KR950001343A - 표시장치의 검사장치 및 검사방법 - Google Patents
표시장치의 검사장치 및 검사방법 Download PDFInfo
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Abstract
본 발명의 검사장치는 액티브매트릭스 기판상에 형성된 제1 및 제 2 버스라인을 포함하는 표시장치를 검사한다. 이 검사장치는 각각 한쌍의 기판과 그 사이에 삽입된 접속막을 갖고 있는 제 1 기판 유닛 및 제 2 기판 유닛을 포함한다. 각기판 유닛의 한개 기판상에는 검사단자 및 제 1 검사배선이 형성되고 또 각 검사배선은 한개의 검사단자에 접속된다. 각 기판 유닛의 다른 기판상에는 제 2 검사배선이 제공된다. 기판의 제1 및 제 2 검사배선은 접속막에 의해 선택적으로 접속된다. 검사하는 동안, 제 1 기판 유닛의 제 2 검사배선은 제 1 버스 라인과 직접적으로 접촉되어 각 제 1 버스 라인이 제 1 기판 유닛의 검사단자중의 한개의 접속된다. 각 제 2 버스 라인은 각 제 2 검사배선을 통하여 동일한 방식으로 제 2 기판 유닛의 검사단자중의 한개에 접속된다. 이 장치는 또한 표시장치의 표시검사에 필요한 구동신호를 각 기판 유닛의 검사단자에 공급하기 위한 구동신호 입력회로 ; 표시장치는 제1 및 제 2 버스 라인의 저항을 측정하기 위한 저항측정 수단 ; 및 구동신호 입력회로 또는 저항측정 수단중의 한개를 제1 및 제 2 기판 유닛에 접속하기 위한 부분을 포함한다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제 1 도는 본 발명의 검사장치의 구성을 도시한 개략도, 제 3A 도 및 제 3B 도는 각각 제 1 기판의 평면도 및 단면도.
Claims (7)
- 액티브매트릭스 기판, 대향기판 및 그 액티브매트릭스 기판과 대향기판 사이에 삽입된 표시매체를 갖는 표시장치에서, 액티브매트릭스 기판상에는 복수의 제 1 버스 라인과 복수의 제 2 버스 라인이 설치되어 있는 표시장치를 검사하기 위한 장치에 있어서, 복수의 제 1 검사단자, 복수의 제 1 검사배선, 복수의 제 2 검사배선, 및 검사단자와 배선을 지지하는 제 1 지지수단을 갖는 제 1 기판 유닛에서, 각 제 1 검사배선은 제 1 검사단자중의 1개에 접속되어 있고, 제 2 검사배선은 제 1 검사배선이 제공된 면과는 상이한 제 1 지지 수단의 면상에 설치되어 있으며, 각 제 2 검사배선은 제 1 접속수단에 의해 제 1 검사배선중의 한개에 선택적으로 접속되어 있고, 제 2 검사 배선을 제 1 버스 라인과 직접 접촉시키면 각 제 1 버스 라인의 제 1 검사단자중의 1개와 접속되는 제 1 기판 유닛 ; 복수의 제 2 검사단자, 복수의 제 3 검사배선, 복수의 제 4 검사배선, 및 검사단자와 배선을 지지하는 제 2 지지수단을 갖는 제 2 기판 유닛에서, 각 제 3 검사배선은 제 2 검사단자중의 1개의 접속되어 있고, 제 4 검사배선은 제 3 검사배선이 설치된 면과는 상이한 제 2 지지 수단의 면상에 설치되어 있으며, 각 제 4 검사배선은 제 2 접속수단에 의해 제 2 검사배선중의 한개에 선택적으로 접속되어 있고, 제 4 검사배선을 제 2 버스 라인에 직접 접촉시키면 각 제 4 버스 라인이 제 2 검사단자중의 1개에 접속되는 제 2 의 기판 유닛 ; 표시장치의 표시검사를 실행하기 위한 구동신호를 제 1 검사단자 및 제 2 검사단자에 공급하는 구동신호 입력수단 ; 표시장치의 제 1 버스 라인 및 제 2 버스 라인의 저항을 측정하는 저항 측정 수단 ; 및 구동신호 입력수단과 저항 측정수단중 어느 하나를 제 1 기관 유닛 및 제 2 기관 유닛과 접속시키는 수단을 포함하는 표시장치의 검사장치.
- 제 1 항에 있어서, 제 1 지지수단은 제 1 검사단자 및 제 1 검사배선이 표면상에 설치된 제 1 기판과 제 2 검사배선이 표면상에 설치된 제 2 기판을 갖고 있고, 제 1 기판과 제 2 기판은 제 1 검사배선과 제 2 검사배선이 대향하도록 배치되어 있고, 또 제 1 기판과 제 2 기판 사이에 제 1 접속수단인 도전막이 형성되어 있는 장치.
- 제 2 항에 있어서, 제 2 지지수단은 제 2 검사단자 및 제 3 검사배선이 표면상에 설치된 제 3 기판과 제 4 검사배선이 표면상에 설치된 제 4 기판을 갖고 있고, 제 3 기판과 제 4 기판은 제 3 검사배선과 제 4 검사배선이 대향하도록 배치되어 있으며 제 3 기판과 제 4 기판 사이에 제 2 접속수단인 도전막이 형성되어 있는 장치.
- 제 3항에 있어서, 제 1 검사단자의 갯수는 소정갯수로 정해지고, 제 1 검사배선은 제 1 검사단자의 소정갯수와 동일한 갯수의 군으로 나눠지며, 그중 일개 군에 속하는 제 1 검사배선은 다른 군에 속하는 제 1 검사배선이 접속된 제 1 검사단자와는 상이한 한개의 제 1 검사단자에 접속되어 있는 장치.
- 제 4 항에 있어서, 제 2 검사단자의 갯수는 소정갯수로 정해지고, 제 3 검사배선은 제 3 검사단자의 소정갯수와 동일한 갯수의 군으로 나눠지며, 그중 일개 군에 속하는 제 3 검사배선은 다른 군에 속하는 제 3 검사배선에 접속된 제 2 검사단자와는 상이한 제 2 검사단자에 접속되어 있는 장치.
- 제 5 항에 있어서, 제 2 검사배선 및 제 4 검사배선이 각각 제 1 버스 라인 및 제 2 버스 라인과 동일한 피치로 형성되어 있는 장치.
- 제 2 검사배선과 제 1 버스 라인이 정렬되도록 제 1 기판 유닛을 표시장치에 접속하고, 제 4 검사배선 및 제 2 버스 라인이 정렬되도록 제 2 기판 유닛을 표시장치에 접속하는 단계 ; 및 표시장치의 표시상태를 검사하는 모드와 제 1 버스 라인 및 제 2 버스 라인 사이의 저항을 측정하는 모드의 절환을 실행하는 단계를 포함하는, 제 1 항에 기재된 검사장치를 이용한 표시장치의 검사방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101219037B1 (ko) * | 2005-07-01 | 2013-01-09 | 삼성디스플레이 주식회사 | 박막 표시판 및 그 제조 방법 |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5543724A (en) * | 1994-10-03 | 1996-08-06 | Motorola, Inc. | Method and apparatus for locating conductive features and testing semiconductor devices |
JPH08201841A (ja) * | 1994-11-24 | 1996-08-09 | Toshiba Electron Eng Corp | 表示装置及びその検査方法 |
JP3315834B2 (ja) * | 1995-05-31 | 2002-08-19 | 富士通株式会社 | 薄膜トランジスタマトリクス装置及びその製造方法 |
JP3251474B2 (ja) * | 1995-09-06 | 2002-01-28 | シャープ株式会社 | アクティブマトリクス基板 |
US5754678A (en) * | 1996-01-17 | 1998-05-19 | Photon Dynamics, Inc. | Substrate inspection apparatus and method |
JP3511861B2 (ja) * | 1996-10-04 | 2004-03-29 | セイコーエプソン株式会社 | 液晶表示パネル及びその検査方法、並びに液晶表示パネルの製造方法 |
TW527513B (en) * | 2000-03-06 | 2003-04-11 | Hitachi Ltd | Liquid crystal display device and manufacturing method thereof |
KR100596965B1 (ko) * | 2000-03-17 | 2006-07-04 | 삼성전자주식회사 | 구동신호 인가모듈, 이를 적용한 액정표시패널 어셈블리 및 이 액정표시패널 어셈블리의 구동신호 검사 방법 |
US6881975B2 (en) * | 2002-12-17 | 2005-04-19 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and method of manufacturing the same |
JP2004311593A (ja) * | 2003-04-03 | 2004-11-04 | Sharp Corp | 電磁波検出器およびアクティブマトリクス基板 |
KR100752938B1 (ko) * | 2006-08-03 | 2007-08-30 | 마이크로 인스펙션 주식회사 | 볼을 이용한 접촉식 프로브 |
CN103293771B (zh) * | 2013-06-26 | 2015-11-25 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 液晶配向检查机及方法 |
JP2015169760A (ja) * | 2014-03-06 | 2015-09-28 | 株式会社ジャパンディスプレイ | 表示装置の製造方法、表示装置および表示装置形成基板 |
CN105093574B (zh) * | 2015-06-05 | 2018-06-08 | 京东方科技集团股份有限公司 | 显示面板检测台 |
US9947255B2 (en) * | 2016-08-19 | 2018-04-17 | Apple Inc. | Electronic device display with monitoring circuitry |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06100891B2 (ja) * | 1986-11-12 | 1994-12-12 | 松下電器産業株式会社 | 液晶表示装置の欠陥検査方法 |
JPH0727008B2 (ja) * | 1987-10-07 | 1995-03-29 | 東京エレクトロン九州株式会社 | 検査方法 |
JPH01142594A (ja) * | 1987-11-27 | 1989-06-05 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | マトリクス型画像表示装置の製造方法 |
JPH0711641B2 (ja) * | 1988-08-25 | 1995-02-08 | 松下電器産業株式会社 | アクティブマトリックス基板 |
JPH02198425A (ja) * | 1989-01-27 | 1990-08-06 | Seiko Epson Corp | アクティブマトリクス基板 |
US5179345A (en) * | 1989-12-13 | 1993-01-12 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for analog testing |
JPH04351972A (ja) * | 1990-04-26 | 1992-12-07 | Genrad Inc | フラットパネルディスプレイ用制御マトリックスの試験方法 |
JPH04208834A (ja) * | 1990-12-04 | 1992-07-30 | Ezel Inc | 液晶パネルの検査方法 |
JP2780543B2 (ja) * | 1991-11-06 | 1998-07-30 | 日本電気株式会社 | 液晶表示基板及び液晶表示装置 |
-
1993
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1994
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101219037B1 (ko) * | 2005-07-01 | 2013-01-09 | 삼성디스플레이 주식회사 | 박막 표시판 및 그 제조 방법 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
NL9400925A (nl) | 1995-01-02 |
NL195017C (nl) | 2003-06-10 |
US5473261A (en) | 1995-12-05 |
KR0142014B1 (ko) | 1998-06-15 |
JPH06347813A (ja) | 1994-12-22 |
JP2820233B2 (ja) | 1998-11-05 |
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