JPH10142570A - 液晶表示パネルの検査装置 - Google Patents
液晶表示パネルの検査装置Info
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- JPH10142570A JPH10142570A JP8296777A JP29677796A JPH10142570A JP H10142570 A JPH10142570 A JP H10142570A JP 8296777 A JP8296777 A JP 8296777A JP 29677796 A JP29677796 A JP 29677796A JP H10142570 A JPH10142570 A JP H10142570A
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- Japan
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- display panel
- liquid crystal
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- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 液晶表示パネルの絵素電極にプローブ針が正
常に接触しないために発生する輝線を、液晶表示パネル
の欠陥であると判定しないようにする。 【解決手段】 ステージ1上には検査すべき液晶表示パ
ネル2が吸着されており、その鉛直線上にプロービング
プレート3が設置されている。プロービングプレート3
は、液晶表示パネル2に配列された個々の絵素電極に検
査信号が印加されるように1対1で対応したプローブ針
6を複数本具備している。また、プロービングプレート
3には、プローブ針6を介して検査信号を液晶表示パネ
ル2の絵素電極に入力するための信号発生装置4が接続
されている。さらに、プロービングプレート3の側面に
は、液晶表示パネル2と平行な方向に所定の移動量で複
数回振動する圧電素子5が設置されている。
常に接触しないために発生する輝線を、液晶表示パネル
の欠陥であると判定しないようにする。 【解決手段】 ステージ1上には検査すべき液晶表示パ
ネル2が吸着されており、その鉛直線上にプロービング
プレート3が設置されている。プロービングプレート3
は、液晶表示パネル2に配列された個々の絵素電極に検
査信号が印加されるように1対1で対応したプローブ針
6を複数本具備している。また、プロービングプレート
3には、プローブ針6を介して検査信号を液晶表示パネ
ル2の絵素電極に入力するための信号発生装置4が接続
されている。さらに、プロービングプレート3の側面に
は、液晶表示パネル2と平行な方向に所定の移動量で複
数回振動する圧電素子5が設置されている。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示パネルの
検査装置に関する。
検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】液晶の電気光学効果をテレビ画像に利用
した表示素子として、液晶表示パネルが提供されてい
る。この液晶表示パネルは、行列状に配列された多数の
絵素電極と、それらの電極に印加された電圧に応じて光
を変調する液晶層とを備えている。
した表示素子として、液晶表示パネルが提供されてい
る。この液晶表示パネルは、行列状に配列された多数の
絵素電極と、それらの電極に印加された電圧に応じて光
を変調する液晶層とを備えている。
【0003】近年、このような液晶表示パネルの高品位
化に伴い、上記絵素電極に映像信号を印加する手法が用
いられているが、このようなスイッチング素子の形成工
程は複雑であり、このため、絵素の不良、走査線及び信
号線の断線、あるいはショート、さらにスイッチング素
子の不良等が問題となってくる。したがって、この種の
不良状態の検査及び解析は、最終製品の表示品位向上を
目指す上で特に重要となっている。
化に伴い、上記絵素電極に映像信号を印加する手法が用
いられているが、このようなスイッチング素子の形成工
程は複雑であり、このため、絵素の不良、走査線及び信
号線の断線、あるいはショート、さらにスイッチング素
子の不良等が問題となってくる。したがって、この種の
不良状態の検査及び解析は、最終製品の表示品位向上を
目指す上で特に重要となっている。
【0004】従来の検査方法としては、被検査体である
液晶表示パネルの多数の絵素電極配列に対応したプロー
ブ針が装着固定されたプロービングプレートを用意し、
該絵素電極にプローブ針を接触させることにより点灯検
査を実行している。
液晶表示パネルの多数の絵素電極配列に対応したプロー
ブ針が装着固定されたプロービングプレートを用意し、
該絵素電極にプローブ針を接触させることにより点灯検
査を実行している。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】液晶表示パネルには、
その1辺に対して連続した多数の絵素電極が形成されて
いる。そして上述したように、従来より、被検査体であ
る液晶表示パネルの多数の絵素電極配列に対応したプロ
ーブ針が装着固定されたプロービングプレートを用意
し、該絵素電極にプローブ針を接触させることにより点
灯検査を実行している。
その1辺に対して連続した多数の絵素電極が形成されて
いる。そして上述したように、従来より、被検査体であ
る液晶表示パネルの多数の絵素電極配列に対応したプロ
ーブ針が装着固定されたプロービングプレートを用意
し、該絵素電極にプローブ針を接触させることにより点
灯検査を実行している。
【0006】近年、S−VGA、XGAのような高精細
液晶表示パネルが主流となってきており、それに伴い絵
素電極の端子幅も狭ピッチになってきている。そのた
め、絵素電極の端子幅が狭くなり、プローブ針の余裕度
も減少し、その結果、プローブ針の何本かが、絵素電極
の端子に接触しない可能性が生じるという問題がある。
液晶表示パネルが主流となってきており、それに伴い絵
素電極の端子幅も狭ピッチになってきている。そのた
め、絵素電極の端子幅が狭くなり、プローブ針の余裕度
も減少し、その結果、プローブ針の何本かが、絵素電極
の端子に接触しない可能性が生じるという問題がある。
【0007】また、液晶表示パネルの点灯検査工程の前
の工程であるパネルの分断、面取り工程で付着したガラ
スのカレット屑や樹脂系の異物が、電極端子部分に付着
することが頻繁にあり、その結果、プローブ針が電極端
子に接触することができないという問題が発生する。こ
の場合、液晶表示パネルが点灯した時、液晶表示パネル
の表示画面に輝線が発生し、本来の欠陥との判別がつか
ず、検査の信頼性に影響を及ぼすことになる。
の工程であるパネルの分断、面取り工程で付着したガラ
スのカレット屑や樹脂系の異物が、電極端子部分に付着
することが頻繁にあり、その結果、プローブ針が電極端
子に接触することができないという問題が発生する。こ
の場合、液晶表示パネルが点灯した時、液晶表示パネル
の表示画面に輝線が発生し、本来の欠陥との判別がつか
ず、検査の信頼性に影響を及ぼすことになる。
【0008】そこで、上記問題の対策として、電圧を上
げてパネルの点灯検査を行うことが考えられるが、信号
入力用TABの耐圧上、限度があるので充分であるとは
言えない。また、プローブ針を電極端子に押し付ける力
を大きくすることも考えられるが、装置に過剰な負荷を
与えてしまうため、この好ましくない。
げてパネルの点灯検査を行うことが考えられるが、信号
入力用TABの耐圧上、限度があるので充分であるとは
言えない。また、プローブ針を電極端子に押し付ける力
を大きくすることも考えられるが、装置に過剰な負荷を
与えてしまうため、この好ましくない。
【0009】したがって、本発明は、上記従来の課題を
解決するためになされたものであり、液晶表示パネルの
絵素電極上にカレット屑、異物があっても、プローブ針
が正常に接触する液晶表示パネルの検査装置を提供する
ことを目的する。
解決するためになされたものであり、液晶表示パネルの
絵素電極上にカレット屑、異物があっても、プローブ針
が正常に接触する液晶表示パネルの検査装置を提供する
ことを目的する。
【0010】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明は、液晶
表示パネルの絵素電極配列に対応して複数のプローブ針
が装着固定されたプロービングプレートと、絵素電極に
プローブ針が接触した際に所定の信号を当該絵素電極に
入力するための信号発生装置と、前記プロービングプレ
ートの側面に設置された振動体とを備えた液晶表示パネ
ルの検査装置であって、液晶表示パネルの絵素電極に前
記プローブ針が接触した時に、前記振動体は液晶表示パ
ネルと平行な方向に所定の移動量で複数回振動し、前記
信号発生装置は前記プローブ針を介して前記所定の信号
を当該絵素電極に入力することにより液晶表示パネルの
表示不良を判定することを特徴とする液晶表示パネルの
検査装置である。
表示パネルの絵素電極配列に対応して複数のプローブ針
が装着固定されたプロービングプレートと、絵素電極に
プローブ針が接触した際に所定の信号を当該絵素電極に
入力するための信号発生装置と、前記プロービングプレ
ートの側面に設置された振動体とを備えた液晶表示パネ
ルの検査装置であって、液晶表示パネルの絵素電極に前
記プローブ針が接触した時に、前記振動体は液晶表示パ
ネルと平行な方向に所定の移動量で複数回振動し、前記
信号発生装置は前記プローブ針を介して前記所定の信号
を当該絵素電極に入力することにより液晶表示パネルの
表示不良を判定することを特徴とする液晶表示パネルの
検査装置である。
【0011】請求項2の発明は、請求項1において、前
記振動体の所定の移動量は、2〜10μmであることを
特徴とする液晶表示パネルの検査装置である。
記振動体の所定の移動量は、2〜10μmであることを
特徴とする液晶表示パネルの検査装置である。
【0012】請求項3の発明は、請求項2において、前
記振動体は、圧電素子、ソレノイド又はエアーシリンダ
であることを特徴とする液晶表示パネルの検査装置であ
る。
記振動体は、圧電素子、ソレノイド又はエアーシリンダ
であることを特徴とする液晶表示パネルの検査装置であ
る。
【0013】
【発明の実施の形態】以下、本発明の液晶表示パネルの
検査装置の一実施形態について、図面を参照しながら説
明する。本発明の液晶表示パネルの検査装置は、上述し
たように、プローブ針を液晶表示パネルの絵素電極に接
触させて、所定の信号を入力することにより、該液晶表
示パネルの表示不良を判定する検査装置である。
検査装置の一実施形態について、図面を参照しながら説
明する。本発明の液晶表示パネルの検査装置は、上述し
たように、プローブ針を液晶表示パネルの絵素電極に接
触させて、所定の信号を入力することにより、該液晶表
示パネルの表示不良を判定する検査装置である。
【0014】図1は本発明の液晶表示パネルの検査装置
を模式的に示す側面図である。図1に示すように、ステ
ージ1上には検査すべき液晶表示パネル2が吸着されて
おり、その鉛直線上にプロービングプレート3が設置さ
れている。このプロービングプレート3は、液晶表示パ
ネル2に配列された個々の絵素電極に検査信号が印加さ
れるように1対1で対応したプローブ針6を複数本具備
している。なお、ステージ1の中には、バックライトが
埋め込まれている。
を模式的に示す側面図である。図1に示すように、ステ
ージ1上には検査すべき液晶表示パネル2が吸着されて
おり、その鉛直線上にプロービングプレート3が設置さ
れている。このプロービングプレート3は、液晶表示パ
ネル2に配列された個々の絵素電極に検査信号が印加さ
れるように1対1で対応したプローブ針6を複数本具備
している。なお、ステージ1の中には、バックライトが
埋め込まれている。
【0015】また、プロービングプレート3には、プロ
ーブ針6を介して検査信号を液晶表示パネル2の絵素電
極に入力するための信号発生装置4が接続されている。
さらに、プロービングプレート3の側面には、液晶表示
パネル2と平行な方向に所定の移動量で複数回振動する
圧電素子5が設置されている。
ーブ針6を介して検査信号を液晶表示パネル2の絵素電
極に入力するための信号発生装置4が接続されている。
さらに、プロービングプレート3の側面には、液晶表示
パネル2と平行な方向に所定の移動量で複数回振動する
圧電素子5が設置されている。
【0016】次に、本発明の液晶表示パネルの検査装置
の動作について説明する。液晶表示パネル2は、図示し
ない搬送装置でステージ1上に精度良くセットされ、液
晶表示パネル2とプロービングプレート3との相対位置
をステージ1上で合わせた後、プロービングプレート3
を下降させ、絵素電極端子とプローブ針6とを接触させ
る。接触後、信号発生装置4は検査信号を液晶表示パネ
ル2に印加し、表示検査を行う。
の動作について説明する。液晶表示パネル2は、図示し
ない搬送装置でステージ1上に精度良くセットされ、液
晶表示パネル2とプロービングプレート3との相対位置
をステージ1上で合わせた後、プロービングプレート3
を下降させ、絵素電極端子とプローブ針6とを接触させ
る。接触後、信号発生装置4は検査信号を液晶表示パネ
ル2に印加し、表示検査を行う。
【0017】信号発生装置4は、電圧を可変して、赤全
面、青全面、緑全面もしくは中間調画面を液晶表示パネ
ル2に印加する。表示不良である欠陥には、線欠陥、点
欠陥、ムラ等がある。点欠陥には、輝点と黒点とがあ
り、輝点は中間調で、黒点は赤全面、青全面あるいは緑
全面で検出される。なお、線欠陥、ムラは中間調で検出
される。
面、青全面、緑全面もしくは中間調画面を液晶表示パネ
ル2に印加する。表示不良である欠陥には、線欠陥、点
欠陥、ムラ等がある。点欠陥には、輝点と黒点とがあ
り、輝点は中間調で、黒点は赤全面、青全面あるいは緑
全面で検出される。なお、線欠陥、ムラは中間調で検出
される。
【0018】線欠陥には、図2に示されるように、いく
つかの種類がある。図2(a)はソースバスラインの断
線により発生する欠陥であり、同図のように途中で線が
切れるのが特徴である。図2(b)はソースバスライン
とゲートバスラインのクロス部がリークすることにより
発生する欠陥であり、同図のように線がクロスするのが
特徴である。図2(c)は上記説明の絵素電極端子とプ
ローブ針との接触不良による輝線であり、線が途中で切
れない連続線になることが特徴である。なお、液晶表示
パネル2の静電破壊でも同様の連続線になることがある
が、特別な検査信号を印加して、見極める必要がある。
つかの種類がある。図2(a)はソースバスラインの断
線により発生する欠陥であり、同図のように途中で線が
切れるのが特徴である。図2(b)はソースバスライン
とゲートバスラインのクロス部がリークすることにより
発生する欠陥であり、同図のように線がクロスするのが
特徴である。図2(c)は上記説明の絵素電極端子とプ
ローブ針との接触不良による輝線であり、線が途中で切
れない連続線になることが特徴である。なお、液晶表示
パネル2の静電破壊でも同様の連続線になることがある
が、特別な検査信号を印加して、見極める必要がある。
【0019】図3(a)はプローブ針と液晶表示パネル
との間に異物が挟まれた場合、図3(b)は検査の前工
程で予期せぬ絶縁物が電極端子上に残っている場合をそ
れぞれ説明する拡大側面図である。これらの対策とし
て、プローブ針6と液晶表示パネル2の電極端子7との
接触不良であると判断される場合、液晶表示パネル2と
プローブ針6とが接触している状態で圧電素子5を液晶
表示パネル2と平行な方向に所定の移動量で複数回振動
させることにより、異物を除去したり、または絶縁膜を
破り、正常な点灯状態にする。
との間に異物が挟まれた場合、図3(b)は検査の前工
程で予期せぬ絶縁物が電極端子上に残っている場合をそ
れぞれ説明する拡大側面図である。これらの対策とし
て、プローブ針6と液晶表示パネル2の電極端子7との
接触不良であると判断される場合、液晶表示パネル2と
プローブ針6とが接触している状態で圧電素子5を液晶
表示パネル2と平行な方向に所定の移動量で複数回振動
させることにより、異物を除去したり、または絶縁膜を
破り、正常な点灯状態にする。
【0020】本実施形態では、圧電素子5の所定の移動
量を2〜10μmとし、0.5秒の振幅で10往復振動
させる。なお、プローブ針6の折れや曲がりに対して
は、圧電素子5の移動量を調整することによって防ぐこ
とができる。また、本実施形態においては、プロービン
グプレート3を振動させる振動体として圧電素子5を用
いたが、これに限定されず、例えば、ソレノイドやエア
ーシリンダ等の振動体を用いてもよい。このとき、2〜
10μm程度の振幅を得るためには、上記振動体とプロ
ービングプレート3との間にテコを設けてやればよい。
量を2〜10μmとし、0.5秒の振幅で10往復振動
させる。なお、プローブ針6の折れや曲がりに対して
は、圧電素子5の移動量を調整することによって防ぐこ
とができる。また、本実施形態においては、プロービン
グプレート3を振動させる振動体として圧電素子5を用
いたが、これに限定されず、例えば、ソレノイドやエア
ーシリンダ等の振動体を用いてもよい。このとき、2〜
10μm程度の振幅を得るためには、上記振動体とプロ
ービングプレート3との間にテコを設けてやればよい。
【0021】
【発明の効果】以上詳述したように、本発明の液晶表示
パネルの検査装置によれば、プロービングプレートを振
動させることにより、液晶表示パネルの電極端子とプロ
ーブ針との接触不良により発生する輝線を除去すること
ができ、信頼性の高い検査を実行することができる。
パネルの検査装置によれば、プロービングプレートを振
動させることにより、液晶表示パネルの電極端子とプロ
ーブ針との接触不良により発生する輝線を除去すること
ができ、信頼性の高い検査を実行することができる。
【図1】本発明の液晶表示パネルの検査装置を模式的に
示す側面図である。
示す側面図である。
【図2】(a)〜(c)は液晶表示パネルの線欠陥の種
類をそれぞれ示す模式図である。
類をそれぞれ示す模式図である。
【図3】(a)はプローブ針と液晶表示パネルとの間に
異物が挟まれた場合を説明する拡大側面図であり、
(b)は検査の前工程で予期せぬ絶縁物が電極端子上に
残っている場合を説明する拡大側面図である。
異物が挟まれた場合を説明する拡大側面図であり、
(b)は検査の前工程で予期せぬ絶縁物が電極端子上に
残っている場合を説明する拡大側面図である。
1 ステージ 2 液晶表示パネル 3 プロービングプレート 4 信号発生装置 5 圧電素子 6 プローブ針
Claims (3)
- 【請求項1】 液晶表示パネルの絵素電極配列に対応し
て複数のプローブ針が装着固定されたプロービングプレ
ートと、絵素電極にプローブ針が接触した際に所定の信
号を当該絵素電極に入力するための信号発生装置と、前
記プロービングプレートの側面に設置された振動体とを
備えた液晶表示パネルの検査装置であって、液晶表示パ
ネルの絵素電極に前記プローブ針が接触した時に、前記
振動体は液晶表示パネルと平行な方向に所定の移動量で
複数回振動し、前記信号発生装置は前記プローブ針を介
して前記所定の信号を当該絵素電極に入力することによ
り液晶表示パネルの表示不良を判定することを特徴とす
る液晶表示パネルの検査装置。 - 【請求項2】 前記振動体の所定の移動量は、2〜10
μmであることを特徴とする請求項1記載の液晶表示パ
ネルの検査装置。 - 【請求項3】 前記振動体は、圧電素子、ソレノイド又
はエアーシリンダであることを特徴とする請求項2記載
の液晶表示パネルの検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8296777A JPH10142570A (ja) | 1996-11-08 | 1996-11-08 | 液晶表示パネルの検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8296777A JPH10142570A (ja) | 1996-11-08 | 1996-11-08 | 液晶表示パネルの検査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10142570A true JPH10142570A (ja) | 1998-05-29 |
Family
ID=17838004
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8296777A Pending JPH10142570A (ja) | 1996-11-08 | 1996-11-08 | 液晶表示パネルの検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH10142570A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN100451742C (zh) * | 2007-07-06 | 2009-01-14 | 友达光电股份有限公司 | 液晶面板检测方法及装置 |
CN103176299A (zh) * | 2013-03-08 | 2013-06-26 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 探测装置及液晶配向机 |
JP2013181824A (ja) * | 2012-03-01 | 2013-09-12 | Mitsubishi Electric Corp | 電気特性測定方法、コンタクトプローブ |
CN109036232A (zh) * | 2018-08-03 | 2018-12-18 | 武汉精测电子集团股份有限公司 | 显示面板自动点屏装置 |
-
1996
- 1996-11-08 JP JP8296777A patent/JPH10142570A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN100451742C (zh) * | 2007-07-06 | 2009-01-14 | 友达光电股份有限公司 | 液晶面板检测方法及装置 |
JP2013181824A (ja) * | 2012-03-01 | 2013-09-12 | Mitsubishi Electric Corp | 電気特性測定方法、コンタクトプローブ |
CN103176299A (zh) * | 2013-03-08 | 2013-06-26 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 探测装置及液晶配向机 |
CN109036232A (zh) * | 2018-08-03 | 2018-12-18 | 武汉精测电子集团股份有限公司 | 显示面板自动点屏装置 |
CN109036232B (zh) * | 2018-08-03 | 2023-09-29 | 武汉精测电子集团股份有限公司 | 显示面板自动点屏装置 |
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