JPS59141076A - 絶縁試験装置 - Google Patents
絶縁試験装置Info
- Publication number
- JPS59141076A JPS59141076A JP1426183A JP1426183A JPS59141076A JP S59141076 A JPS59141076 A JP S59141076A JP 1426183 A JP1426183 A JP 1426183A JP 1426183 A JP1426183 A JP 1426183A JP S59141076 A JPS59141076 A JP S59141076A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrodes
- electrode
- terminal
- high voltage
- leakage current
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Testing Relating To Insulation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
技術分野
本発明は例えば電子（気）機器や電子部材の絶縁状態を
測定する絶縁試験装置に最適なものシご関する。
測定する絶縁試験装置に最適なものシご関する。
背景技術
従来、上述の絶縁試験装置は測定すべき電子機器の２点
間に各々電極を接触させ、その電極間に所定の電圧を印
加させ、その電極間にその電子機器の２点間を通して流
れる漏洩電流を検出し、この検出量に応じて絶縁性（度
）を測定又は判定するものであった。
間に各々電極を接触させ、その電極間に所定の電圧を印
加させ、その電極間にその電子機器の２点間を通して流
れる漏洩電流を検出し、この検出量に応じて絶縁性（度
）を測定又は判定するものであった。
ところがこの装置をロボット等の自動機にした場合、電
極が２点間の端子等に非接触状態であっても、漏洩電流
は零となって、誤まった判定をし、絶縁性良好と判定す
る虞れがあった。
極が２点間の端子等に非接触状態であっても、漏洩電流
は零となって、誤まった判定をし、絶縁性良好と判定す
る虞れがあった。
発明の開示
本発明はこの様な点に鑑み提案されたもので、特に自動
化する際の信頼度の確保を目的とする。
化する際の信頼度の確保を目的とする。
又簡単な構成で、安価に提供することを目的とする。
本発明の構成は電極の一方又は両方を更に２つの電極に
分け、その２つの電極間が電子機器の端子に接触される
ことによるＪＤ通を確認された後、電極間に高圧等の電
圧を印加し、漏洩電流の測定に入るステップを取るもの
である。
分け、その２つの電極間が電子機器の端子に接触される
ことによるＪＤ通を確認された後、電極間に高圧等の電
圧を印加し、漏洩電流の測定に入るステップを取るもの
である。
本発明によると、電極か端子に確実に接触されたことを
確認した後に、電極に高圧等の電圧を印加し、測定に入
ることができ、非接触状態で測定される誤動作を無くす
るととができ、信頼性を向上させることかできる。電極
が端子に接触させる際、電極に高圧等の電圧が印加され
ておらず、放電等の虞れもなくすることができ、安全性
を向上させることができる。又電極を２分し、その２分
した電極間に端子を通して流れる電流の有無によって電
極に高圧等の電圧の印加をオンオフさせるスイッチを付
加する等の簡単な改良を加えれば良く、安価に提供でき
る効果を有する。
確認した後に、電極に高圧等の電圧を印加し、測定に入
ることができ、非接触状態で測定される誤動作を無くす
るととができ、信頼性を向上させることかできる。電極
が端子に接触させる際、電極に高圧等の電圧が印加され
ておらず、放電等の虞れもなくすることができ、安全性
を向上させることができる。又電極を２分し、その２分
した電極間に端子を通して流れる電流の有無によって電
極に高圧等の電圧の印加をオンオフさせるスイッチを付
加する等の簡単な改良を加えれば良く、安価に提供でき
る効果を有する。
発明を実施するための最良の形態
第１図は本発明の一実施例を示す回路図である。図に於
て、１１は測定される被試験物体で、１と２はその物体
に設けられた端子等の導電体である。
て、１１は測定される被試験物体で、１と２はその物体
に設けられた端子等の導電体である。
１２は絶縁試験装置である。３と４は電極で、それらは
２つに分離された一対の電極３Ａ、３Ｂと、４Ａ、４Ｂ
とで構成されている。電極３Ａと３Ｂ又は４Ａと４Ｂは
微小間隔で対向しており、かつ互いに電気的に絶縁して
一端カ≦支持される。
２つに分離された一対の電極３Ａ、３Ｂと、４Ａ、４Ｂ
とで構成されている。電極３Ａと３Ｂ又は４Ａと４Ｂは
微小間隔で対向しており、かつ互いに電気的に絶縁して
一端カ≦支持される。
そして他端は互いに同一面上に露出して℃）る。又電極
３Ａと３Ｂ又は４Ａと４Ｂの一端９二む才低電圧源７又
は８とリレー５又は６とか直列ゐこ接続されている。
３Ａと３Ｂ又は４Ａと４Ｂの一端９二む才低電圧源７又
は８とリレー５又は６とか直列ゐこ接続されている。
９は高圧発生装置等の電源で、電極３Ａと３Ｂ又は４Ａ
と４Ｂの間に所定の高電圧を供給する。
と４Ｂの間に所定の高電圧を供給する。
この高圧発生装置９はリレー５又Ｌｔ ８の接点Ｓ３又
はＳ４によってオン、オフされる。すなわち、リレー５
又は６が励磁されると、そのリレーの接点Ｓ３又はＳ〕
が第１図の実線のオフ状態力）ら破線のオン状態に切換
えられる。高圧発生装置むよ、リレー接点Ｓ３と８４か
オンされると高圧を出ノフ端子Ｃｓｄ間に出力し、リレ
ー接点Ｓ３又ζ言Ｓ４がオフされると出力端子Ｃ，ｄ４
ご高圧を出ツノ１−ることを停止する。高圧発生装置９
の出力端子Ｃとｄは電極３Ａ又は３Ｂと４Ａ又は４Ｉ３
？ご接続されている。
はＳ４によってオン、オフされる。すなわち、リレー５
又は６が励磁されると、そのリレーの接点Ｓ３又はＳ〕
が第１図の実線のオフ状態力）ら破線のオン状態に切換
えられる。高圧発生装置むよ、リレー接点Ｓ３と８４か
オンされると高圧を出ノフ端子Ｃｓｄ間に出力し、リレ
ー接点Ｓ３又ζ言Ｓ４がオフされると出力端子Ｃ，ｄ４
ご高圧を出ツノ１−ることを停止する。高圧発生装置９
の出力端子Ｃとｄは電極３Ａ又は３Ｂと４Ａ又は４Ｉ３
？ご接続されている。
１０はメータリレー等の漏洩電流検出手段で、高圧発生
装置９の出力端子Ｃ，ｄと、電極３Ａ又は３Ｂと４Ａ又
は４Ｂとの間の一方番二接続される。
装置９の出力端子Ｃ，ｄと、電極３Ａ又は３Ｂと４Ａ又
は４Ｂとの間の一方番二接続される。
以上の構成の動作は、電極３Ａ、３Ｂが端子１に確実に
接触されると、電極３ｋ、３Ｂｆｒ≦端子１を通して接
続され、リレー５に電流が流れ、倉ル−接点Ｓ３がオン
される。
接触されると、電極３ｋ、３Ｂｆｒ≦端子１を通して接
続され、リレー５に電流が流れ、倉ル−接点Ｓ３がオン
される。
同時に電極４Ａ１４Ｂが端子２に接触されると、リレー
６に電流が流れリレー接点８４カイオーンされる。
６に電流が流れリレー接点８４カイオーンされる。
高圧発生装置９は端子ａ１ｂ間がオンされると端子Ｃ，
ｄ間に高圧を発生させる。
ｄ間に高圧を発生させる。
従ってリレー５．６がオンし、その接点Ｓ３、Ｓ４が閉
じると、端子Ｃ１ｄ間に高圧が発生され、それを電極３
Ａ、４Ｂを通して端子１．２間に供給され、端子１．２
間の絶縁状態をメータリレー１０によって試験をするこ
とができる。
じると、端子Ｃ１ｄ間に高圧が発生され、それを電極３
Ａ、４Ｂを通して端子１．２間に供給され、端子１．２
間の絶縁状態をメータリレー１０によって試験をするこ
とができる。
電極３Ａ１３Ｂ又は４Ａ１４Ｂが端子１又番よ２に正確
に接触されない場合、ル−５又番ま６７５≦１．・ｊノ
磁されず、高圧発生装置９カ≦高圧を電極３Ａ１４Ｂ
間ニ供給しない。これ番こよって、試験装置力（正確に
動作していないことを知ること力≦できる。」自動機と
して利用する場合、１ル−５．６カ≦励磁されず、リレ
ー接点Ｓ３．３４力≦オンされな力）つたり、高圧発生
装置９カタ高圧を発生しな０場合、再び電極３Ａ、３Ｂ
又る言４Ａ、４Ｂを端子１又は２へ接触させ直す等の制
御を行なわせる様に設計することかできる。
に接触されない場合、ル−５又番ま６７５≦１．・ｊノ
磁されず、高圧発生装置９カ≦高圧を電極３Ａ１４Ｂ
間ニ供給しない。これ番こよって、試験装置力（正確に
動作していないことを知ること力≦できる。」自動機と
して利用する場合、１ル−５．６カ≦励磁されず、リレ
ー接点Ｓ３．３４力≦オンされな力）つたり、高圧発生
装置９カタ高圧を発生しな０場合、再び電極３Ａ、３Ｂ
又る言４Ａ、４Ｂを端子１又は２へ接触させ直す等の制
御を行なわせる様に設計することかできる。
尚本発明は上述の実施例ゐご限るもので１！なく、種々
の変更が可能である。例えｔｆ実施（ｐｉ Ｌ；に電極
３と４の両方が端子１と２番こ接触される場合番こつ０
て説明したが、一方が接続した状態のま＼で、イ出方が
接離を行なわれる場合番こつ℃１てｔまその接離される
側の電極のみを本発明のように２つの電極番ご分離した
もので構成すれ番ス足りる。又高圧発生装置９、リレー
５．６とその接点Ｓ３、Ｓ４、メータ１０、低電源７．
８の構成や回ｈｇ配置りよ必１゛さも実施例のものに限
るもので番よな０゜更に電極３と４は必ずしも２個に限
るものではなく、２個以上でも良い。この２個以上の場
合、２つのグループに分け、夫々のグループの電極をオ
ア回路又はア／ド回路で接続し、２組に構成することも
てきる。
の変更が可能である。例えｔｆ実施（ｐｉ Ｌ；に電極
３と４の両方が端子１と２番こ接触される場合番こつ０
て説明したが、一方が接続した状態のま＼で、イ出方が
接離を行なわれる場合番こつ℃１てｔまその接離される
側の電極のみを本発明のように２つの電極番ご分離した
もので構成すれ番ス足りる。又高圧発生装置９、リレー
５．６とその接点Ｓ３、Ｓ４、メータ１０、低電源７．
８の構成や回ｈｇ配置りよ必１゛さも実施例のものに限
るもので番よな０゜更に電極３と４は必ずしも２個に限
るものではなく、２個以上でも良い。この２個以上の場
合、２つのグループに分け、夫々のグループの電極をオ
ア回路又はア／ド回路で接続し、２組に構成することも
てきる。
第１図は本発明の一実施例の回路を示す。
１１は被試験物体、１．２は導電体、３．４は電極、９
は第１の電源、１０は電流検出手段、３Ａ１３Ｂ又は４
Ａ１４Ｂは対電極、７又は８は第２の電源、５．６、Ｓ
３、Ｓ４はスイッチ手段を示す。
は第１の電源、１０は電流検出手段、３Ａ１３Ｂ又は４
Ａ１４Ｂは対電極、７又は８は第２の電源、５．６、Ｓ
３、Ｓ４はスイッチ手段を示す。
Claims (1)
- 被試験物体に設けられた２つの導電体の各々に接触され
る２つの電極と、該２つの電極間に所定の電圧を印加す
る第１の電源と、前記２つの電極間に前記被試験物体を
通して流れる電流を検出する手段とから成る絶縁試験装
置において、前記２つの電極の少なくとも一方を２つに
分けて絶縁した対の電極と、該対電極間に所定の電圧を
印加する第２の電源と、前記対の電極間に前記導電体を
通して流れる電流のを無によって前記第１の電源から前
記２つの電極間に印加する動作をオンオフ制御させるス
イッチ手段とから成る絶縁試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1426183A JPS59141076A (ja) | 1983-01-31 | 1983-01-31 | 絶縁試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1426183A JPS59141076A (ja) | 1983-01-31 | 1983-01-31 | 絶縁試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59141076A true JPS59141076A (ja) | 1984-08-13 |
Family
ID=11856142
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1426183A Pending JPS59141076A (ja) | 1983-01-31 | 1983-01-31 | 絶縁試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59141076A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0330876U (ja) * | 1989-08-03 | 1991-03-26 | ||
| JP2007171069A (ja) * | 2005-12-26 | 2007-07-05 | Hioki Ee Corp | 絶縁耐電圧試験装置 |
| JP2009257852A (ja) * | 2008-04-15 | 2009-11-05 | Hitachi Ltd | プローブ顕微鏡及び絶縁不良の検査装置，絶縁不良検査方法 |
| WO2012098629A1 (ja) * | 2011-01-17 | 2012-07-26 | 日東電工株式会社 | アース装置 |
-
1983
- 1983-01-31 JP JP1426183A patent/JPS59141076A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0330876U (ja) * | 1989-08-03 | 1991-03-26 | ||
| JP2007171069A (ja) * | 2005-12-26 | 2007-07-05 | Hioki Ee Corp | 絶縁耐電圧試験装置 |
| JP2009257852A (ja) * | 2008-04-15 | 2009-11-05 | Hitachi Ltd | プローブ顕微鏡及び絶縁不良の検査装置，絶縁不良検査方法 |
| WO2012098629A1 (ja) * | 2011-01-17 | 2012-07-26 | 日東電工株式会社 | アース装置 |
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