JP2007171069A - 絶縁耐電圧試験装置 - Google Patents

Abstract

【課題】試験中においても断線の有無を監視する。
【解決手段】電源部１１０と、Ｈｉ側の電圧印加用プローブＰ１，断線検出用プローブＰ３と、Ｌｏ側の電圧印加用プローブＰ２，断線検出用プローブＰ４とを含み、Ｈｉ側の電圧印加用プローブＰ１を第１配線Ｌ１を介して電源部１１０のＨｉ側電源端子に接続し、Ｌｏ側の電圧印加用プローブＰ２は第２配線Ｌ２を介して電源部１１０のＬｏ側電源端子に接続し、断線検出用プローブＰ３はＨｉ側断線電圧検出部１１２を含む第３配線Ｌ３を介して電源部１１０のＬｏ側電源端子に接続し、断線検出用プローブＰ４は断線検出用電源１３１およびＬｏ側断線電流検出部１１４を含む第４配線Ｌ４を介して第２配線Ｌ２に接続し、Ｈｉ側断線電圧検出部１１２とＬｏ側断線電流検出部１１４の検出値に基づいて電圧印加用プローブＰ１，Ｐ２の断線の有無を判定する。
【選択図】図１

Description

本発明は絶縁耐電圧試験装置に関し、さらに詳しく言えば、被試験体の電極端子にあてがわれる電圧印加プローブの接触状態（断線の有無）を判定する機能を備えた絶縁耐電圧試験装置に関するものである。

電気・電子機器の安全性および信頼性を評価するパラメータとしては、第１に電気絶縁性があげられる。絶縁は事故防止のための重要な要素であり、そのため、ＩＥＣ規格，ＵＬ規格，電気用品安全法などの各種安全規格により、その試験方法が規定されている。

主たる試験方法には、絶縁抵抗試験と耐電圧試験とがある。絶縁抵抗試験は、被試験体に直流電圧を印加し、その印加電圧と被試験体に流れる電流値とからオームの法則により直流抵抗値を求める試験で、通常、印加電圧は耐電圧試験に比べて低い５００Ｖ，１０００Ｖ程度であり、１ＭΩ以上を測定する。

耐電圧試験は、被試験体に一般的には交流の高電圧を印加して、被試験体が破損しないことを確認する試験であるが、直流電圧で試験することもある。この耐電圧試験では、被試験体に例えば５ｋＶ程度の高電圧を印加し、被試験体に流れる漏れ電流を測定して良否判定を行う。

いずれの試験においても、一対の電圧印加用プローブを被試験体の各電極端子に接触させて所定の電圧を印加するが、特に連続組立ラインで次々と送られてくる製品の試験を行う場合には、電圧印加用プローブが高速で繰り返し操作されるため、それに接続されているケーブルが疲労により断線することがある。そうすると、被試験体に電圧が印加されず、不良品であっても誤って良品と判定されることがある。

このほかに、電圧印加用プローブや被試験体の電極端子の表面に酸化物などの電気絶縁物が形成されている場合や、位置決め誤差などにより電圧印加用プローブが被試験体の電極端子から外れた場合などを含むプローブ接触不良時も、ケーブルの断線と同じく誤判定の原因となる。本明細書において、断線にはケーブルの断線のみならず、プローブ接触不良も含まれる。

そこで、特許文献１や特許文献２などに記載されているように、プローブのコンタクトチェック機能を備えた試験装置が提案されている。図３に特許文献１による第１従来例を示し、図４に特許文献２による第２従来例を示す。

図３の第１従来例では、電圧印加用プローブＰ１，Ｐ２に加えて、断線検出用プローブＰ３，Ｐ４を備える。また、高電圧電源１０のほかに、例えば直流電源２１と電流計２２とを直列に含むコンタクト検査部２０を備える。

一方の電圧印加用プローブＰ１は、リレースイッチＲＹ１，ＲＹ２を介して高電圧電源１０とコンタクト検査部２０とに選択的に接続され、他方の電圧印加用プローブＰ２も、リレースイッチＲＹ４，ＲＹ５を介して高電圧電源１０とコンタクト検査部２０とに選択的に接続される。断線検出用プローブＰ３，Ｐ４は、リレースイッチＲＹ３，ＲＹ６を介してコンタクト検査部２０に接続される。

リレースイッチＲＹ１〜ＲＹ６をオフ（開）とした状態で、一方の電圧印加用プローブＰ１と断線検出用プローブＰ３とを被試験体ＥＵＴの一方の電極端子Ｅ１に接触させ、他方の電圧印加用プローブＰ２と断線検出用プローブＰ４とを被試験体ＥＵＴの一方の電極端子Ｅ１に接触させる。

一例として、まず、リレースイッチＲＹ２，ＲＹ３をオン（閉）として、電流計２２で電圧印加用プローブＰ１と断線検出用プローブＰ３間に電流が流れているかどうかを検査する。電流が流れていなければ、断線ありと判断する。

次に、リレースイッチＲＹ５，ＲＹ６をオンとして、同様に電圧印加用プローブＰ２と断線検出用プローブＰ４間に電流が流れているかどうかを検査する。断線がなければ、リレースイッチＲＹ２，ＲＹ３，ＲＹ５，ＲＹ６をオフ、ＲＹ１，ＲＹ４をオンとして、高電圧電源１０から被試験体ＥＵＴに高電圧を印加して耐圧試験を行う。

図４の第２従来例では、コンタクト検査用の電圧計２３を用い、この電圧計２３に断線検出用プローブＰ３，Ｐ４を接続する。電圧印加用プローブＰ１，Ｐ２は高電圧電源１０に接続する。

電圧印加用プローブＰ１と断線検出用プローブＰ３とをペアとして、被試験体ＥＵＴの一方の電極端子Ｅ１に接触させ、また、電圧印加用プローブＰ２と断線検出用プローブＰ４とをペアとして、被試験体ＥＵＴの他方の電極端子Ｅ２に接触させる。

高電圧電源１０より電極端子Ｅ１，Ｅ２間に高電圧を印加して耐圧試験を行い、電圧計２３にて電極端子Ｅ１，Ｅ２間の電圧を測定し、その電圧の読み値が印加電圧と同じであるかどうかを検査する。同じでれば正常と判断し、異なっていれば断線ありと判断する。

特開平６−１３０１１８公報 特開２００４−２２６１７９公報

上記第１従来例は、被試験体ＥＵＴの電極端子Ｅ１，Ｅ２を含む電流ループを形成し、電流が流れていることを確認する電流検出型であり、試験前にコンタクトチェックを行うため、耐電圧試験，絶縁抵抗試験のいずれにも有効である。

しかしながら、試験中に断線が発生した場合には、それを検出することができない。また、試験の前にコンタクトチェックが入るため、被試験体である製品１台あたりの試験時間（タクトタイム）が長くなる、という問題がある。コンタクトチェックに要する時間が例えばｍＳ単位であるにしても、連続組立ラインではその時間が累積されるため、全体として無視し得ない時間となる。

上記第２従来例は、試験中に被試験体ＥＵＴの電極端子Ｅ１，Ｅ２間の電圧を測定する電圧検出型で、これによれば、試験中においても断線の有無を監視することができる。また、試験時間が長引くこともない。しかしながら、被試験体ＥＵＴに電圧計２３が並列に接続されることになるため、絶縁抵抗試験では電圧計２３の内部抵抗の影響がでるため、絶縁抵抗試験には適用することができない、という問題がある。

したがって、本発明の課題は、試験中においても断線の有無を監視することができ、また、絶縁抵抗試験にも適用可能である絶縁耐電圧試験装置を提供することにある。

上記課題を解決するため、本発明は、被試験体が備える第１，第２の電極端子間に所定の電圧を印加し、そのとき上記被試験体に流れる電流を検出して上記被試験体の絶縁抵抗および／または耐電圧を検査する絶縁耐電圧試験装置において、所定の電圧を発生する電源部と、上記被試験体の第１電極端子に接触する第１電圧印加用プローブおよび上記第２電極端子に接触する第２電圧印加用プローブと、上記被試験体の第１電極端子に接触する第１断線検出用プローブおよび上記第２電極端子に接触する第２断線検出用プローブと、上記第１，第２電圧印加用プローブの断線の有無を判定する機能を含む制御部とを少なくとも備え、上記第１電圧印加用プローブは、第１配線を介して上記電源部のＨｉ側電源端子に接続され、上記第２電圧印加用プローブは、第１電流検出部を含む第２配線を介して上記電源部のＬｏ側電源端子に接続され、上記第１断線検出用プローブは、電圧検出部を含む第３配線を介して上記電源部のＬｏ側電源端子に接続され、上記第２断線検出用プローブは、断線検出用電源および第２電流検出部を含む第４配線を介して上記第２配線に接続され、上記制御部は、上記電圧検出部および／または上記第２電流検出部の出力に基づいて、上記第１，第２電圧印加用プローブの断線の有無を判定することを特徴としている。

本発明の好ましい態様によれば、上記第１配線と上記第３配線との間には、上記電源部より上記被試験体に印加される電圧を監視するモニタ電圧計が接続され、上記制御部は、上記モニタ電圧計の出力と上記電圧検出部の出力とを照合して、上記第１電圧印加用プローブの断線の有無を判定する。

また、上記第４配線には、上記断線検出用電源に対して断線検出用抵抗が直列に接続され、上記第２電流検出部が、上記断線検出用抵抗で生ずる電圧降下を検出する電圧計からなり、上記制御部は、上記電圧計の出力に基づいて上記第２電圧印加用プローブの断線の有無を判定する。

上記第４配線には、電流制限抵抗がさらに直列に接続され、また、上記第２配線と上記第４配線との間には、上記断線検出用電源に対して並列に保護バリスタが接続されることが好ましい。

また、上記電源部には、上記被試験体の耐電圧を検査するための耐電圧試験用電源と、上記被試験体の絶縁抵抗を検査するための絶縁抵抗試験用電源とが含まれるとともに、上記第１電流検出部には、耐電圧検査時の第１電流検出抵抗と絶縁抵抗検査時の第２電流検出抵抗とが含まれ、上記耐電圧試験用電源，上記絶縁抵抗試験用電源および上記第１，第２電流検出抵抗が上記制御部により選択的に切り替えられるようにすることが好ましい。

本発明によれば、Ｈｉ側の電圧印加プローブのコンタクトチェック（断線の有無）は、第１断線検査用プローブの第３配線に設けられている電圧検出部の読み値が、電源部より被試験体にかけられている印加電圧と同じかどうかにより行われる。この場合、第３配線の電圧検出部は、被試験体の第１電極端子に対して並列に接続されるため、被試験体にかけられる印加電圧に影響をおよぼさない。

また、Ｌｏ側の電圧印加プローブのコンタクトチェックは、断線検出用電源による電流が、第４配線，被試験体の第２電極端子および第２配線の一部を含む電流の閉ループを流れているかどうかを第２電流検出部で検出することにより行われる。この場合、断線検出用電源による電流は上記閉ループ内のみを流れるため、被試験体を流れる電流（漏れ電流）に影響をおよぼすことはない。

第１配線と第３配線との間に、電源部より被試験体に印加される電圧を監視するモニタ電圧計を接続することにより、被試験体に対する印加電圧値を把握していない場合でも、Ｈｉ側の電圧印加プローブのコンタクトチェックを正確に行うことができる。

第４配線において、断線検出用電源に対して断線検出用抵抗を直列に接続し、第２電流検出部として、その断線検出用抵抗で生ずる電圧降下を検出する電圧計を用いることにより、制御部は、電圧計の出力に基づいて第２電圧印加用プローブのコンタクトチェックを行うことができる。

第４配線に電流制限抵抗を直列に接続し、また、第２配線と第４配線との間に断線検出用電源に対して並列に保護バリスタを接続することにより、何らかの故障原因で発生する過電流から断線検出用電源などを保護することができる。

また、電源部として、被試験体の耐電圧を検査するための耐電圧試験用電源と、被試験体の絶縁抵抗を検査するための絶縁抵抗試験用電源とが含まれるとともに、第１電流検出部には、耐電圧検査時の第１電流検出抵抗と絶縁抵抗検査時の第２電流検出抵抗とが含まれ、上記耐電圧試験用電源，上記絶縁抵抗試験用電源および上記第１，第２電流検出抵抗を制御部により選択的に切替可能とすることにより、１台の試験装置で耐電圧試験と絶縁抵抗試験とを適宜行うことができる。

次に、図１および図２により本発明の実施形態について説明するが、本発明はこれに限定されるものではない。図１は本発明による絶縁耐電圧試験装置の一例を模式的に示す回路図，図２はその電源部の一例を示す回路図である。

図１に示すように、この絶縁耐電圧試験装置は、被試験体ＥＵＴに所定の試験電圧を印加するための電源部１１０を備える。被試験体ＥＵＴは、電気・電子機器，電子部品，電子材料などであってよく、その一対の電極端子Ｅ１，Ｅ２に試験電圧が印加される。

この例では、図２に示すように、電源部１１０には、例えば５ｋＶの高電圧を出力する耐電圧試験用電源１１０ａと、それによりも低い例えば５００Ｖの電圧を出力する絶縁抵抗試験用電源１１０ｂとが並列に含まれる。通常、耐電圧試験用電源１１０ａには交流電源が用いられるが、直流電源とする場合もある。これに対して、絶縁抵抗試験用電源１１０ｂには、直流電源が用いられる。

この絶縁耐電圧試験装置においても、電圧印加用プローブＰ１，Ｐ２と、断線検出用プローブＰ３，Ｐ４の４本のプローブを備える。各プローブはクリップタイプ，ピンタイプなどであってよく、いずれも使用可能である。

この例において、一方の電圧印加用プローブＰ１と断線検出用プローブＰ３は、Ｈｉ側（電気的な高圧側）の接続コネクタＴ１，Ｔ３から引き出され、ともに被試験体ＥＵＴの第１電極端子Ｅ１に接触する。他方の電圧印加用プローブＰ２と断線検出用プローブＰ４は、Ｌｏ側（電気的な低圧側）の接続コネクタＴ２，Ｔ４から引き出され、ともに被試験体ＥＵＴの第２電極端子Ｅ２に接触する。

電圧印加用プローブＰ１の接続コネクタＴ１は、第１配線Ｌ１を介して電源部１１０のＨｉ側電源端子に接続されるが、図２に示すように、電源部１１０に耐電圧試験用電源１１０ａと絶縁抵抗試験用電源１１０ｂとが含まれる場合には、上記接続コネクタＴ１の第１配線Ｌ１は、スイッチＳ１を介して各電源１１０ａ，電源１１０ｂのいずれか一方のＨｉ側電源端子に選択的に接続されることになる。

電圧印加用プローブＰ２の接続コネクタＴ２は、電流検出抵抗Ｒ７と電圧計ＶＡとを並列に接続してなる電流検出部（請求項１における第１電流検出部）１１３を含む第２配線Ｌ２を介して電源部１１０のＬｏ側電極端子に接続される。

なお、図２に示すように、電源部１１０に耐電圧試験用電源１１０ａと絶縁抵抗試験用電源１１０ｂとが含まれる場合には、上記接続コネクタＴ２の第２配線Ｌ２は、電流検出抵抗Ｒ７１，Ｒ７２を介して各電源１１０ａ，１１０ｂのＬｏ側電極端子にそれぞれ接続されることになる。図示しないが、電流検出抵抗Ｒ７１，Ｒ７２には、それぞれ電圧計が並列に接続される。

断線検出用プローブＰ３の接続コネクタＴ３は、第３配線Ｌ３を介して電源部１１０のＬｏ側電極端子に接続されるが、図２に示すように、電源部１１０に耐電圧試験用電源１１０ａと絶縁抵抗試験用電源１１０ｂとが含まれる場合には、上記接続コネクタＴ３の第３配線Ｌ３は、スイッチＳ２を介して各電源１１０ａ，１１０ｂのＬｏ側電極端子に選択的に接続されることになる。

上記接続コネクタＴ３の第３配線Ｌ３は、Ｈｉ側断線電圧検出部（請求項１における電圧検出部）１１２を備える。このＨｉ側断線電圧検出部１１２には、直列に接続された分圧抵抗Ｒ３，Ｒ４が含まれる。このうちの分圧抵抗Ｒ４がＨｉ側コンタクトチェック用抵抗で、この分圧抵抗Ｒ４に対して電圧検出手段としての第１電圧計Ｖ１が並列に接続される。

また、第１配線Ｌ１と第３配線Ｌ３との間に、印加電圧検出部１１１が接続される。この印加電圧検出部１１１は、直列に接続された分圧抵抗Ｒ１，Ｒ２と、このうちの出力電圧検出用である抵抗Ｒ２側に並列に接続される出力電圧監視用のモニタ電圧計ＶＶとを備える。モニタ電圧計ＶＶにより、被試験体ＥＵＴに印加される電圧が測定されるが、その印加電圧が既知である場合には、特にモニタ電圧計ＶＶを設ける必要はない。

断線検出用プローブＰ４の接続コネクタＴ４は、第４配線Ｌ４を介して上記第２配線Ｌ２に接続される。この第４配線Ｌ４には、断線検出用電源１３１が含まれる。断線検出用電源１３１は、直流電源，交流電源のいずれであってもよい。

また、第４配線Ｌ４には、Ｌｏ側断線電流検出部（請求項１における第２電流検出部）１１４が含まれる。この例において、Ｌｏ側断線電流検出部１１４は、断線検出用電源１３１に対して直列に接続されるＬｏ側コンタクトチェック用抵抗Ｒ５と、この抵抗Ｒ５に並列に接続される第２電圧計Ｖ２とからなる。

さらに、好ましい態様として、例えばＬｏ側の電圧印加プローブＰ２のみが外れた場合に、断線検出用プローブＰ４に高電圧がかかるため、この高電圧から断線検出回路を保護するうえで、第４配線Ｌ４には電流制限抵抗Ｒ６が接続され、また、第４配線Ｌ４と第２配線Ｌ２との間には、バリスタ１３２が接続される。

上記モニタ電圧計ＶＶ，第１電圧計Ｖ１および第２電圧計Ｖ２の電圧測定値は、制御部１２０に与えられる。制御部１２０は、これらの電圧測定値に基づいてコンタクトチェック、すなわち断線の有無を判定する。なお、耐圧試験時や絶縁抵抗試験時には、電流検出部１１３の電圧計ＶＡからの電圧測定値も制御部１２０に入力される。制御部１２０には、ＣＰＵ（中央演算処理ユニット）やマイクロコンピュータなどが用いられてよい。

また、制御部１２０は、図２に示すように、電源部１１０に耐電圧試験用電源１１０ａと絶縁抵抗試験用電源１１０ｂとが含まれる場合、図示しない操作部からの指示にしたがい、スイッチＳ１，Ｓ２を切り替える。すなわち、耐電圧試験時にはスイッチＳ１，Ｓ２を耐電圧試験用電源１１０ａ側に切り替える。絶縁抵抗試験時には、スイッチＳ１，Ｓ２を絶縁抵抗試験用電源１１０ｂ側に切り替える。

耐電圧試験時もしくは絶縁抵抗試験時、試験電流Ｉ１は、電源部１１０のＨｉ側→第１配線Ｌ１→Ｈｉ側の電圧印加プローブＰ１→被試験体ＥＵＴ→Ｌｏ側の電圧印加プローブＰ２→第２配線Ｌ２→電流検出部１１３→電源部１１０のＬｏ側に至る閉ループ２を流れ、電流検出部１１３の電圧計ＶＡにより電圧値として検出される。

また、電源部１１０のＨｉ側→第１配線Ｌ１→Ｈｉ側の電圧印加プローブＰ１→被試験体ＥＵＴの電極→断線検出用プローブＰ３→第３配線Ｌ３→電源部１１０のＬｏ側に至るＨｉ側の閉ループ１Ｈにも電流Ｉ３が流れる。

このとき、制御部１２０は、モニタ電圧計ＶＶからの電圧測定値と第１電圧計Ｖ１からの電圧測定値とを照合し、その差が０もしくは所定範囲内に収まっていれば、Ｈｉ側の電圧印加プローブＰ１が被試験体ＥＵＴの第１電極Ｅ１に正常に接触しているものとして断線なしと判定する。

これに対して、モニタ電圧計ＶＶからの電圧測定値と第１電圧計Ｖ１からの電圧測定値とが異なっている場合（例えば、第１電圧計Ｖ１の電圧測定値が０の場合）には、断線ありと判定する。

なお、第３配線Ｌ３に含まれているＨｉ側断線電圧検出部１１２の分圧抵抗Ｒ３，Ｒ４および第１電圧計Ｖ１は、被試験体ＥＵＴに対して並列に接続され、被試験体ＥＵＴの両端にかかる電圧に影響をおよぼさないため、電流検出部１１３に流れる試験電流Ｉ１にも変化を与えない。

また、制御部１２０は、Ｌｏ側断線電流検出部１１４の第２電圧計Ｖ２からの電圧測定値に基づいて、Ｌｏ側の電圧印加プローブＰ２のコンタクトチェックを行う。すなわち、Ｌｏ側の電圧印加プローブＰ２が被試験体ＥＵＴの第２電極端子Ｅ２に断線がなく正常に接触していれば、断線検出用電源１３１による電流Ｉ２は、Ｌｏ側コンタクトチェック用抵抗Ｒ５を含む第４配線Ｌ４→断線検出用プローブＰ４→被試験体ＥＵＴ→Ｌｏ側の電圧印加プローブＰ２→第２配線Ｌ２→断線検出用電源１３１に戻るＬｏ側の閉ループ１Ｌを流れ、第２電圧計Ｖ２にはＩ２×Ｒ５なる電圧が現れるため、これをもって制御部１２０は断線なしと判定する。

これに対して、Ｌｏ側の電圧印加プローブＰ２に断線がある場合には、閉ループ１Ｌが形成されないため、第２電圧計Ｖ２で測定される電圧降下は０となり、これをもって制御部１２０は断線ありと判定する。この場合、断線検出用電源１３１による電流Ｉ２は、閉ループ１Ｌ内しか流れないため、閉ループ２に流れる試験電流Ｉ１に影響を与えない。

このように、本発明によれば、試験中においても、電圧印加プローブのコンタクトチェックを行うことができるため、上記第１従来例で行われていた試験前のコンタクトチェックは不要である。したがって、試験時間（タクトタイム）の増加を回避できる。

また、コンタクトチェックのための電圧検出および電流が、試験電圧および試験電流に影響をおよぼさないため、絶縁抵抗試験時においても、その試験中に電圧印加プローブのコンタクトチェックを行うことができる。

以上、図示の例により本発明を説明したが、本発明はこれに限定されない。例えば、被試験体ＥＵＴに対する電圧源１１０の印加電圧が、あらかじめ決められた特定の電圧値である場合には、制御部１２０にその印加電圧情報を与えて上記モニタ電圧計ＶＶを不要とすることができる。

また、電源部１１０に耐電圧試験用電源１１１と絶縁抵抗試験用電源１１２とが含まれているが、そのいずれか一方の電源のみを備えた構成、すなわち耐電圧試験機単体もしくは絶縁抵抗試験機単体としてもよい。さらには、接続コネクタＴ１〜Ｔ４を省略して、各プローブＰ１〜Ｐ４を対応する配線Ｌ１〜Ｌ４と直結としてもよい。

本発明による絶縁耐電圧試験装置の一例を模式的に示す回路図。 上記絶縁耐電圧試験装置が備える電源部の一例を示す回路図。 第１従来例を示す模式図。 第２従来例を示す模式図。

符号の説明

１１０ 電源部
１１０ａ 耐電圧試験用電源
１１０ｂ 絶縁抵抗試験用電源
１１１ 印加電圧検出部
１１２ Ｈｉ側断線電圧検出部
１１３ 電流検出部（第１電流検出部）
１１４ Ｌｏ側断線電流検出部（第２電流検出部）
１２０ 制御部
１３１ 断線検出用電源
ＥＵＴ 被試験体
Ｅ１，Ｅ２ 電極端子
Ｐ１，Ｐ２ 電圧印加用プローブ
Ｐ３，Ｐ４ 断線検出用プローブ
Ｌ１〜Ｌ４ 第１配線〜第４配線
Ｒ１，Ｒ２；Ｒ３，Ｒ４ 分圧抵抗
Ｒ５ Ｌｏ側コンタクトチェック用抵抗

Claims (6)

1. 被試験体が備える第１，第２の電極端子間に所定の電圧を印加し、そのとき上記被試験体に流れる電流を検出して上記被試験体の絶縁抵抗および／または耐電圧を検査する絶縁耐電圧試験装置において、
   所定の電圧を発生する電源部と、上記被試験体の第１電極端子に接触する第１電圧印加用プローブおよび上記第２電極端子に接触する第２電圧印加用プローブと、上記被試験体の第１電極端子に接触する第１断線検出用プローブおよび上記第２電極端子に接触する第２断線検出用プローブと、上記第１，第２電圧印加用プローブの断線の有無を判定する機能を含む制御部とを少なくとも備え、
   上記第１電圧印加用プローブは、第１配線を介して上記電源部のＨｉ側電源端子に接続され、上記第２電圧印加用プローブは、第１電流検出部を含む第２配線を介して上記電源部のＬｏ側電源端子に接続され、
   上記第１断線検出用プローブは、電圧検出部を含む第３配線を介して上記電源部のＬｏ側電源端子に接続され、上記第２断線検出用プローブは、断線検出用電源および第２電流検出部を含む第４配線を介して上記第２配線に接続され、
   上記制御部は、上記電圧検出部および／または上記第２電流検出部の出力に基づいて、上記第１，第２電圧印加用プローブの断線の有無を判定することを特徴とする絶縁耐電圧試験装置。
2. 上記第１配線と上記第３配線との間には、上記電源部より上記被試験体に印加される電圧を監視するモニタ電圧計が接続され、上記制御部は、上記モニタ電圧計の出力と上記電圧検出部の出力とを照合して、上記第１電圧印加用プローブの断線の有無を判定することを特徴とする請求項１に記載の絶縁耐電圧試験装置。
3. 上記第４配線には、上記断線検出用電源に対して断線検出用抵抗が直列に接続され、上記第１電流検出部が、上記断線検出用抵抗で生ずる電圧降下を検出する電圧計からなり、上記制御部は、上記電圧計の出力に基づいて上記第２電圧印加用プローブの断線の有無を判定することを特徴とする請求項１または２に記載の絶縁耐電圧試験装置。
4. 上記第４配線には、電流制限抵抗がさらに直列に接続されることを特徴とする請求項１ないし３のいずれか１項に記載の絶縁耐電圧試験装置。
5. 上記第２配線と上記第４配線との間には、上記断線検出用電源に対して並列に保護バリスタが接続されることを特徴とする請求項１ないし４のいずれか１項に記載の絶縁耐電圧試験装置。
6. 上記電源部には、上記被試験体の耐電圧を検査するための耐電圧試験用電源と、上記被試験体の絶縁抵抗を検査するための絶縁抵抗試験用電源とが含まれるとともに、上記第１電流検出部には、耐電圧検査時の第１電流検出抵抗と絶縁抵抗検査時の第２電流検出抵抗とが含まれ、上記耐電圧試験用電源，上記絶縁抵抗試験用電源および上記第１，第２電流検出抵抗が上記制御部により選択的に切り替えられることを特徴とする請求項１ないし５のいずれか１項に記載の絶縁耐電圧試験装置。
   

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