JP2002357628A - 金属ベース回路基板の検査方法 - Google Patents
金属ベース回路基板の検査方法Info
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- JP2002357628A JP2002357628A JP2001167858A JP2001167858A JP2002357628A JP 2002357628 A JP2002357628 A JP 2002357628A JP 2001167858 A JP2001167858 A JP 2001167858A JP 2001167858 A JP2001167858 A JP 2001167858A JP 2002357628 A JP2002357628 A JP 2002357628A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】回路基板の短絡の有無に関する検査処理能力を
高い設備費を要することなく高めること。 【解決手段】複数の個別回路を有する金属ベース回路基
板の前記個別回路の短絡箇所を検出する方法であって、
金属ベース回路基板上の全ての個別回路を電気的に直列
に結線して一つの導電路とするとともに、前記導電路の
所望の位置間の電圧降下を測定できるように電圧計を設
けて、一つの電気回路となし、前記電気回路全体に電流
を負荷して、電圧計の指示する値を予め設定された値と
比較することにより、短絡箇所を検出することを特徴と
する金属ベース回路基板の検査方法。
高い設備費を要することなく高めること。 【解決手段】複数の個別回路を有する金属ベース回路基
板の前記個別回路の短絡箇所を検出する方法であって、
金属ベース回路基板上の全ての個別回路を電気的に直列
に結線して一つの導電路とするとともに、前記導電路の
所望の位置間の電圧降下を測定できるように電圧計を設
けて、一つの電気回路となし、前記電気回路全体に電流
を負荷して、電圧計の指示する値を予め設定された値と
比較することにより、短絡箇所を検出することを特徴と
する金属ベース回路基板の検査方法。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、金属ベース回路基
板を初めとする各種のプリント回路基板の回路の導通特
性、ことに回路内或いは回路間の短絡を検出する方法に
関する。
板を初めとする各種のプリント回路基板の回路の導通特
性、ことに回路内或いは回路間の短絡を検出する方法に
関する。
【０００２】
【従来の技術】広範囲の用途で用いられているいろいろ
なプリント回路基板は、その電気的信頼性を確保するた
めに、出荷に際していろいろな特性が確認されるが、そ
の基本的な特性として、回路内或いは回路間の短絡の有
無がチェックされている。
なプリント回路基板は、その電気的信頼性を確保するた
めに、出荷に際していろいろな特性が確認されるが、そ
の基本的な特性として、回路内或いは回路間の短絡の有
無がチェックされている。
【０００３】従来、プリント回路基板の抵抗値を測定す
る方法として、以下の方法が公知である。
る方法として、以下の方法が公知である。
【０００４】（方法１）回路の両端のランドのそれぞれ
に、１対の定電流端子と電圧検出端子を持つ測定端子を
接触させ、それらを低抵抗測定器を接続して、抵抗値を
測定する（４端子法に基づく）。１枚のプリント回路基
板に複数個の測定個所がある場合には、それら測定個所
毎について順次測定をする必要がある。従って、この方
法は、測定に時間が掛かり、例えば回路数が１０程度の
基板の場合に、３０〜５０秒程度の時間を必要とするの
で、生産性が低いという問題がある。
に、１対の定電流端子と電圧検出端子を持つ測定端子を
接触させ、それらを低抵抗測定器を接続して、抵抗値を
測定する（４端子法に基づく）。１枚のプリント回路基
板に複数個の測定個所がある場合には、それら測定個所
毎について順次測定をする必要がある。従って、この方
法は、測定に時間が掛かり、例えば回路数が１０程度の
基板の場合に、３０〜５０秒程度の時間を必要とするの
で、生産性が低いという問題がある。
【０００５】（方法２）抵抗を測定する回路の両端にあ
るランドの位置に合わせて接触ピンを有する治具を作製
し、この治具に、（方法１）で用いる測定端子を接続す
る。この治具を用いて、測定したいプリント回路基板の
所定の回路部に前記接触ピンを接触させるように取り付
け、１度に複数の回路抵抗を測定する。この方法では、
回路数に応じた治具、測定端子並びに低抵抗測定器を要
するので、設備費が高い欠点がある。
るランドの位置に合わせて接触ピンを有する治具を作製
し、この治具に、（方法１）で用いる測定端子を接続す
る。この治具を用いて、測定したいプリント回路基板の
所定の回路部に前記接触ピンを接触させるように取り付
け、１度に複数の回路抵抗を測定する。この方法では、
回路数に応じた治具、測定端子並びに低抵抗測定器を要
するので、設備費が高い欠点がある。
【０００６】（方法３）プリント回路基板の抵抗を測定
する回路両端にあるランドの位置に合わせて接触ピンを
有する治具を作製し、この治具を介して測定することは
方法２と同様であるが、本方法では、測定端子と接触ピ
ンとの間の回路が切り替え可能であるように工夫されて
いる。この治具を回路抵抗値を測定するプリント回路基
板に治具を取り付け、各抵抗回路毎に切り替え器を介し
て１台の低抵抗測定器で順次回路部の抵抗を測定する。
この方法によれば、例えば回路数が１０程度の基板の場
合に、約１秒／回路基板の処理能力が達成できるもの
の、特殊構造を有し、高価な治具を必要とする欠点があ
る。
する回路両端にあるランドの位置に合わせて接触ピンを
有する治具を作製し、この治具を介して測定することは
方法２と同様であるが、本方法では、測定端子と接触ピ
ンとの間の回路が切り替え可能であるように工夫されて
いる。この治具を回路抵抗値を測定するプリント回路基
板に治具を取り付け、各抵抗回路毎に切り替え器を介し
て１台の低抵抗測定器で順次回路部の抵抗を測定する。
この方法によれば、例えば回路数が１０程度の基板の場
合に、約１秒／回路基板の処理能力が達成できるもの
の、特殊構造を有し、高価な治具を必要とする欠点があ
る。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記の事情
に鑑みてなされたものであり、安価な治具を用いること
で、設備費を低減し、しかも検査の処理能力を高める検
査方法を提供すること、言い換えれば、回路基板の短絡
の有無に関する検査処理能力を高い設備費を要すること
なく高めることを目的としている。
に鑑みてなされたものであり、安価な治具を用いること
で、設備費を低減し、しかも検査の処理能力を高める検
査方法を提供すること、言い換えれば、回路基板の短絡
の有無に関する検査処理能力を高い設備費を要すること
なく高めることを目的としている。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明は、複数の個別回
路を有する金属ベース回路基板の前記個別回路の短絡箇
所を検出する方法であって、金属ベース回路基板上の全
ての個別回路を電気的に直列に結線して一つの導電路と
するとともに、前記導電路の所望の位置間の電圧降下を
測定できるように電圧計を設けて、一つの電気回路とな
し、前記電気回路全体に電流を負荷して、電圧計の指示
する値を予め設定された値と比較することにより、短絡
箇所を検出することを特徴とする金属ベース回路基板の
検査方法である。
路を有する金属ベース回路基板の前記個別回路の短絡箇
所を検出する方法であって、金属ベース回路基板上の全
ての個別回路を電気的に直列に結線して一つの導電路と
するとともに、前記導電路の所望の位置間の電圧降下を
測定できるように電圧計を設けて、一つの電気回路とな
し、前記電気回路全体に電流を負荷して、電圧計の指示
する値を予め設定された値と比較することにより、短絡
箇所を検出することを特徴とする金属ベース回路基板の
検査方法である。
【０００９】また、本発明は、複数の金属ベース回路基
板について、前記複数の金属ベース回路基板上に設けら
れた全ての個別回路を電気的に直列に結線して一つの導
電路とするとともに、前記導電路の所望の位置間の電圧
降下を測定できるように電圧計を設けて、一つの電気回
路となし、前記電気回路全体に電流を負荷して、電圧計
の指示する値を予め設定された値と比較することによ
り、短絡箇所を検出することを特徴とする金属ベース回
路基板の検査方法である。
板について、前記複数の金属ベース回路基板上に設けら
れた全ての個別回路を電気的に直列に結線して一つの導
電路とするとともに、前記導電路の所望の位置間の電圧
降下を測定できるように電圧計を設けて、一つの電気回
路となし、前記電気回路全体に電流を負荷して、電圧計
の指示する値を予め設定された値と比較することによ
り、短絡箇所を検出することを特徴とする金属ベース回
路基板の検査方法である。
【００１０】また、本発明は、個別回路２個に対し電圧
計１個の割合で、電圧計を設けていることを特徴とする
前記の金属ベース回路基板の検査方法であり、更に好ま
しくは、個別回路がいずれも同じ回路抵抗を有すること
を特徴とする前記の金属ベース回路基板の検査方法であ
り、好ましくは、検査時の電流が０．０１Ａ〜１０Ａで
あることを特徴とする前記の金属ベース回路基板の検査
方法である。
計１個の割合で、電圧計を設けていることを特徴とする
前記の金属ベース回路基板の検査方法であり、更に好ま
しくは、個別回路がいずれも同じ回路抵抗を有すること
を特徴とする前記の金属ベース回路基板の検査方法であ
り、好ましくは、検査時の電流が０．０１Ａ〜１０Ａで
あることを特徴とする前記の金属ベース回路基板の検査
方法である。
【００１１】
【発明の実施の形態】第１の発明は、複数の個別回路を
有する金属ベース回路基板の前記個別回路の短絡箇所を
検出する方法であって、金属ベース回路基板上の全ての
個別回路を電気的に直列に結線して一つの導電路とする
とともに、前記導電路の所望の位置間の電圧降下を測定
できるように電圧計を設けて、一つの電気回路となし、
前記電気回路全体に電流を負荷して、電圧計の指示する
値を予め設定された値と比較することにより、短絡箇所
を検出することを特徴としている。本方法に拠れば、複
数の回路の短絡の有無を各回路毎に一回の測定で判断で
き、迅速な検査ができるし、また複雑な測定端子を必要
としないので、治具も安価なもので良く、設備費を低く
抑えることができる。
有する金属ベース回路基板の前記個別回路の短絡箇所を
検出する方法であって、金属ベース回路基板上の全ての
個別回路を電気的に直列に結線して一つの導電路とする
とともに、前記導電路の所望の位置間の電圧降下を測定
できるように電圧計を設けて、一つの電気回路となし、
前記電気回路全体に電流を負荷して、電圧計の指示する
値を予め設定された値と比較することにより、短絡箇所
を検出することを特徴としている。本方法に拠れば、複
数の回路の短絡の有無を各回路毎に一回の測定で判断で
き、迅速な検査ができるし、また複雑な測定端子を必要
としないので、治具も安価なもので良く、設備費を低く
抑えることができる。
【００１２】前記第１の発明は、被測定物が複数の回路
を有する回路基板に関するものであるが、これを展開
し、複数の回路基板にも適用することができる。即ち、
第２の発明は、複数の金属ベース回路基板について、前
記複数の金属ベース回路基板上に設けられた全ての個別
回路を電気的に直列に結線して一つの導電路とするとと
もに、前記導電路の所望の位置間の電圧降下を測定でき
るように電圧計を設けて、一つの電気回路となし、前記
電気回路全体に電流を負荷して、電圧計の指示する値を
予め設定された値と比較することにより、短絡箇所を検
出することを特徴とする金属ベース回路基板の検査方法
である。本方法に拠れば、複数の回路基板上の回路につ
いても、一度に検査することができ、その処理能力を一
層高めることができる。
を有する回路基板に関するものであるが、これを展開
し、複数の回路基板にも適用することができる。即ち、
第２の発明は、複数の金属ベース回路基板について、前
記複数の金属ベース回路基板上に設けられた全ての個別
回路を電気的に直列に結線して一つの導電路とするとと
もに、前記導電路の所望の位置間の電圧降下を測定でき
るように電圧計を設けて、一つの電気回路となし、前記
電気回路全体に電流を負荷して、電圧計の指示する値を
予め設定された値と比較することにより、短絡箇所を検
出することを特徴とする金属ベース回路基板の検査方法
である。本方法に拠れば、複数の回路基板上の回路につ
いても、一度に検査することができ、その処理能力を一
層高めることができる。
【００１３】更に、前記第１或いは第２の発明におい
て、個別回路２個に対し電圧計１個の割合で、電圧計を
設ける場合には、いずれかの個別回路で短絡現象が生じ
たときに、それに対応する一つの電圧計が所定の値より
低く指示されることになる。従って、当該指示値の低い
電圧計に係る２個の個別回路で短絡現象が生じているこ
とが容易に判断でき、短絡現象の原因究明が容易にする
ことができる長所がある。
て、個別回路２個に対し電圧計１個の割合で、電圧計を
設ける場合には、いずれかの個別回路で短絡現象が生じ
たときに、それに対応する一つの電圧計が所定の値より
低く指示されることになる。従って、当該指示値の低い
電圧計に係る２個の個別回路で短絡現象が生じているこ
とが容易に判断でき、短絡現象の原因究明が容易にする
ことができる長所がある。
【００１４】本発明において、検査対象となる、個別の
回路がいずれも同じ回路抵抗を有することが好ましい。
前記条件を満足する場合には、電圧計の指示値がいずれ
も同じ値であり、所定の値との差異の有無を検査する者
が、容易に判断できる特徴がある。
回路がいずれも同じ回路抵抗を有することが好ましい。
前記条件を満足する場合には、電圧計の指示値がいずれ
も同じ値であり、所定の値との差異の有無を検査する者
が、容易に判断できる特徴がある。
【００１５】本発明において、検査時の電流が０．０１
Ａ〜１０Ａであることが好ましい。検査時の電流は、測
定される回路の許容電流値、回路基板の絶縁耐圧等いろ
いろな事項を考慮して定める必要があるが、検査の目的
から安価な定電流計（電源）、電圧計が適用可能とな
り、しかも電圧計により短絡現象の有無を容易に判断で
きるように、電流を適当な範囲とする。本発明者の実験
的検討結果に拠れば、金属ベース回路基板においては
０．０１Ａ〜１０Ａとすることが好ましい。０．０１Ａ
未満の電流では、個別回路における電圧降下が小さく、
特殊な微小電圧計を用いなければならなくなり、設備費
が高くなるからである。尚、上限値については、原理的
に定める必要はないが、金属ベース回路基板の場合の回
路の許容電流値を考慮し、それを超えることがない１０
Ａとしたものである。
Ａ〜１０Ａであることが好ましい。検査時の電流は、測
定される回路の許容電流値、回路基板の絶縁耐圧等いろ
いろな事項を考慮して定める必要があるが、検査の目的
から安価な定電流計（電源）、電圧計が適用可能とな
り、しかも電圧計により短絡現象の有無を容易に判断で
きるように、電流を適当な範囲とする。本発明者の実験
的検討結果に拠れば、金属ベース回路基板においては
０．０１Ａ〜１０Ａとすることが好ましい。０．０１Ａ
未満の電流では、個別回路における電圧降下が小さく、
特殊な微小電圧計を用いなければならなくなり、設備費
が高くなるからである。尚、上限値については、原理的
に定める必要はないが、金属ベース回路基板の場合の回
路の許容電流値を考慮し、それを超えることがない１０
Ａとしたものである。
【００１６】
【実施例】〔実施例〕１０〜１０００ｍΩの抵抗器を形
成している回路を１２個有する金属ベース回路基板を被
測定物とした。前記回路の端部にあるランド位置に接触
可能な接触ピンを有する治具を用いて、前記金属ベース
回路基板上の前記回路を直列接続し、一つの全体回路を
形成した。また、前記治具を利用して、個別回路の２個
に対して、両者における電圧降下を測定できるように電
圧計を配置し、全体回路に結線した。更に、全体回路の
両端を、定電流計（電源）に配線し、全体回路に０．２
Ａの直流を流した。このときの機器の配置、結線状況を
図１に模式図で表した。金属ベース回路基板１００枚に
ついて、回路の短絡状況の有無を検査したところ、その
処理に要した時間は 平均０．６秒／回路基板であり、
従来の約１秒／回路基板に対して、処理能力が約７０％
向上できた。
成している回路を１２個有する金属ベース回路基板を被
測定物とした。前記回路の端部にあるランド位置に接触
可能な接触ピンを有する治具を用いて、前記金属ベース
回路基板上の前記回路を直列接続し、一つの全体回路を
形成した。また、前記治具を利用して、個別回路の２個
に対して、両者における電圧降下を測定できるように電
圧計を配置し、全体回路に結線した。更に、全体回路の
両端を、定電流計（電源）に配線し、全体回路に０．２
Ａの直流を流した。このときの機器の配置、結線状況を
図１に模式図で表した。金属ベース回路基板１００枚に
ついて、回路の短絡状況の有無を検査したところ、その
処理に要した時間は 平均０．６秒／回路基板であり、
従来の約１秒／回路基板に対して、処理能力が約７０％
向上できた。
【００１７】
【発明の効果】本発明に拠れば、少ない設備費で、処理
能力高く回路を検査でき、従って安価に信頼性の高い金
属ベース回路基板を提供できるという特徴があり、産業
上極めて有用である。
能力高く回路を検査でき、従って安価に信頼性の高い金
属ベース回路基板を提供できるという特徴があり、産業
上極めて有用である。
【図１】 本発明の実施例に係る検査方法を説明する模
式図。
式図。
１ 回路基板 ２ （個別）回路（ランド部） ３ 接触ピン ４ 治具 ５ 電圧計 ６ 定電流計（定電源）
Claims (5)
- 【請求項１】複数の個別回路を有する金属ベース回路基
板の前記個別回路の短絡箇所を検出する方法であって、
金属ベース回路基板上の全ての個別回路を電気的に直列
に結線して一つの導電路とするとともに、前記導電路の
所望の位置間の電圧降下を測定できるように電圧計を設
けて、一つの電気回路となし、前記電気回路全体に電流
を負荷して、電圧計の指示する値を予め設定された値と
比較することにより、短絡箇所を検出することを特徴と
する金属ベース回路基板の検査方法。 - 【請求項２】複数の金属ベース回路基板について、前記
複数の金属ベース回路基板上に設けられた全ての個別回
路を電気的に直列に結線して一つの導電路とするととも
に、前記導電路の所望の位置間の電圧降下を測定できる
ように電圧計を設けて、一つの電気回路となし、前記電
気回路全体に電流を負荷して、電圧計の指示する値を予
め設定された値と比較することにより、短絡箇所を検出
することを特徴とする金属ベース回路基板の検査方法。 - 【請求項３】個別回路２個に対し電圧計１個の割合で、
電圧計を設けていることを特徴とする請求項１又は請求
項２記載の金属ベース回路基板の検査方法。 - 【請求項４】個別回路がいずれも同じ回路抵抗を有する
ことを特徴とする請求項１、請求項２又は請求項３記載
の金属ベース回路基板の検査方法。 - 【請求項５】検査時の電流が０．０１Ａ〜１０Ａである
ことを特徴とする請求項４記載の金属ベース回路基板の
検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001167858A JP2002357628A (ja) | 2001-06-04 | 2001-06-04 | 金属ベース回路基板の検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001167858A JP2002357628A (ja) | 2001-06-04 | 2001-06-04 | 金属ベース回路基板の検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002357628A true JP2002357628A (ja) | 2002-12-13 |
Family
ID=19010182
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001167858A Pending JP2002357628A (ja) | 2001-06-04 | 2001-06-04 | 金属ベース回路基板の検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002357628A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105203897A (zh) * | 2014-06-23 | 2015-12-30 | 展讯通信（上海）有限公司 | 一种电路板短路器件的检测方法 |
-
2001
- 2001-06-04 JP JP2001167858A patent/JP2002357628A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105203897A (zh) * | 2014-06-23 | 2015-12-30 | 展讯通信（上海）有限公司 | 一种电路板短路器件的检测方法 |
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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