JPH0648551Y2

JPH0648551Y2 - アクテイブマトリクス表示装置

Info

Publication number: JPH0648551Y2
Application number: JP1986163501U
Authority: JP
Inventors: 忍角
Original assignee: Casio Computer Co Ltd
Current assignee: Casio Computer Co Ltd
Priority date: 1986-10-27
Filing date: 1986-10-27
Publication date: 1994-12-12
Anticipated expiration: 2001-10-27
Also published as: JPS6370596U

Description

【考案の詳細な説明】［考案の技術分野］この考案は画像等の情報を表示するアクティブマトリク
ス表示装置に関する。

［従来技術］従来、一対の透明基板間に液晶を封入するとともに、そ
の対向面に透明電極を設け、この透明電極間に所定の電
圧を印加することにより、テレビ映像等の画像を表示す
るアクティブマトリクス表示素子がある。この表示素子
は一対の透明基板のうち、一方の透明基板に第６図に示
すような信号用回路が形成されている。即ち、透明基板
１の上面、つまり他方の透明基板（図示せず）との対向
面には透明電極（図示せず）がナトリクス状に多数配列
されているとともに、この透明電極と対向してそれぞれ
薄膜トランジスタ２・・・が形成されており、しかも透
明電極間にはゲートライン３・・・が横方向に、ドレイ
ライン４・・・が縦方向にそれぞれ形成されている。こ
の場合、ゲートライン３・・・およびドレインライン４
・・・はその各端部がそれぞれ交互に透明基板１の両端
に導出されている。なお、他方の透明基板には透明導電
膜が形成されている。

［従来技術の問題点］上記のような透明基板において、ゲートライン３・・・
およびドレインライン４・・・の断線等の不良を検査す
る場合には、総てのゲートライン３・・・の端子、およ
び総てのドレインライン４・・・の端子に検査子を接触
させて測定している。また、ゲートライン３・・・とド
レインライン４・・・との短絡不良を検査する場合に
は、各ゲートライン３・・・に対して総てのドレインラ
イン４・・・に検査子を接触させて測定している。その
ため、検査作業が極めて煩雑で、時間がかかるという欠
点があった。

［考案の目的］この考案は上述した事情に鑑みてなされたもので、その
目的とするところは、薄膜トランジスタのゲートライン
やドレインライン等の配線の断線や短絡等の不良を簡単
かつ容易に検査することができるアクティブマトリクス
表示装置を提供することにある。

［考案の要点］この考案は上述した目的を達成するために、一対の透明
基板のうち一方の透明基板上に、透明電極及びこの透明
電極に接続された薄膜トランジスタをマトリクス状に配
列するとともに、これらの間に前記薄膜トランジスタの
ゲート電極をそれぞれ接続する配線と前記薄膜トランジ
スタのドレイン電極をそれぞれ接続する配線とが縦横に
形成された信号用回路と、この信号用回路の横方向もし
くは縦方向に配列された複数の前記配線をそれぞれの端
部で互いに直列に接続する試験用回路とを設けたもので
ある。

［実施例］以下、第１図および第４図を参照して、この考案の一実
施例を説明する。この場合、上述した従来例と同一部分
には同一符号を付し、その説明は省略する。

第１図はアクティブマトリクス表示装置の一方の透明基
板１を示す。この透明基板１の上面、つまり他方の透明
基板（図示せず）との対向面には信号用回路と検査用回
路とが設けられている。

即ち、信号用回路は上述した従来例と同様に、透明基板
１の上面に透明電極（図示せず）および薄膜トランジス
タ２・・・がマトリクス状に多数配列され、この透明電
極および薄膜トランジスタ２・・・間にゲートライン３
・・・およびドレインライン４・・・が縦横に形成され
ている。この場合、ゲートライン３・・・は横方向に形
成され、ドレインライン４・・・は横方向に形成されて
おり、各ライン３・・・、４・・・の端部はそれぞれ交
互に透明基板１の両端部に導出されている。

検査用回路は信号用回路のゲートライン３・・・および
ドレインライン４・・・を直列に接続するものであり、
総てのゲートライン３・・・を直列に接続する検査用の
薄膜トランジスタ５・・・と、総てのドレインライン４
・・・を直列に接続する検査用の薄膜トランジスタ６・
・・とが信号用回路の外側に設けられており、かつ薄膜
トランジスタ５・・・、６・・・は信号用回路の各薄膜
トランジスタ２・・・と同時に成形され、これら各薄膜
トランジスタ５・・・、６・・・の外周には検査ライン
７が形成されている。この場合、ゲートライン３・・・
を接続する検査用の薄膜トランジスタ５はそのソース電
極とドレイン電極がそれぞれ隣接するゲートライン３、
３に接続されているとともに、そのゲート電極が周囲の
検査ライン７に接続されている。また、ドレインライン
４・・・を接続する検査用の薄膜トランジスタ６はその
ソース電極とドレイン電極がそれぞれ隣接するドレイン
ライン４、４に接続されているとともに、そのゲート電
極が周囲の検査ライン７に接続されている。なお、検査
ライン７からは検査端子7aが左下側に導出されている。
したがって、検査ライン７の検査端子7aに所定の電圧が
印加されると、検査用の総て薄膜トランジスタ５・・
・、６・・・の各ゲート電極に電圧が印加され、総ての
ソース電極とドレイン電極とが導通状態（オン状態）と
なる。

次に、上記のように構成されたアクティブマトリクス表
示装置の一対の透明基板のうち、一方の透明基板１に形
成された信号用回路を検査する場合について説明する。

まず、ゲートライン３・・・とドレインライン４・・・
の断線不良を検査する場合には、予め、検査ライン７の
検査端子7aに検査用電圧を印加して、信号用回路の外周
に設けられた検査用回路の総ての検査用の薄膜トランジ
スタ５・・・、６・・・をオン状態にする。すると、ゲ
ートライン３・・・とドレインライン４・・・とはそれ
ぞれ直列に接続される。この状態で、第２図に示すよう
に、最上部のゲートライン３と最下部のゲートライン３
の対角に位置する端子部3a、3bに検査器８の検査子8a、
8aを接触させて、検査器８の検査用電源９で所定の電圧
を印加すると、薄膜トランジスタ５・・・により総ての
ゲートライン３・・・が直列に接続されているので、各
ゲートライン３・・・に断線等の不良がなければ、検査
器８内の電流計10に一定の電流が流れ、断線等があれ
ば、電流は流れない。これにより、ゲートライン３・・
・の断線等の不良を一括して検査することができる。

また、上記のように総ての検査用の薄膜トランジスタ５
・・・、６・・・をオンした状態で、最左部のドレイン
ライン４と最右部のドレインライン４の対角に位置する
端子部4a、4bに上述した検査器８の検査子8a、8aを接続
させて、所定の電圧を印加すると、検査用の薄膜トラン
ジスタ６・・・により総てのドレインライン４・・・が
直列に接続されているので、上述したように各ドレイン
ライン４・・・に断線等の不良がなければ、検査器８の
電流計10に一定の電流が流れ、断線等があれば、電流は
流れない。これにより、ドレインライン４・・・の断線
等の不良を一括して検査することができる。

さらに、ゲートライン３・・・とドレインライン４・・
・との短絡等の不良を検査する場合には、上述したよう
に検査ライン７の検査端子7aに検査用電圧を印加して、
総ての検査用の薄膜トランジスタ５・・・、６・・・を
オンさせた状態で、第３図に示すように、最上部のゲー
トライン３の端子部3aと最左部のドレインライン４の端
子部4aとに検査器８の検査子8a、8aをそれぞれ接触させ
て、検査用の電源９で所定の電圧を印加すれば、ゲート
ライン３・・・とドレインライン４・・・との間に短絡
不良があると、検査器８内の電流計10に電流が流れ、短
絡不良がなければ、電流は流れない。これにより、ゲー
トライン３・・・とドレインライン４・・・との間の短
絡不良を総て一括して検査することができる。この場
合、第３図に２点鎖線で示すように、最下部のゲートラ
イン３の端子部3bと最右部のドレインライン４の端子部
4bとに検査器８の検査子8a、8aをそれぞれ接触させても
同様に検査することができる。

このようにして検査された透明基板１は、検査ライン７
の検査端子7aに印加された検査用電圧を断って総ての検
査用の薄膜トランジスタ５・・・、６・・・をオフ状態
にし、この状態で第４図に示すようにゲートライン３・
・・にゲート駆動部11、11からゲート信号を与え、ドレ
インライン４・・・にドレイン駆動部12、12でドレイン
信号を与えれば、これらの各信号に応じたテレビ映像等
の画像を表示する。

しかるに、上記のようなアクティブマトリクス表示装置
によれば、検査用の薄膜トランジスタ５・・・、６・・
・ゲートライン３・・・およびドレインライン６・・・
を切換可能に直列に接続したので、ゲートライン３・・
・およびドレインライン４・・・の断線、短絡等の配線
不良状態をそれぞれ一度に一括して検査することができ
る。そのため、検査作業が極めて簡単かつ容易にでき、
短時間で検査することができる。しかも、検査用の薄膜
トランジスタ５・・・、６・・・が信号用回路の外周に
設けられているので、検査用の薄膜トランジスタ５・・
・、６・・・が正しく動作すれば、信号用回路の薄膜ト
ランジスタ２・・・も正しく動作することが確認でき、
薄膜トランジスタの動作特性をも測定できる。

なお、上述した実施例ではゲートライン３・・・を検査
用の薄膜トランジスタ５・・・で、またドレインライン
４・・・を検査用の薄型トランジスタ６・・・でそれぞ
れ直列に接続したが、この考案はこれに限られることな
く、例えば、第５図に示すように構成しても良い。この
場合には、アクティブマトリクス表示装置の透明基板20
を上述した透明基板１よりも１周り大きく形成し、その
上面に上述した信号用回路を形成し、かつ透明基板20の
周辺部において、総てのゲートライン３・・・を検査用
の接続配線パターン２′・・・で直列に接続するととも
に、総てのドレインライン４・・・を検査用の接続配線
パターン22・・・で直列に接続することにより、試験用
回路を構成する。したがって、このようなアクティブマ
トリクス表示装置の透明基板20によれば、上述した実施
例と同様に総てのゲートライン３・・・およびドレイン
ライン４・・・の断線、短絡等の配線不良をそれぞれ一
度に一括して検査することができる。しかも、検査後に
は１点鎖線で示す位置で透明基板20を切断して検査用の
各接続配線パターン21・・・、22・・・を除去すれば、
良好なアクティブマトリクス表示装置を得ることができ
る。

［考案の効果］以上詳細に説明したように、この考案のアクティブマト
リクス表示装置によれば、基板上に透明電極および薄膜
トランジスタをマトリクス状に配列した信号用回路の横
方向もしくは縦方向の配線を試験用回路で直列的に接続
したので、薄膜トランジスタのゲートラインやドレイン
ライン等の配線の断線や短絡等の不良を簡単かつ容易に
検査することができるという利点がある。

【図面の簡単な説明】

第１図から第４図はこの考案の一実施例を示し、第１図
はアクティブマトリクス表示装置の一方の透明基板の平
面図、第２図はそのゲートラインおよびドレインライン
の断線不良を検査する状態を示す図、第３図はゲートラ
インとドレインラインの短絡不良を検査する状態を示す
図、第４図はその使用状態を示す図、第５図は他の実施
例を示す図、第６図は従来例を示す図である。１、20……透明基板、２……薄膜トランジスタ、３……
ゲートライン、４……ドレインライン、５、６……検査
用の薄膜トランジスタ、７……検査ライン、21、22……
検査用の接続配線パターン。

Claims

【実用新案登録請求の範囲】

【請求項１】一対の透明基板間に液晶を封入し、その対
向面に形成された透明な電極に所定の電圧を印加して画
像等の情報を表示するアクテイブマトリクス表示装置に
おいて、前記一対の透明基板のうち一方の透明基板上に透明電極
およびこの透明電極に接続された薄膜トランジスタをマ
トリクス状に配列するとともに、これらの間に前記薄膜
トランジスタのゲート電極をそれぞれ接続する配線と前
記薄膜トランジスタのドレイン電極をそれぞれ接続する
配線とが縦横に形成された信号用回路と、この信号用回
路の横方向もしくは縦方向に配列された複数の前記配線
をそれぞれの端部で互いに直列に接続する試験用回路と
を備えてなるアクテイブマトリクス表示装置。