JP2000133395A - Ｉｃ測定用ソケット - Google Patents
Ｉｃ測定用ソケットInfo
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Abstract
(57)【要約】
【課題】本発明は、ＩＣ測定用ソケット内のＩＣの飽和
電圧特性などの特性を測定する際に、ＩＣ測定用ソケッ
トに接続される多数のコネクター、リレー及び配線等に
よるインピーダンスの影響を受けることなく測定できる
ＩＣの特性測定器を提供することを目的とする。 【解決手段】ＩＣ測定用ソケット１において、その内部
に保持するＩＣ２のリード３と接続するＣ字状のコンタ
クト４を有し、更に、該コンタクト４に外部との電気的
接触を行うためのピンとしてセンスピン５とフォースピ
ン６の２つのピンを設ける。これらの２つのピンの内、
センスピン５に電圧計８を、フォースピン６に電流源７
を接続することで、フォースピン６と電流源７間に生じ
るインピーダンスＲ２の影響なくリード３にかかる電圧
を測定することができる。
電圧特性などの特性を測定する際に、ＩＣ測定用ソケッ
トに接続される多数のコネクター、リレー及び配線等に
よるインピーダンスの影響を受けることなく測定できる
ＩＣの特性測定器を提供することを目的とする。 【解決手段】ＩＣ測定用ソケット１において、その内部
に保持するＩＣ２のリード３と接続するＣ字状のコンタ
クト４を有し、更に、該コンタクト４に外部との電気的
接触を行うためのピンとしてセンスピン５とフォースピ
ン６の２つのピンを設ける。これらの２つのピンの内、
センスピン５に電圧計８を、フォースピン６に電流源７
を接続することで、フォースピン６と電流源７間に生じ
るインピーダンスＲ２の影響なくリード３にかかる電圧
を測定することができる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、電圧レギュレータ
ＩＣ（半導体集積回路）やモータドライバＩＣ等のＩＣ
を保持してそのＩＣの特性を測定するためのＩＣ測定用
ソケット及びＩＣの特性測定器に関する。
ＩＣ（半導体集積回路）やモータドライバＩＣ等のＩＣ
を保持してそのＩＣの特性を測定するためのＩＣ測定用
ソケット及びＩＣの特性測定器に関する。
【０００２】
【従来の技術】現在、ＩＣ測定用ソケットは、ＩＣ量産
時においてそのＩＣの電流能力や飽和電圧特性等の様々
な電気特性の測定を簡単に且つ迅速に行うことを目的と
して、計測者がＩＣの電気特性を測定する計測回路に簡
単に接続できるように使用される。そして、従来より使
用されているＩＣ測定用ソケットは、その内部でＩＣの
リードと接続するとともに外部に電気的に接続するピン
を備えたコンタクトを有する。このような従来より使用
されているＩＣ測定用ソケットについて以下に、図面を
参照にして説明する。
時においてそのＩＣの電流能力や飽和電圧特性等の様々
な電気特性の測定を簡単に且つ迅速に行うことを目的と
して、計測者がＩＣの電気特性を測定する計測回路に簡
単に接続できるように使用される。そして、従来より使
用されているＩＣ測定用ソケットは、その内部でＩＣの
リードと接続するとともに外部に電気的に接続するピン
を備えたコンタクトを有する。このような従来より使用
されているＩＣ測定用ソケットについて以下に、図面を
参照にして説明する。
【０００３】図４は、従来使用されているＩＣ測定用ソ
ケットと該ＩＣ測定用ソケットに接続された所要の回路
とからなるＩＣの特性測定器の関係を示した回路図であ
る。図４に示すＩＣ測定用ソケット１は、半導体集積回
路装置であるＩＣ２と、該ＩＣ２のリード３に接続する
コンタクト４とを有している。更に、該コンタクト４
は、外部と電気的接触を行うためのピン１６を有してい
る。又、ＩＣ測定用ソケット１を接続したＩＣの特性測
定器本体内には、ＩＣ２の量産時においてＩＣ２の飽和
電圧特性や動作時の電流能力以外の発振周波数やリーク
電圧等の様々な電気的特性を測定できるようにするため
に、ピン１６に接続した多数のコネクターやリレーやそ
れらを繋ぐ配線等が具備されている。尚、ＩＣ２はＩＣ
測定用ソケット１の蓋部１ａによって上部から押さえつ
けられることによって、弾性を持つコンタクト４とリー
ド３が充分に接触するようになっている。
ケットと該ＩＣ測定用ソケットに接続された所要の回路
とからなるＩＣの特性測定器の関係を示した回路図であ
る。図４に示すＩＣ測定用ソケット１は、半導体集積回
路装置であるＩＣ２と、該ＩＣ２のリード３に接続する
コンタクト４とを有している。更に、該コンタクト４
は、外部と電気的接触を行うためのピン１６を有してい
る。又、ＩＣ測定用ソケット１を接続したＩＣの特性測
定器本体内には、ＩＣ２の量産時においてＩＣ２の飽和
電圧特性や動作時の電流能力以外の発振周波数やリーク
電圧等の様々な電気的特性を測定できるようにするため
に、ピン１６に接続した多数のコネクターやリレーやそ
れらを繋ぐ配線等が具備されている。尚、ＩＣ２はＩＣ
測定用ソケット１の蓋部１ａによって上部から押さえつ
けられることによって、弾性を持つコンタクト４とリー
ド３が充分に接触するようになっている。
【０００４】ここで、このコネクター、リレー及び配線
等による抵抗成分をＲ３とする。ピン１６に接続した前
記抵抗成分Ｒ３に、電流源７と電圧計８とが並列に接続
される。この場合、電流源７、電圧計８及び抵抗成分Ｒ
３の接続点ｇが前記ＩＣ２の飽和電圧特性や動作時の電
流能力等を測定する測定点となる。
等による抵抗成分をＲ３とする。ピン１６に接続した前
記抵抗成分Ｒ３に、電流源７と電圧計８とが並列に接続
される。この場合、電流源７、電圧計８及び抵抗成分Ｒ
３の接続点ｇが前記ＩＣ２の飽和電圧特性や動作時の電
流能力等を測定する測定点となる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】前記ＩＣ２の飽和電圧
特性や動作時の電流能力を測定するためには、ＩＣ２の
入出力端子となるリード３に数百ｍＡ〜千数百ｍＡの大
電流を印加するとともに、該リード３にかかる数十ｍＶ
〜数百ｍＶの低電圧を測定しなければならないので、本
来ＩＣ２のリード３にできるだけ近い点を測定点とする
ことが好ましい。
特性や動作時の電流能力を測定するためには、ＩＣ２の
入出力端子となるリード３に数百ｍＡ〜千数百ｍＡの大
電流を印加するとともに、該リード３にかかる数十ｍＶ
〜数百ｍＶの低電圧を測定しなければならないので、本
来ＩＣ２のリード３にできるだけ近い点を測定点とする
ことが好ましい。
【０００６】しかしながら、このようなＩＣ２の持つ様
々な電気特性の測定は、その量産時において行われるの
で、前記ＩＣ２の特性を測定するＩＣの特性測定器は、
上記で示した様々な電気特性が測定できるようにするた
めに、ＩＣ測定用ソケット１のピン１６と前記測定点ｇ
の間に多数のコネクターやリレーやそれらを繋ぐ配線等
が具備されている。又、このようなコネクター、リレー
及び配線等には電流源７によって電流が流れるので、そ
の抵抗性分Ｒ３による電気的な劣化が生じるため、測定
点ｇでの電圧は前記抵抗性分Ｒ３の影響を強く受けるこ
とになる。
々な電気特性の測定は、その量産時において行われるの
で、前記ＩＣ２の特性を測定するＩＣの特性測定器は、
上記で示した様々な電気特性が測定できるようにするた
めに、ＩＣ測定用ソケット１のピン１６と前記測定点ｇ
の間に多数のコネクターやリレーやそれらを繋ぐ配線等
が具備されている。又、このようなコネクター、リレー
及び配線等には電流源７によって電流が流れるので、そ
の抵抗性分Ｒ３による電気的な劣化が生じるため、測定
点ｇでの電圧は前記抵抗性分Ｒ３の影響を強く受けるこ
とになる。
【０００７】上記のような問題を鑑みて、本発明は、Ｉ
Ｃ測定用ソケット内に保持されたＩＣの飽和電圧特性な
どの特性を測定する際に、ＩＣ測定用ソケットに接続さ
れる多数のコネクター、リレー及び配線等によるインピ
ーダンスの影響を受けることなく測定を行うことが可能
なＩＣの特性測定器を提供することを目的とする。
Ｃ測定用ソケット内に保持されたＩＣの飽和電圧特性な
どの特性を測定する際に、ＩＣ測定用ソケットに接続さ
れる多数のコネクター、リレー及び配線等によるインピ
ーダンスの影響を受けることなく測定を行うことが可能
なＩＣの特性測定器を提供することを目的とする。
【０００８】また、本発明は、前記ＩＣの特性測定器本
体に簡単に接続することが可能なＩＣ測定用ソケットを
提供することを目的とする。
体に簡単に接続することが可能なＩＣ測定用ソケットを
提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】請求項１に記載のＩＣ測
定用ソケットは、ＩＣのリードと接続するコンタクトを
通してＩＣの電気的特性を測定するためのＩＣ測定用ソ
ケットにおいて、前記コンタクトが前記リードを通して
ＩＣに電力を供給するための第１ピンと、前記リードに
生じる電圧を測定するための第２ピンとを有しているこ
とを特徴とする。
定用ソケットは、ＩＣのリードと接続するコンタクトを
通してＩＣの電気的特性を測定するためのＩＣ測定用ソ
ケットにおいて、前記コンタクトが前記リードを通して
ＩＣに電力を供給するための第１ピンと、前記リードに
生じる電圧を測定するための第２ピンとを有しているこ
とを特徴とする。
【００１０】このようなＩＣ測定用ソケットは、従来の
ＩＣ測定用ソケットの内部に備えられたコンタクトに２
つのピンを設け、一方を内部に保持するＩＣに電力を供
給するための第１ピンとし、もう一方をＩＣのリードに
生じる電圧を測定するための第２ピンとする。
ＩＣ測定用ソケットの内部に備えられたコンタクトに２
つのピンを設け、一方を内部に保持するＩＣに電力を供
給するための第１ピンとし、もう一方をＩＣのリードに
生じる電圧を測定するための第２ピンとする。
【００１１】請求項２に記載のＩＣの特性測定器は、請
求項１に記載のＩＣ測定用ソケットを有するとともに、
該ＩＣ測定用ソケットの前記第１ピンに、インピーダン
スを有する線路を介して接続された電流源と、前記ＩＣ
測定用ソケットの前記第２ピンに、インピーダンスを有
する線路を介して接続された電圧計と、を有することを
特徴とする。
求項１に記載のＩＣ測定用ソケットを有するとともに、
該ＩＣ測定用ソケットの前記第１ピンに、インピーダン
スを有する線路を介して接続された電流源と、前記ＩＣ
測定用ソケットの前記第２ピンに、インピーダンスを有
する線路を介して接続された電圧計と、を有することを
特徴とする。
【００１２】請求項３に記載のＩＣの特性測定器は、請
求項１に記載のＩＣ測定用ソケットと、供給する電圧値
を測定する第１端子と電圧を供給する第２端子を備えた
電圧源とを有し、前記ＩＣ測定用ソケットの前記第２ピ
ンを、インピーダンスを有する線路を介して、前記電圧
源の第１端子に接続するとともに、前記ＩＣ測定用ソケ
ットの前記第１ピンを、インピーダンスを有する線路を
介して、前記電圧源の第２端子に接続することを特徴と
する。
求項１に記載のＩＣ測定用ソケットと、供給する電圧値
を測定する第１端子と電圧を供給する第２端子を備えた
電圧源とを有し、前記ＩＣ測定用ソケットの前記第２ピ
ンを、インピーダンスを有する線路を介して、前記電圧
源の第１端子に接続するとともに、前記ＩＣ測定用ソケ
ットの前記第１ピンを、インピーダンスを有する線路を
介して、前記電圧源の第２端子に接続することを特徴と
する。
【００１３】請求項４に記載のＩＣの特性測定器は、請
求項１に記載のＩＣ測定用ソケットと、供給する電圧値
を測定する第１端子と電圧を供給する第２端子を備えた
電圧源と、前記ＩＣ測定用ソケットの前記第２ピンにイ
ンピーダンスを有する線路を介して接続された３接点型
の第１スイッチと、前記ＩＣ測定用ソケットの前記第１
ピンにインピーダンスを有する線路を介して接続された
３接点型の第２スイッチとを有し、前記第１のスイッチ
の残りの２接点に、それぞれ電圧計と前記電圧源の第１
端子が接続するとともに、前記第２スイッチの残りの２
接点に、それぞれ電流源と前記電圧源の第２端子が接続
し、前記第１スイッチによって前記第２ピンに接続され
た線路と前記電圧計とが接続されたとき、前記第２スイ
ッチによって、前記第１ピンに接続された線路と前記電
流源とが接続され、前記第１スイッチによって前記第２
ピンに接続された線路と前記電圧源の第１端子とが接続
されたとき、前記第２スイッチによって、前記第１ピン
に接続された線路と前記電圧源の第２端子とが接続され
ることを特徴とする。
求項１に記載のＩＣ測定用ソケットと、供給する電圧値
を測定する第１端子と電圧を供給する第２端子を備えた
電圧源と、前記ＩＣ測定用ソケットの前記第２ピンにイ
ンピーダンスを有する線路を介して接続された３接点型
の第１スイッチと、前記ＩＣ測定用ソケットの前記第１
ピンにインピーダンスを有する線路を介して接続された
３接点型の第２スイッチとを有し、前記第１のスイッチ
の残りの２接点に、それぞれ電圧計と前記電圧源の第１
端子が接続するとともに、前記第２スイッチの残りの２
接点に、それぞれ電流源と前記電圧源の第２端子が接続
し、前記第１スイッチによって前記第２ピンに接続され
た線路と前記電圧計とが接続されたとき、前記第２スイ
ッチによって、前記第１ピンに接続された線路と前記電
流源とが接続され、前記第１スイッチによって前記第２
ピンに接続された線路と前記電圧源の第１端子とが接続
されたとき、前記第２スイッチによって、前記第１ピン
に接続された線路と前記電圧源の第２端子とが接続され
ることを特徴とする。
【００１４】
【発明の実施の形態】本発明の第１の実施形態につい
て、図面を参照にして説明する。図１は、本実施形態で
使用するＩＣ測定用ソケットと該ＩＣ測定用ソケットに
接続された所要の回路とからなるＩＣの特性測定器の関
係を示した回路図である。
て、図面を参照にして説明する。図１は、本実施形態で
使用するＩＣ測定用ソケットと該ＩＣ測定用ソケットに
接続された所要の回路とからなるＩＣの特性測定器の関
係を示した回路図である。
【００１５】図１ににおいて、ＩＣ測定用ソケット１
は、半導体集積回路装置であるＩＣ２と、該ＩＣ２のリ
ード３に接続するＣ字状のコンタクト４とを有してい
る。更に、該コンタクト４は、外部と電気的接触を行う
ためのセンスピン５及びフォースピン６を有している。
又、ＩＣ測定用ソケット１を接続したＩＣの特性測定器
本体内には、ＩＣ２の量産時等においてＩＣ２の飽和電
圧特性や動作時の電流能力以外の発振周波数やリーク電
圧等の様々な電気的特性を測定できるようにするため
に、センスピン５及びフォースピン６に接続した多数の
コネクターやリレーやそれらを繋ぐ配線等が具備されて
いる。尚、ＩＣ２はＩＣ測定用ソケット１の蓋部１ａに
よって上部から押さえつけられることによって、弾性を
持つコンタクト４とリード３が充分に接触するとともに
ＩＣ測定用ソケット１の蓋部１ａと基台部１ｂとによっ
てＩＣ２が保持される。
は、半導体集積回路装置であるＩＣ２と、該ＩＣ２のリ
ード３に接続するＣ字状のコンタクト４とを有してい
る。更に、該コンタクト４は、外部と電気的接触を行う
ためのセンスピン５及びフォースピン６を有している。
又、ＩＣ測定用ソケット１を接続したＩＣの特性測定器
本体内には、ＩＣ２の量産時等においてＩＣ２の飽和電
圧特性や動作時の電流能力以外の発振周波数やリーク電
圧等の様々な電気的特性を測定できるようにするため
に、センスピン５及びフォースピン６に接続した多数の
コネクターやリレーやそれらを繋ぐ配線等が具備されて
いる。尚、ＩＣ２はＩＣ測定用ソケット１の蓋部１ａに
よって上部から押さえつけられることによって、弾性を
持つコンタクト４とリード３が充分に接触するとともに
ＩＣ測定用ソケット１の蓋部１ａと基台部１ｂとによっ
てＩＣ２が保持される。
【００１６】ここで、コネクター、リレー及び配線等に
よる抵抗成分をＲ１，Ｒ２とする。Ｒ１はセンスピン５
と電圧計８の間に生じる抵抗成分であり、又、Ｒ２はフ
ォースピン６と電流源７の間に生じる抵抗成分である。
従来のように、抵抗成分Ｒ２と電流源７との接続点を測
定点としたとき、抵抗成分Ｒ２に電流が常に流れるた
め、この抵抗成分Ｒ２による電圧降下が発生するので正
確な電圧値を測定することができない。しかし、本実施
形態において、抵抗成分Ｒ１側に電圧計８を接続してい
る。この抵抗成分Ｒ１は、ＩＣ２の特性を測定するため
の多数のコネクターやリレーによって生じるので、非常
に大きなものとなる。
よる抵抗成分をＲ１，Ｒ２とする。Ｒ１はセンスピン５
と電圧計８の間に生じる抵抗成分であり、又、Ｒ２はフ
ォースピン６と電流源７の間に生じる抵抗成分である。
従来のように、抵抗成分Ｒ２と電流源７との接続点を測
定点としたとき、抵抗成分Ｒ２に電流が常に流れるた
め、この抵抗成分Ｒ２による電圧降下が発生するので正
確な電圧値を測定することができない。しかし、本実施
形態において、抵抗成分Ｒ１側に電圧計８を接続してい
る。この抵抗成分Ｒ１は、ＩＣ２の特性を測定するため
の多数のコネクターやリレーによって生じるので、非常
に大きなものとなる。
【００１７】このように、抵抗成分Ｒ１は、その大きさ
が非常に大きなものとなるため、電流源と接続されてい
ないセンスピン５側にはほとんど電流が流れない。その
ため、センスピン５と電圧計８の間に生じる抵抗成分Ｒ
１による電圧降下の影響はほとんど見られない。よっ
て、電圧計８によって測定される電圧は、コンタクト４
にかかる電圧とほぼ同じである。よって、このようなＩ
Ｃの特性測定器を用いることで、大電流を電流源７から
フォースピン６を介してＩＣ２の入出力端子となるリー
ド３に流し、更に、該リード３にかかる電圧をセンスピ
ン５より測定することによって、ＩＣの飽和電圧特性や
動作時のその電流能力などをより正確に測定することが
できる。
が非常に大きなものとなるため、電流源と接続されてい
ないセンスピン５側にはほとんど電流が流れない。その
ため、センスピン５と電圧計８の間に生じる抵抗成分Ｒ
１による電圧降下の影響はほとんど見られない。よっ
て、電圧計８によって測定される電圧は、コンタクト４
にかかる電圧とほぼ同じである。よって、このようなＩ
Ｃの特性測定器を用いることで、大電流を電流源７から
フォースピン６を介してＩＣ２の入出力端子となるリー
ド３に流し、更に、該リード３にかかる電圧をセンスピ
ン５より測定することによって、ＩＣの飽和電圧特性や
動作時のその電流能力などをより正確に測定することが
できる。
【００１８】本発明の第２の実施形態について、図面を
参照にして説明する。図２は、本実施形態で使用するＩ
Ｃ測定用ソケットと該ＩＣ測定用ソケットに接続された
所要の回路とからなるＩＣの特性測定器の関係を示した
回路図である。
参照にして説明する。図２は、本実施形態で使用するＩ
Ｃ測定用ソケットと該ＩＣ測定用ソケットに接続された
所要の回路とからなるＩＣの特性測定器の関係を示した
回路図である。
【００１９】図２において、ＩＣ測定用ソケット１は、
第１の実施形態と同様に半導体集積回路装置であるＩＣ
２と、該ＩＣ２のリード３に接続するＣ字状のコンタク
ト４とを有している。更に、該コンタクト４は、外部と
電気的接触を行うためのセンスピン５及びフォースピン
６を有している。又、ＩＣ測定用ソケット１を接続した
ＩＣの特性測定器本体内には、ＩＣ２の量産時等におい
てＩＣ２の飽和電圧特性や動作時の電流能力以外の発振
周波数やリーク電圧等の様々な電気的特性を測定できる
ようにするために、センスピン５及びフォースピン６に
接続した多数のコネクターやリレーやそれらを繋ぐ配線
等が具備されている。尚、ＩＣ２はＩＣ測定用ソケット
１の蓋部１ａによって上部から押さえつけられることに
よって、弾性を持つコンタクト４とリード３が充分に接
触するとともに、ＩＣ測定用ソケット１の蓋部１ａと基
台部１ｂとによってＩＣ２が保持される。
第１の実施形態と同様に半導体集積回路装置であるＩＣ
２と、該ＩＣ２のリード３に接続するＣ字状のコンタク
ト４とを有している。更に、該コンタクト４は、外部と
電気的接触を行うためのセンスピン５及びフォースピン
６を有している。又、ＩＣ測定用ソケット１を接続した
ＩＣの特性測定器本体内には、ＩＣ２の量産時等におい
てＩＣ２の飽和電圧特性や動作時の電流能力以外の発振
周波数やリーク電圧等の様々な電気的特性を測定できる
ようにするために、センスピン５及びフォースピン６に
接続した多数のコネクターやリレーやそれらを繋ぐ配線
等が具備されている。尚、ＩＣ２はＩＣ測定用ソケット
１の蓋部１ａによって上部から押さえつけられることに
よって、弾性を持つコンタクト４とリード３が充分に接
触するとともに、ＩＣ測定用ソケット１の蓋部１ａと基
台部１ｂとによってＩＣ２が保持される。
【００２０】又、このようなＩＣ測定用ソケット１を接
続したＩＣの特性測定器本体内の電圧電源９は、入力端
子１０と、電圧を供給する電圧源１２と、入力端子１０
から入力される電圧値を検知して電圧源１２の電圧値を
制御するような電圧制御部１３と、前記電圧源１２と接
続した出力端子１１とを備えている。ここで、第１の実
施形態と同様に、このコネクター、リレー及び配線等に
よる抵抗成分をＲ１，Ｒ２とする。Ｒ１はセンスピン５
と電圧電源９の入力端子１０との間に生じる抵抗成分で
あり、又、Ｒ２はフォースピン６と電圧電源９の出力端
子１１との間に生じる抵抗成分である。抵抗成分Ｒ１
は、第１の実施形態と同様に、多数のコネクターやリレ
ーによって生じるので、非常に大きなものとなる。
続したＩＣの特性測定器本体内の電圧電源９は、入力端
子１０と、電圧を供給する電圧源１２と、入力端子１０
から入力される電圧値を検知して電圧源１２の電圧値を
制御するような電圧制御部１３と、前記電圧源１２と接
続した出力端子１１とを備えている。ここで、第１の実
施形態と同様に、このコネクター、リレー及び配線等に
よる抵抗成分をＲ１，Ｒ２とする。Ｒ１はセンスピン５
と電圧電源９の入力端子１０との間に生じる抵抗成分で
あり、又、Ｒ２はフォースピン６と電圧電源９の出力端
子１１との間に生じる抵抗成分である。抵抗成分Ｒ１
は、第１の実施形態と同様に、多数のコネクターやリレ
ーによって生じるので、非常に大きなものとなる。
【００２１】このＩＣの特性測定器は、第１の実施形態
と同様にセンスピン５からほとんど電流が流れないの
で、抵抗成分Ｒ１による電圧降下の影響がほとんどなく
入力端子１０にかかる電圧をセンスピン５にかかる電圧
として電圧制御部１３で検知することができる。このよ
うに検知した電圧を電圧制御部１３で設定した電圧値と
電圧制御部１３内の差分回路（不図示）等で比較した
後、センスピン５にかかる電圧が設定した電圧値になる
ように電圧源１２を制御する。このように、電圧電源９
を動作させることによって、ＩＣ２のリード３には、理
想の電圧値に近い高精度な電圧を印可することができ
る。
と同様にセンスピン５からほとんど電流が流れないの
で、抵抗成分Ｒ１による電圧降下の影響がほとんどなく
入力端子１０にかかる電圧をセンスピン５にかかる電圧
として電圧制御部１３で検知することができる。このよ
うに検知した電圧を電圧制御部１３で設定した電圧値と
電圧制御部１３内の差分回路（不図示）等で比較した
後、センスピン５にかかる電圧が設定した電圧値になる
ように電圧源１２を制御する。このように、電圧電源９
を動作させることによって、ＩＣ２のリード３には、理
想の電圧値に近い高精度な電圧を印可することができ
る。
【００２２】本発明の第３の実施形態について、図面を
参照にして説明する。図３は、本実施形態で使用するＩ
Ｃ測定用ソケットと該ＩＣ測定用ソケットに接続された
所要の回路とからなるＩＣの特性測定器の関係を示した
回路図である。
参照にして説明する。図３は、本実施形態で使用するＩ
Ｃ測定用ソケットと該ＩＣ測定用ソケットに接続された
所要の回路とからなるＩＣの特性測定器の関係を示した
回路図である。
【００２３】図３において、ＩＣ測定用ソケット１は、
第１の実施形態と同様に半導体集積回路装置であるＩＣ
２と、該ＩＣ２のリード３に接続するＣ字状のコンタク
ト４とを有している。更に、該コンタクト４は、外部と
電気的接触を行うためのセンスピン５及びフォースピン
６を有している。又、ＩＣ測定用ソケット１を接続した
ＩＣの特性測定器本体内には、ＩＣ２の量産時等におい
てＩＣ２の飽和電圧特性や動作時の電流能力以外の発振
周波数やリーク電圧等の様々な電気的特性を測定できる
ようにするために、センスピン５及びフォースピン６に
接続した多数のコネクターやリレーやそれらを繋ぐ配線
等が具備されている。尚、ＩＣ２はＩＣ測定用ソケット
１の蓋部１ａに上部から押さえつけられることによっ
て、弾性を持つコンタクト４とリード３が充分に接触す
るとともに、ＩＣ測定用ソケット１の蓋部１ａと基台部
１ｂとによってＩＣ２が保持される。
第１の実施形態と同様に半導体集積回路装置であるＩＣ
２と、該ＩＣ２のリード３に接続するＣ字状のコンタク
ト４とを有している。更に、該コンタクト４は、外部と
電気的接触を行うためのセンスピン５及びフォースピン
６を有している。又、ＩＣ測定用ソケット１を接続した
ＩＣの特性測定器本体内には、ＩＣ２の量産時等におい
てＩＣ２の飽和電圧特性や動作時の電流能力以外の発振
周波数やリーク電圧等の様々な電気的特性を測定できる
ようにするために、センスピン５及びフォースピン６に
接続した多数のコネクターやリレーやそれらを繋ぐ配線
等が具備されている。尚、ＩＣ２はＩＣ測定用ソケット
１の蓋部１ａに上部から押さえつけられることによっ
て、弾性を持つコンタクト４とリード３が充分に接触す
るとともに、ＩＣ測定用ソケット１の蓋部１ａと基台部
１ｂとによってＩＣ２が保持される。
【００２４】又、このようなＩＣ測定用ソケット１を接
続したＩＣの特性測定器本体内には、第１の実施形態で
用いた電圧計８が接点ｂに接続するとともに第２の実施
形態で用いた前記電圧電源９の入力端子１０が接点ｃに
接続した３接点型のスイッチ１４と、第１の実施形態で
用いた電流源７が接点ｅに接続するとともに第２の実施
形態で用いた前記電圧電源９の出力端子１１が接点ｆに
接続した３接点型のスイッチ１５とが設けられている。
続したＩＣの特性測定器本体内には、第１の実施形態で
用いた電圧計８が接点ｂに接続するとともに第２の実施
形態で用いた前記電圧電源９の入力端子１０が接点ｃに
接続した３接点型のスイッチ１４と、第１の実施形態で
用いた電流源７が接点ｅに接続するとともに第２の実施
形態で用いた前記電圧電源９の出力端子１１が接点ｆに
接続した３接点型のスイッチ１５とが設けられている。
【００２５】ここで、第１の実施形態と同様に、このコ
ネクター、リレー及び配線等による抵抗成分をＲ１，Ｒ
２とする。Ｒ１はセンスピン５と３接点型のスイッチ１
４の接点ａとの間に生じる抵抗成分であり、又、Ｒ２は
フォースピン６と３接点型のスイッチ１５の接点ｄとの
間に生じる抵抗成分である。抵抗成分Ｒ１は、第１の実
施形態と同様に、ＩＣ２の特性を測定するための多数の
コネクターやリレーによって生じるので、非常に大きな
ものとなる。
ネクター、リレー及び配線等による抵抗成分をＲ１，Ｒ
２とする。Ｒ１はセンスピン５と３接点型のスイッチ１
４の接点ａとの間に生じる抵抗成分であり、又、Ｒ２は
フォースピン６と３接点型のスイッチ１５の接点ｄとの
間に生じる抵抗成分である。抵抗成分Ｒ１は、第１の実
施形態と同様に、ＩＣ２の特性を測定するための多数の
コネクターやリレーによって生じるので、非常に大きな
ものとなる。
【００２６】このような測定器において、３接点型のス
イッチ１４の接点ａと接点ｂを接続するとともに、３接
点型のスイッチ１５の接点ｄと接点ｅを接続したとき、
第１の実施形態と同様の形態の測定器となり、また、３
接点型のスイッチ１４の接点ａと接点ｃを接続するとと
もに、３接点型のスイッチ１５の接点ｄと接点ｆを接続
したとき、第２の実施形態と同様の形態の測定器とな
る。よって、それぞれのときの動作は、第１の実施形態
及び第２の実施形態で上述した動作と同様の動作である
ので、その詳細な説明は省略する。
イッチ１４の接点ａと接点ｂを接続するとともに、３接
点型のスイッチ１５の接点ｄと接点ｅを接続したとき、
第１の実施形態と同様の形態の測定器となり、また、３
接点型のスイッチ１４の接点ａと接点ｃを接続するとと
もに、３接点型のスイッチ１５の接点ｄと接点ｆを接続
したとき、第２の実施形態と同様の形態の測定器とな
る。よって、それぞれのときの動作は、第１の実施形態
及び第２の実施形態で上述した動作と同様の動作である
ので、その詳細な説明は省略する。
【００２７】尚、本発明の実施形態において述べたフォ
ースピン、センスピンは、それぞれ請求項における第１
ピン、第２ピンのことである。
ースピン、センスピンは、それぞれ請求項における第１
ピン、第２ピンのことである。
【００２８】
【発明の効果】請求項１に記載のＩＣ測定用ソケットに
よると、該ＩＣ測定用ソケット内に保持するＩＣに電力
を供給する第１ピンと、ＩＣのリードの電圧を測定する
第２ピンをＩＣのリードに接続するコンタクトに設けた
ので、飽和電圧測定のようにＩＣ内に大電流を流してそ
のリードにかかる電圧の測定を行うときに、その供給す
る電流が電圧の測定値に与える影響を抑制することがで
き、その電圧を従来に比べてより正確に測定することが
できる。
よると、該ＩＣ測定用ソケット内に保持するＩＣに電力
を供給する第１ピンと、ＩＣのリードの電圧を測定する
第２ピンをＩＣのリードに接続するコンタクトに設けた
ので、飽和電圧測定のようにＩＣ内に大電流を流してそ
のリードにかかる電圧の測定を行うときに、その供給す
る電流が電圧の測定値に与える影響を抑制することがで
き、その電圧を従来に比べてより正確に測定することが
できる。
【００２９】請求項２に記載のＩＣの特性測定器による
と、ＩＣの飽和電圧測定などの測定を行うときに、前記
ＩＣ測定用ソケットの第１ピンに電流を供給するととも
に、前記ＩＣ測定用ソケットの第２ピンの電圧を測定す
るので、この第１ピンと第２ピンが電気的に接続するＩ
Ｃ測定用ソケット内のコンタクトが測定点となるため、
第１ピンから供給される電流が大電流となっても、ＩＣ
と電流源間に生じる抵抗成分が電圧計に与える影響が小
さくなるため、その測定の安定性及び精度が向上する。
と、ＩＣの飽和電圧測定などの測定を行うときに、前記
ＩＣ測定用ソケットの第１ピンに電流を供給するととも
に、前記ＩＣ測定用ソケットの第２ピンの電圧を測定す
るので、この第１ピンと第２ピンが電気的に接続するＩ
Ｃ測定用ソケット内のコンタクトが測定点となるため、
第１ピンから供給される電流が大電流となっても、ＩＣ
と電流源間に生じる抵抗成分が電圧計に与える影響が小
さくなるため、その測定の安定性及び精度が向上する。
【００３０】請求項３に記載のＩＣの特性測定器による
と、電流がほとんど流れない第２ピンに生じる電圧をフ
ィードバックして、ＩＣに供給する電圧の大きさを制御
するため、電圧源とＩＣ間に生じる抵抗成分による影響
が小さくなるので、ＩＣに対して高精度の電圧を印可す
ることができる。
と、電流がほとんど流れない第２ピンに生じる電圧をフ
ィードバックして、ＩＣに供給する電圧の大きさを制御
するため、電圧源とＩＣ間に生じる抵抗成分による影響
が小さくなるので、ＩＣに対して高精度の電圧を印可す
ることができる。
【００３１】請求項４に記載のＩＣの特性測定器による
と、１つの装置内に、請求項２に記載のＩＣの特性測定
器及び請求項３に記載のＩＣの特性測定器を構成するこ
とができ、３接点型のスイッチを用いることで簡単に切
り換えることができる。
と、１つの装置内に、請求項２に記載のＩＣの特性測定
器及び請求項３に記載のＩＣの特性測定器を構成するこ
とができ、３接点型のスイッチを用いることで簡単に切
り換えることができる。
【図１】本発明の第１の実施形態で使用されるＩＣ測定
用ソケット及びＩＣの特性測定器の関係を示した図。
用ソケット及びＩＣの特性測定器の関係を示した図。
【図２】本発明の第２の実施形態で使用されるＩＣ測定
用ソケット及びＩＣの特性測定器の関係を示した図。
用ソケット及びＩＣの特性測定器の関係を示した図。
【図３】本発明の第３の実施形態で使用されるＩＣ測定
用ソケット及びＩＣの特性測定器の関係を示した図。
用ソケット及びＩＣの特性測定器の関係を示した図。
【図４】従来使用されているＩＣ測定用ソケット及びＩ
Ｃの特性測定器の関係を示した図。
Ｃの特性測定器の関係を示した図。
１ ＩＣ測定用ソケット ２ ＩＣ ３ リード ４ コンタクト ５ センスピン ６ フォースピン ７ 電流源 ８ 電圧計 ９ 電圧電源 １０ 入力端子 １１ 出力端子 １２ 電圧源 １３ 電圧制御部 １４ ３接点型のスイッチ １５ ３接点型のスイッチ １６ ピン
Claims (4)
- 【請求項１】 ＩＣのリードと接続するコンタクトを通
してＩＣの電気的特性を測定するためのＩＣ測定用ソケ
ットにおいて、 前記コンタクトが前記リードを通してＩＣに電力を供給
するための第１ピンと、前記リードに生じる電圧を測定
するための第２ピンとを有していることを特徴とするＩ
Ｃ測定用ソケット。 - 【請求項２】 請求項１に記載のＩＣ測定用ソケットを
有するとともに、 該ＩＣ測定用ソケットの前記第１ピンに、インピーダン
スを有する線路を介して接続された電流源と、 前記ＩＣ測定用ソケットの前記第２ピンに、インピーダ
ンスを有する線路を介して接続された電圧計と、 を有することを特徴とするＩＣの特性測定器。 - 【請求項３】 請求項１に記載のＩＣ測定用ソケット
と、 供給する電圧値を測定する第１端子と電圧を供給する第
２端子を備えた電圧源とを有し、 前記ＩＣ測定用ソケットの前記第２ピンを、インピーダ
ンスを有する線路を介して、前記電圧源の第１端子に接
続するとともに、 前記ＩＣ測定用ソケットの前記第１ピンを、インピーダ
ンスを有する線路を介して、前記電圧源の第２端子に接
続することを特徴とするＩＣの特性測定器。 - 【請求項４】 請求項１に記載のＩＣ測定用ソケット
と、 供給する電圧値を測定する第１端子と電圧を供給する第
２端子を備えた電圧源と、 前記ＩＣ測定用ソケットの前記第２ピンにインピーダン
スを有する線路を介して接続された３接点型の第１スイ
ッチと、 前記ＩＣ測定用ソケットの前記第１ピンにインピーダン
スを有する線路を介して接続された３接点型の第２スイ
ッチとを有し、 前記第１のスイッチの残りの２接点に、それぞれ電圧計
と前記電圧源の第１端子が接続するとともに、 前記第２スイッチの残りの２接点に、それぞれ電流源と
前記電圧源の第２端子が接続し、 前記第１スイッチによって前記第２ピンに接続された線
路と前記電圧計とが接続されたとき、前記第２スイッチ
によって、前記第１ピンに接続された線路と前記電流源
とが接続され、 前記第１スイッチによって前記第２ピンに接続された線
路と前記電圧源の第１端子とが接続されたとき、前記第
２スイッチによって、前記第１ピンに接続された線路と
前記電圧源の第２端子とが接続されることを特徴とする
ＩＣの特性測定器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10298593A JP2000133395A (ja) | 1998-10-20 | 1998-10-20 | Ｉｃ測定用ソケット |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10298593A JP2000133395A (ja) | 1998-10-20 | 1998-10-20 | Ｉｃ測定用ソケット |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000133395A true JP2000133395A (ja) | 2000-05-12 |
Family
ID=17861752
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10298593A Pending JP2000133395A (ja) | 1998-10-20 | 1998-10-20 | Ｉｃ測定用ソケット |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000133395A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9915681B2 (en) | 2014-12-24 | 2018-03-13 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Semiconductor test apparatus having pogo pins coated with conduction films |
-
1998
- 1998-10-20 JP JP10298593A patent/JP2000133395A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9915681B2 (en) | 2014-12-24 | 2018-03-13 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Semiconductor test apparatus having pogo pins coated with conduction films |
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|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20040120 |
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| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20060915 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20060926 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20070206 |