JPH0524222Y2 - - Google Patents
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- JPH0524222Y2 JPH0524222Y2 JP1986187458U JP18745886U JPH0524222Y2 JP H0524222 Y2 JPH0524222 Y2 JP H0524222Y2 JP 1986187458 U JP1986187458 U JP 1986187458U JP 18745886 U JP18745886 U JP 18745886U JP H0524222 Y2 JPH0524222 Y2 JP H0524222Y2
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 26
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 26
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims 2
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 12
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
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- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この考案は、被測定抵抗体の抵抗値を4端子法
にて測定する抵抗計に関するものである。
にて測定する抵抗計に関するものである。
測定用電流に直流定電流を用い、4端子法にて
抵抗測定を行う抵抗計の一般的な例が第6図に示
されている。すなわち、直流定電流源Aから例え
ば同一定格のスイツチS1,S4とプローブ1,2の
電流側探針1a,2aを介して被測定抵抗体3に
一定レベルの測定用電流Iを加えると、その両端
間には被測定抵抗体3の抵抗Rxに比例した電圧
Vx(=Rx×I)が発生する。この電圧Vxを例え
ば上記プローブ1,2の電圧側探針1b,2bか
ら取り出し、上記スイツチS1,S4と同一定格のス
イツチS2,S3を介して電圧測定部Vに加え測定す
る。この測定値Vxと上記定電流Iとから Rx=Vx÷I なる演算により被測定抵抗体3の抵抗値Rxを求
めるようになつている。
抵抗測定を行う抵抗計の一般的な例が第6図に示
されている。すなわち、直流定電流源Aから例え
ば同一定格のスイツチS1,S4とプローブ1,2の
電流側探針1a,2aを介して被測定抵抗体3に
一定レベルの測定用電流Iを加えると、その両端
間には被測定抵抗体3の抵抗Rxに比例した電圧
Vx(=Rx×I)が発生する。この電圧Vxを例え
ば上記プローブ1,2の電圧側探針1b,2bか
ら取り出し、上記スイツチS1,S4と同一定格のス
イツチS2,S3を介して電圧測定部Vに加え測定す
る。この測定値Vxと上記定電流Iとから Rx=Vx÷I なる演算により被測定抵抗体3の抵抗値Rxを求
めるようになつている。
〔考案が解決しようとする問題点〕
この従来装置は単品の抵抗類を測定するのには
好適であるが、例えば測定しようとする抵抗体が
回路基板に実装され、その回路パターンを介して
バイパス用のコンデンサCなどが並列的に接続さ
れているような場合には測定に時間がかかるとい
う問題がある。
好適であるが、例えば測定しようとする抵抗体が
回路基板に実装され、その回路パターンを介して
バイパス用のコンデンサCなどが並列的に接続さ
れているような場合には測定に時間がかかるとい
う問題がある。
すなわち、直流定電流源Aから測定用の一定直
流電流Iを加えると、この電流Iは上記被測定抵
抗体3とコンデンサC側に分流し、コンデンサC
の充電が進行するとともに被測定抵抗体3の両端
間電圧Vxが上昇する。コンデンサCへの充電用
電流IとコンデンサCから被測定抵抗体3を介し
て流れる放電電流Iとがつり合うと、その両端間
電圧Vxは一定となるがそれまでは測定を待たな
ければならない。
流電流Iを加えると、この電流Iは上記被測定抵
抗体3とコンデンサC側に分流し、コンデンサC
の充電が進行するとともに被測定抵抗体3の両端
間電圧Vxが上昇する。コンデンサCへの充電用
電流IとコンデンサCから被測定抵抗体3を介し
て流れる放電電流Iとがつり合うと、その両端間
電圧Vxは一定となるがそれまでは測定を待たな
ければならない。
この考案は上記の点に鑑みなされたもので、そ
の目的は、容量成分を含む被測定抵抗体の測定を
短時間にて行なうことができるとともに、構成的
にも簡単な抵抗計を提供することにある。
の目的は、容量成分を含む被測定抵抗体の測定を
短時間にて行なうことができるとともに、構成的
にも簡単な抵抗計を提供することにある。
この考案の一実施例を示す第1図を参照する
と、上記の問題点を解決するため例えば端子5,
6から充電用の比較的大きい直流定電流I2と、測
定用の比較的小さい直流定電流I1とを切り換え出
力する定電流発生部7を有し、かつ、充電時には
端子5,6とプローブ1,2間の電流路を並列状
態に形成するスイツチS5及びS6を備えている。
と、上記の問題点を解決するため例えば端子5,
6から充電用の比較的大きい直流定電流I2と、測
定用の比較的小さい直流定電流I1とを切り換え出
力する定電流発生部7を有し、かつ、充電時には
端子5,6とプローブ1,2間の電流路を並列状
態に形成するスイツチS5及びS6を備えている。
上記第1図によると、まず、コンデンサCの充
電時にはスイツチS1ないしS4とスイツチS5,S6が
オンにされる。定電流発生部7から出力する比較
的大きい一定レベルの充電用電流I2は、例えば端
子5からその一部がスイツチS1側に分流し、上記
プローブ1の第1の電流側探針1aを経て被測定
抵抗体3に達する。また、上記充電用電流I2の他
部はスイツチS5側に分流し、スイツチS2とプロー
ブ1の第1の電圧側探針1bを経て上記一部の分
流電流と合流し、元の充電用電流I2の大きさの電
流となつてコンデンサCと被測定抵抗体3に加え
られる。
電時にはスイツチS1ないしS4とスイツチS5,S6が
オンにされる。定電流発生部7から出力する比較
的大きい一定レベルの充電用電流I2は、例えば端
子5からその一部がスイツチS1側に分流し、上記
プローブ1の第1の電流側探針1aを経て被測定
抵抗体3に達する。また、上記充電用電流I2の他
部はスイツチS5側に分流し、スイツチS2とプロー
ブ1の第1の電圧側探針1bを経て上記一部の分
流電流と合流し、元の充電用電流I2の大きさの電
流となつてコンデンサCと被測定抵抗体3に加え
られる。
この電流I2はプローブ2においてそれぞれ第2
の電流側探針2aと第2の電圧側探針2bに分流
し、電流側探針2aに分流した電流は例えばスイ
ツチS4に流れる。電圧側探針2bに分流した電流
は例えばスイツチS3とS6を流れ、上記スイツチS4
を流れてきた電流と合流して元の充電用電流I2の
大きさとなり、端子6を介して定電流発生部7へ
流入する。これにより、充電時に流される電流I2
がスイツチSの定格電流より若干大きくてもその
分流電流は定格以下となり、スイツチが損傷を受
ける心配は無い。言い換えると、コンデンサCに
対してスイツチの定格電流より大きい充電用電流
I2を加えることができる。
の電流側探針2aと第2の電圧側探針2bに分流
し、電流側探針2aに分流した電流は例えばスイ
ツチS4に流れる。電圧側探針2bに分流した電流
は例えばスイツチS3とS6を流れ、上記スイツチS4
を流れてきた電流と合流して元の充電用電流I2の
大きさとなり、端子6を介して定電流発生部7へ
流入する。これにより、充電時に流される電流I2
がスイツチSの定格電流より若干大きくてもその
分流電流は定格以下となり、スイツチが損傷を受
ける心配は無い。言い換えると、コンデンサCに
対してスイツチの定格電流より大きい充電用電流
I2を加えることができる。
充電完了後はスイツチS5とS6をオフにし、比較
的小さな測定電流I1により上記従来装置と同様に
して被測定抵抗体3に発生する電圧Vxを測定す
れば、その抵抗値Rxが求まる。
的小さな測定電流I1により上記従来装置と同様に
して被測定抵抗体3に発生する電圧Vxを測定す
れば、その抵抗値Rxが求まる。
再び第1図を参照すると、この抵抗計は上記し
たように例えばプローブ1,2を介して被測定抵
抗体3側へ充電用の定電流I2及び測定用の定電流
I1を出力する定電流発生部7と、装置の稼動時に
電流供給路及び電圧検出路を形成するスイツチ
S1,S4及びスイツチS2,S3と、充電時に上記電流
供給路を並列回路に形成するスイツチS5,S6と、
測定部8とからなつている。
たように例えばプローブ1,2を介して被測定抵
抗体3側へ充電用の定電流I2及び測定用の定電流
I1を出力する定電流発生部7と、装置の稼動時に
電流供給路及び電圧検出路を形成するスイツチ
S1,S4及びスイツチS2,S3と、充電時に上記電流
供給路を並列回路に形成するスイツチS5,S6と、
測定部8とからなつている。
この場合、例えばスイツチS1とS4に電流容量の
大きなスイツチを用いて充電用電流I2に耐えられ
るようにすれば、上記スイツチS5とS6は不要にな
るがスイツチの種類が増えて好ましくない。この
考案においては、上記スイツチS1ないしS4は従来
装置と同様に同一定格のスイツチが用いられ、ス
イツチS5とS6も同一定格のスイツチにされてい
る。したがつてその電流容量や接点の接触抵抗な
どは等しくなつている。
大きなスイツチを用いて充電用電流I2に耐えられ
るようにすれば、上記スイツチS5とS6は不要にな
るがスイツチの種類が増えて好ましくない。この
考案においては、上記スイツチS1ないしS4は従来
装置と同様に同一定格のスイツチが用いられ、ス
イツチS5とS6も同一定格のスイツチにされてい
る。したがつてその電流容量や接点の接触抵抗な
どは等しくなつている。
上記定電流発生部7には上記2つの出力電流I1
とI2を切り換えるスイツチS7が設けられてお
り、その切換動作は例えば測定部8からの切換信
号によつて制御されるようになつている。
とI2を切り換えるスイツチS7が設けられてお
り、その切換動作は例えば測定部8からの切換信
号によつて制御されるようになつている。
測定部8は例えば増幅器9と測定回路10、及
び基準電圧源11、コンパレータ12、制御器1
3等を備えている。上記被測定抵抗体3に発生す
る電圧Vxはプローブ1,2の電圧側探針1bと
2bによつて取り出され、電圧検出路を形成する
スイツチS2,S3を経て上記増幅器9に入力される
ようになつている。この増幅器9の出力は例えば
コンパレータ12の一方の入力端とスイツチS8に
加えられ、上記コンパレータ12の他方の入力端
には基準電圧源11から基準電圧Vsが加えられ
ている。
び基準電圧源11、コンパレータ12、制御器1
3等を備えている。上記被測定抵抗体3に発生す
る電圧Vxはプローブ1,2の電圧側探針1bと
2bによつて取り出され、電圧検出路を形成する
スイツチS2,S3を経て上記増幅器9に入力される
ようになつている。この増幅器9の出力は例えば
コンパレータ12の一方の入力端とスイツチS8に
加えられ、上記コンパレータ12の他方の入力端
には基準電圧源11から基準電圧Vsが加えられ
ている。
この実施例においては、上記基準電圧Vsは例
えば上記電流出力端子5の開放電圧とほぼ等しい
値に設定されており、増幅器9からの入力電圧が
この基準電圧Vsに達するとコンパレータ12か
ら制御器13へ出力が発せられるようになつてい
る。
えば上記電流出力端子5の開放電圧とほぼ等しい
値に設定されており、増幅器9からの入力電圧が
この基準電圧Vsに達するとコンパレータ12か
ら制御器13へ出力が発せられるようになつてい
る。
制御器13は、例えば図示しないこの抵抗計本
体の電源スイツチがオンにされると上記スイツチ
S1ないしS4と、スイツチS5,S6をオンにし、スイ
ツチS7は電流I2が出力するb側に切り換え、スイ
ツチS8はオフの状態に制御する。コンパレータ1
2からの出力が加わるとスイツチS1ないしS4はそ
のままの状態に維持し、スイツチS5とS6はオフに
する。また、スイツチS7は電流I1が出力するa側
に切り換え、スイツチS8はオンにする。
体の電源スイツチがオンにされると上記スイツチ
S1ないしS4と、スイツチS5,S6をオンにし、スイ
ツチS7は電流I2が出力するb側に切り換え、スイ
ツチS8はオフの状態に制御する。コンパレータ1
2からの出力が加わるとスイツチS1ないしS4はそ
のままの状態に維持し、スイツチS5とS6はオフに
する。また、スイツチS7は電流I1が出力するa側
に切り換え、スイツチS8はオンにする。
次に、各部の動作を説明する。スイツチS1ない
しS4とスイツチS5,S6がオンにされたときの接触
抵抗をそれぞれr1,r2,r3,r4,r5,r6とすると、
電流端子5,6からスイツチS1ないしS6側を見た
等価回路は第2図に示されるようになる。
しS4とスイツチS5,S6がオンにされたときの接触
抵抗をそれぞれr1,r2,r3,r4,r5,r6とすると、
電流端子5,6からスイツチS1ないしS6側を見た
等価回路は第2図に示されるようになる。
この場合、各スイツチは同一定格であることか
ら、 r1=r2=r3=r4=r5=r6 である。
ら、 r1=r2=r3=r4=r5=r6 である。
ここで、端子5から加えられる充電用電流I2は
抵抗r1と抵抗r5,r2側にそれぞれ電流i1及びi2とな
つて分流するものとすると、 I2=i1+i2 ……(1) で、かつ i2=i1/2 ……(2) であることは明らかである。被測定抵抗体3とコ
ンデンサCを通り、抵抗r4と抵抗r3,r6を経て端
子6に流入する電流についても上式(1),(2)が成立
する。
抵抗r1と抵抗r5,r2側にそれぞれ電流i1及びi2とな
つて分流するものとすると、 I2=i1+i2 ……(1) で、かつ i2=i1/2 ……(2) であることは明らかである。被測定抵抗体3とコ
ンデンサCを通り、抵抗r4と抵抗r3,r6を経て端
子6に流入する電流についても上式(1),(2)が成立
する。
式(2)を式(1)に代入すると
I2=i1+i1/2
=3i1/2 ……(3)
が得られる。
この電流i1は抵抗r1又はr4に流れる電流、すな
わちスイツチS1又はS4に流れる電流であるが、測
定用の小電流I1を例えば各スイツチの定格電流と
等しい大きさの電流に設定すると、i1=I1とおく
ことにより 式(3)から I2=1.5I1 ……(4) を得る。
わちスイツチS1又はS4に流れる電流であるが、測
定用の小電流I1を例えば各スイツチの定格電流と
等しい大きさの電流に設定すると、i1=I1とおく
ことにより 式(3)から I2=1.5I1 ……(4) を得る。
すなわち、第1図の実施例においては、充電用
電流I2は測定用電流I1の1.5倍の大きさまで流し得
ることがわかる。したがつてその充電期間は例え
ば第3図に示されるように、電流I1のみの充電期
間に比べてほぼ1/1.5に短縮される。
電流I2は測定用電流I1の1.5倍の大きさまで流し得
ることがわかる。したがつてその充電期間は例え
ば第3図に示されるように、電流I1のみの充電期
間に比べてほぼ1/1.5に短縮される。
この充電電圧Vxが例えば時刻t1において基準
電圧Vsに達するとコンパレータ12からの出力
により制御器13が作動し、上記したようにスイ
ツチS5,S6をオフ、スイツチS8をオンにするとと
もに、スイツチS7を電流I2側のbから電流I1側の
aに切り換える。測定回路10は増幅器9の出力
Vxを受け、所定時間経過後の時刻t2において測
定を行い、被測定抵抗体3の抵抗値Rxを求める。
第3図を見れば、従来装置の測定時刻t3に対し
て、t2<t3であつて測定の待ち時間が少なくなつ
ていることが容易に理解できる。
電圧Vsに達するとコンパレータ12からの出力
により制御器13が作動し、上記したようにスイ
ツチS5,S6をオフ、スイツチS8をオンにするとと
もに、スイツチS7を電流I2側のbから電流I1側の
aに切り換える。測定回路10は増幅器9の出力
Vxを受け、所定時間経過後の時刻t2において測
定を行い、被測定抵抗体3の抵抗値Rxを求める。
第3図を見れば、従来装置の測定時刻t3に対し
て、t2<t3であつて測定の待ち時間が少なくなつ
ていることが容易に理解できる。
第4図Aには、スイツチS5とS6の接続を上記第
1図と異なるようにした実施例が示されている。
この変形実施例において、端子5,6からスイツ
チ側を見た等価回路は第4図Bに示されている。
ただし、コンデンサCの図示は省略されている。
この等価回路において、各スイツチを流れる電流
をi1,i2とすると I2=i1+i2 ……(1) i1=i2 ……(5) であることは明らかであるから、式(5)を式(1)に代
入すると I2=2i1=2i2 =2I1 ……(6) となり、充電用電流I2は測定用電流I1の2倍の大
きさまで流し得る。よつてこの変形実施例におけ
る充電期間は従来装置のほぼ1/2に短縮される。
1図と異なるようにした実施例が示されている。
この変形実施例において、端子5,6からスイツ
チ側を見た等価回路は第4図Bに示されている。
ただし、コンデンサCの図示は省略されている。
この等価回路において、各スイツチを流れる電流
をi1,i2とすると I2=i1+i2 ……(1) i1=i2 ……(5) であることは明らかであるから、式(5)を式(1)に代
入すると I2=2i1=2i2 =2I1 ……(6) となり、充電用電流I2は測定用電流I1の2倍の大
きさまで流し得る。よつてこの変形実施例におけ
る充電期間は従来装置のほぼ1/2に短縮される。
第5図Aには、スイツチS5とS6の接続について
他の変形実施例が示されている。この変形実施例
において、端子5,6からスイツチ側を見た等価
回路は同図Bに示されているが、コンデンサCの
図示は同様に省略されている。各スイツチを流れ
る電流i1,i2については上記第4図の変形実施例
の場合と同じ式(1),(5),(6)が成立することは明ら
かである。よつて、その充電期間は上記同様に従
来装置のほぼ1/2に短縮される。
他の変形実施例が示されている。この変形実施例
において、端子5,6からスイツチ側を見た等価
回路は同図Bに示されているが、コンデンサCの
図示は同様に省略されている。各スイツチを流れ
る電流i1,i2については上記第4図の変形実施例
の場合と同じ式(1),(5),(6)が成立することは明ら
かである。よつて、その充電期間は上記同様に従
来装置のほぼ1/2に短縮される。
これまでの説明は、測定用電流I1がスイツチの
定格電流i1と等しい場合についてなされている
が、測定用電流I1が例えばスイツチの定格電流i1
の1/mであるような装置に比べると、その充電
期間は第1図の実施例の場合1/1.5mに短縮さ
れ、第4図と第5図の実施例の場合には1/2m
に短縮されることは当然である。一例をあげる
と、例えばスイツチの定格電流が5mAで測定用
電流が1mAであるような従来装置においてはm
=5であるから、上記第1図の実施例の場合には
充電期間が1/7.5に短縮され、第4図及び第5
図の実施例においてはそれぞれ1/10に短縮される
ことになる。
定格電流i1と等しい場合についてなされている
が、測定用電流I1が例えばスイツチの定格電流i1
の1/mであるような装置に比べると、その充電
期間は第1図の実施例の場合1/1.5mに短縮さ
れ、第4図と第5図の実施例の場合には1/2m
に短縮されることは当然である。一例をあげる
と、例えばスイツチの定格電流が5mAで測定用
電流が1mAであるような従来装置においてはm
=5であるから、上記第1図の実施例の場合には
充電期間が1/7.5に短縮され、第4図及び第5
図の実施例においてはそれぞれ1/10に短縮される
ことになる。
以上、詳細に説明したように、この考案に係る
抵抗計は例えば被測定抵抗体に当接する測定用プ
ローブへの電流供給路及び測定用プローブからの
電圧検出路をオン、オフする一般作動用のスイツ
チと同一定格のスイツチを備え、このスイツチに
て上記電流供給路を一時的に並列2径路に構成
し、直流定電流源からスイツチの定格電流より大
きい充電用電流をこの並列2径路からなる電流供
給路と上記プローブを介して被測定抵抗体に与え
るようになされている。
抵抗計は例えば被測定抵抗体に当接する測定用プ
ローブへの電流供給路及び測定用プローブからの
電圧検出路をオン、オフする一般作動用のスイツ
チと同一定格のスイツチを備え、このスイツチに
て上記電流供給路を一時的に並列2径路に構成
し、直流定電流源からスイツチの定格電流より大
きい充電用電流をこの並列2径路からなる電流供
給路と上記プローブを介して被測定抵抗体に与え
るようになされている。
これにより、回路パターンなどにて被測定抵抗
体に接続されているコンデンサ類は速やかに充電
され、充電が完了すると上記スイツチの定格電流
を越えない大きさの測定用電流に切り換えられ
る。被測定抵抗体に発生する電圧は上記プローブ
から電圧検出路を介して測定部に取り込まれ、所
定のタイミングで測定され被測定抵抗体の抵抗値
が求められるようになつている。
体に接続されているコンデンサ類は速やかに充電
され、充電が完了すると上記スイツチの定格電流
を越えない大きさの測定用電流に切り換えられ
る。被測定抵抗体に発生する電圧は上記プローブ
から電圧検出路を介して測定部に取り込まれ、所
定のタイミングで測定され被測定抵抗体の抵抗値
が求められるようになつている。
したがつてこの抵抗計によれば測定の待ち時間
が短縮され、高速の抵抗測定が可能となる。特
に、多数の抵抗類が実装されている回路基板を検
査するボードテスタなどにこの考案を適用する
と、検査能率の向上に極めて大きく寄与すること
ができる。また、各スイツチが同一の定格である
ため、部品管理が容易であるとともに、組み立て
性も良く、したがつてより一層のコスト低減が図
れる。
が短縮され、高速の抵抗測定が可能となる。特
に、多数の抵抗類が実装されている回路基板を検
査するボードテスタなどにこの考案を適用する
と、検査能率の向上に極めて大きく寄与すること
ができる。また、各スイツチが同一の定格である
ため、部品管理が容易であるとともに、組み立て
性も良く、したがつてより一層のコスト低減が図
れる。
第1図ないし第5図はこの考案の実施例に係
り、第1図はこの考案が適用された抵抗計のブロ
ツク線図、第2図は充電用電流が流される場合の
電流供給路の等価回路、第3図は上記第2図の動
作説明用特性図、第4図Aは電流供給路の変形実
施例を示す回路図、第4図Bはその等価回路、第
5図Aは電流供給路の他の変形実施例を示す回路
図、第5図Bはその等価回路、第6図は従来装置
のブロツク線図である。 図中、3は被測定抵抗体、7は定電流発生部、
8は測定部、11は基準電圧源、12はコンパレ
ータ、13は制御器、Cはコンデンサ、I1は測定
用電流、I2は充電用電流、Rxは被測定抵抗体の
抵抗値、S5,S6はスイツチ、Vsは基準電圧、Vx
は被測定抵抗体に発生する電圧である。
り、第1図はこの考案が適用された抵抗計のブロ
ツク線図、第2図は充電用電流が流される場合の
電流供給路の等価回路、第3図は上記第2図の動
作説明用特性図、第4図Aは電流供給路の変形実
施例を示す回路図、第4図Bはその等価回路、第
5図Aは電流供給路の他の変形実施例を示す回路
図、第5図Bはその等価回路、第6図は従来装置
のブロツク線図である。 図中、3は被測定抵抗体、7は定電流発生部、
8は測定部、11は基準電圧源、12はコンパレ
ータ、13は制御器、Cはコンデンサ、I1は測定
用電流、I2は充電用電流、Rxは被測定抵抗体の
抵抗値、S5,S6はスイツチ、Vsは基準電圧、Vx
は被測定抵抗体に発生する電圧である。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 直流定電流源から第1および第2の電流側探
針を介して容量成分を含む被測定抵抗体に一定
の直流電流を加え、上記被測定抵抗体に発生す
る電圧を第1および第2の電圧側探針を介して
測定部にて測定しその抵抗値を求める抵抗計に
おいて、 上記直流定電流源は、上記容量成分の充電用
電流と該充電用電流より低レベルの抵抗測定用
電流とを切り換え出力する電流源を備えてお
り、 上記直流定電流源から上記被測定抵抗体に至
る電流路には、上記充電用電流が出力される場
合に、上記第1の電流側探針と第1の電圧側探
針および第2の電流側探針と第2の電圧側探針
をそれぞれ並列接続として同電流路を並列電流
路に切り換える複数の同一定格でなるスイツチ
が設けられており、 上記測定部には、上記充電用電流により上記
被測定抵抗体に発生する電圧を所定の基準電圧
と比較しその一致時点で出力を発生する電圧監
視手段と、該電圧監視手段からの出力を受けて
上記充電用電流を測定用電流に切り換えるとと
もに、上記スイツチを駆動して上記並列電流路
を解除させる制御手段を備えていることを特徴
とする抵抗計。 (2) 実用新案登録請求の範囲第1項において、上
記電流路に設けられたスイツチの電流容量は上
記測定用電流を下回らず、かつ、上記充電用電
流を越えない定格を有していることを特徴とす
る抵抗計。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1986187458U JPH0524222Y2 (ja) | 1986-12-05 | 1986-12-05 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1986187458U JPH0524222Y2 (ja) | 1986-12-05 | 1986-12-05 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6392262U JPS6392262U (ja) | 1988-06-15 |
JPH0524222Y2 true JPH0524222Y2 (ja) | 1993-06-21 |
Family
ID=31137956
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1986187458U Expired - Lifetime JPH0524222Y2 (ja) | 1986-12-05 | 1986-12-05 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0524222Y2 (ja) |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58124968A (ja) * | 1982-01-21 | 1983-07-25 | Nec Corp | 抵抗測定方法 |
-
1986
- 1986-12-05 JP JP1986187458U patent/JPH0524222Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58124968A (ja) * | 1982-01-21 | 1983-07-25 | Nec Corp | 抵抗測定方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6392262U (ja) | 1988-06-15 |
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