JP2002168914A - 安定化電源装置 - Google Patents
安定化電源装置Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 各ボルテージレギュレータの出力端子から出
力されるそれぞれの出力電圧を容易かつ正確に測定する
ことができる安定化電源装置を得る。 【解決手段】 複数のボルテージレギュレータＶＲ１〜
ＶＲｎを備え、測定を行うボルテージレギュレータＶＲ
ｍに入力される電源電圧Ｖｂａｔを対応する電源電圧検
出用スイッチＩＳＷｍを介してテスト用スイッチ２の電
源電圧入力端Ｔ１に出力すると共に、ボルテージレギュ
レータＶＲｍから出力される出力電圧を対応する出力電
圧検出用スイッチＯＳＷｍを介してテスト用スイッチ２
の出力電圧入力端Ｔ２に出力し、ボルテージレギュレー
タＶＲｍからの出力電圧Ｖｏｕｔが出力される出力端子
ＯＵＴｍに所定の負荷１１を接続して、ボルテージレギ
ュレータＶＲｍにおける電源電圧及び出力電圧の測定を
テスト用スイッチ２を切り替えて行うようにした。
力されるそれぞれの出力電圧を容易かつ正確に測定する
ことができる安定化電源装置を得る。 【解決手段】 複数のボルテージレギュレータＶＲ１〜
ＶＲｎを備え、測定を行うボルテージレギュレータＶＲ
ｍに入力される電源電圧Ｖｂａｔを対応する電源電圧検
出用スイッチＩＳＷｍを介してテスト用スイッチ２の電
源電圧入力端Ｔ１に出力すると共に、ボルテージレギュ
レータＶＲｍから出力される出力電圧を対応する出力電
圧検出用スイッチＯＳＷｍを介してテスト用スイッチ２
の出力電圧入力端Ｔ２に出力し、ボルテージレギュレー
タＶＲｍからの出力電圧Ｖｏｕｔが出力される出力端子
ＯＵＴｍに所定の負荷１１を接続して、ボルテージレギ
ュレータＶＲｍにおける電源電圧及び出力電圧の測定を
テスト用スイッチ２を切り替えて行うようにした。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ＩＣで形成された
安定化電源装置に関し、特に複数のボルテージレギュレ
ータを有する安定化電源装置に関する。
安定化電源装置に関し、特に複数のボルテージレギュレ
ータを有する安定化電源装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、ボルテージレギュレータで構成さ
れＩＣ化された安定化電源装置では、所定の出力電流時
における出力電圧が規格内にあるか否かのテストを行っ
ていた。該テストを行う際、所定の出力電流が得られる
ように、安定化電源装置の出力端子に所定の負荷を接続
した状態で該出力端子からの出力電圧を電圧計で測定し
ていた。
れＩＣ化された安定化電源装置では、所定の出力電流時
における出力電圧が規格内にあるか否かのテストを行っ
ていた。該テストを行う際、所定の出力電流が得られる
ように、安定化電源装置の出力端子に所定の負荷を接続
した状態で該出力端子からの出力電圧を電圧計で測定し
ていた。
【０００３】図４は、従来の安定化電源装置における出
力電圧の測定方法の例を示した概略の回路図である。図
４において、安定化電源装置１００は、ＩＣをなしてお
り、バッテリ等の外部の直流電源から電源端子１０１に
入力される直流電源電圧Ｖｂａｔから、所定の安定化し
た電圧を生成して出力端子１０２から出力する。出力端
子１０２と接地との間には、所定の出力電流が得られる
ように負荷１０３が接続されると共に出力電圧を測定す
るための電圧計１０４が接続されている。
力電圧の測定方法の例を示した概略の回路図である。図
４において、安定化電源装置１００は、ＩＣをなしてお
り、バッテリ等の外部の直流電源から電源端子１０１に
入力される直流電源電圧Ｖｂａｔから、所定の安定化し
た電圧を生成して出力端子１０２から出力する。出力端
子１０２と接地との間には、所定の出力電流が得られる
ように負荷１０３が接続されると共に出力電圧を測定す
るための電圧計１０４が接続されている。
【０００４】このような構成において、ＬＳＩテスタを
使用して出力電圧の測定を行う場合、出力端子１０２に
測定用のピンを立て測定を行う。しかし、測定用の同一
ピンで電流を引きながら電圧の測定を行うと、測定用ピ
ンを出力端子１０２に接触させるときに生じる接触抵抗
によって、測定用ピンに電流が流れると電圧降下が発生
し、出力端子１０２からの出力電流が大きくなればなる
ほど正確な出力電圧を測定することができなかった。こ
のことから、ＬＳＩテスタの測定用ピンを２ピンにし、
一方の１ピンを出力端子１０２から所定の電流を引くた
めのフォースピンとし、他方の１ピンを出力電圧を測定
するためのセンスピンとして出力端子１０２からの出力
電圧の測定を行う方法が一般的であった。
使用して出力電圧の測定を行う場合、出力端子１０２に
測定用のピンを立て測定を行う。しかし、測定用の同一
ピンで電流を引きながら電圧の測定を行うと、測定用ピ
ンを出力端子１０２に接触させるときに生じる接触抵抗
によって、測定用ピンに電流が流れると電圧降下が発生
し、出力端子１０２からの出力電流が大きくなればなる
ほど正確な出力電圧を測定することができなかった。こ
のことから、ＬＳＩテスタの測定用ピンを２ピンにし、
一方の１ピンを出力端子１０２から所定の電流を引くた
めのフォースピンとし、他方の１ピンを出力電圧を測定
するためのセンスピンとして出力端子１０２からの出力
電圧の測定を行う方法が一般的であった。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかし、近年のＩＣパ
ッケージの小型化に伴ってＩＣの各端子が非常に小さく
なっていることから、１つ出力端子１０２にＬＳＩテス
タの２つの測定用ピンを同時に接触させることが困難に
なってきた。そこで、図５で示すように、ＩＣ内部で該
出力端子１０２に接続された測定用端子１０５を、出力
端子１０２とは別に設ける方法が考えられる。図５にお
いて、出力端子１０２から負荷電流を流し、測定用端子
１０５を用いて出力電圧の測定を行う。このようにする
ことによって、出力端子１０２からの出力電流の大きさ
に関係なく、安定化電源装置１００の出力電圧を正確に
測定することができる。
ッケージの小型化に伴ってＩＣの各端子が非常に小さく
なっていることから、１つ出力端子１０２にＬＳＩテス
タの２つの測定用ピンを同時に接触させることが困難に
なってきた。そこで、図５で示すように、ＩＣ内部で該
出力端子１０２に接続された測定用端子１０５を、出力
端子１０２とは別に設ける方法が考えられる。図５にお
いて、出力端子１０２から負荷電流を流し、測定用端子
１０５を用いて出力電圧の測定を行う。このようにする
ことによって、出力端子１０２からの出力電流の大きさ
に関係なく、安定化電源装置１００の出力電圧を正確に
測定することができる。
【０００６】しかしこのような方法では、ＩＣの端子を
増加させなければならず、複数のボルテージレギュレー
タを１チップのＩＣに内蔵する場合、内蔵するボルテー
ジレギュレータの数だけＩＣの端子が増加するという問
題があった。このため、使用するＩＣパッケージのピン
数が制限となり、ＩＣの小型化を図ることができないと
いう問題が生じていた。
増加させなければならず、複数のボルテージレギュレー
タを１チップのＩＣに内蔵する場合、内蔵するボルテー
ジレギュレータの数だけＩＣの端子が増加するという問
題があった。このため、使用するＩＣパッケージのピン
数が制限となり、ＩＣの小型化を図ることができないと
いう問題が生じていた。
【０００７】本発明は、上記のような問題を解決するた
めになされたものであり、複数のボルテージレギュレー
タを内蔵したＩＣの端子を少なくとも１つ増加させるだ
けで、各ボルテージレギュレータの出力端子から出力さ
れるそれぞれの出力電圧を容易かつ正確に測定すること
ができる安定化電源装置を得ることを目的とする。
めになされたものであり、複数のボルテージレギュレー
タを内蔵したＩＣの端子を少なくとも１つ増加させるだ
けで、各ボルテージレギュレータの出力端子から出力さ
れるそれぞれの出力電圧を容易かつ正確に測定すること
ができる安定化電源装置を得ることを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】この発明に係る安定化電
源装置は、複数のボルテージレギュレータからなるボル
テージレギュレータ部と、入力される制御信号に応じ
て、対応するボルテージレギュレータから出力された電
圧を出力する各出力電圧検出用スイッチからなる出力電
圧検出用スイッチ部と、各ボルテージレギュレータの出
力電圧の測定を行うテストモード動作時に、該各出力電
圧検出用スイッチの動作制御を行うテスト回路部とを備
え、テスト回路部は、測定を行う所望のボルテージレギ
ュレータに対応する出力電圧検出用スイッチに対して、
該ボルテージレギュレータからの出力電圧を出力させる
ものである。
源装置は、複数のボルテージレギュレータからなるボル
テージレギュレータ部と、入力される制御信号に応じ
て、対応するボルテージレギュレータから出力された電
圧を出力する各出力電圧検出用スイッチからなる出力電
圧検出用スイッチ部と、各ボルテージレギュレータの出
力電圧の測定を行うテストモード動作時に、該各出力電
圧検出用スイッチの動作制御を行うテスト回路部とを備
え、テスト回路部は、測定を行う所望のボルテージレギ
ュレータに対応する出力電圧検出用スイッチに対して、
該ボルテージレギュレータからの出力電圧を出力させる
ものである。
【０００９】また、入力される制御信号に応じて、対応
するボルテージレギュレータに入力された電源電圧を出
力する各電源電圧検出用スイッチからなる電源電圧検出
用スイッチ部と、入力される制御信号に応じて、電源電
圧検出用スイッチ部からの電圧と該出力電圧検出用スイ
ッチ部からの電圧を切り替えて所定の電圧測定用端子に
出力する出力電圧切替スイッチ部とを備え、テスト回路
部は、各ボルテージレギュレータの出力電圧の測定を行
うテストモード動作時に、電源電圧検出用スイッチ部及
び出力電圧切替スイッチ部の動作制御を行うようにして
もよい。
するボルテージレギュレータに入力された電源電圧を出
力する各電源電圧検出用スイッチからなる電源電圧検出
用スイッチ部と、入力される制御信号に応じて、電源電
圧検出用スイッチ部からの電圧と該出力電圧検出用スイ
ッチ部からの電圧を切り替えて所定の電圧測定用端子に
出力する出力電圧切替スイッチ部とを備え、テスト回路
部は、各ボルテージレギュレータの出力電圧の測定を行
うテストモード動作時に、電源電圧検出用スイッチ部及
び出力電圧切替スイッチ部の動作制御を行うようにして
もよい。
【００１０】具体的には、上記テスト回路部は、測定を
行うボルテージレギュレータに対応する電源電圧検出用
スイッチ及び出力電圧検出用スイッチに対して、出力電
圧切替スイッチ部に該ボルテージレギュレータに入力さ
れる電源電圧及び該ボルテージレギュレータからの出力
電圧を、出力電圧切替スイッチ部の対応する端子に出力
させ、該出力電圧切替スイッチ部に対して、入力された
電源電圧及び出力電圧を所定の順に電圧測定用端子に出
力させるようにする。
行うボルテージレギュレータに対応する電源電圧検出用
スイッチ及び出力電圧検出用スイッチに対して、出力電
圧切替スイッチ部に該ボルテージレギュレータに入力さ
れる電源電圧及び該ボルテージレギュレータからの出力
電圧を、出力電圧切替スイッチ部の対応する端子に出力
させ、該出力電圧切替スイッチ部に対して、入力された
電源電圧及び出力電圧を所定の順に電圧測定用端子に出
力させるようにする。
【００１１】
【発明の実施の形態】次に、図面に示す実施の形態に基
づいて、本発明を詳細に説明する。図１は、本発明の実
施の形態における安定化電源装置の例を示した概略のブ
ロック図である。図１において、安定化電源装置１は、
複数のボルテージレギュレータＶＲ１〜ＶＲｎ（ｎは、
ｎ＞１の整数）と、該各ボルテージレギュレータＶＲ１
〜ＶＲｎの電源入力端にそれぞれ対応して設けられ電源
電圧検出用スイッチＩＳＷ１〜ＩＳＷｎと、該各ボルテ
ージレギュレータＶＲ１〜ＶＲｎの出力端にそれぞれ対
応して設けられ出力電圧検出用スイッチＯＳＷ１〜ＯＳ
Ｗｎとを備えている。
づいて、本発明を詳細に説明する。図１は、本発明の実
施の形態における安定化電源装置の例を示した概略のブ
ロック図である。図１において、安定化電源装置１は、
複数のボルテージレギュレータＶＲ１〜ＶＲｎ（ｎは、
ｎ＞１の整数）と、該各ボルテージレギュレータＶＲ１
〜ＶＲｎの電源入力端にそれぞれ対応して設けられ電源
電圧検出用スイッチＩＳＷ１〜ＩＳＷｎと、該各ボルテ
ージレギュレータＶＲ１〜ＶＲｎの出力端にそれぞれ対
応して設けられ出力電圧検出用スイッチＯＳＷ１〜ＯＳ
Ｗｎとを備えている。
【００１２】更に、安定化電源装置１は、テストモード
時に、外部から入力される直流電源電圧Ｖｂａｔと各ボ
ルテージレギュレータＶＲ１〜ＶＲｎからの出力電圧と
の切り替えを行う出力電圧切替スイッチ部をなすテスト
用スイッチ２と、所定のシーケンスに基づいて電源電圧
検出用スイッチＩＳＷ１〜ＩＳＷｎ、出力電圧検出用ス
イッチＯＳＷ１〜ＯＳＷｎ及びテスト用スイッチ２の動
作制御を行うテスト回路３とを備えている。なお、安定
化電源装置１は、ＩＣで形成されていることから、電源
電圧検出用スイッチＩＳＷ１〜ＩＳＷｎ、出力電圧検出
用スイッチＯＳＷ１〜ＯＳＷｎ及びテスト用スイッチ２
の各スイッチは、機械的な接点を有するスイッチではな
く、半導体回路からなるスイッチ回路で形成されてい
る。
時に、外部から入力される直流電源電圧Ｖｂａｔと各ボ
ルテージレギュレータＶＲ１〜ＶＲｎからの出力電圧と
の切り替えを行う出力電圧切替スイッチ部をなすテスト
用スイッチ２と、所定のシーケンスに基づいて電源電圧
検出用スイッチＩＳＷ１〜ＩＳＷｎ、出力電圧検出用ス
イッチＯＳＷ１〜ＯＳＷｎ及びテスト用スイッチ２の動
作制御を行うテスト回路３とを備えている。なお、安定
化電源装置１は、ＩＣで形成されていることから、電源
電圧検出用スイッチＩＳＷ１〜ＩＳＷｎ、出力電圧検出
用スイッチＯＳＷ１〜ＯＳＷｎ及びテスト用スイッチ２
の各スイッチは、機械的な接点を有するスイッチではな
く、半導体回路からなるスイッチ回路で形成されてい
る。
【００１３】ボルテージレギュレータＶＲｍ（ｍ＝１〜
ｎ）において、電源入力端は、外部からの電源電圧Ｖｂ
ａｔが入力される電源端子４に接続され、所定の電圧に
安定化させた電圧を出力する出力端は、安定化電源装置
１の出力端子をなす出力端子ＯＵＴｍに対応して接続さ
れている。また、電源電圧検出用スイッチＩＳＷｍは、
テスト回路３からの制御信号に応じて、ボルテージレギ
ュレータＶＲｍの電源入力端とテスト用スイッチ２の電
源電圧入力端Ｔ１との接続制御を行う。これに対して、
出力電圧検出用スイッチＯＳＷｍは、テスト回路３から
の制御信号に応じて、ボルテージレギュレータＶＲｍの
出力端とテスト用スイッチ２の出力電圧入力端Ｔ２との
接続制御を行う。
ｎ）において、電源入力端は、外部からの電源電圧Ｖｂ
ａｔが入力される電源端子４に接続され、所定の電圧に
安定化させた電圧を出力する出力端は、安定化電源装置
１の出力端子をなす出力端子ＯＵＴｍに対応して接続さ
れている。また、電源電圧検出用スイッチＩＳＷｍは、
テスト回路３からの制御信号に応じて、ボルテージレギ
ュレータＶＲｍの電源入力端とテスト用スイッチ２の電
源電圧入力端Ｔ１との接続制御を行う。これに対して、
出力電圧検出用スイッチＯＳＷｍは、テスト回路３から
の制御信号に応じて、ボルテージレギュレータＶＲｍの
出力端とテスト用スイッチ２の出力電圧入力端Ｔ２との
接続制御を行う。
【００１４】一方、テスト用スイッチ２は、安定化電源
装置１のテストを行う際、テスト回路３からの制御信号
に応じて、測定装置のプローブを接続するための安定化
電源装置１における測定用端子５と、電源電圧入力端Ｔ
１又は出力電圧入力端Ｔ２のいずれかとの接続を行う。
また、各電源電圧検出用スイッチＩＳＷ１〜ＩＳＷｎと
テスト用スイッチ２の電源電圧入力端Ｔ１が、配線６で
接続され、各出力電圧検出用スイッチＯＳＷ１〜ＯＳＷ
ｎとテスト用スイッチ２の出力電圧入力端Ｔ２が、配線
７で接続されている。テスト回路３は、安定化電源装置
１の制御信号入力端子８に入力される外部から動作モー
ドの切替制御信号に応じて各電源電圧検出用スイッチＩ
ＳＷ１〜ＩＳＷｎ、各出力電圧検出用スイッチＯＳＷ１
〜ＯＳＷｎ及びテスト用スイッチ２の動作制御を行う。
装置１のテストを行う際、テスト回路３からの制御信号
に応じて、測定装置のプローブを接続するための安定化
電源装置１における測定用端子５と、電源電圧入力端Ｔ
１又は出力電圧入力端Ｔ２のいずれかとの接続を行う。
また、各電源電圧検出用スイッチＩＳＷ１〜ＩＳＷｎと
テスト用スイッチ２の電源電圧入力端Ｔ１が、配線６で
接続され、各出力電圧検出用スイッチＯＳＷ１〜ＯＳＷ
ｎとテスト用スイッチ２の出力電圧入力端Ｔ２が、配線
７で接続されている。テスト回路３は、安定化電源装置
１の制御信号入力端子８に入力される外部から動作モー
ドの切替制御信号に応じて各電源電圧検出用スイッチＩ
ＳＷ１〜ＩＳＷｎ、各出力電圧検出用スイッチＯＳＷ１
〜ＯＳＷｎ及びテスト用スイッチ２の動作制御を行う。
【００１５】次に、図２は、ボルテージレギュレータＶ
Ｒｍの回路例を示した図である。図２において、ボルテ
ージレギュレータＶＲｍは、演算増幅器２１と、Ｐチャ
ネル型ＭＯＳトランジスタ（以下、ＰＭＯＳトランジス
タと呼ぶ）２２と、基準電圧発生回路２３と、抵抗２
４，２５とで形成されている。演算増幅器２１は、ＰＭ
ＯＳトランジスタ２２から出力される出力電圧Ｖｏｕｔ
を抵抗２４及び２５で分圧された電圧から検出し、該分
圧電圧が基準電圧発生回路２３から入力される基準電圧
Ｖｒｅｆになるように、ＰＭＯＳトランジスタ２２の動
作制御を行う。このようにして、ボルテージレギュレー
タＶＲｍの出力電圧Ｖｏｕｔは、設定された電圧で一定
となる。
Ｒｍの回路例を示した図である。図２において、ボルテ
ージレギュレータＶＲｍは、演算増幅器２１と、Ｐチャ
ネル型ＭＯＳトランジスタ（以下、ＰＭＯＳトランジス
タと呼ぶ）２２と、基準電圧発生回路２３と、抵抗２
４，２５とで形成されている。演算増幅器２１は、ＰＭ
ＯＳトランジスタ２２から出力される出力電圧Ｖｏｕｔ
を抵抗２４及び２５で分圧された電圧から検出し、該分
圧電圧が基準電圧発生回路２３から入力される基準電圧
Ｖｒｅｆになるように、ＰＭＯＳトランジスタ２２の動
作制御を行う。このようにして、ボルテージレギュレー
タＶＲｍの出力電圧Ｖｏｕｔは、設定された電圧で一定
となる。
【００１６】このような構成において、テストモード時
の動作について説明する。テストモード時には、テスト
回路３は、制御信号入力端子８からテストモードを実行
させるための所定のテストモード信号が入力される。該
テストモード信号が入力されると、テスト回路３は、各
ボルテージレギュレータＶＲ１〜ＶＲｎの出力電圧の測
定をそれぞれ順に行う。以下、ボルテージレギュレータ
ＶＲ１における出力電圧を測定する場合を例にして説明
する。
の動作について説明する。テストモード時には、テスト
回路３は、制御信号入力端子８からテストモードを実行
させるための所定のテストモード信号が入力される。該
テストモード信号が入力されると、テスト回路３は、各
ボルテージレギュレータＶＲ１〜ＶＲｎの出力電圧の測
定をそれぞれ順に行う。以下、ボルテージレギュレータ
ＶＲ１における出力電圧を測定する場合を例にして説明
する。
【００１７】テスト回路３は、電源電圧検出用スイッチ
ＩＳＷ１及び出力電圧検出用スイッチＯＳＷ１をオンさ
せて接続状態にし、他の電源電圧検出用スイッチＩＳＷ
２〜ＩＳＷｎ及び出力電圧検出用スイッチＯＳＷ２〜Ｏ
ＳＷｎをオフさせて開放状態にする。このことから、テ
スト用スイッチ２の電源電圧入力端Ｔ１には、電源電圧
検出用スイッチＩＳＷ１を介してボルテージレギュレー
タＶＲ１に入力されている電源電圧Ｖｂａｔが入力さ
れ、テスト用スイッチ２の出力電圧入力端Ｔ２には、出
力電圧検出用スイッチＯＳＷ１を介してボルテージレギ
ュレータＶＲ１から出力された出力電圧Ｖｏｕｔが入力
される。
ＩＳＷ１及び出力電圧検出用スイッチＯＳＷ１をオンさ
せて接続状態にし、他の電源電圧検出用スイッチＩＳＷ
２〜ＩＳＷｎ及び出力電圧検出用スイッチＯＳＷ２〜Ｏ
ＳＷｎをオフさせて開放状態にする。このことから、テ
スト用スイッチ２の電源電圧入力端Ｔ１には、電源電圧
検出用スイッチＩＳＷ１を介してボルテージレギュレー
タＶＲ１に入力されている電源電圧Ｖｂａｔが入力さ
れ、テスト用スイッチ２の出力電圧入力端Ｔ２には、出
力電圧検出用スイッチＯＳＷ１を介してボルテージレギ
ュレータＶＲ１から出力された出力電圧Ｖｏｕｔが入力
される。
【００１８】次に、テスト回路３は、テスト用スイッチ
２に対して、入力端Ｔ１を測定用端子５に接続するよう
に制御する。このことから、該測定用端子５には、ボル
テージレギュレータＶＲ１に入力される電源電圧Ｖｂａ
ｔが印加され、測定用端子５に電圧計１２の電圧測定用
プローブ（図示せず）を接続して該電源電圧Ｖｂａｔの
測定を行う。このとき測定された電源電圧を、測定電圧
Ｖｉｖｒとする。
２に対して、入力端Ｔ１を測定用端子５に接続するよう
に制御する。このことから、該測定用端子５には、ボル
テージレギュレータＶＲ１に入力される電源電圧Ｖｂａ
ｔが印加され、測定用端子５に電圧計１２の電圧測定用
プローブ（図示せず）を接続して該電源電圧Ｖｂａｔの
測定を行う。このとき測定された電源電圧を、測定電圧
Ｖｉｖｒとする。
【００１９】次に、テスト回路３は、テスト用スイッチ
２に対して、入力端Ｔ２を測定用端子５に接続するよう
に制御し、出力端子ＯＵＴ１と接地との間に所定の負荷
１１が接続される。このことから、該測定用端子５に
は、出力端子ＯＵＴ１から所定の負荷電流が出力されて
いる状態でのボルテージレギュレータＶＲ１からの出力
電圧が印加され、測定用端子５に電圧計１２の電圧測定
用プローブを接続して該出力電圧の測定を行う。このと
き測定された出力電圧を、測定電圧Ｖｏｖｒとする。
２に対して、入力端Ｔ２を測定用端子５に接続するよう
に制御し、出力端子ＯＵＴ１と接地との間に所定の負荷
１１が接続される。このことから、該測定用端子５に
は、出力端子ＯＵＴ１から所定の負荷電流が出力されて
いる状態でのボルテージレギュレータＶＲ１からの出力
電圧が印加され、測定用端子５に電圧計１２の電圧測定
用プローブを接続して該出力電圧の測定を行う。このと
き測定された出力電圧を、測定電圧Ｖｏｖｒとする。
【００２０】ここで、測定電圧Ｖｉｖｒは、電源端子４
から入力された電源電圧Ｖｂａｔに対して、ＩＣチップ
内の配線による抵抗成分、ボンディング及びボンディン
グワイヤ等の影響を受けている。このことから、該配線
による抵抗成分、ボンディング、ボンディングワイヤ及
び測定用端子５と電圧計１２の測定用プローブとの接触
抵抗等による電圧降下をΔＶとすると、該電圧降下ΔＶ
は、下記（１）式によって算出することができる。 ΔＶ＝Ｖｂａｔ−Ｖｉｖｒ………………（１）
から入力された電源電圧Ｖｂａｔに対して、ＩＣチップ
内の配線による抵抗成分、ボンディング及びボンディン
グワイヤ等の影響を受けている。このことから、該配線
による抵抗成分、ボンディング、ボンディングワイヤ及
び測定用端子５と電圧計１２の測定用プローブとの接触
抵抗等による電圧降下をΔＶとすると、該電圧降下ΔＶ
は、下記（１）式によって算出することができる。 ΔＶ＝Ｖｂａｔ−Ｖｉｖｒ………………（１）
【００２１】一方、測定電圧Ｖｏｖｒにおいても、ボル
テージレギュレータＶＲ１から出力された電圧に対し
て、ＩＣチップ内の配線による抵抗成分、ボンディング
及びボンディングワイヤ等の影響を受けている。ここ
で、配線６と配線７における各抵抗成分の差は無視でき
るとすると、ボルテージレギュレータＶＲ１の真の出力
電圧Ｖｏ１は、下記（２）式で示すことができる。 Ｖｏ１＝Ｖｏｖｒ＋ΔＶ………………（２）
テージレギュレータＶＲ１から出力された電圧に対し
て、ＩＣチップ内の配線による抵抗成分、ボンディング
及びボンディングワイヤ等の影響を受けている。ここ
で、配線６と配線７における各抵抗成分の差は無視でき
るとすると、ボルテージレギュレータＶＲ１の真の出力
電圧Ｖｏ１は、下記（２）式で示すことができる。 Ｖｏ１＝Ｖｏｖｒ＋ΔＶ………………（２）
【００２２】更に、同様にして、各ボルテージレギュレ
ータＶＲ２〜ＶＲｎからの出力電圧の測定をそれぞれ行
い、各ボルテージレギュレータＶＲ２〜ＶＲｎから出力
された真の出力電圧Ｖｏ２〜Ｖｏｎをそれぞれ算出す
る。このようにして、安定化電源装置１における各ボル
テージレギュレータＶＲ１〜ＶＲｎごとの出力電圧の測
定を容易かつ正確に行うことができる。なお、通常動作
時には、テスト回路３は、各電源電圧検出用スイッチＩ
ＳＷ１〜ＩＳＷｎ及び各出力電圧検出用スイッチＯＳＷ
１〜ＯＳＷｎをそれぞれオフさせて開放状態にする。
ータＶＲ２〜ＶＲｎからの出力電圧の測定をそれぞれ行
い、各ボルテージレギュレータＶＲ２〜ＶＲｎから出力
された真の出力電圧Ｖｏ２〜Ｖｏｎをそれぞれ算出す
る。このようにして、安定化電源装置１における各ボル
テージレギュレータＶＲ１〜ＶＲｎごとの出力電圧の測
定を容易かつ正確に行うことができる。なお、通常動作
時には、テスト回路３は、各電源電圧検出用スイッチＩ
ＳＷ１〜ＩＳＷｎ及び各出力電圧検出用スイッチＯＳＷ
１〜ＯＳＷｎをそれぞれオフさせて開放状態にする。
【００２３】ここで、図１で示した安定化電源装置１で
は、ボルテージレギュレータの数ｎが多くなると、すべ
てのボルテージレギュレータに対する出力電圧の測定を
行うために要する時間が長くなる場合がある。そこで、
図３で示すように、ｎ個の半数又はほぼ半数であるボル
テージレギュレータＶＲ１〜ＶＲｈ（ｈ≒ｎ／２の整
数）の出力電圧を測定するためのテスト用スイッチ２ａ
及び測定用端子５ａを設けると共に、ボルテージレギュ
レータＶＲｉ（ｉ＝ｈ＋１）〜ＶＲｎの出力電圧を測定
するためのテスト用スイッチ２ｂ及び測定用端子５ｂを
設けるようにして、測定に要する時間の短縮を図ること
ができる。
は、ボルテージレギュレータの数ｎが多くなると、すべ
てのボルテージレギュレータに対する出力電圧の測定を
行うために要する時間が長くなる場合がある。そこで、
図３で示すように、ｎ個の半数又はほぼ半数であるボル
テージレギュレータＶＲ１〜ＶＲｈ（ｈ≒ｎ／２の整
数）の出力電圧を測定するためのテスト用スイッチ２ａ
及び測定用端子５ａを設けると共に、ボルテージレギュ
レータＶＲｉ（ｉ＝ｈ＋１）〜ＶＲｎの出力電圧を測定
するためのテスト用スイッチ２ｂ及び測定用端子５ｂを
設けるようにして、測定に要する時間の短縮を図ること
ができる。
【００２４】すなわち、ボルテージレギュレータＶＲ１
〜ＶＲｈにおける出力電圧をテスト用スイッチ２ａ及び
測定用端子５ａを使用して測定すると共に、ボルテージ
レギュレータＶＲｉ〜ＶＲｎにおける出力電圧をテスト
用スイッチ２ｂ及び測定用端子５ｂを使用して測定する
ことができる。このため、測定装置が、測定用端子５ａ
及び５ｂの電圧を同時に測定することによって、測定装
置の１回の測定動作で２つのボルテージレギュレータの
出力電圧の測定を行うことができ、各ボルテージレギュ
レータＶＲ１〜ＶＲｎの出力電圧測定に要する時間をほ
ぼ半減させることができる。
〜ＶＲｈにおける出力電圧をテスト用スイッチ２ａ及び
測定用端子５ａを使用して測定すると共に、ボルテージ
レギュレータＶＲｉ〜ＶＲｎにおける出力電圧をテスト
用スイッチ２ｂ及び測定用端子５ｂを使用して測定する
ことができる。このため、測定装置が、測定用端子５ａ
及び５ｂの電圧を同時に測定することによって、測定装
置の１回の測定動作で２つのボルテージレギュレータの
出力電圧の測定を行うことができ、各ボルテージレギュ
レータＶＲ１〜ＶＲｎの出力電圧測定に要する時間をほ
ぼ半減させることができる。
【００２５】なお、テスト用スイッチ２ａ及び２ｂの各
動作及び測定用端子５ａ及び５ｂから測定されたそれぞ
れの電圧に対するボルテージレギュレータの出力電圧を
算出する方法は、テスト用スイッチ２及び測定用端子５
を使用した図１の場合と同様であるのでその説明を省略
する。また、テスト用スイッチ及び測定用端子の数を増
やせば増やすほど、測定時間を短縮させることができ
る。しかし、測定用端子を増やすほど安定化電源装置１
をなすＩＣのピン数が増加するため、該ＩＣの増加ピン
数の許容数に応じて、テスト用スイッチ及び測定用端子
の数を決めるとよい。
動作及び測定用端子５ａ及び５ｂから測定されたそれぞ
れの電圧に対するボルテージレギュレータの出力電圧を
算出する方法は、テスト用スイッチ２及び測定用端子５
を使用した図１の場合と同様であるのでその説明を省略
する。また、テスト用スイッチ及び測定用端子の数を増
やせば増やすほど、測定時間を短縮させることができ
る。しかし、測定用端子を増やすほど安定化電源装置１
をなすＩＣのピン数が増加するため、該ＩＣの増加ピン
数の許容数に応じて、テスト用スイッチ及び測定用端子
の数を決めるとよい。
【００２６】このように、本実施の形態における安定化
電源装置は、複数のボルテージレギュレータＶＲ１〜Ｖ
Ｒｎを備え、測定を行うボルテージレギュレータＶＲｍ
に入力される電源電圧Ｖｂａｔを対応する電源電圧検出
用スイッチＩＳＷｍを介してテスト用スイッチ２の電源
電圧入力端Ｔ１に出力すると共に、ボルテージレギュレ
ータＶＲｍから出力される出力電圧を対応する出力電圧
検出用スイッチＯＳＷｍを介してテスト用スイッチ２の
出力電圧入力端Ｔ２に出力し、ボルテージレギュレータ
ＶＲｍからの出力電圧が出力される出力端子ＯＵＴｍに
所定の負荷１１を接続して、ボルテージレギュレータＶ
Ｒｍにおける電源電圧及び出力電圧の測定をテスト用ス
イッチ２を切り替えて行うようにした。
電源装置は、複数のボルテージレギュレータＶＲ１〜Ｖ
Ｒｎを備え、測定を行うボルテージレギュレータＶＲｍ
に入力される電源電圧Ｖｂａｔを対応する電源電圧検出
用スイッチＩＳＷｍを介してテスト用スイッチ２の電源
電圧入力端Ｔ１に出力すると共に、ボルテージレギュレ
ータＶＲｍから出力される出力電圧を対応する出力電圧
検出用スイッチＯＳＷｍを介してテスト用スイッチ２の
出力電圧入力端Ｔ２に出力し、ボルテージレギュレータ
ＶＲｍからの出力電圧が出力される出力端子ＯＵＴｍに
所定の負荷１１を接続して、ボルテージレギュレータＶ
Ｒｍにおける電源電圧及び出力電圧の測定をテスト用ス
イッチ２を切り替えて行うようにした。
【００２７】このことから、ＩＣからなる安定化電源装
置において、少なくとも１つの測定用端子を追加するこ
とによって、複数のボルテージレギュレータにおける各
出力電圧の測定を容易に行うことができる。更に、ボル
テージレギュレータにおける出力電圧測定時の電源電圧
の測定を行うことによって、ＩＣチップ内の配線による
抵抗成分、ボンディング、ボンディングワイヤ及び測定
用端子と測定用プローブとの接触抵抗等による電圧降下
の影響を補正することができ、各ボルテージレギュレー
タの出力電圧をそれぞれ正確に測定することができる。
置において、少なくとも１つの測定用端子を追加するこ
とによって、複数のボルテージレギュレータにおける各
出力電圧の測定を容易に行うことができる。更に、ボル
テージレギュレータにおける出力電圧測定時の電源電圧
の測定を行うことによって、ＩＣチップ内の配線による
抵抗成分、ボンディング、ボンディングワイヤ及び測定
用端子と測定用プローブとの接触抵抗等による電圧降下
の影響を補正することができ、各ボルテージレギュレー
タの出力電圧をそれぞれ正確に測定することができる。
【００２８】
【発明の効果】上記の説明から明らかなように、本発明
の安定化電源装置によれば、テストモード時に、テスト
回路部は、測定を行う所望のボルテージレギュレータに
対応する出力電圧検出用スイッチに対して、ボルテージ
レギュレータから出力された電圧を出力させるようにし
た。このことから、所定の負荷が接続された状態で各ボ
ルテージレギュレータから出力されたそれぞれの出力電
圧を順に出力させることができ、ＩＣからなる安定化電
源装置において、負荷が接続された端子と異なる少なく
とも１つの測定用端子を追加することによって、複数の
ボルテージレギュレータにおける各出力電圧の測定を容
易に行うことができる。
の安定化電源装置によれば、テストモード時に、テスト
回路部は、測定を行う所望のボルテージレギュレータに
対応する出力電圧検出用スイッチに対して、ボルテージ
レギュレータから出力された電圧を出力させるようにし
た。このことから、所定の負荷が接続された状態で各ボ
ルテージレギュレータから出力されたそれぞれの出力電
圧を順に出力させることができ、ＩＣからなる安定化電
源装置において、負荷が接続された端子と異なる少なく
とも１つの測定用端子を追加することによって、複数の
ボルテージレギュレータにおける各出力電圧の測定を容
易に行うことができる。
【００２９】一方、テストモード時に、テスト回路部
が、測定を行うボルテージレギュレータに入力された電
源電圧を、電源電圧検出用スイッチ部の対応する電源電
圧検出用スイッチを介して出力させるようにした。この
ことから、被測定ボルテージレギュレータにおける出力
電圧測定時の電源電圧の測定を行うことによって、ＩＣ
チップ内の配線による抵抗成分、ボンディング、ボンデ
ィングワイヤ及び測定用端子と測定装置の測定用プロー
ブとの接触抵抗等による電圧降下の影響を補正すること
ができ、各ボルテージレギュレータの出力電圧をそれぞ
れ正確に測定することができる。
が、測定を行うボルテージレギュレータに入力された電
源電圧を、電源電圧検出用スイッチ部の対応する電源電
圧検出用スイッチを介して出力させるようにした。この
ことから、被測定ボルテージレギュレータにおける出力
電圧測定時の電源電圧の測定を行うことによって、ＩＣ
チップ内の配線による抵抗成分、ボンディング、ボンデ
ィングワイヤ及び測定用端子と測定装置の測定用プロー
ブとの接触抵抗等による電圧降下の影響を補正すること
ができ、各ボルテージレギュレータの出力電圧をそれぞ
れ正確に測定することができる。
【００３０】具体的には、測定を行う被測定ボルテージ
レギュレータに入力される電源電圧を対応する電源電圧
検出用スイッチを介して出力電圧切替スイッチ部に出力
すると共に、該被測定ボルテージレギュレータから出力
される出力電圧を対応する出力電圧検出用スイッチを介
して出力電圧切替スイッチ部に出力し、該被測定ボルテ
ージレギュレータからの出力電圧が対応して出力される
出力端子に所定の負荷を接続して、被測定ボルテージレ
ギュレータにおける電源電圧及び出力電圧を出力電圧切
替スイッチ部で切り替えて出力するようにした。このこ
とから、出力電圧の測定を行う被測定ボルテージレギュ
レータに入力された電源電圧を、電圧測定用端子を増や
すことなく測定することができる。
レギュレータに入力される電源電圧を対応する電源電圧
検出用スイッチを介して出力電圧切替スイッチ部に出力
すると共に、該被測定ボルテージレギュレータから出力
される出力電圧を対応する出力電圧検出用スイッチを介
して出力電圧切替スイッチ部に出力し、該被測定ボルテ
ージレギュレータからの出力電圧が対応して出力される
出力端子に所定の負荷を接続して、被測定ボルテージレ
ギュレータにおける電源電圧及び出力電圧を出力電圧切
替スイッチ部で切り替えて出力するようにした。このこ
とから、出力電圧の測定を行う被測定ボルテージレギュ
レータに入力された電源電圧を、電圧測定用端子を増や
すことなく測定することができる。
【図１】 本発明の実施の形態における安定化電源装置
の例を示した概略のブロック図である。
の例を示した概略のブロック図である。
【図２】 図１の各ボルテージレギュレータの回路例を
示した図である。
示した図である。
【図３】 本発明の実施の形態における安定化電源装置
の他の例を示した概略のブロック図である。
の他の例を示した概略のブロック図である。
【図４】 従来の安定化電源装置の例を示した概略のブ
ロック図である。
ロック図である。
【図５】 従来の安定化電源装置の他の例を示した概略
のブロック図である。
のブロック図である。
１ 安定化電源装置 ２，２ａ，２ｂ テスト用スイッチ ３ テスト回路 ４ 電源端子 ５，５ａ，５ｂ 測定用端子 ６，７ 配線 ８ 制御信号入力端子 ＶＲ１〜ＶＲｎ ボルテージレギュレータ ＩＳＷ１〜ＩＳＷｎ 電源電圧検出用スイッチ ＯＳＷ１〜ＯＳＷｎ 出力電圧検出用スイッチ ＯＵＴ１〜ＯＵＴｎ 出力端子
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｇ０１Ｒ 31/28 Ｖ
Claims (3)
- 【請求項１】 複数のボルテージレギュレータからなる
ボルテージレギュレータ部と、 入力される制御信号に応じて、対応するボルテージレギ
ュレータから出力された電圧を出力する各出力電圧検出
用スイッチからなる出力電圧検出用スイッチ部と、 上記各ボルテージレギュレータの出力電圧の測定を行う
テストモード動作時に、該各出力電圧検出用スイッチの
動作制御を行うテスト回路部と、を備え、 上記テスト回路部は、測定を行う所望のボルテージレギ
ュレータに対応する出力電圧検出用スイッチに対して、
該ボルテージレギュレータからの出力電圧を出力させる
ことを特徴とする安定化電源装置。 - 【請求項２】 入力される制御信号に応じて、対応する
ボルテージレギュレータに入力された電源電圧を出力す
る各電源電圧検出用スイッチからなる電源電圧検出用ス
イッチ部と、 入力される制御信号に応じて、上記電源電圧検出用スイ
ッチ部からの電圧と該出力電圧検出用スイッチ部からの
電圧を切り替えて所定の電圧測定用端子に出力する出力
電圧切替スイッチ部とを備え、 上記テスト回路部は、各ボルテージレギュレータの出力
電圧の測定を行うテストモード動作時に、上記電源電圧
検出用スイッチ部及び出力電圧切替スイッチ部の動作制
御を行うことを特徴とする請求項１記載の安定化電源装
置。 - 【請求項３】 上記テスト回路部は、測定を行うボルテ
ージレギュレータに対応する電源電圧検出用スイッチ及
び出力電圧検出用スイッチに対して、出力電圧切替スイ
ッチ部に該ボルテージレギュレータに入力される電源電
圧及び該ボルテージレギュレータからの出力電圧を、出
力電圧切替スイッチ部の対応する端子に出力させ、該出
力電圧切替スイッチ部に対して、入力された電源電圧及
び出力電圧を所定の順に上記電圧測定用端子に出力させ
ることを特徴とする請求項２記載の安定化電源装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000362706A JP2002168914A (ja) | 2000-11-29 | 2000-11-29 | 安定化電源装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000362706A JP2002168914A (ja) | 2000-11-29 | 2000-11-29 | 安定化電源装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002168914A true JP2002168914A (ja) | 2002-06-14 |
Family
ID=18833934
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000362706A Pending JP2002168914A (ja) | 2000-11-29 | 2000-11-29 | 安定化電源装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002168914A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006133166A (ja) * | 2004-11-09 | 2006-05-25 | Sony Corp | 電子回路デバイスと、その測定装置および測定方法 |
| JP2006170878A (ja) * | 2004-12-17 | 2006-06-29 | Sony Corp | 電子回路デバイス、および、その測定方法 |
| JP2006170898A (ja) * | 2004-12-17 | 2006-06-29 | Ricoh Co Ltd | 半導体装置のテスト回路 |
| KR101279524B1 (ko) * | 2006-05-09 | 2013-06-28 | 오끼 덴끼 고오교 가부시끼가이샤 | 반도체 집적회로와 그 테스트 방법 |
| US8575904B2 (en) | 2008-01-11 | 2013-11-05 | Ricoh Company, Ltd. | Semiconductor device and manufacturing method thereof |
| CN113567840A (zh) * | 2021-09-08 | 2021-10-29 | 无锡力芯微电子股份有限公司 | 电源动态响应的高精度检测方法及电路 |
-
2000
- 2000-11-29 JP JP2000362706A patent/JP2002168914A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006133166A (ja) * | 2004-11-09 | 2006-05-25 | Sony Corp | 電子回路デバイスと、その測定装置および測定方法 |
| JP2006170878A (ja) * | 2004-12-17 | 2006-06-29 | Sony Corp | 電子回路デバイス、および、その測定方法 |
| JP2006170898A (ja) * | 2004-12-17 | 2006-06-29 | Ricoh Co Ltd | 半導体装置のテスト回路 |
| KR101279524B1 (ko) * | 2006-05-09 | 2013-06-28 | 오끼 덴끼 고오교 가부시끼가이샤 | 반도체 집적회로와 그 테스트 방법 |
| US8575904B2 (en) | 2008-01-11 | 2013-11-05 | Ricoh Company, Ltd. | Semiconductor device and manufacturing method thereof |
| CN113567840A (zh) * | 2021-09-08 | 2021-10-29 | 无锡力芯微电子股份有限公司 | 电源动态响应的高精度检测方法及电路 |
| CN113567840B (zh) * | 2021-09-08 | 2022-07-29 | 无锡力芯微电子股份有限公司 | 电源动态响应的高精度检测方法及电路 |
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