CN1188730C - 液晶显示板检查装置及检查方法 - Google Patents
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Abstract
使检查液晶显示板的探头在结构上不易损坏，同时大幅度地削减其制作成本。将在具有挠性的探头单元(280)上形成布线图案的多个端子与在衬底(200)上形成的多个扫描线端子相互接触，另一方面，将在具有挠性的探头单元(380)上形成布线图案的多个端子与在衬底(300)上形成的多个数据线端子相互接触，并通过在探头单元(280)上形成布线图案的端子分别对多条扫描线供给驱动扫描线的驱动信号，通过在探头单元(380)上形成布线图案的端子分别对多条数据线供给驱动数据线的驱动信号。
Description
技术领域
本发明涉及适用于在安装供给驱动信号的裸芯片(集成电路)前进行显示检查的液晶显示板检查用探头单元、以及采用了该探头的液晶显示板检查装置及检查方法。
背景技术
对于液晶显示板，通常是先执行对短路、断线、特性等与显示有关的检查，然后在通过了该检查的液晶显示板上实际安装作为供给驱动信号的电子部件的裸芯片。以往，在液晶显示板的检查中所采用的方法，是将针形探头分别相对于安装裸芯片的各个端子定位并接触，同时通过这些针形探头供给实际的驱动信号，从而对液晶板的显示进行检查。
但是，该针形探头，由于在内部装有细小的弹簧等，所以存在着在机构上极易损坏的缺点。此外，裸芯片的端子间隔一般都很狭窄，所以使针形探头的配置间隔非常接近。因此，存在着检查装置难于制作、检查装置的制造成本也将增加的问题。
发明内容
本发明是鉴于上述问题而开发的，其目的是提供一种在液晶显示板的检查中不易损坏且制作成本低廉的液晶显示板检查用探头、以及采用了该检查用探头的液晶显示板检查装置及检查方法。
为达到上述目的，第1发明的一种液晶显示板检查用探头单元，在一对液晶板衬底之间封入液晶，由多条扫描线和多条数据线控制显示状态，并在上述液晶板衬底上形成与上述多条扫描线连接的扫描线端子及与上述多条数据线连接的数据线端子，该液晶显示板检查用探头单元的特征在于具有：形成包含用于连接上述扫描线端子或上述数据线端子的连接端子的导电图案的挠性衬底；安装在上述衬底上、通过上述导电图案对上述连接端子供给用于驱动上述扫描线或上述数据线的信号的电子部件。
按照这种结构，可通过作为在挠性衬底上形成的导电图案的一部分的连接端子对在液晶板衬底上形成的扫描线端子或数据线端子供给驱动信号。因此，不使用针形探头即可进行与液晶显示板的显示有关的检查。
另外，在第2发明的液晶显示板检查装置中，被检查的液晶显示板，在一对液晶板衬底之间封入液晶，由多条扫描线和多条数据线控制显示状态，并在上述液晶板衬底上形成与上述多条扫描线连接的扫描线端子及与上述多条数据线连接的数据线端子，该液晶显示板检查装置的特征在于，备有：第1连接装置：用于将在第1挠性衬底上形成的连接端子与在上述液晶板衬底上形成的上述扫描线端子相互连接，通过一个弹性体将多个形成在上述第1挠性衬底上的连接端子压接在上述液晶板衬底上；第2连接装置，用于将在第2挠性衬底上形成的连接端子与在上述液晶板衬底上形成的上述数据线端子相互连接，通过一个弹性体将多个形成在上述第2挠性衬底上的连接端子压接在上述液晶板衬底上；第1供给装置，安装在上述第1挠性衬底上，对该连接端子供给用于驱动上述扫描线的信号；及第2供给装置，安装在上述第2挠性衬底上，对该连接端子供给用于驱动上述数据线的信号。
按照这种结构，可以使用上述第1发明的检查用探头进行液晶显示板的检查。
进一步，在第3发明的液晶显示板检查方法中，液晶显示板，在一对液晶板衬底之间封入液晶，由多条扫描线和多条数据线控制显示状态，并在上述液晶板衬底上形成与上述多条扫描线连接的扫描线端子及与上述多条数据线连接的数据线端子，该液晶显示板检查方法的特征在于，包括如下步骤：将多个在第1挠性衬底上形成的连接端子与在上述液晶板衬底上形成的上述扫描线端子相互连接，通过一个弹性体将上述多个形成在第1挠性衬底上的连接端子压接在上述液晶板衬底上；另一方面，将多个在第2挠性衬底上形成的连接端子与在上述液晶板衬底上形成的上述数据线端子相互连接，通过一个弹性体将上述多个形成在第2挠性衬底上的连接端子压接在上述液晶板衬底上；由安装在上述第1挠性衬底上的电子电路对该连接端子供给用于驱动上述扫描线的信号，另一方面，由安装在上述第2挠性衬底上的电子电路对该连接端子供给用于驱动上述数据线的信号。
按照这种方法，可以使用上述第1发明的检查用探头进行液晶显示板的检查。
附图说明
图1(a)是表示与本发明实施形态有关的液晶显示板的各部位置关系的斜视图，图1(b)是表示在其检查时的结构的斜视图。
图2是表示在该检查装置中作为检查对象的液晶显示板的端子部分结构的图。
图3是表示该检查装置的探头单元的结构的斜视图。
图4是用于说明对通过了该检查装置的检查的液晶显示板所进行的安装的状态的图。
100……液晶显示板
200……衬底(液晶板衬底)
250……裸芯片(第1供给装置)
260……FPC
212……扫描线
290……弹性体
300……衬底(液晶板衬底)
312……数据线
312a……数据线端子
350……裸芯片(第2供给装置)
360……FPC
380……探头单元
381……衬底(挠性衬底)
384……连接端子
388……绝缘膜
390……弹性体
具体实施方式
以下，参照附图说明本发明的实施形态。
首先，说明在本实施形态的检查装置中作为检查对象的液晶显示板的结构。如图1(a)所示，作为检查对象的液晶显示板100，将由玻璃等构成的2个衬底以彼此相对的形式粘合，并在其间隙中封入液晶。其中，在一个衬底200的粘合面上，形成在行方向上彼此平行的多条扫描线，另一方面，在另一个衬底300的粘合面上，形成在列方向上彼此平行的多条数据线。并且，在各衬底200、300上，分别设置着扫描线端子和数据线端子，用于将扫描线和数据线引向外部。
具有上述结构的液晶显示板100，通常大多属于采用TFD(薄膜二极管)元件之类的2端子式非线性元件驱动象素电极的有源阵列方式或采用非线性元件的无源阵列方式的液晶显示板，但是，本发明并不限于此，也可以应用于在一个衬底上设有用于将扫描线和数据线引向外部的端子的液晶显示板，例如，作为切换象素电极的元件采用了TFT(薄膜晶体管)之类的3端子式非线性元件的有源阵列方式的液晶显示板。
其次，说明衬底200、300的端子部分。图2是将衬底300的端子部分的主要部件放大后的平面图。该图相当于从图1的背面(底面)看去的情况。
在该图中，数据线端子312a，是在衬底300上形成的多条数据线312的前端部分，在靠近元件衬底200的端部以狭小的间隔按梳状形成。另一方面，形成从外部端子370延长的控制端子370a，使其与数据线端子312a相对。扫描线212，在衬底200上沿着与数据线312正交的方向上延伸形成。
这里，在由本实施形态的检查装置判定为正常的液晶显示板100上，在虚线351所示的区域利用COG(玻璃衬底芯片)等技术安装用于驱动各数据线的裸芯片，此外，用于从外部向该裸芯片供给控制信号的FPC(软性印制电路)，如虚线361所示，连接于外部端子370。即，如图4所示，裸芯片250、250安装在衬底200的端子部分，同时连接FPC260，另一方面，裸芯片350、350安装在衬底300的端子部分，同时连接FPC360。但是，在本实施形态中，由于将检查前的液晶显示板100作为对象，所以无论裸芯片还是FPC此时都没有安装和连接。
另外，在本实施形态中，假定在对置衬底300的端子部分安装2个裸芯片350。而对于元件衬底200的端子部分，除将数据线312换成扫描线212以外结构相同。
以下，说明本实施形态的检查装置。图1(a)是表示本检查装置的检查前各部的位置关系的图。如该图所示，在液晶显示板100的检查中，首先，用橡胶或聚氨酯等弹性体290将探头单元280、280的一边紧压在衬底200的端子部分上。另一方面，用同样的弹性体390将探头单元380、380的一边紧压在衬底300的端子部分上。在这种情况下，最好将液晶显示板100安放在夹具等上并保持定位的状态。
这里，说明探头单元280、380。图3是表示探头单元380的结构的斜视图。在该图中，探头单元380，在PI(聚酰亚胺)或PET(聚对苯二甲酸乙二醇酯)等具有挠性的衬底381上制作布线图案以形成铜箔等的导电图案，并用各向异性粘结剂382安装用于驱动各数据线312的裸芯片350。此外，在该探头单元380上，在相对的2边分别形成连接端子384和外部端子386。其中，前者的连接端子384，与在作为检查对象的液晶显示板100的衬底300上形成的数据线端子312a接触，并以与数据线端子312a相同的个数和间距形成。另一方面，后者的外部端子386，连接于对裸芯片350供给控制信号的电路衬底(图中省略)。
这里，裸芯片350与检查后安装在对置衬底300的区域351上的裸芯片相同，当与检查后安装在对置衬底300的情况进行比较时，在探头单元380上是倒过来的状态。因此，在探头单元380上从连接端子384到裸芯片350的导电图案，当采用图2中区域351的安装位置a、b、c、d时，构成如图3所示的位置关系。这种导电图案，可以通过使衬底381为多层并设置穿通孔、或使导电图案的间距缩小等形成。此外，如采用TCP(Tape Carrier Package)(带式载体封装)之类的内引线结合法，则不使裸芯片350为倒过来的状态也可以进行安装。
另一方面，连接端子384、外部端子386及裸芯片350的安装部分以外的区域，特别是连接端子384近旁的连接端子384以外的区域，用绝缘膜388覆盖。这里，连接端子384从绝缘膜388露出的长度，与对置衬底300的数据线端子312a从元件衬底200的端面露出的长度大致相等。
当用弹性体290、390紧压上述探头单元280、380时，构成图1(b)所示的状态。详细地说，将探头单元380上形成连接端子384的一边沿着衬底200的端部以将连接端子384与数据线端子312a的位置对准的状态紧压在衬底300上。其结果是，使探头单元380的连接端子384通过压紧而与衬底300的数据线端子312a接触并由此实现电气连接。同样，将探头单元280上形成其连接端子的一边沿着衬底300的端部以将探头单元的连接端子与扫描线端子的位置对准的状态紧压在衬底200上，从而实现两者的电气连接。
然后，在探头单元380的外部端子386上供给施加于裸芯片350的控制信号，另一方面，在探头单元280的外部端子上供给施加于裸芯片250的控制信号。
按照上述方式，即可实现在衬底200的多条扫描线212及衬底300的多条数据线312上供给与在衬底200、300的端子部分利用COG技术安装了裸芯片250、350时相同的驱动信号的状态。因此，如通过采用CCD等的图象解析或目视等对该状态下的液晶显示进行判别，则可以进行象素缺陷等的显示检查。
按照上述实施形态的液晶显示板的检查，在衬底200、300上安装裸芯片250、350以前，在具有挠性的衬底381上制作连接端子384的布线图案，并用安装了裸芯片350的探头单元380对多条数据线312分别供给驱动信号，另一方面，由同样的探头单元280对多条扫描线212分别供给驱动信号。因此，不需要使用价格高且易损坏的针形探头等，所以能使与液晶显示板100的显示有关的检查装置价格低廉且不易损坏。
这时，探头单元380与衬底300的接触部分，只是数据线端子312a，其他部分则由绝缘膜388覆盖。因此，能够防止因衬底300上与探头单元380的接触无关的外部端子370及控制端子370a与探头单元380的导电图案接触而引起的电路短路。这一点，对探头单元280也同样。
另外，由于探头单元380的衬底381具有挠性，所以如果只是简单地使探头单元380的连接端子384与衬底300的数据线端子312a接触，则存在着在电气上不能连通的可能性，但像本实施形态这样用弹性体390压紧，可以在连接端子384上施加均匀的应力，因此能提高电气连接的可靠性。这一点，对探头单元280也同样。
如上所述，按照本发明，由于可以通过作为在挠性衬底上形成的导电图案的一部分的连接端子对在液晶板衬底上形成的扫描线端子或数据线端子供给驱动信号，所以不使用针形探头等即可进行与液晶显示板的显示有关的检查。因此，使检查液晶显示板的探头在结构上不易损坏，同时可以大幅度地削减其制作成本。
Claims (2)
1.一种液晶显示板检查装置，在一对液晶板衬底之间封入液晶，由多条扫描线和多条数据线控制显示状态，并在上述液晶板衬底上形成与上述多条扫描线连接的扫描线端子及与上述多条数据线连接的数据线端子，该液晶显示板检查装置的特征在于，备有：
第1连接装置，用于将在第1挠性衬底上形成的连接端子与在上述液晶板衬底上形成的上述扫描线端子相互连接，通过一个弹性体将多个形成在上述第1挠性衬底上的连接端子压接在上述液晶板衬底上；
第2连接装置，用于将在第2挠性衬底上形成的连接端子与在上述液晶板衬底上形成的上述数据线端子相互连接，通过一个弹性体将多个形成在上述第2挠性衬底上的连接端子压接在上述液晶板衬底上；
第1供给装置，安装在上述第1挠性衬底上，对该连接端子供给用于驱动上述扫描线的信号；及
第2供给装置，安装在上述第2挠性衬底上，对该连接端子供给用于驱动上述数据线的信号。
2.一种液晶显示板检查方法，在一对液晶板衬底之间封入液晶，由多条扫描线和多条数据线控制显示状态，并在上述液晶板衬底上形成与上述多条扫描线连接的扫描线端子及与上述多条数据线连接的数据线端子，该液晶显示板检查方法的特征在于：
将多个在第1挠性衬底上形成的连接端子与在上述液晶板衬底上形成的上述扫描线端子相互连接，通过一个弹性体将上述多个形成在第1挠性衬底上的连接端子压接在上述液晶板衬底上；
将多个在第2挠性衬底上形成的连接端子与在上述液晶板衬底上形成的上述数据线端子相互连接，通过一个弹性体将上述多个形成在第2挠性衬底上的连接端子压接在上述液晶板衬底上；
由安装在上述第1挠性衬底上的电子电路对该连接端子供给用于驱动上述扫描线的信号；和
由安装在上述第2挠性衬底上的电子电路对该连接端子供给用于驱动上述数据线的信号。
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP228442/98 | 1998-08-12 | ||
| JP22844298A JP3785821B2 (ja) | 1998-08-12 | 1998-08-12 | 液晶表示パネルの検査装置および検査方法 |
| JP228442/1998 | 1998-08-12 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN1245291A CN1245291A (zh) | 2000-02-23 |
| CN1188730C true CN1188730C (zh) | 2005-02-09 |
Family
ID=16876568
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CNB991177371A Expired - Fee Related CN1188730C (zh) | 1998-08-12 | 1999-08-12 | 液晶显示板检查装置及检查方法 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6300998B1 (zh) |
| JP (1) | JP3785821B2 (zh) |
| KR (1) | KR100529225B1 (zh) |
| CN (1) | CN1188730C (zh) |
| TW (1) | TW436624B (zh) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4357689B2 (ja) * | 2000-03-28 | 2009-11-04 | シャープ株式会社 | 液晶表示パネル及びその製造方法 |
| TW548860B (en) * | 2001-06-20 | 2003-08-21 | Semiconductor Energy Lab | Light emitting device and method of manufacturing the same |
| KR100767375B1 (ko) * | 2001-11-07 | 2007-10-17 | 삼성전자주식회사 | 액정 표시 장치의 검사 장치 |
| KR100891498B1 (ko) * | 2002-11-04 | 2009-04-06 | 엘지디스플레이 주식회사 | 액정패널 검사장치 |
| KR100557498B1 (ko) * | 2002-12-27 | 2006-03-07 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 액정표시소자 및 그 제조방법 |
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| KR101016750B1 (ko) | 2004-04-19 | 2011-02-25 | 엘지디스플레이 주식회사 | 액정표시장치의 검사장치 |
| JP4107275B2 (ja) * | 2004-09-09 | 2008-06-25 | セイコーエプソン株式会社 | 検査用プローブ及び検査装置、検査用プローブの製造方法 |
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| CN101846696B (zh) * | 2010-03-19 | 2012-10-03 | 华映光电股份有限公司 | 探针及其制作方法 |
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| CN104849882A (zh) * | 2015-05-05 | 2015-08-19 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 一种用于液晶显示面板的检测装置 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02304369A (ja) * | 1989-05-18 | 1990-12-18 | Seiko Epson Corp | 液晶パネル表示検査用プローブ |
| JPH07211752A (ja) * | 1994-01-13 | 1995-08-11 | Jgc Corp | 電子回路用プローブ |
| JP3213472B2 (ja) * | 1994-04-26 | 2001-10-02 | シャープ株式会社 | アクティブマトリクス基板又はアクティブマトリクス液晶パネルの欠陥検出検査方法、欠陥検出検査装置 |
| JPH08254677A (ja) * | 1994-10-14 | 1996-10-01 | Hitachi Electron Eng Co Ltd | 液晶パネルの点灯試験用コンタクト装置 |
| JPH09243660A (ja) * | 1996-03-05 | 1997-09-19 | Hitachi Electron Eng Co Ltd | 液晶パネルの試験用コンタクト装置 |
-
1998
- 1998-08-12 JP JP22844298A patent/JP3785821B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1999
- 1999-07-29 TW TW088112921A patent/TW436624B/zh not_active IP Right Cessation
- 1999-08-12 KR KR10-1999-0033121A patent/KR100529225B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1999-08-12 US US09/372,929 patent/US6300998B1/en not_active Expired - Fee Related
- 1999-08-12 CN CNB991177371A patent/CN1188730C/zh not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3785821B2 (ja) | 2006-06-14 |
| KR20000017280A (ko) | 2000-03-25 |
| CN1245291A (zh) | 2000-02-23 |
| KR100529225B1 (ko) | 2005-11-17 |
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| TW436624B (en) | 2001-05-28 |
| US6300998B1 (en) | 2001-10-09 |
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| C06 | Publication | ||
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| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| C14 | Grant of patent or utility model | ||
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