 패널의 점등여부를 검사할 때, 상기 검사 장치(220)에 검사용 에프피씨(200)를 부착한 후, 제1에프피씨(170)에 상기 검사용 에프피씨(200)를 연결하여 검사할 수도 있다. 또한, 검사가 완료된 후에는 데이터 드라이버 또는 게이트 드라이버와 연결되는 제2에프피씨를 상기 제1에프피씨(170)에 연결하여 이후 공정에 사용할 수 있다.
상기에서, 제1에프피씨를 부착한 후, 상기 제1에프피씨에 검사용 에프피씨를 부착하여 검사하고 상기 검사용 에프피씨를 제거하는 과정이 필요한 이유는 패드부에 에프피씨를 제거하는 과정에서 상기와 같이 고온 또는 용매에 의해 패널의 패드부의 금속배선이 손상될 수 있기 때문이다.
따라서, 검사 장치에 의해 패드부가 직접 접촉되지 않게 되어, 패드부에 물리적인 손상을 방지할 수 있는 이점이 있다.
본 발명은 이상에서 살펴본 바와 같이 바람직한 실시예를 들어 도시하고 설명하였으나, 상기한 실시 예에 한정되지 아니하며 본 발명의 정신을 벗어나지 않는 범위 내에서 당해 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 다양한 변경과 수정이 가능할 것이다.
따라서, 본 발명의 평판표시장치 및 이의 검사방법은 패드부에 손상을 방지함으로써, 제품의 신뢰성을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.

Claims (5)

  1. 기판, 봉지기판, 표시부 및 패드부를 구비하는 패널;
    상기 패드부와 연결되는 베이스 필름 상에 다수의 패턴 및 그 상부에 보호 필름이 형성되어 있는 제1에프피씨; 및
    상기 제1에프피씨와 연결되는 베이스 필름 상에 다수의 패턴 및 그 상부에 보호 필름이 형성되어 있는 제2에프피씨를 포함하는 것을 특징으로 하는 평판표시장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 제1에프피씨는 상기 패드부의 패드단과 상기 제1에프피씨의 상부 패턴이 접촉되는 것을 특징으로 하는 평판표시장치.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 제1에프피씨의 상부 패턴과 하부 패턴은 동일한 피치를 갖는 것을 특징으로 하는 평판표시장치.
  4. 제1에프피씨를 구비한 평판표시장치를 제공하는 단계;
    상기 제1에프피씨에 검사용 에프피씨를 연결하는 단계;
    상기 검사용 에프피씨에 검사장치를 접촉시켜 검사하는 단계;
    상기 검사용 에프피씨를 제거하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 평판표시장치의 검사방법.
  5. 제 4 항에 있어서,
    상기 검사용 에프피씨는 상기 제1에프피씨와 동일한 구조로 형성되는 것을 특징으로 하는 평판표시장치의 검사방법.
KR1020050126354A 2005-12-20 2005-12-20 평판표시장치 및 이의 검사방법 KR100782454B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020050126354A KR100782454B1 (ko) 2005-12-20 2005-12-20 평판표시장치 및 이의 검사방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020050126354A KR100782454B1 (ko) 2005-12-20 2005-12-20 평판표시장치 및 이의 검사방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20070065677A KR20070065677A (ko) 2007-06-25
KR100782454B1 true KR100782454B1 (ko) 2007-12-05

Family

ID=38364923

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020050126354A KR100782454B1 (ko) 2005-12-20 2005-12-20 평판표시장치 및 이의 검사방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100782454B1 (ko)

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000315059A (ja) * 1999-04-28 2000-11-14 Nec Corp Tcp型半導体素子及びその液晶表示装置への接続方法
KR20020040285A (ko) * 2000-11-24 2002-05-30 윤종용 액정 표시 패널 검사용 접촉 필름 및 검사 방법
JP2002174644A (ja) * 2000-12-06 2002-06-21 Nec Kagoshima Ltd プローブブロック
KR20040039641A (ko) * 2002-11-04 2004-05-12 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정패널 검사장치
KR20050003519A (ko) * 2003-06-27 2005-01-12 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정표시장치 검사용 프루브 장치 및 그 제조방법

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000315059A (ja) * 1999-04-28 2000-11-14 Nec Corp Tcp型半導体素子及びその液晶表示装置への接続方法
KR20020040285A (ko) * 2000-11-24 2002-05-30 윤종용 액정 표시 패널 검사용 접촉 필름 및 검사 방법
JP2002174644A (ja) * 2000-12-06 2002-06-21 Nec Kagoshima Ltd プローブブロック
KR20040039641A (ko) * 2002-11-04 2004-05-12 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정패널 검사장치
KR20050003519A (ko) * 2003-06-27 2005-01-12 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정표시장치 검사용 프루브 장치 및 그 제조방법

Also Published As

Publication number Publication date
KR20070065677A (ko) 2007-06-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN100390548C (zh) 液晶显示面板的接合点的接触阻抗测量方法及液晶显示板
US9198291B2 (en) Plastic panel and flat panel display device using the same
US7388641B2 (en) Liquid crystal display and method for manufacturing the same having particular pad unit
US9277669B2 (en) Plastic panel and flat panel display device using the same
US7486284B2 (en) Driver chip and display apparatus having the same
US20070052344A1 (en) Flat panel display device and method of correcting bonding misalignment of driver IC and flat panel display
US7919782B2 (en) Bonding structure of circuit substrate and instant circuit inspection method thereof
KR100381052B1 (ko) 윈도우를 가지는 테이프 케리어 패키지 및 이를 접속한액정표시장치
KR100640208B1 (ko) 액정표시패널의 검사용 범프 구조
JP5239428B2 (ja) 電気光学装置及び電子機器
US6300998B1 (en) Probe for inspecting liquid crystal display panel, and apparatus and method for inspecting liquid crystal display panel
KR101351404B1 (ko) 액정표시장치의 리페어 방법
JP4193453B2 (ja) 電子部品の実装基板、電気光学装置、電子部品の実装基板の製造方法、電気光学装置の製造方法及び電子機器
US20070165176A1 (en) Display panel and testing method for the same
KR19980015037A (ko) 검사용 공통 선과 공통 패드를 갖는 액정 표시(liquid crystal display;LCD) 패널과 액정 표시 패널의 검사 방법 및 액정 표시 모듈 제조 방법
KR100782454B1 (ko) 평판표시장치 및 이의 검사방법
KR101669997B1 (ko) 평판 표시 장치 및 그의 제조 방법
KR101034683B1 (ko) 액정표시장치
KR101981580B1 (ko) 디스플레이 장치 및 그 제조방법
KR100223156B1 (ko) 접착상태 검사용 테스트범프와 테스트패드
KR101010394B1 (ko) 액정표시장치 및 그 제조 방법
TW202344187A (zh) 電子裝置
KR100966426B1 (ko) 액정표시장치의 테입 캐리어 패키지와 패드의 본딩 구조
KR100815913B1 (ko) 액정 표시 장치
KR20050008337A (ko) Cog 방식 액정표시패널 및 그 제조방법

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
G170 Publication of correction
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20121102

Year of fee payment: 6

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20131031

Year of fee payment: 7

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20141030

Year of fee payment: 8

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20151030

Year of fee payment: 9

LAPS Lapse due to unpaid annual fee