KR100529225B1 - 액정 표시 패널의 검사용 프로브, 액정 표시 패널의 검사 장치및 검사 방법 - Google Patents

액정 표시 패널의 검사용 프로브, 액정 표시 패널의 검사 장치및 검사 방법 Download PDF

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Abstract

액정 표시 패널을 검사하는 프로브를 깨지기 어렵게 구성하는 동시에, 그 제작 단가를 대폭 삭감한다.
가요성을 갖는 프로브 유닛(280)에 패터닝된 복수의 단자와 기판(200)에 형성된 복수의 주사선의 단자를 상호 접속시키는 한편, 가요성을 갖는 프로브 유닛(380)에 패터닝된 복수의 단자와 기판(300)에 형성된 복수의 데이터선의 단자를 상호 접속시키고, 복수의 주사선 각각에 대하여, 프로브 유닛(280)에 패터닝된 단자를 통하여, 주사선을 구동하는 구동 신호를 각각 공급하는 한편, 복수의 데이터선 각각에 대하여, 프로브 유닛(380)에 패터닝된 단자를 통하여, 데이터선을 구동하는 구동 신호를 각각 공급한다.

Description

액정 표시 패널의 검사용 프로브, 액정 표시 패널의 검사 장치 및 검사 방법{Probe for inspecting liquid crystal display panel, and apparatus and method for inspecting liquid crystal display panel}
본 발명은 구동 신호를 공급하는 베어칩(집적회로) 등을 실장하기 전의 표시 검사에 이용하기에 적합한 액정 표시 패널의 검사용 프로브 및 이 프로브를 사용한 액정 표시 패널의 검사 장치 및 및 검사 방법에 관한 것이다.
일반적으로, 액정 표시 패널에 있어서는, 단락, 단선, 특성 등의 표시에 관한 검사를 실행하고, 이 검사에 통과한 것에 대해, 실제로 구동 신호를 공급하는 전자 부품인 베어칩 등을 실장하도록 되어 있다. 여기서, 종래 액정 표시 패널의 검사에 있어서는, 베어칩 등이 실장된 각 단자에 대하여 각각 핀 프로브를 위치를 결정하여 접촉시킴과 동시에, 그들의 핀 프로브를 통하여 실제의 구동 신호를 공급하고, 그 표시를 확인하는 방법이 채용되고 있었다.
하지만, 이 핀 프로브는 내부에 미세한 스프링 등을 가지기 때문에, 기구적으로 대단히 깨지기 쉽다는 결점이 있었다. 또한, 베어칩의 단자 간격은 일반적으로 협소하므로, 핀 프로브의 배치 간격이 지나치게 근접한다. 이 때문에, 검사 장치의 제작이 곤란하고, 검사 장치의 제조 비용도 상승하는 문제가 있었다.
본 발명은 상기 문제를 감안하여 이루어진 것으로, 그 목적으로 하는 것은, 액정 표시 패널의 검사에 있어서, 깨지지 않고, 또한 제작 비용이 저렴한 액정 표시 패널의 검사용 프로브 및 이 검사용 프로브를 사용한 액정 표시 패널의 검사 장치 및 검사 방법을 제공하는 것이다.
상기 목적을 달성하기 위한 제 1 발명에 있어서는, 한 쌍의 패널 기판 사이에 액정이 봉입되고, 복수의 주사선 및 복수의 데이터선에 의해 표시 상태를 제어하고, 상기 복수의 주사선으로의 주사선 단자 및 상기 복수의 데이터선으로의 데이터선 단자가 상기 패널 기판에 형성된 액정 표시 패널의 검사용 프로브에 있어서, 가요성 기판에, 상기 주사선 단자 또는 상기 데이터선 단자에 접속하기 위한 접속 단자를 포함하는 도전 패턴이 형성됨과 동시에, 상기 접속 단자에 대해 상기 도전 패턴을 통하여 상기 주사선 또는 상기 데이터선을 구동하기 위한 신호를 공급하는 전자 부품이 실장된 것을 특징으로 하고 있다.
이러한 구성에 따르면, 패널 기판에 형성된 주사선 단자 또는 데이터선 단자에 대해서는, 가요성 기판에 형성된 도전 패턴의 일부인 접속 단자를 통하여 구동 신호가 공급된다. 따라서, 핀 프로브를 사용하는 일 없이 액정 표시 패널의 표시에 관한 검사가 가능해진다
또한, 제 2의 발명에 있어서는, 한 쌍의 패널 기판 사이에 액정이 봉입되고, 복수의 주사선 및 복수의 데이터선에 의해 표시 상태를 제어하고, 상기 복수의 주사선으로의 주사선 단자 및 상기 복수의 데이터선으로의 데이터선 단자가 상기 패널 기판에 형성된 액정 표시 패널의 검사 장치에 있어서, 제 1 가요성 기판에 형성된 접속 단자와, 상기 패널 기판에 형성된 상기 주사선 단자를 상호 접속시키는 제 1 접속 수단과, 제 2 가요성 기판에 형성된 접속 단자와, 상기 패널 기판에 형성된 상기 데이터선 단자를 상호 접속시키는 제 2 접속 수단과, 상기 제 1 가요성 기판에 실장됨과 함께, 해당 접속 단자에 대해 해당 도전 패턴을 통하여 상기 주사선을 구동하기 위한 신호를 공급하는 제 1 공급 수단과, 상기 제 2 가요성 기판에 실장됨과 함께, 해당 접속 단자에 대해 해당 도전 패턴을 통하여 상기 데이터 선을 구동하기 위한 신호를 공급하는 제 2 공급 수단을 구비하는 것을 특징으로 하고 있다.
이러한 구성에 따르면, 상기 제 1 발명에 관련하는 검사용 프로브를 사용한 액정 표시 패널의 검사가 가능해진다.
또한, 제 3 발명에 있어서는, 한 쌍의 패널 기판 사이에 액정이 봉입되고, 복수의 주사선 및 복수의 데이터선에 의해 표시 상태를 제어하고, 상기 복수의 주사선으로의 주사선 단자 및 상기 복수의 데이터선으로의 데이터선 단자가 상기 패널 기판에 형성된 액정 표시 패널의 검사 방법에 있어서, 제 1 가요성 기판에 형성된 접속 단자와, 상기 패널 기판에 형성된 상기 주사선 단자를 상호 접속시키는 한편, 제 2 가요성 기판에 형성된 접속 단자와, 상기 패널 기판에 형성된 상기 데이터선 단자를 상호 접속시키는 과정과, 상기 제 1 가요성 기판에 실장된 전자 회로에 의해, 해당 접속 단자에 대해 해당 도전 패턴을 통하여 상기 주사선을 구동하기 위한 신호를 공급하는 한편, 상기 제 2 가요성 기판에 실장된 전자 회로에 의해, 해당 접속 단자에 대해 해당 도전 패턴을 통하여 상기 데이터선을 구동하기 위한 신호를 공급하는 과정을 구비하는 것을 특징으로 한다.
이러한 방법에 따르면, 상기 제 1 발명에 관련하는 검사용 프로브를 사용한 액정 표시 패널의 검사가 가능해진다.
이하, 본 발명의 실시예에 대하여 도면을 참고하여 설명한다.
먼저, 본 실시예에 따른 검사 장치에 있어서, 검사 대상이 되는 액정 표시 패널의 구성에 관하여 설명한다. 도 1a에 도시된 바와 같이, 검사 대상이 되는 액정 표시 패널(100)은, 유리 등으로 된 2매의 기판이 상호 대향하도록 부착되고, 그 틈에 액정이 봉입된 것이다. 여기서, 한 쪽의 기판(200)의 부착 면에는, 복수의 주사선이 행방향으로 상호 평행하게 되도록 형성되는 한편, 다른 쪽의 기판(300)의 부착 면에는, 복수의 데이터선이 열방향으로 상호 평행하게 되도록 형성되고 있다. 그래서, 각 기판(200, 300)에는, 주사선과 데이터선을 외부로 인출하기 위한 주사선 단자 및 데이터선 단자가 각각 설치되어 있다.
더욱이, 이러한 구조로 된 액정 표시 패널(100)은, 일반적으로는, TFD(Thin Film Diode) 소자와 같은 2 단자형 비선형 소자를 사용하여 화소 전극을 구동하는 액티브 매트릭스 방식의 것이나, 비선형 소자를 사용하지 않는 패시브 매트릭스 방식의 것에 해당한다. 하지만, 본 발명은 이러한 것에 한하지 않으며, 한 쪽의 기판에 있어서 주사선과 데이터선을 외부로 인출하기 위한 단자가 설치된 액정 표시 패널, 예컨대 화소 전극을 스위칭하는 소자로서 TFT(Thin Film Transistor) 소자와 같은 3 단자 비선형 소자를 이용한 액티브 매트릭스 방식의 액정 표시 패널에도 적용 가능하다.
다음으로, 기판(200, 300) 단자 부분에 관하여 설명한다. 도 2는 기판(300)의 단자 부분에 있어서의 요부를 확대한 평면도이다. 더욱이, 이 도면은 도 1의 이면(하면)에서 본 경우에 상당하고 있다.
이 도면에 있어서, 데이터선 단자(312a)는, 기판(300)에 형성된 복수의 데이터선(312)의 선단부분에 있으며, 소자 기판(200)의 단부 근방에서 간격을 좁혀 빗(comb) 형상으로 형성되어 있다. 한편, 이와 대향하도록, 외부 단자(370)로부터 연장된 제어 단자(370a)가 형성되어 있다. 더욱이, 주사선(212)은 기판(200)에서 데이터선(312)과 직교하는 방향으로 연장하여 형성되어 있다.
여기서, 본 실시예에 따른 검사 장치에 의해 정상으로 판별된 액정 표시 패널(100)에 있어서는, 각 데이터선을 구동하는 베어칩이, 파선(351)으로 도시된 영역에 COG(Chip On Glass) 등의 기술에 의해 실장되고, 또한 그 베어칩에 제어 신호를 외부로부터 공급하기 위한 FPC(Flexible Printed Circuit)가, 파선(361)으로 도시된 바와 같이 외부 단자(370)에 접속되도록 되어있다. 즉, 도 4에 도시된 바와 같이, 기판(200)의 단자 부분에 있어서는, 베어칩(250, 250)이 실장됨과 함께, FPC(260)가 접속되는 한편, 기판(300)의 단자 부분에 있어서는, 베어칩(350, 350)이 실장됨과 함께, FPC(360)가 접속되도록 되어 있다. 하지만, 본 실시예에 있어서는, 검사전의 액정 표시 패널(100)을 대상으로 하므로, 베어칩도 FPC도 이 시점에는 실장 접속되지 않는다.
또한, 이 실시예에 있어서는, 베어칩(350)이 대향 기판(300)의 단자 부분에 2개 실장되는 것으로 한다. 또한, 소자 기판(200)의 단자 부분에서도 데이터선(312)이 주사선(212)으로 되는 점 이외에는 동일하다.
다음으로, 본 실시예에 따른 검사 장치에 대하여 설명한다. 도 1a는 이 검사 장치에서의 검사전의 각부의 위치 관계를 도시하는 도면이다. 이 도면에 도시된 바와 같이, 액정 표시 패널(100)의 검사에서는, 먼저, 프로브 유닛(280, 280)의 한 측면이, 기판(200)의 단자 부분에서, 고무 또는 우레탄 등의 탄성체(290)에 의해 가압된다. 한편, 프로브 유닛(380, 380)의 한 측면이 기판(300)의 단자 부분에서 동일한 탄성체(390)에 의해 가압된다. 또한, 이러한 경우, 액정 표시 패널(100)은 지그(治具) 등에 수용되어 위치가 결정된 상태가 바람직하다.
여기서, 프로브 유닛(280, 380)에 관하여 설명한다. 도 3은 프로브 유닛(380)의 구성을 나타내는 사시도이다. 이 도면에 있어서, 프로브 유닛(380)은 PI(폴리이미드)나 PET(폴리에틸렌 테레프타레이트) 등의 가요성을 갖는 기판(381)에 동박 등의 도전 패턴이 패터닝된 것으로서, 데이터선(312)의 각각을 구동하는 베어칩(350)이 이방성 접착제(382)에 의해 실장된 것이다. 또한, 이 프로브 유닛(380)에는, 대향하는 두 측면에서 각각 접속 단자(384) 및 외부 단자(386)가 형성되어 있다. 이 중, 전자(前者)의 접속 단자(384)는 검사 대상으로 되는 액정 표시 패널(100)의 기판(300)에 형성된 데이터선 단자(312a)에 접촉하는 것으로, 데이터선 단자(312a)와 동일한 개수, 피치로 형성된다. 한편, 후자의 외부 단자(386)는 베어칩(350)에 제어 신호를 공급하는 회로 기판(도시 생략)에 접속된다.
여기에서, 베어칩(350)은 검사후에 있어서 대향 기판(300)의 영역(351)에 실장되는 것과 동일하지만, 검사후에 대향 기판(300)에 실장되는 경우와 비교하면, 프로브 유닛(380)에서는 뒤집은 상태로 되어 있다. 따라서, 프로브 유닛(380)에서 접속 단자(384)로부터 베어칩(350)까지의 도전 패턴은 도 2에서의 영역(351)의 실장 위치(a, b, c, d)를 이용하면, 도 3에 도시된 바와 같은 위치 관계가 된다. 또, 이와 같은 도전 패턴은 기판(381)을 다층으로 하여 스루홀을 설치하는 것이나, 도전 패턴의 피치를 좁히는 것 등으로 가능하다. 또한, TCP(Tape Carrier Package)와 같이 이너 리드 본딩하게 되면, 베어칩(350)을 뒤집은 상태로 하지 않고 실장하는 것도 가능해진다.
한편, 접속 단자(384), 외부 단자(386) 및 베어칩(350)의 실장 부분 이외의 영역, 특히 접속 단자(384) 근방에서의 접속 단자(384) 이외의 영역은, 절연막(388)으로 피복되어 있다. 여기서, 접속 단자(384)가 절연막(388)으로부터 노출되어 있는 길이는, 대향 기판(300)의 데이터선 단자(312a)가 소자 기판(200)과의 단면으로부터 노출되어 있는 길이와 대체로 동일하게 되어 있다.
이와 같은 프로브 유닛(280, 380)이 탄성체(290, 390)에 의해 가압되면, 도 1b에 도시된 상태로 된다. 상세하게는, 프로브 유닛(380)에 있어서는, 접속 단자(384)가 형성된 한 측면이 기판(300)에 대하여, 기판(200)의 단부에 따라, 또한 접속 단자(384)와 데이터선 단자(312a)의 위치를 맞춘 상태로 가압되고 있다. 결과적으로, 프로브 유닛(380)의 접속 단자(384)가, 가압에 따라 기판(300)의 데이터선 단자(312a)와 접촉하여 전기적인 접속이 이루어지게 된다. 마찬가지로, 프로브 유닛(280)에서는, 그 접속 단자가 형성된 한 측면이 기판(200)에 대하여, 기판(300)의 단면을 따라, 또한 프로브 유닛의 접속 단자와 주사선 단자의 위치를 맞춘 상태로 가압되어, 양자의 전기적 접속이 이루어지고 있다.
그래서, 프로브 유닛(380)의 외부 단자(386)에는, 베어칩(350)으로의 제어 신호가 공급되는 한편, 프로브 유닛(280)의 외부 단자에는 베어칩(250)으로의 제어 신호가 공급된다.
이에 따라, 기판(200)에서의 복수의 주사선(212) 및 기판(300)에서의 복수의 데이터선(312)에는, 베어칩(250, 350)이 기판(200, 300)의 단자 부분에 COG 실장된 경우와 동일한 구동 신호가 공급되는 상태로 된다. 따라서, 이러한 상태에서의 액정 표시를 CCD 등에 의한 화상 해석이나 시각적 검사 등에 의해 판별하면, 화소 결함 등의 표시 검사를 행하는 것이 가능해진다.
이러한 실시예에 따른 액정 표시 패널의 검사에 의하면, 기판(200, 300)에 베어칩(250, 350)을 실장하기 전에 있어서, 가요성을 갖는 기판(381)에 접속 단자(384)가 패터닝되고, 또한 베어칩(350)이 실장된 프로브 유닛(380)에 의해, 복수의 데이터선(312) 각각에 구동 신호가 공급되는 한편, 동일한 프로브 유닛(280)에 의해, 복수의 주사선(212)의 각각에 구동 신호가 공급된다. 따라서, 고가로 깨지기 쉬운 핀 프로브 등을 사용할 필요가 없어지기 때문에, 액정 표시 패널(100)의 표시에 관한 검사 장치를 염가로 깨지기 어렵게 할 수 있다.
이때, 프로브 유닛(380)이 기판(300)에 대하여 접촉하는 부분은, 데이터선 단자(312a)만이고, 다른 부분은 절연막(388)에 의해 피복되어 있다. 따라서, 기판(300)에서 프로브 유닛(380)의 접촉과는 무관한 외부 단자(370)나 제어 단자(370a)가 프로브 유닛(380)의 도전 패턴과 접촉하는 것에 의한 회로의 단락이 방지된다. 이러한 점은, 프로브 유닛(280)에 있어서도 동일하다.
또한, 프로브 유닛(380)의 기판(381)은 가요성을 가지기 때문에, 단순히 프로브 유닛(380)의 접속 단자(384)를 기판(300)의 데이터선 단자(312a)에 접촉시키는 것만으로는, 전기적으로 접속되지 않을 가능성도 있지만, 본 실시예와 같이 탄성체(390)를 통하여 가압함으로써, 접속 단자(384)에 균등하게 응력이 가해지므로, 전기적인 접속의 확실성이 향상한다. 이 점은 프로브 유닛(280)에 대해서도 동일하다.
이상 설명한 바와 같이, 본 발명에 의하면, 패널 기판에 형성된 주사선 단자 또는 데이터선 단자에 대해서는, 가요성 기판에 형성된 도전 패턴의 일부인 접속 단자를 통하여, 구동 신호가 공급되므로, 핀 프로브 등을 사용하는 일 없이 액정 표시 패널의 표시에 관한 검사가 가능해진다. 따라서, 액정 표시 패널을 검사하는 프로브를 깨지기 어렵게 구성하는 동시에, 그 제작 비용을 대폭 삭감하는 것이 가능해진다.
도 1a는 본 발명의 실시형태에 따른 액정 표시 패널의 각부의 위치관계를 나타내는 사시도.
도 1b는 액정 표시 패널의 검사시에 있어서의 구성을 도시하는 사시도.
도 2는 동(同) 검사 장치에 있어서 검사 대상으로 되는 액정 표시 패널의 단자 부분의 구성을 도시하는 도면.
도 3은 동 검사 장치에 있어서의 프로브 유닛의 구성을 도시하는 사시도.
도 4는 동 검사 장치의 검사를 통과한 액정 표시 패널에 대해 행해지는 실장의 상태를 설명하기 위한 도면.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 *
100 : 액정 표시 패널 200 : 기판(패널 기판)
250 : 베어 칩(제 1 공급 수단) 260 : FPC
212 : 주사선 290 : 탄성체
300 : 기판(패널 기판) 312 : 데이터선
312a : 데이터선 단자 350 : 베어 칩(제 2 공급 수단)
360 : FPC 380 : 프로브 유닛
381 : 기판(가요성 기판) 384 : 접속 단자
388 : 절연막 390 : 탄성체

Claims (5)

  1. 한 쌍의 패널 기판 사이에 액정이 봉입되고, 복수의 주사선 및 복수의 데이터선에 의해 표시 상태를 제어하고, 상기 복수의 주사선으로의 주사선 단자 및 상기 복수의 데이터선으로의 데이터선 단자가 상기 패널 기판에 형성되고,
    상기 주사선 단자 또는 상기 데이터선 단자를 통하여 상기 복수의 주사선 또는 상기 복수의 데이터선에 전기적으로 접속되는 집적회로가 상기 패널 기판에 실장되는 액정 표시 패널을 상기 집적회로의 상기 실장 전에 검사하는 검사용 프로브로서,
    가요성(可撓性) 기판에,
    상기 주사선 단자 또는 상기 데이터선 단자에 전기적으로 접속하기 위한 접속 단자를 포함하는 도전 패턴이 형성됨과 동시에, 상기 패널 기판의 다른 단자와의 단락 방지용의 절연막으로 피복되고, 상기 접속 단자에 대해 상기 도전 패턴을 통하여 신호를 공급하는 전자 부품이 실장된 것을 특징으로 하는 액정 표시 패널 검사용 프로브.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 가요성 기판에서는 상기 접속 단자 이외의 영역이 적어도 상기 접속 단자의 부근에서 절연막으로 피복되어 있는 것을 특징으로 하는 액정 표시 패널 검사용 프로브.
  3. 한 쌍의 패널 기판 사이에 액정이 봉입되고, 복수의 주사선 및 복수의 데이터선에 의해 표시 상태를 제어하고, 상기 복수의 주사선으로의 주사선 단자 및 상기 복수의 데이터선으로의 데이터선 단자가 상기 패널 기판에 형성되고,
    상기 주사선 단자 또는 상기 데이터선 단자를 통하여 상기 복수의 주사선 또는 상기 복수의 데이터선에 전기적으로 접속되는 집적 회로가 상기 패널 기판에 실장되는 액정 표시 패널을 상기 직접 회로의 상기 실장 전에 검사하는 액정 표시 패널의 검사 장치로서,
    가요성 기판에 형성된 접속 단자와, 상기 패널 기판에 형성된 상기 주사선 단자 또는 상기 데이터선 단자를 상호 전기적으로 접속시키는 접속 수단과,
    상기 패널 기판의 다른 단자와의 단락 방지용으로 상기 검사 장치를 피복하는 절연막과,
    상기 가요성 기판에 실장됨과 동시에, 해당 접속 단자에 대해 도전 패턴을 통하여 신호를 공급하는 공급 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 액정 표시 패널의 검사 장치.
  4. 제 3 항에 있어서,
    상기 접속 수단은 상기 가요성 기판에서의 접속 단자를 상기 패널 기판에 대해 탄성체에 의해 가압하는 것을 특징으로 하는 액정 표시 패널의 검사 장치.
  5. 한 쌍의 패널 기판 사이에 액정이 봉입되고, 복수의 주사선 및 복수의 데이터선에 의해 표시 상태를 제어하고, 상기 복수의 주사선으로의 주사선 단자 및 상기 복수의 데이터선으로의 데이터선 단자가 상기 패널 기판에 형성되고,
    상기 주사선 단자 또는 상기 데이터선 단자를 통하여 상기 복수의 주사선 또는 상기 복수의 데이터선에 전기적으로 접속되는 집적회로가 상기 패널 기판에 실장되는 액졍 표시 패널을 상기 집적회로의 상기 실장 전에 검사하는 액정 표시 패널의 검사 방법으로서,
    가요성 기판에 형성된 접속 단자와, 상기 접속 단자와 상기 패널 기판에 형성된 다른 단자와의 단락 방지용의 절연막을 상기 가요성 기판에 구비하고, 상기 패널 기판에 형성된 상기 주사선 단자 또는 상기 데이터선을 상호 전기적으로 접속시키는 과정과,
    상기 가요성 기판에 실장된 전자 회로에 의해서 상기 가요성 기판에 형성된 접속 단자에 대해 도전 패턴을 통하여 신호를 공급하는 과정을 구비하는 것을 특징으로 하는 액정 표시 패널의 검사 방법.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100979382B1 (ko) * 2003-10-04 2010-08-31 엘지디스플레이 주식회사 지그 및 이를 이용한 전압 인가 방법

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4357689B2 (ja) * 2000-03-28 2009-11-04 シャープ株式会社 液晶表示パネル及びその製造方法
TW548860B (en) 2001-06-20 2003-08-21 Semiconductor Energy Lab Light emitting device and method of manufacturing the same
KR100767375B1 (ko) * 2001-11-07 2007-10-17 삼성전자주식회사 액정 표시 장치의 검사 장치
KR100891498B1 (ko) * 2002-11-04 2009-04-06 엘지디스플레이 주식회사 액정패널 검사장치
KR100557498B1 (ko) * 2002-12-27 2006-03-07 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정표시소자 및 그 제조방법
KR101016750B1 (ko) 2004-04-19 2011-02-25 엘지디스플레이 주식회사 액정표시장치의 검사장치
JP4107275B2 (ja) 2004-09-09 2008-06-25 セイコーエプソン株式会社 検査用プローブ及び検査装置、検査用プローブの製造方法
JP2006091239A (ja) * 2004-09-22 2006-04-06 Seiko Epson Corp 電気光学装置用基板及び電気光学装置、並びに検査方法
JP4353171B2 (ja) * 2005-02-02 2009-10-28 セイコーエプソン株式会社 電子機器、光学パネル、検査プローブ、光学パネルの検査装置、光学パネルの検査方法
JP2006350064A (ja) * 2005-06-17 2006-12-28 Hitachi Displays Ltd 表示装置および位置ずれ検査方法
JP5194382B2 (ja) * 2005-08-18 2013-05-08 セイコーエプソン株式会社 電気光学装置及び電子機器
JP4725358B2 (ja) * 2006-02-24 2011-07-13 ソニー株式会社 カラー液晶表示パネル
CN101846696B (zh) * 2010-03-19 2012-10-03 华映光电股份有限公司 探针及其制作方法
US9251750B2 (en) * 2011-11-14 2016-02-02 Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd. LCD module and manufacturing method thereof
CN102819126B (zh) * 2012-08-06 2015-05-20 深圳市华星光电技术有限公司 测试装置及测试方法
KR101578831B1 (ko) * 2014-06-02 2015-12-21 주식회사 코디에스 표시판 검사용 구동 필름 및 그의 제조 방법
CN104849882A (zh) * 2015-05-05 2015-08-19 深圳市华星光电技术有限公司 一种用于液晶显示面板的检测装置

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02304369A (ja) * 1989-05-18 1990-12-18 Seiko Epson Corp 液晶パネル表示検査用プローブ
JPH07211752A (ja) * 1994-01-13 1995-08-11 Jgc Corp 電子回路用プローブ
JPH08254677A (ja) * 1994-10-14 1996-10-01 Hitachi Electron Eng Co Ltd 液晶パネルの点灯試験用コンタクト装置
JPH09243660A (ja) * 1996-03-05 1997-09-19 Hitachi Electron Eng Co Ltd 液晶パネルの試験用コンタクト装置

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3213472B2 (ja) * 1994-04-26 2001-10-02 シャープ株式会社 アクティブマトリクス基板又はアクティブマトリクス液晶パネルの欠陥検出検査方法、欠陥検出検査装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02304369A (ja) * 1989-05-18 1990-12-18 Seiko Epson Corp 液晶パネル表示検査用プローブ
JPH07211752A (ja) * 1994-01-13 1995-08-11 Jgc Corp 電子回路用プローブ
JPH08254677A (ja) * 1994-10-14 1996-10-01 Hitachi Electron Eng Co Ltd 液晶パネルの点灯試験用コンタクト装置
JPH09243660A (ja) * 1996-03-05 1997-09-19 Hitachi Electron Eng Co Ltd 液晶パネルの試験用コンタクト装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100979382B1 (ko) * 2003-10-04 2010-08-31 엘지디스플레이 주식회사 지그 및 이를 이용한 전압 인가 방법

Also Published As

Publication number Publication date
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JP2000056285A (ja) 2000-02-25

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