JP2561076Y2 - 抵抗測定装置 - Google Patents
抵抗測定装置Info
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- JP2561076Y2 JP2561076Y2 JP1991029475U JP2947591U JP2561076Y2 JP 2561076 Y2 JP2561076 Y2 JP 2561076Y2 JP 1991029475 U JP1991029475 U JP 1991029475U JP 2947591 U JP2947591 U JP 2947591U JP 2561076 Y2 JP2561076 Y2 JP 2561076Y2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この考案は、被測定物が接続され
ていない状態、つまり測定抵抗が無限大となっている状
態のもとで被測定物を接続し、その際の測定値が真値に
安定するまでに要する測定応答速度を速くした抵抗測定
装置に関するものである。
ていない状態、つまり測定抵抗が無限大となっている状
態のもとで被測定物を接続し、その際の測定値が真値に
安定するまでに要する測定応答速度を速くした抵抗測定
装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】抵抗測定装置のなかには、被測定物に定
電流を流し、その際の電圧を測定し、この実測電圧値と
の関係で抵抗を算定した後、当該被測定物の抵抗値を測
定表示するようにしたデジタルマルチメータのようなも
のもある。
電流を流し、その際の電圧を測定し、この実測電圧値と
の関係で抵抗を算定した後、当該被測定物の抵抗値を測
定表示するようにしたデジタルマルチメータのようなも
のもある。
【０００３】図２は、上記タイプの抵抗測定装置のもと
で四端子法を採用した測定回路の概要を例示すものであ
る。
で四端子法を採用した測定回路の概要を例示すものであ
る。
【０００４】同図によれば、その全体は、基準電圧Ｖre
f に基づく被測定物Ｒx への定電流ｉの供給が可能な定
電流供給回路５１と、被測定物Ｒx への定電流ｉの供給
時の電圧の測定と、その際の実測電圧との関係で算定さ
れる抵抗値の表示とが可能な抵抗測定回路６１とで構成
されている。
f に基づく被測定物Ｒx への定電流ｉの供給が可能な定
電流供給回路５１と、被測定物Ｒx への定電流ｉの供給
時の電圧の測定と、その際の実測電圧との関係で算定さ
れる抵抗値の表示とが可能な抵抗測定回路６１とで構成
されている。
【０００５】このうち、定電流供給回路５１は、基準電
圧Ｖref を発生させるための基準電圧発生回路５２と、
回路中に設けた基準抵抗５６との関係のもとで後段への
出力電圧を制御する比較増幅手段５３と、この比較増幅
手段５３からの出力制御された電圧を電流に変換し、定
電流ｉとして電流端子５７，５８を介して被測定物Ｒx
に供給可能とすべく駆動電源５５を備えた半導体素子５
４とで形成されている。
圧Ｖref を発生させるための基準電圧発生回路５２と、
回路中に設けた基準抵抗５６との関係のもとで後段への
出力電圧を制御する比較増幅手段５３と、この比較増幅
手段５３からの出力制御された電圧を電流に変換し、定
電流ｉとして電流端子５７，５８を介して被測定物Ｒx
に供給可能とすべく駆動電源５５を備えた半導体素子５
４とで形成されている。
【０００６】また、前記抵抗測定回路６１は、被測定物
Ｒx への定電流ｉの供給時に発生する電圧Ｖx を検出し
て取り込むための電圧測定端子６２，６３と、これらの
電圧測定端子６２，６３を介して取り込まれる電圧Ｖx
を測定し、その際の実測電圧との関係で算定される抵抗
値の表示を可能とした電圧計等からなる電圧測定・抵抗
値表示手段６４とで形成されている。
Ｒx への定電流ｉの供給時に発生する電圧Ｖx を検出し
て取り込むための電圧測定端子６２，６３と、これらの
電圧測定端子６２，６３を介して取り込まれる電圧Ｖx
を測定し、その際の実測電圧との関係で算定される抵抗
値の表示を可能とした電圧計等からなる電圧測定・抵抗
値表示手段６４とで形成されている。
【０００７】
【考案が解決しようとする課題】ところで、図２に示す
従来例は、比較的簡単な回路でその全体を構成すること
ができる点で優れてはいるものの、その回路構成からも
明らかなように被測定物Ｒx が非接続状態にあるとき、
電圧測定・抵抗値表示手段６４の側が開放状態となって
いる。
従来例は、比較的簡単な回路でその全体を構成すること
ができる点で優れてはいるものの、その回路構成からも
明らかなように被測定物Ｒx が非接続状態にあるとき、
電圧測定・抵抗値表示手段６４の側が開放状態となって
いる。
【０００８】このため、場合により電流源の開放電圧が
電圧測定・抵抗値表示手段６４の側に直接印加されてし
まうことになる。
電圧測定・抵抗値表示手段６４の側に直接印加されてし
まうことになる。
【０００９】このように電圧測定・抵抗値表示手段６４
の側に開放電圧が印加された過大入力状態のもとで被測
定物Ｒx を接続した場合には、この過大入力状態にある
電圧レベルから通常の測定電圧レベルへと電圧が降下す
ることになり、この降下の際に多くの時間がかかるた
め、結果的に測定応答速度が遅くなって測定値を真値に
安定させるまでに多くの時間が必要となり、抵抗測定作
業を遅滞させるという不都合があった。
の側に開放電圧が印加された過大入力状態のもとで被測
定物Ｒx を接続した場合には、この過大入力状態にある
電圧レベルから通常の測定電圧レベルへと電圧が降下す
ることになり、この降下の際に多くの時間がかかるた
め、結果的に測定応答速度が遅くなって測定値を真値に
安定させるまでに多くの時間が必要となり、抵抗測定作
業を遅滞させるという不都合があった。
【００１０】
【課題を解決するための手段】本考案は、従来構造にみ
られた上記課題に鑑みてなされたものであり、その構成
上の特徴は、接続された被測定物に対し一対の電流端子
を介して定電流を流すための定電流供給回路と、前記被
測定物に対し定電流を流した際に一対の電圧測定端子間
の電圧との関係で算定される抵抗値の表示が可能である
抵抗測定回路を備えた抵抗測定装置において、前記電流
端子間の電圧を検出し、該電圧が一定値以上のとき出力
を発生する被測定物接続・非接続検出回路を設け、回路
の出力により開閉制御されるスイッチ回路を介すること
で、前記電流端子間に被測定物が接続されている場合に
は回路を閉成して前記電圧測定端子間の発生電圧を前記
抵抗測定回路へ入力し、接続されていない場合には回路
を開成すると同時に前記抵抗測定回路の入力部の側を接
地させてその入力電圧が零レベルとなるようにして形成
したことにある。
られた上記課題に鑑みてなされたものであり、その構成
上の特徴は、接続された被測定物に対し一対の電流端子
を介して定電流を流すための定電流供給回路と、前記被
測定物に対し定電流を流した際に一対の電圧測定端子間
の電圧との関係で算定される抵抗値の表示が可能である
抵抗測定回路を備えた抵抗測定装置において、前記電流
端子間の電圧を検出し、該電圧が一定値以上のとき出力
を発生する被測定物接続・非接続検出回路を設け、回路
の出力により開閉制御されるスイッチ回路を介すること
で、前記電流端子間に被測定物が接続されている場合に
は回路を閉成して前記電圧測定端子間の発生電圧を前記
抵抗測定回路へ入力し、接続されていない場合には回路
を開成すると同時に前記抵抗測定回路の入力部の側を接
地させてその入力電圧が零レベルとなるようにして形成
したことにある。
【００１１】
【作用】このため、被測定物が非接続状態にある場合、
抵抗測定回路に組み込まれて被測定物接続・非接続検出
回路と連動関係にあるスイッチ回路は、定電流供給回路
と抵抗測定回路との間の回路を開成すると同時に、前記
抵抗測定回路の入力部の側を接地させてその入力電圧を
零レベルとすることができるので、抵抗測定回路の側へ
の電流源の開放電圧の印加を阻止することができる。
抵抗測定回路に組み込まれて被測定物接続・非接続検出
回路と連動関係にあるスイッチ回路は、定電流供給回路
と抵抗測定回路との間の回路を開成すると同時に、前記
抵抗測定回路の入力部の側を接地させてその入力電圧を
零レベルとすることができるので、抵抗測定回路の側へ
の電流源の開放電圧の印加を阻止することができる。
【００１２】したがって、被測定物を交換するなどして
新たな被測定物を接続したような場合には、比較的短時
間で短絡状態にある電圧レベルを通常測定の電圧レベル
へと電圧上昇させることができ、したがって、従来のよ
うに過大入力の電圧レベルから通常測定の電圧レベルへ
と電圧降下させる場合とは異なり、測定値が真値に安定
するまでの時間を短縮して測定応答速度を速くすること
ができる。
新たな被測定物を接続したような場合には、比較的短時
間で短絡状態にある電圧レベルを通常測定の電圧レベル
へと電圧上昇させることができ、したがって、従来のよ
うに過大入力の電圧レベルから通常測定の電圧レベルへ
と電圧降下させる場合とは異なり、測定値が真値に安定
するまでの時間を短縮して測定応答速度を速くすること
ができる。
【００１３】
【実施例】以下、図面に基づいてこの考案の実施例を説
明する。図１は、この考案の一実施例を示す回路図であ
る。
明する。図１は、この考案の一実施例を示す回路図であ
る。
【００１４】同図によれば、その全体は、接続された被
測定物Ｒx に対し定電流ｉを流すための定電流供給回路
１１と、その後段に位置して前記被測定物Ｒx を測定し
て得られる実測電圧に対応させて得られる抵抗値の表示
を可能とした抵抗測定回路２１と、これら定電流供給回
路１１と抵抗測定回路２１との間の回路開閉制御を行な
わせるための制御電流を発生させる被測定物接続・非接
続検出回路３５とを備えて構成されている。
測定物Ｒx に対し定電流ｉを流すための定電流供給回路
１１と、その後段に位置して前記被測定物Ｒx を測定し
て得られる実測電圧に対応させて得られる抵抗値の表示
を可能とした抵抗測定回路２１と、これら定電流供給回
路１１と抵抗測定回路２１との間の回路開閉制御を行な
わせるための制御電流を発生させる被測定物接続・非接
続検出回路３５とを備えて構成されている。
【００１５】このうち、定電流供給回路１１は、接続さ
れた被測定物Ｒx に対し一対の電流端子１７，１８を介
して定電流ｉを流すための基準電圧Ｖref １の発生を可
能とした第１基準電圧発生回路１２と、非反転入力端子
の側に印加される基準電圧Ｖref １を回路中に設けた基
準抵抗１６に流れる定電流ｉにより発生する電圧Ｖrを
反転入力端子の側に印加させて比較し、基準電圧Ｖref
１と電圧Ｖr とが等しくなるように後段に位置する半導
体素子１４に電圧を発生させる第１比較増幅手段１３
と、この第１比較増幅手段１３からの出力電圧を電流に
変換して定電流ｉを電流端子１７，１８を介して被測定
物Ｒx に供給可能としたトランジスタ等からなる半導体
素子１４とで形成されている。なお、符号１５は、前記
半導体素子１４のための駆動電源を示す。
れた被測定物Ｒx に対し一対の電流端子１７，１８を介
して定電流ｉを流すための基準電圧Ｖref １の発生を可
能とした第１基準電圧発生回路１２と、非反転入力端子
の側に印加される基準電圧Ｖref １を回路中に設けた基
準抵抗１６に流れる定電流ｉにより発生する電圧Ｖrを
反転入力端子の側に印加させて比較し、基準電圧Ｖref
１と電圧Ｖr とが等しくなるように後段に位置する半導
体素子１４に電圧を発生させる第１比較増幅手段１３
と、この第１比較増幅手段１３からの出力電圧を電流に
変換して定電流ｉを電流端子１７，１８を介して被測定
物Ｒx に供給可能としたトランジスタ等からなる半導体
素子１４とで形成されている。なお、符号１５は、前記
半導体素子１４のための駆動電源を示す。
【００１６】また、前記抵抗測定回路２１は、前記被測
定物Ｒx への定電流ｉの供給時に発生する電圧Ｖx ２を
取り込むための電圧測定端子２２，２３と、これら電圧
測定端子２２，２３を介して取り込まれる電圧Ｖx ２を
測定する電圧測定部と、その際の実測電圧を対応する抵
抗値に変換して表示する表示部などからなる電圧測定・
抵抗値表示手段２４とを備えている。
定物Ｒx への定電流ｉの供給時に発生する電圧Ｖx ２を
取り込むための電圧測定端子２２，２３と、これら電圧
測定端子２２，２３を介して取り込まれる電圧Ｖx ２を
測定する電圧測定部と、その際の実測電圧を対応する抵
抗値に変換して表示する表示部などからなる電圧測定・
抵抗値表示手段２４とを備えている。
【００１７】しかも、これら電圧測定端子２２，２３と
電圧測定・抵抗値表示手段２４との間には、前記定電流
供給回路１１との間の回路の開閉制御と、前記電圧測定
端子２２，２３と電圧測定・抵抗値表示手段２４との間
の回路の開閉制御とを同時に行なうことができるスイッ
チ回路２５が介在配置されている。該スイッチ回路２５
は、被測定物Ｒx が接続状態にあるときには定電流供給
回路１１と抵抗測定回路２１とを閉成する一方で、被測
定物Ｒx が非接続状態にあるときには定電流供給回路１
１と抵抗測定回路２１とを開成すると同時にスイッチ２
８とスイッチ３１とを短絡させて抵抗測定回路２１の入
力部の側を接地させることによりその入力電圧が零レベ
ルとなるように制御可能となって形成されている。
電圧測定・抵抗値表示手段２４との間には、前記定電流
供給回路１１との間の回路の開閉制御と、前記電圧測定
端子２２，２３と電圧測定・抵抗値表示手段２４との間
の回路の開閉制御とを同時に行なうことができるスイッ
チ回路２５が介在配置されている。該スイッチ回路２５
は、被測定物Ｒx が接続状態にあるときには定電流供給
回路１１と抵抗測定回路２１とを閉成する一方で、被測
定物Ｒx が非接続状態にあるときには定電流供給回路１
１と抵抗測定回路２１とを開成すると同時にスイッチ２
８とスイッチ３１とを短絡させて抵抗測定回路２１の入
力部の側を接地させることによりその入力電圧が零レベ
ルとなるように制御可能となって形成されている。
【００１８】この場合におけるスイッチ回路２５は、所
定の回路を開閉制御することができる適宜の構成のもの
を採用することができる。これを図示例に従い具体的に
説明すれば、電圧測定端子２２，２３と電圧測定・抵抗
値表示手段２４との間の回路にはスイッチ２８とスイッ
チ３１とが各別に介在配置されており、これらのスイッ
チ２８，３１と電圧測定端子２２，２３との間には、電
圧測定端子２２に直結する導通接点２６と開放接点２７
とのほか、電圧測定端子２３に直結する導通接点２９と
開放接点３０とがそれぞれ対応関係をとった対となって
配設されている。
定の回路を開閉制御することができる適宜の構成のもの
を採用することができる。これを図示例に従い具体的に
説明すれば、電圧測定端子２２，２３と電圧測定・抵抗
値表示手段２４との間の回路にはスイッチ２８とスイッ
チ３１とが各別に介在配置されており、これらのスイッ
チ２８，３１と電圧測定端子２２，２３との間には、電
圧測定端子２２に直結する導通接点２６と開放接点２７
とのほか、電圧測定端子２３に直結する導通接点２９と
開放接点３０とがそれぞれ対応関係をとった対となって
配設されている。
【００１９】また、スイッチ２８，３１は、被測定物接
続・非接続検出回路３５の側からのスイッチ回路２５の
側に対する制御電流の入力がない場合に導通接点２６と
導通接点２９とにそれぞれに各別に接触し、被測定物接
続・非接続検出回路３５の側からの制御電流の入力があ
った場合に開放接点２７と開放接点３０とにそれぞれ各
別に接触するように切替え可能となって配設されてい
る。
続・非接続検出回路３５の側からのスイッチ回路２５の
側に対する制御電流の入力がない場合に導通接点２６と
導通接点２９とにそれぞれに各別に接触し、被測定物接
続・非接続検出回路３５の側からの制御電流の入力があ
った場合に開放接点２７と開放接点３０とにそれぞれ各
別に接触するように切替え可能となって配設されてい
る。
【００２０】なお、この場合、開放接点２７，３０は、
相互に直結された配置関係のもとで短絡して接地してい
る。
相互に直結された配置関係のもとで短絡して接地してい
る。
【００２１】一方、前記被測定物接続・非接続検出回路
３５は、被測定物Ｒx が接続された通常の測定時の最大
電圧Ｖx １と同じレベルの基準電圧Ｖref ２の発生が可
能に設定されている第２基準電圧発生回路３６と、反転
入力端子の側に印加される基準電圧Ｖref ２を非反転入
力端子の側に印加される被測定物Ｒx が接続された状態
のもとでの通常の測定時の最大電圧Ｖx １と比較して出
力する第２比較増幅手段３７と、この第２比較増幅手段
３７からの出力電圧に基づいて送出される順方向への電
流のみを流すダイオード等の電流制御素子３８とで形成
されており、この電流制御素子３８の後段は、付設され
た抵抗３９が経て抵抗測定回路２１におけるスイッチ回
路２５の側へと接続されている。
３５は、被測定物Ｒx が接続された通常の測定時の最大
電圧Ｖx １と同じレベルの基準電圧Ｖref ２の発生が可
能に設定されている第２基準電圧発生回路３６と、反転
入力端子の側に印加される基準電圧Ｖref ２を非反転入
力端子の側に印加される被測定物Ｒx が接続された状態
のもとでの通常の測定時の最大電圧Ｖx １と比較して出
力する第２比較増幅手段３７と、この第２比較増幅手段
３７からの出力電圧に基づいて送出される順方向への電
流のみを流すダイオード等の電流制御素子３８とで形成
されており、この電流制御素子３８の後段は、付設され
た抵抗３９が経て抵抗測定回路２１におけるスイッチ回
路２５の側へと接続されている。
【００２２】次に、上述のようにして構成されているこ
の考案につき、まず、被測定物Ｒxが回路中に接続され
ている場合についてその作用を説明する。
の考案につき、まず、被測定物Ｒxが回路中に接続され
ている場合についてその作用を説明する。
【００２３】すなわち、被測定物Ｒx が接続状態にある
場合、定電流供給回路１１には、通常の測定時の最大電
圧Ｖx １を限度とする電圧が発生する（以下、この場合
の発生電圧をＶx １とする）。
場合、定電流供給回路１１には、通常の測定時の最大電
圧Ｖx １を限度とする電圧が発生する（以下、この場合
の発生電圧をＶx １とする）。
【００２４】この発生電圧Ｖx １は、前記被測定物接続
・非接続検出回路３５の側にも同時に発生し、第２比較
増幅手段３７の非反転入力端子の側に印加される。
・非接続検出回路３５の側にも同時に発生し、第２比較
増幅手段３７の非反転入力端子の側に印加される。
【００２５】しかし、この場合の第２比較増幅手段３７
には、Ｖref ２≧Ｖx １の関係のもとで非反転入力端子
の側にはＶx １が、反転入力端子の側にはＶref ２はそ
れぞれ印加される結果、その出力電圧も０Ｖとなって電
流が流れず、したがって、抵抗測定回路２１におけるス
イッチ回路２５は、スイッチ２８を導通接点２６に、ス
イッチ３１を導通接点２９にそれぞれ接触させて前記定
電流供給回路１１との間を閉成制御している状態を保持
し、電圧Ｖx １を電圧測定・抵抗値表示手段２４の側に
取り込み、これに対応する抵抗値（真値）を表示させて
抵抗測定作業を行なうことができる。
には、Ｖref ２≧Ｖx １の関係のもとで非反転入力端子
の側にはＶx １が、反転入力端子の側にはＶref ２はそ
れぞれ印加される結果、その出力電圧も０Ｖとなって電
流が流れず、したがって、抵抗測定回路２１におけるス
イッチ回路２５は、スイッチ２８を導通接点２６に、ス
イッチ３１を導通接点２９にそれぞれ接触させて前記定
電流供給回路１１との間を閉成制御している状態を保持
し、電圧Ｖx １を電圧測定・抵抗値表示手段２４の側に
取り込み、これに対応する抵抗値（真値）を表示させて
抵抗測定作業を行なうことができる。
【００２６】一方、測定抵抗が無限大である被測定物Ｒ
x が回路中に接続されていない状態の場合には、電流源
の開放電圧が発生し、この開放電圧が前記被測定物接続
・非接続検出回路３５の側にも同時に発生し、第２比較
増幅手段３７の非反転入力端子の側に印加されることに
なる。
x が回路中に接続されていない状態の場合には、電流源
の開放電圧が発生し、この開放電圧が前記被測定物接続
・非接続検出回路３５の側にも同時に発生し、第２比較
増幅手段３７の非反転入力端子の側に印加されることに
なる。
【００２７】この場合に非反転入力端子の側に印加され
る開放電圧は、反転入力端子の側に印加される基準電圧
Ｖref ２よりも十分に大きいので、第２比較増幅手段３
７を経て抵抗測定回路２１におけるスイッチ回路２５の
側へと電流が流れ、スイッチ回路２５を作動させ、スイ
ッチ２８を開放接点２７に、スイッチ３１を導通接点３
０にそれぞれ接触させて定電流供給回路１１と抵抗測定
回路２１との間を開成すると同時に、短絡されたスイッ
チ２８とスイッチ３１とを介して抵抗測定回路２１の入
力部の側が接地される結果、抵抗測定回路２１内の電圧
を零レベルとすることができる。
る開放電圧は、反転入力端子の側に印加される基準電圧
Ｖref ２よりも十分に大きいので、第２比較増幅手段３
７を経て抵抗測定回路２１におけるスイッチ回路２５の
側へと電流が流れ、スイッチ回路２５を作動させ、スイ
ッチ２８を開放接点２７に、スイッチ３１を導通接点３
０にそれぞれ接触させて定電流供給回路１１と抵抗測定
回路２１との間を開成すると同時に、短絡されたスイッ
チ２８とスイッチ３１とを介して抵抗測定回路２１の入
力部の側が接地される結果、抵抗測定回路２１内の電圧
を零レベルとすることができる。
【００２８】このため、抵抗測定回路２１における電圧
測定・抵抗値表示手段２４の側に開放電圧である過大電
圧が入力するのを阻止することができ、したがって、被
測定物Ｒx を接続した際の測定応答速度を速め、真値に
安定するまでの時間を短くすることができる。
測定・抵抗値表示手段２４の側に開放電圧である過大電
圧が入力するのを阻止することができ、したがって、被
測定物Ｒx を接続した際の測定応答速度を速め、真値に
安定するまでの時間を短くすることができる。
【００２９】
【考案の効果】以上述べたようにこの考案によれば、被
測定物が非接続状態にある場合、被測定物接続・非接続
検出回路と連動関係をとって抵抗測定回路に組み込まれ
ているスイッチ回路は、定電流供給回路と抵抗測定回路
との間の回路を開成すると同時に、前記抵抗測定回路の
入力部の側を接地させてその入力電圧を零レベルとする
ことができるので、抵抗測定回路の側に過大な開放電圧
が印加されるのを確実に阻止することができる。
測定物が非接続状態にある場合、被測定物接続・非接続
検出回路と連動関係をとって抵抗測定回路に組み込まれ
ているスイッチ回路は、定電流供給回路と抵抗測定回路
との間の回路を開成すると同時に、前記抵抗測定回路の
入力部の側を接地させてその入力電圧を零レベルとする
ことができるので、抵抗測定回路の側に過大な開放電圧
が印加されるのを確実に阻止することができる。
【００３０】したがって、被測定物を交換するなどして
新たな被測定物を接続したような場合には、比較的短時
間で電圧レベルを通常測定の電圧レベルへと電圧上昇さ
せることができ、したがって、従来のように過大入力の
電圧レベルから通常測定の電圧レベルへと電圧降下させ
る場合とは異なり、測定値が真値に安定するまでの時間
を短縮して測定応答速度を速くし、抵抗測定作業を迅速
に行なうことができる。
新たな被測定物を接続したような場合には、比較的短時
間で電圧レベルを通常測定の電圧レベルへと電圧上昇さ
せることができ、したがって、従来のように過大入力の
電圧レベルから通常測定の電圧レベルへと電圧降下させ
る場合とは異なり、測定値が真値に安定するまでの時間
を短縮して測定応答速度を速くし、抵抗測定作業を迅速
に行なうことができる。
【図１】この考案の一実施例を示す回路図である。
【図２】従来からある抵抗測定装置に採用されている一
例としての回路図である。
例としての回路図である。
１１ 定電流供給回路 １２ 第１基準電圧発生回路 １３ 第１比較増幅手段 １４ 半導体素子 １７ 電流端子 １８ 電流端子 ２１ 抵抗測定回路 ２２ 電圧測定端子 ２３ 電圧測定端子 ２４ 電圧測定・抵抗値表示手段 ２５ スイッチ回路 ３５ 被測定物接続・非接続検出回路 ３６ 第２基準電圧発生回路 ３７ 第２比較増幅手段 ３８ 電流制御素子 Ｒx 被測定物
Claims (1)
- 【請求項１】 接続された被測定物に対し一対の電流端
子を介して定電流を流すための定電流供給回路と、前記
被測定物に対し定電流を流した際に一対の電圧測定端子
間の電圧との関係で算定される抵抗値の表示が可能であ
る抵抗測定回路を備えた抵抗測定装置において、前記電
流端子間の電圧を検出し、該電圧が一定値以上のとき出
力を発生する被測定物接続・非接続検出回路を設け、回
路の出力により開閉制御されるスイッチ回路を介するこ
とで、前記電流端子間に被測定物が接続されている場合
には回路を閉成して前記電圧測定端子間の発生電圧を前
記抵抗測定回路へ入力し、接続されていない場合には回
路を開成すると同時に前記抵抗測定回路の入力部の側を
接地させてその入力電圧が零レベルとなるようにして形
成したことを特徴とする抵抗測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1991029475U JP2561076Y2 (ja) | 1991-04-02 | 1991-04-02 | 抵抗測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1991029475U JP2561076Y2 (ja) | 1991-04-02 | 1991-04-02 | 抵抗測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04118672U JPH04118672U (ja) | 1992-10-23 |
| JP2561076Y2 true JP2561076Y2 (ja) | 1998-01-28 |
Family
ID=31913331
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1991029475U Expired - Lifetime JP2561076Y2 (ja) | 1991-04-02 | 1991-04-02 | 抵抗測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2561076Y2 (ja) |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6057267A (ja) * | 1983-09-09 | 1985-04-03 | Kaize Denki Kk | オ−ムメ−タ |
| JPH01288776A (ja) * | 1988-05-16 | 1989-11-21 | Kokuyou Denki Kogyo Kk | インピーダンス計の入力保護回路 |
-
1991
- 1991-04-02 JP JP1991029475U patent/JP2561076Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04118672U (ja) | 1992-10-23 |
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| JPH0110616Y2 (ja) |
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