JP2001289897A - ワイヤーハーネス検査装置 - Google Patents
ワイヤーハーネス検査装置Info
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- JP2001289897A JP2001289897A JP2000100893A JP2000100893A JP2001289897A JP 2001289897 A JP2001289897 A JP 2001289897A JP 2000100893 A JP2000100893 A JP 2000100893A JP 2000100893 A JP2000100893 A JP 2000100893A JP 2001289897 A JP2001289897 A JP 2001289897A
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 ワイヤ間の短絡および不完全短絡、ワイヤの
断線および高抵抗値な接続等々を高精度に検出できるワ
イヤーハーネス検査装置を得る。 【解決手段】 接続回路２０を介してワイヤーハーネス
Ｗ／Ｈを、活線状態にする疑似回路１０に接続し、スイ
ッチ制御回路３４により疑似回路１０および接続回路２
０を制御してワイヤーハーネスの各ワイヤＬ１，Ｌ２，
〜，Ｌｎを疑似使用状態に設定し、疑似使用状態に設定
された各ワイヤに流れる電流値をホール素子３０によっ
て電圧値に変換して検出する。検出した電圧値を基準電
圧値と比較して電圧偏差値を検出し、検出された電圧偏
差値を判定回路３３がメモリ３２に予め格納された正常
電圧偏差値と比較する
断線および高抵抗値な接続等々を高精度に検出できるワ
イヤーハーネス検査装置を得る。 【解決手段】 接続回路２０を介してワイヤーハーネス
Ｗ／Ｈを、活線状態にする疑似回路１０に接続し、スイ
ッチ制御回路３４により疑似回路１０および接続回路２
０を制御してワイヤーハーネスの各ワイヤＬ１，Ｌ２，
〜，Ｌｎを疑似使用状態に設定し、疑似使用状態に設定
された各ワイヤに流れる電流値をホール素子３０によっ
て電圧値に変換して検出する。検出した電圧値を基準電
圧値と比較して電圧偏差値を検出し、検出された電圧偏
差値を判定回路３３がメモリ３２に予め格納された正常
電圧偏差値と比較する
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はワイヤーハーネス検
査装置に関し、特に、自動車等に搭載されるマイクロコ
ンピュータを含む電子機器および一般の電装品を電源に
接続したりするためのワイヤーハーネスの品質を活線状
態下で検査するワイヤーハーネス検査装置に関する。
査装置に関し、特に、自動車等に搭載されるマイクロコ
ンピュータを含む電子機器および一般の電装品を電源に
接続したりするためのワイヤーハーネスの品質を活線状
態下で検査するワイヤーハーネス検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】上述したワイヤーハーネスには、通常、
両端にプラグあるいはソケット等のコネクタが組み付け
られている。そして、従前のワイヤーハーネスの検査方
法は、例えば、ワイヤーハーネスのソケットあるいはプ
ラグを検査装置のソケットあるいはプラグに結合した状
態で、ワイヤーハーネスの各ワイヤに若干の電流を流し
て導通があるか否かを手作業で行なっている。
両端にプラグあるいはソケット等のコネクタが組み付け
られている。そして、従前のワイヤーハーネスの検査方
法は、例えば、ワイヤーハーネスのソケットあるいはプ
ラグを検査装置のソケットあるいはプラグに結合した状
態で、ワイヤーハーネスの各ワイヤに若干の電流を流し
て導通があるか否かを手作業で行なっている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
たワイヤーハーネスの検査方法では、各ワイヤに若干の
電流を流して導通があるか否かを検査しているので、回
路接続違い、ワイヤ間の短絡、断線等は、検出すること
ができるが、不完全短絡や、断線はしていないが高抵抗
値をもって接続している場合等を精度良く検出すること
が容易ではなく、また、各ワイヤを切り替えて行なう手
作業が多いので手間がかかるという問題があった。
たワイヤーハーネスの検査方法では、各ワイヤに若干の
電流を流して導通があるか否かを検査しているので、回
路接続違い、ワイヤ間の短絡、断線等は、検出すること
ができるが、不完全短絡や、断線はしていないが高抵抗
値をもって接続している場合等を精度良く検出すること
が容易ではなく、また、各ワイヤを切り替えて行なう手
作業が多いので手間がかかるという問題があった。
【０００４】本発明は上記事情に鑑みなされたもので、
従来の品質検査に加えて、ワイヤ間の不完全短絡や、ワ
イヤが高抵抗値をもって回路接続されている場合も精度
良く検出することができ、しかも、ワイヤ間を手作業で
なく自動的に切り替えて検査できるワイヤーハーネス検
査装置を提供することを目的とする。
従来の品質検査に加えて、ワイヤ間の不完全短絡や、ワ
イヤが高抵抗値をもって回路接続されている場合も精度
良く検出することができ、しかも、ワイヤ間を手作業で
なく自動的に切り替えて検査できるワイヤーハーネス検
査装置を提供することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の本発明に係るワイヤーハーネス検査装置は、各種の装
置間を相互接続するワイヤーハーネスの各ワイヤについ
て品質検査するワイヤーハーネス検査装置において、前
記ワイヤーハーネスを活線状態にシミュレートする疑似
回路と、前記疑似回路に前記ワイヤーハーネスを接続す
る接続手段と、前記疑似回路および前記接続手段を制御
して、前記ワイヤーハーネスの各ワイヤを順次切り替え
て前記擬似回路に接続するスイッチ制御回路と、前記ス
イッチ制御回路により活線状態に設定されたとき、前記
ワイヤーハーネスの各ワイヤに流れる電流値をそれぞれ
検出する疑似使用状態検出手段と、前記疑似使用状態検
出手段が検出した電流値が予め決められた基準電流値か
らずれている電流偏差値を検出する偏差値検出手段と、
前記ワイヤーハーネスの正常時に各ワイヤに流れる前記
基準電流値からずれた電流偏差値である正常電流偏差値
を予め格納しているメモリと、前記偏差値検出手段が検
出する電流偏差値と前記メモリの正常電流偏差値とを比
較し、前記ワイヤーハーネスの各ワイヤの品質状態を判
定する判定回路とを具備してなることを特徴とする。
の本発明に係るワイヤーハーネス検査装置は、各種の装
置間を相互接続するワイヤーハーネスの各ワイヤについ
て品質検査するワイヤーハーネス検査装置において、前
記ワイヤーハーネスを活線状態にシミュレートする疑似
回路と、前記疑似回路に前記ワイヤーハーネスを接続す
る接続手段と、前記疑似回路および前記接続手段を制御
して、前記ワイヤーハーネスの各ワイヤを順次切り替え
て前記擬似回路に接続するスイッチ制御回路と、前記ス
イッチ制御回路により活線状態に設定されたとき、前記
ワイヤーハーネスの各ワイヤに流れる電流値をそれぞれ
検出する疑似使用状態検出手段と、前記疑似使用状態検
出手段が検出した電流値が予め決められた基準電流値か
らずれている電流偏差値を検出する偏差値検出手段と、
前記ワイヤーハーネスの正常時に各ワイヤに流れる前記
基準電流値からずれた電流偏差値である正常電流偏差値
を予め格納しているメモリと、前記偏差値検出手段が検
出する電流偏差値と前記メモリの正常電流偏差値とを比
較し、前記ワイヤーハーネスの各ワイヤの品質状態を判
定する判定回路とを具備してなることを特徴とする。
【０００６】また、本発明に係るワイヤーハーネス検査
装置では、前記疑似使用状態検出手段は、各ワイヤに流
れる電流値を電圧値に変換して検出するホール素子であ
り、前記偏差値検出手段は、前記ホール素子が検出する
電圧と、予め決められた参照電圧との電圧偏差値を検出
するコンパレータであり、前記メモリは、各ワイヤに流
れる正常電流値の電流に対応して、前記コンパレータが
検出すべき正常な電圧偏差値を正常電圧偏差値として予
め格納していることを特徴とすることが好ましい。
装置では、前記疑似使用状態検出手段は、各ワイヤに流
れる電流値を電圧値に変換して検出するホール素子であ
り、前記偏差値検出手段は、前記ホール素子が検出する
電圧と、予め決められた参照電圧との電圧偏差値を検出
するコンパレータであり、前記メモリは、各ワイヤに流
れる正常電流値の電流に対応して、前記コンパレータが
検出すべき正常な電圧偏差値を正常電圧偏差値として予
め格納していることを特徴とすることが好ましい。
【０００７】この発明の構成によれば、接続手段を介し
て検査対象のワイヤーハーネスが疑似回路に接続され、
スイッチ制御回路が疑似回路および接続手段を制御し
て、ワイヤーハーネスを疑似使用状態に設定する。そこ
で、疑似使用状態検出手段がワイヤーハーネスの各ワイ
ヤに流れる電流値を検出し、この電流値に対応した電流
偏差値を偏差値検出手段が検出し、判定回路がこの電流
偏差値を記憶手段の記憶している正常電流偏差値と比較
してワイヤーハーネスの各ワイヤの品質状態を判定す
る。したがって、記憶手段に記憶された正常電流偏差値
に基づいて、ワイヤ間の短絡および不完全短絡、ワイヤ
の断線および断線はしていないが高抵抗値をもって接続
している状態等を判定することができる。
て検査対象のワイヤーハーネスが疑似回路に接続され、
スイッチ制御回路が疑似回路および接続手段を制御し
て、ワイヤーハーネスを疑似使用状態に設定する。そこ
で、疑似使用状態検出手段がワイヤーハーネスの各ワイ
ヤに流れる電流値を検出し、この電流値に対応した電流
偏差値を偏差値検出手段が検出し、判定回路がこの電流
偏差値を記憶手段の記憶している正常電流偏差値と比較
してワイヤーハーネスの各ワイヤの品質状態を判定す
る。したがって、記憶手段に記憶された正常電流偏差値
に基づいて、ワイヤ間の短絡および不完全短絡、ワイヤ
の断線および断線はしていないが高抵抗値をもって接続
している状態等を判定することができる。
【０００８】
【発明の実施の形態】以下、本発明に係るワイヤーハー
ネス検査装置の好適な実施の形態を図面に基づいて詳細
に説明する。図１は、本発明に係るワイヤーハーネス検
査装置の一実施形態を示す構成図、図２は図１の検査装
置とワイヤーハーネスとの接続関係を示す接続図、図３
は図１の回路を簡略化して示す構成図、図４は実施形態
のワイヤーハーネス検査装置において使用するスイッチ
ングデバイスの回路図、図５は図４のスイッチングデバ
イスにおける加熱防止回路の一例を示す回路図である。
ネス検査装置の好適な実施の形態を図面に基づいて詳細
に説明する。図１は、本発明に係るワイヤーハーネス検
査装置の一実施形態を示す構成図、図２は図１の検査装
置とワイヤーハーネスとの接続関係を示す接続図、図３
は図１の回路を簡略化して示す構成図、図４は実施形態
のワイヤーハーネス検査装置において使用するスイッチ
ングデバイスの回路図、図５は図４のスイッチングデバ
イスにおける加熱防止回路の一例を示す回路図である。
【０００９】実施形態の詳細な説明を行う前に、先ず、
実施形態のワイヤーハーネス検査装置において使用する
スイッチングデバイスについて、図４を参照して説明す
る。このスイッチングデバイスは、本出願人によって既
に提案された電源供給制御回路（特願平１１−１４０４
２１号）に用いられたものである。すなわち、このスイ
ッチングデバイスは、電源１０１の出力電圧ＶＢを負荷
１０２に供給する経路に、半導体スイッチとしてのサー
マルＦＥＴＱＡのドレインＤ−ソースＳを直列接続し
て、該サーマルＦＥＴＱＡのスイッチング制御により電
力供給を制御するもので、該サーマルＦＥＴＱＡに駆動
手段、保護手段および負荷電流検出手段等を合わせて、
１チップ１１０ａに集積化した集積回路である。
実施形態のワイヤーハーネス検査装置において使用する
スイッチングデバイスについて、図４を参照して説明す
る。このスイッチングデバイスは、本出願人によって既
に提案された電源供給制御回路（特願平１１−１４０４
２１号）に用いられたものである。すなわち、このスイ
ッチングデバイスは、電源１０１の出力電圧ＶＢを負荷
１０２に供給する経路に、半導体スイッチとしてのサー
マルＦＥＴＱＡのドレインＤ−ソースＳを直列接続し
て、該サーマルＦＥＴＱＡのスイッチング制御により電
力供給を制御するもので、該サーマルＦＥＴＱＡに駆動
手段、保護手段および負荷電流検出手段等を合わせて、
１チップ１１０ａに集積化した集積回路である。
【００１０】更に述べると、サーマルＦＥＴＱＡは、ド
レインＤが出力電圧ＶＢ（例えば、１２Ｖ）の電源１０
１に接続され、ソースＳが負荷１０２に接続されてい
る。したがって、電源１０１から負荷１０２への電源供
給経路に、従前の電流検出用のシャント抵抗等が挿入さ
れていないことが理解される。また同図において、サー
マルＦＥＴＱＡを駆動制御する部分については、ＦＥＴ
ＱＢ、抵抗Ｒ１〜Ｒ１０、Ｒｒ、ＲＶ、ツェナーダイオ
ードＺＤ１、ダイオードＤ１、コンパレータＣＭＰ１、
駆動回路１１１およびスイッチＳＷ１を備えた構成であ
る。
レインＤが出力電圧ＶＢ（例えば、１２Ｖ）の電源１０
１に接続され、ソースＳが負荷１０２に接続されてい
る。したがって、電源１０１から負荷１０２への電源供
給経路に、従前の電流検出用のシャント抵抗等が挿入さ
れていないことが理解される。また同図において、サー
マルＦＥＴＱＡを駆動制御する部分については、ＦＥＴ
ＱＢ、抵抗Ｒ１〜Ｒ１０、Ｒｒ、ＲＶ、ツェナーダイオ
ードＺＤ１、ダイオードＤ１、コンパレータＣＭＰ１、
駆動回路１１１およびスイッチＳＷ１を備えた構成であ
る。
【００１１】負荷１０２は例えばヘッドライトやパワー
ウィンドウの駆動モータ等々であり、ユーザ等がスイッ
チＳＷ１をオンさせることにより機能する。ＦＥＴＱＢ
のドレインとゲートとは、サーマルＦＥＴＱＡのドレイ
ンＤとゲートＴＧとにそれぞれ接続され、ＦＥＴＱＢの
ソースＳＢは抵抗Ｒｒの一方の端子に接続され、抵抗Ｒ
ｒの他の端子は接地されている。このように、ＦＥＴＱ
ＢおよびサーマルＦＥＴＱＡのドレインＤおよびゲート
ＴＧを共通化することにより同一チップ１１０ａへの集
積化を容易にすることができる。
ウィンドウの駆動モータ等々であり、ユーザ等がスイッ
チＳＷ１をオンさせることにより機能する。ＦＥＴＱＢ
のドレインとゲートとは、サーマルＦＥＴＱＡのドレイ
ンＤとゲートＴＧとにそれぞれ接続され、ＦＥＴＱＢの
ソースＳＢは抵抗Ｒｒの一方の端子に接続され、抵抗Ｒ
ｒの他の端子は接地されている。このように、ＦＥＴＱ
ＢおよびサーマルＦＥＴＱＡのドレインＤおよびゲート
ＴＧを共通化することにより同一チップ１１０ａへの集
積化を容易にすることができる。
【００１２】また、ＦＥＴＱＢの電流容量がサーマルＦ
ＥＴＱＡの電流容量よりも小さくなるように、ＦＥＴＱ
Ｂを構成するトランジスタ数は、サーマルＦＥＴＱＡを
構成するトランジスタ数の１／１０００とされている。
さらに、抵抗Ｒｒの抵抗値は、負荷１０２の抵抗値×
（サーマルＦＥＴＱＡのトランジスタの数／ＦＥＴＱＢ
のトランジスタの数）、つまり、負荷１０２の抵抗値×
１０００となるように設定されている。
ＥＴＱＡの電流容量よりも小さくなるように、ＦＥＴＱ
Ｂを構成するトランジスタ数は、サーマルＦＥＴＱＡを
構成するトランジスタ数の１／１０００とされている。
さらに、抵抗Ｒｒの抵抗値は、負荷１０２の抵抗値×
（サーマルＦＥＴＱＡのトランジスタの数／ＦＥＴＱＢ
のトランジスタの数）、つまり、負荷１０２の抵抗値×
１０００となるように設定されている。
【００１３】この場合、電源供給制御回路は、ユーザが
スイッチＳＷ１をオンさせると、駆動回路１１１の出力
する駆動信号に基づいて電源供給動作を開始する。駆動
回路１１１は、直列接続されたトランジスタＱ５，Ｑ６
を有し、トランジスタＱ５は、コレクタが電位ＶＰ（チ
ャージポンプの出力電圧であって、例えば＋１０Ｖ）に
接続され、エミッタが出力端およびトランジスタＱ６の
コレクタに接続され、トランジスタＱ６は、エミッタが
接地されている。そこで、この駆動回路１１１は、スイ
ッチＳＷ１のオン／オフの切り換えに対応して、トラン
ジスタＱ５，Ｑ６をオン／オフ制御して、サマーマルＦ
ＥＴＱＡを駆動する駆動信号を出力する。
スイッチＳＷ１をオンさせると、駆動回路１１１の出力
する駆動信号に基づいて電源供給動作を開始する。駆動
回路１１１は、直列接続されたトランジスタＱ５，Ｑ６
を有し、トランジスタＱ５は、コレクタが電位ＶＰ（チ
ャージポンプの出力電圧であって、例えば＋１０Ｖ）に
接続され、エミッタが出力端およびトランジスタＱ６の
コレクタに接続され、トランジスタＱ６は、エミッタが
接地されている。そこで、この駆動回路１１１は、スイ
ッチＳＷ１のオン／オフの切り換えに対応して、トラン
ジスタＱ５，Ｑ６をオン／オフ制御して、サマーマルＦ
ＥＴＱＡを駆動する駆動信号を出力する。
【００１４】このようにしてスイッチＳＷ１がオンにさ
れ、電源供給制御回路が正常に動作する場合、上記した
抵抗Ｒｒにより、サーマルＦＥＴＱＡに５Ａの電流が流
れると、ＦＥＴＱＢには、５ｍＡの電流が流れ、両方の
ＦＥＴのドレインとソースとの間の電圧は、同じとな
る。したがって、ＦＥＴＱＢは、サーマルＦＥＴＱＡの
動作に影響を与えないで、サーマルＦＥＴＱＡの正常な
動作をシミュレートしていることになり、ＦＥＴＱＢの
ソース電圧は、サーマルＦＥＴＱＡの動作の正常あるい
は異常を判断する基準電圧として使用される。
れ、電源供給制御回路が正常に動作する場合、上記した
抵抗Ｒｒにより、サーマルＦＥＴＱＡに５Ａの電流が流
れると、ＦＥＴＱＢには、５ｍＡの電流が流れ、両方の
ＦＥＴのドレインとソースとの間の電圧は、同じとな
る。したがって、ＦＥＴＱＢは、サーマルＦＥＴＱＡの
動作に影響を与えないで、サーマルＦＥＴＱＡの正常な
動作をシミュレートしていることになり、ＦＥＴＱＢの
ソース電圧は、サーマルＦＥＴＱＡの動作の正常あるい
は異常を判断する基準電圧として使用される。
【００１５】また、上述のサーマルＦＥＴＱＡ、ＦＥＴ
ＱＢの共通化したゲートＴＧには、駆動回路１１１の出
力が抵抗Ｒ８，ＲＧを介して同電圧として印加されてお
り、ツェナーダイオードＺＤ１は、サーマルＦＥＴＱ
Ａ，ＦＥＴＱＢのゲートにツェナー電圧（１２Ｖ）以上
の高電圧が印加されないような保護機能を有している。
コンパレータＣＭＰ１の非反転入力端（＋）には、サー
マルＦＥＴＱＡのドレインとソースとの間の印加電圧を
抵抗Ｒ１，Ｒ２および可変抵抗ＲＶの並列抵抗で分圧し
た電圧が抵抗Ｒ５を介して印加されている。また、コン
パレータＣＭＰ１の反転入力端（−）には、ＦＥＴＱＢ
のソース電圧が供給されている。したがって、正常動作
を行っている場合には、非反転入力端（＋）の電圧は、
反転入力端（−）の電圧よりも高く、コンパレータＣＭ
Ｐ１は、正常動作が行われていると看做し、出力をハイ
レベルとする。
ＱＢの共通化したゲートＴＧには、駆動回路１１１の出
力が抵抗Ｒ８，ＲＧを介して同電圧として印加されてお
り、ツェナーダイオードＺＤ１は、サーマルＦＥＴＱ
Ａ，ＦＥＴＱＢのゲートにツェナー電圧（１２Ｖ）以上
の高電圧が印加されないような保護機能を有している。
コンパレータＣＭＰ１の非反転入力端（＋）には、サー
マルＦＥＴＱＡのドレインとソースとの間の印加電圧を
抵抗Ｒ１，Ｒ２および可変抵抗ＲＶの並列抵抗で分圧し
た電圧が抵抗Ｒ５を介して印加されている。また、コン
パレータＣＭＰ１の反転入力端（−）には、ＦＥＴＱＢ
のソース電圧が供給されている。したがって、正常動作
を行っている場合には、非反転入力端（＋）の電圧は、
反転入力端（−）の電圧よりも高く、コンパレータＣＭ
Ｐ１は、正常動作が行われていると看做し、出力をハイ
レベルとする。
【００１６】電源供給制御回路が上述のように動作して
いる場合に、もしも、負荷１０２、または、サーマルＦ
ＥＴＱＡのソースと負荷１０２との間に、短絡故障によ
る過電流、あるいは、不完全短絡故障による異常電流等
が生じてサーマルＦＥＴＱＡに異常電流が流れると、非
反転入力端（＋）の電圧は、反転入力端（−）の電圧よ
りも低くなり、コンパレータＣＭＰ１は、故障が発生し
たものと看做して、出力をロウレベルとする。コンパレ
ータＣＭＰ１の出力がロウレベルとなると、駆動回路１
１１の出力はロウレベルとなり、サーマルＦＥＴＱＡが
オフ状態に遷移する。
いる場合に、もしも、負荷１０２、または、サーマルＦ
ＥＴＱＡのソースと負荷１０２との間に、短絡故障によ
る過電流、あるいは、不完全短絡故障による異常電流等
が生じてサーマルＦＥＴＱＡに異常電流が流れると、非
反転入力端（＋）の電圧は、反転入力端（−）の電圧よ
りも低くなり、コンパレータＣＭＰ１は、故障が発生し
たものと看做して、出力をロウレベルとする。コンパレ
ータＣＭＰ１の出力がロウレベルとなると、駆動回路１
１１の出力はロウレベルとなり、サーマルＦＥＴＱＡが
オフ状態に遷移する。
【００１７】コンパレータＣＭＰ１がこのようにハイレ
ベルとロウレベルとの切り換えを行う場合に、ダイオー
ドＤ１と抵抗Ｒ５との働きにより、コンパレータＣＭＰ
１は、若干のヒステリシスが与えられその動作を安定に
実行することができる。
ベルとロウレベルとの切り換えを行う場合に、ダイオー
ドＤ１と抵抗Ｒ５との働きにより、コンパレータＣＭＰ
１は、若干のヒステリシスが与えられその動作を安定に
実行することができる。
【００１８】半導体スイッチとしてのサーマルＦＥＴＱ
Ａは、より詳しくは図２に示すような過熱防止回路も備
えている。図２において、サーマルＦＥＴＱＡは、内蔵
抵抗ＲＧ、温度センサ１２１、ラッチ回路１２２および
加熱遮断用ＦＥＴＱＳを備えている。つまり、本実施形
態で使用するサーマルＦＥＴＱＡは、サーマルＦＥＴＱ
Ａが規定以上の温度まで上昇したことが温度センサ１２
１によって検出された場合には、その旨の検出情報がラ
ッチ回路１２２に保持され、ゲート遮断回路としての過
熱遮断用ＦＥＴＱＳがオン動作されることによって、サ
ーマルＦＥＴＱＡを強制的にオフ制御する過熱遮断機能
を備えている。
Ａは、より詳しくは図２に示すような過熱防止回路も備
えている。図２において、サーマルＦＥＴＱＡは、内蔵
抵抗ＲＧ、温度センサ１２１、ラッチ回路１２２および
加熱遮断用ＦＥＴＱＳを備えている。つまり、本実施形
態で使用するサーマルＦＥＴＱＡは、サーマルＦＥＴＱ
Ａが規定以上の温度まで上昇したことが温度センサ１２
１によって検出された場合には、その旨の検出情報がラ
ッチ回路１２２に保持され、ゲート遮断回路としての過
熱遮断用ＦＥＴＱＳがオン動作されることによって、サ
ーマルＦＥＴＱＡを強制的にオフ制御する過熱遮断機能
を備えている。
【００１９】温度センサ１２１は４個のダイオードが縦
続接続されてなり、実装上、温度セサン１２１はサーマ
ルＦＥＴＱＡの近傍に配置されている。したがって、何
らかの原因によってサーマルＦＥＴＱＡが規定以上の温
度に上昇すると、温度センサ１２１がこれを検出し、Ｆ
ＥＴＱ５１のゲート電圧をロウレベルにし、ＦＥＴＱ５
１をオフ状態にする。したがって、ＦＥＴＱ５４はオ
ン、ＦＥＴＱ５３はオフ、ＦＥＴＱＳはオンとなり、Ｆ
ＥＴＱＡのゲート電圧をＦＥＴＱＡのソースレベルに引
き下げるので、ＦＥＴＱＡは、オフ状態に遷移して負荷
１０２の側への電源供給を遮断し、過熱を防止させるこ
とができる。すなわち、上述した電源供給制御回路を使
用すれば、負荷１０２、または、サーマルＦＥＴＱＡの
ソースと負荷１０２との間に、短絡故障による過電流、
あるいは、不完全短絡故障による異常電流等が生じてサ
ーマルＦＥＴＱＡに異常電流が流れても、また、それ以
外の原因によって、サーマルＦＥＴＱＡの温度が規定以
上に上昇しても、電源供給制御回路がこれを自動的に検
出して、サーマルＦＥＴＱＡを介しての電源供給を停止
させ、不測の破壊を防止することができる。
続接続されてなり、実装上、温度セサン１２１はサーマ
ルＦＥＴＱＡの近傍に配置されている。したがって、何
らかの原因によってサーマルＦＥＴＱＡが規定以上の温
度に上昇すると、温度センサ１２１がこれを検出し、Ｆ
ＥＴＱ５１のゲート電圧をロウレベルにし、ＦＥＴＱ５
１をオフ状態にする。したがって、ＦＥＴＱ５４はオ
ン、ＦＥＴＱ５３はオフ、ＦＥＴＱＳはオンとなり、Ｆ
ＥＴＱＡのゲート電圧をＦＥＴＱＡのソースレベルに引
き下げるので、ＦＥＴＱＡは、オフ状態に遷移して負荷
１０２の側への電源供給を遮断し、過熱を防止させるこ
とができる。すなわち、上述した電源供給制御回路を使
用すれば、負荷１０２、または、サーマルＦＥＴＱＡの
ソースと負荷１０２との間に、短絡故障による過電流、
あるいは、不完全短絡故障による異常電流等が生じてサ
ーマルＦＥＴＱＡに異常電流が流れても、また、それ以
外の原因によって、サーマルＦＥＴＱＡの温度が規定以
上に上昇しても、電源供給制御回路がこれを自動的に検
出して、サーマルＦＥＴＱＡを介しての電源供給を停止
させ、不測の破壊を防止することができる。
【００２０】次に、図１および図２を参照し、本発明の
ワイヤーハーネス検査装置について説明する。本発明の
ワイヤーハーネス検査装置は、上述したスイッチングデ
バイスを利用することにより、ワイヤーハーネスを負荷
（１０２）接続したとき、活線状態と同一状況下でワイ
ヤーハーネスに生じる短絡故障や不完全短絡故障、ある
いは、ピン接続不良判定や負荷状況判定等々を正確、か
つ、完璧に検出することができる。特に、従前装置では
検出が困難であった不完全短絡故障を正確に検出して、
微小な電圧や電流を扱うコンピュータ回路が接続された
ワイヤーハーネスを好適に検査することができる。
ワイヤーハーネス検査装置について説明する。本発明の
ワイヤーハーネス検査装置は、上述したスイッチングデ
バイスを利用することにより、ワイヤーハーネスを負荷
（１０２）接続したとき、活線状態と同一状況下でワイ
ヤーハーネスに生じる短絡故障や不完全短絡故障、ある
いは、ピン接続不良判定や負荷状況判定等々を正確、か
つ、完璧に検出することができる。特に、従前装置では
検出が困難であった不完全短絡故障を正確に検出して、
微小な電圧や電流を扱うコンピュータ回路が接続された
ワイヤーハーネスを好適に検査することができる。
【００２１】すなわち、図１および図２に示すワイヤー
ハーネス検査装置は、スイッチングデバイスの機能を完
璧に発揮させるために、既述した電源供給制御回路をシ
ミュレートする疑似回路１０を組み込んで、活線状態で
検査対象のワイヤーハーネスの個々のワイヤの品質を検
査するようにしている。この場合に、疑似回路１０には
図５に示した過熱防止回路が含まれていてもあるいは含
まれていなくても実施可能である。
ハーネス検査装置は、スイッチングデバイスの機能を完
璧に発揮させるために、既述した電源供給制御回路をシ
ミュレートする疑似回路１０を組み込んで、活線状態で
検査対象のワイヤーハーネスの個々のワイヤの品質を検
査するようにしている。この場合に、疑似回路１０には
図５に示した過熱防止回路が含まれていてもあるいは含
まれていなくても実施可能である。
【００２２】図１に示すワイヤーハーネス検査装置にお
ける疑似回路１０は、先の電源供給回路で述べたサーマ
ルＦＥＴＱＡに対する負荷１０２の代わりに、負荷回路
１１が配置されている。
ける疑似回路１０は、先の電源供給回路で述べたサーマ
ルＦＥＴＱＡに対する負荷１０２の代わりに、負荷回路
１１が配置されている。
【００２３】負荷回路１１は、図２に示すように、抵抗
値が種々の負荷に対応した抵抗ＲＲ１、ＲＲ２、・・
・、ＲＲｎを含む抵抗ブロックＲＢを備えており、抵抗
ＲＲ１、ＲＲ２、・・・、ＲＲｎのそれぞれの一端はプ
ラグＰＧ２のそれぞれの端子に接続され、他端は共通に
接地されている。
値が種々の負荷に対応した抵抗ＲＲ１、ＲＲ２、・・
・、ＲＲｎを含む抵抗ブロックＲＢを備えており、抵抗
ＲＲ１、ＲＲ２、・・・、ＲＲｎのそれぞれの一端はプ
ラグＰＧ２のそれぞれの端子に接続され、他端は共通に
接地されている。
【００２４】また、基準電圧を発生させるＦＥＴＱＢお
よび抵抗Ｒｒに対しては、疑似負荷回路１２が設けられ
ており、疑似負荷回路１２には、サーマルＦＥＴＱＡに
接続される負荷回路１１の各負荷の抵抗ＲＲ１、ＲＲ
２、・・・、ＲＲｎに対応して、サーマルＦＥＴＱＡと
同じドレイン−ソース間電圧を保持させるために、抵抗
Ｒｒに並列接続される抵抗ブロックＲＡの抵抗ＲＰ１、
ＲＰ２、・・・、ＲＰｎが備えられている。
よび抵抗Ｒｒに対しては、疑似負荷回路１２が設けられ
ており、疑似負荷回路１２には、サーマルＦＥＴＱＡに
接続される負荷回路１１の各負荷の抵抗ＲＲ１、ＲＲ
２、・・・、ＲＲｎに対応して、サーマルＦＥＴＱＡと
同じドレイン−ソース間電圧を保持させるために、抵抗
Ｒｒに並列接続される抵抗ブロックＲＡの抵抗ＲＰ１、
ＲＰ２、・・・、ＲＰｎが備えられている。
【００２５】抵抗ブロックＲＡの抵抗ＲＰ１、ＲＰ２、
・・・、ＲＰｎは、電源供給ラインＰＬに負荷回路１１
の抵抗ＲＲ１、ＲＲ２、・・・、ＲＲｎを切り替え接続
するのに対応して、スイッチブロックＳＡのスイッチＳ
Ａ１，ＳＡ２，〜，ＳＡｎのオンにより選択されて抵抗
Ｒｒに並列接続される。これにより、ＦＥＴＱＢに適切
な負荷が与えられる。
・・・、ＲＰｎは、電源供給ラインＰＬに負荷回路１１
の抵抗ＲＲ１、ＲＲ２、・・・、ＲＲｎを切り替え接続
するのに対応して、スイッチブロックＳＡのスイッチＳ
Ａ１，ＳＡ２，〜，ＳＡｎのオンにより選択されて抵抗
Ｒｒに並列接続される。これにより、ＦＥＴＱＢに適切
な負荷が与えられる。
【００２６】サーマルＦＥＴＱＡからの電源供給ライン
ＰＬは、後述する接続回路２０および検査対象となるワ
イヤーハーネスＷ／Ｈを介して負荷回路１１に接続され
る。接続回路２０は、擬似回路１０にワイヤーハーネス
Ｗ／Ｈを接続する接続手段となるもので、図２に示すよ
うに、複数の端子を備えたソケットＳＫ１と、一端が電
源供給ラインＰＬに共通接続され、他端がそれぞれソケ
ットＳＫ１の各端子に接続されたスイッチブロツクＳＢ
のスイッチＳＢ１、ＳＢ２、・・・、ＳＢｎとから構成
されている。
ＰＬは、後述する接続回路２０および検査対象となるワ
イヤーハーネスＷ／Ｈを介して負荷回路１１に接続され
る。接続回路２０は、擬似回路１０にワイヤーハーネス
Ｗ／Ｈを接続する接続手段となるもので、図２に示すよ
うに、複数の端子を備えたソケットＳＫ１と、一端が電
源供給ラインＰＬに共通接続され、他端がそれぞれソケ
ットＳＫ１の各端子に接続されたスイッチブロツクＳＢ
のスイッチＳＢ１、ＳＢ２、・・・、ＳＢｎとから構成
されている。
【００２７】ソケットＳＫ１は、ワイヤーハーネスＷ／
Ｈの一端に接続されたプラグＰＧ１と結合され、ワイヤ
ーハーネスＷ／Ｈの他端は、この他端に接続されたソケ
ットＳＫ２が、負荷回路１１のプラグＰＧ２と結合され
る。そして、電源供給ラインＰＬは、スイッチブロック
ＳＢの各スイッチＳＢ１、ＳＢ２、・・・、ＳＢｎをオ
ンする毎に、ワイヤーハーネスＷ／Ｈの各ワイヤＬ１，
Ｌ２，〜，Ｌｎを介して負荷回路１１の抵抗ＲＲ１，Ｒ
Ｒ２，〜，ＲＲｎにそれぞれ切り替え接続される。
Ｈの一端に接続されたプラグＰＧ１と結合され、ワイヤ
ーハーネスＷ／Ｈの他端は、この他端に接続されたソケ
ットＳＫ２が、負荷回路１１のプラグＰＧ２と結合され
る。そして、電源供給ラインＰＬは、スイッチブロック
ＳＢの各スイッチＳＢ１、ＳＢ２、・・・、ＳＢｎをオ
ンする毎に、ワイヤーハーネスＷ／Ｈの各ワイヤＬ１，
Ｌ２，〜，Ｌｎを介して負荷回路１１の抵抗ＲＲ１，Ｒ
Ｒ２，〜，ＲＲｎにそれぞれ切り替え接続される。
【００２８】スイッチ制御回路３４は、擬似負荷回路１
２のスイッチブロックＳＡおよび接続回路２０のスイッ
チブロックＳＢを制御して上述の接続をプログラムに沿
って自動的に実行させる。
２のスイッチブロックＳＡおよび接続回路２０のスイッ
チブロックＳＢを制御して上述の接続をプログラムに沿
って自動的に実行させる。
【００２９】また、電源供給ラインＰＬには、擬似使用
状態検出手段となるホール素子３０が配置されており、
ホール素子３０は電源供給ラインＰＬを介して負荷回路
１１の抵抗ＲＲ１、ＲＲ２、・・・・、ＲＲｎに供給さ
れる電流を、電圧に換算して検出する。ホール素子３０
で検出された電圧とＦＥＴＱＡおよびＦＥＴＱＢのゲー
ト電圧とを比較する偏差値検出手段となるコンパレータ
３１が設けられている。コンパレータ３１は、上記の電
圧の差分に対応する偏差電圧ＶＱを出力する。
状態検出手段となるホール素子３０が配置されており、
ホール素子３０は電源供給ラインＰＬを介して負荷回路
１１の抵抗ＲＲ１、ＲＲ２、・・・・、ＲＲｎに供給さ
れる電流を、電圧に換算して検出する。ホール素子３０
で検出された電圧とＦＥＴＱＡおよびＦＥＴＱＢのゲー
ト電圧とを比較する偏差値検出手段となるコンパレータ
３１が設けられている。コンパレータ３１は、上記の電
圧の差分に対応する偏差電圧ＶＱを出力する。
【００３０】コンパレータ３１より出力される偏差電圧
ＶＱは、判定回路３３に供給されている。この判定回路
３３は、負荷回路１１の抵抗ＲＲ１、ＲＲ２、・・・、
ＲＲｎと、基準電圧を発生するためＦＥＴＱＢの抵抗Ｒ
ｒに並列接続される抵抗ＲＰ１、ＲＰ２、・・・、ＲＰ
ｎとがスイッチ制御回路３４によって電源供給ラインＰ
Ｌに切り替え接続されるタイミングを検出するととも
に、負荷回路１１がそれぞれ抵抗ＲＲ１、ＲＲ２、・・
・、ＲＲｎに切り替え接続された際に、コンパレータ３
１が出力する偏差電圧ＶＱと、後述するメモリ３２に記
憶された正常偏差電圧ＶＳとを比較する。
ＶＱは、判定回路３３に供給されている。この判定回路
３３は、負荷回路１１の抵抗ＲＲ１、ＲＲ２、・・・、
ＲＲｎと、基準電圧を発生するためＦＥＴＱＢの抵抗Ｒ
ｒに並列接続される抵抗ＲＰ１、ＲＰ２、・・・、ＲＰ
ｎとがスイッチ制御回路３４によって電源供給ラインＰ
Ｌに切り替え接続されるタイミングを検出するととも
に、負荷回路１１がそれぞれ抵抗ＲＲ１、ＲＲ２、・・
・、ＲＲｎに切り替え接続された際に、コンパレータ３
１が出力する偏差電圧ＶＱと、後述するメモリ３２に記
憶された正常偏差電圧ＶＳとを比較する。
【００３１】メモリ３２は、スイッチブロックＳＢの各
スイッチＳＢ１、ＳＢ２、・・・、ＳＢｎにより電源供
給ラインＰＬに適切な負荷回路１１の抵抗ＲＲ１、ＲＲ
２、・・・、ＲＲｎが接続されて正常な負荷電流が流れ
たときに、コンパレータ３１が検出すべき正常偏差電圧
ＶＳを記憶している。
スイッチＳＢ１、ＳＢ２、・・・、ＳＢｎにより電源供
給ラインＰＬに適切な負荷回路１１の抵抗ＲＲ１、ＲＲ
２、・・・、ＲＲｎが接続されて正常な負荷電流が流れ
たときに、コンパレータ３１が検出すべき正常偏差電圧
ＶＳを記憶している。
【００３２】そして、判定回路３３が、コンパレータ３
１が出力する偏差電圧ＶＱとメモリ３２内の正常偏差電
圧ＶＳとを比較することによって、活線状態でのワイヤ
ーハーネＷ／Ｈにおけるワイヤ間の短絡や不完全短絡、
ワイヤの断線および断線はしていないが高抵抗値をもっ
て接続している等々を判定し、判定結果を出力端３９に
出力する。例えば、切り替え接続される負荷回路１１の
負荷インピーダンスを車両ドアの閉鎖時における値と
し、抵抗Ｒｒに並列接続される擬似負荷値をドアロック
時における値としたとき、ワイヤーハーネスＷ／Ｈに流
れる電流とワイヤーハーネスＷ／Ｈに流れるべき基準電
流値とを比較し、比較結果をメモリ３２に記憶されてい
る正常偏差値と比較するので、もしワイヤに不完全短絡
が生じているとこのときの電流は基準電流値より低下す
る。すなわち、本来流れる電流より高い値が検出される
と不完全短絡が生じていると判定することができる。
１が出力する偏差電圧ＶＱとメモリ３２内の正常偏差電
圧ＶＳとを比較することによって、活線状態でのワイヤ
ーハーネＷ／Ｈにおけるワイヤ間の短絡や不完全短絡、
ワイヤの断線および断線はしていないが高抵抗値をもっ
て接続している等々を判定し、判定結果を出力端３９に
出力する。例えば、切り替え接続される負荷回路１１の
負荷インピーダンスを車両ドアの閉鎖時における値と
し、抵抗Ｒｒに並列接続される擬似負荷値をドアロック
時における値としたとき、ワイヤーハーネスＷ／Ｈに流
れる電流とワイヤーハーネスＷ／Ｈに流れるべき基準電
流値とを比較し、比較結果をメモリ３２に記憶されてい
る正常偏差値と比較するので、もしワイヤに不完全短絡
が生じているとこのときの電流は基準電流値より低下す
る。すなわち、本来流れる電流より高い値が検出される
と不完全短絡が生じていると判定することができる。
【００３３】図５のワイヤーハーネス検査装置は、図１
の疑似回路１０を簡略化した疑似回路５０を使用したも
のである。このワイヤーハーネス検査装置においては、
図５の過熱防止回路は含まれていても含まれていなくて
もよい。疑似回路５０において、駆動回路１１１は、常
時稼働可能にされており、電源スイッチＳＷ０がオンに
なると疑似回路５０は作動を開始し、電源供給がダイオ
ード１３およびホール素子３０を介して行われる。負荷
回路１１および疑似負荷回路１２は、図１のものと同じ
である。また、ワイヤーハーネスＷ／Ｈ、接続回路２
０、コンパレータ３１、メモリ３２、判定回路３３、ス
イッチ制御回路３４、出力端３９も図１のものと同じで
ある。したがって、疑似回路５０は簡単化されている
が、ワイヤーハーネス検査装置の動作やその動作によっ
てもたらされる判定結果は、図１のワイヤーハーネス検
査装置の場合と実質的に同じである。
の疑似回路１０を簡略化した疑似回路５０を使用したも
のである。このワイヤーハーネス検査装置においては、
図５の過熱防止回路は含まれていても含まれていなくて
もよい。疑似回路５０において、駆動回路１１１は、常
時稼働可能にされており、電源スイッチＳＷ０がオンに
なると疑似回路５０は作動を開始し、電源供給がダイオ
ード１３およびホール素子３０を介して行われる。負荷
回路１１および疑似負荷回路１２は、図１のものと同じ
である。また、ワイヤーハーネスＷ／Ｈ、接続回路２
０、コンパレータ３１、メモリ３２、判定回路３３、ス
イッチ制御回路３４、出力端３９も図１のものと同じで
ある。したがって、疑似回路５０は簡単化されている
が、ワイヤーハーネス検査装置の動作やその動作によっ
てもたらされる判定結果は、図１のワイヤーハーネス検
査装置の場合と実質的に同じである。
【００３４】
【発明の効果】以上に詳述したように、第１の発明に係
わるワイヤーハーネス検査装置は、疑似使用状態検出手
段がワイヤーハーネスの各ワイヤに流れる電流値を検出
し、この検出された電流値の基準電流値からの電流偏差
値を偏差値検出手段が検出し、判定回路がこの電流偏差
値をメモリに予め記憶された正常電流偏差値と比較して
ワイヤーハーネスの各ワイヤの品質状態を判定するの
で、ワイヤ間の短絡および不完全短絡、ワイヤの断線お
よび断線はしていないが高抵抗値をもって接続している
等々の状態を判定することができる。
わるワイヤーハーネス検査装置は、疑似使用状態検出手
段がワイヤーハーネスの各ワイヤに流れる電流値を検出
し、この検出された電流値の基準電流値からの電流偏差
値を偏差値検出手段が検出し、判定回路がこの電流偏差
値をメモリに予め記憶された正常電流偏差値と比較して
ワイヤーハーネスの各ワイヤの品質状態を判定するの
で、ワイヤ間の短絡および不完全短絡、ワイヤの断線お
よび断線はしていないが高抵抗値をもって接続している
等々の状態を判定することができる。
【００３５】また、疑似使用状態検出手段は、各ワイヤ
に流れる電流値を電圧値に変換して検出するホール素子
であり、偏差値検出手段は、ホール素子が検出する電圧
と、予め決められた参照電圧との電圧偏差値を検出する
コンパレータであり、メモリが、各ワイヤに流れる正常
電流値の電流に対応して、コンパレータが検出すべき正
常な電圧偏差値を正常電圧偏差値として予め格納してい
る構成により、従来の構成要素を使用してワイヤーハー
ネス検査装置を容易に実現できる。
に流れる電流値を電圧値に変換して検出するホール素子
であり、偏差値検出手段は、ホール素子が検出する電圧
と、予め決められた参照電圧との電圧偏差値を検出する
コンパレータであり、メモリが、各ワイヤに流れる正常
電流値の電流に対応して、コンパレータが検出すべき正
常な電圧偏差値を正常電圧偏差値として予め格納してい
る構成により、従来の構成要素を使用してワイヤーハー
ネス検査装置を容易に実現できる。
【図１】本発明のワイヤーハーネス検査装置の一実施形
態を示す構成図である。
態を示す構成図である。
【図２】図１における検査装置とワイヤーハーネスとの
接続関係を示す接続図である。
接続関係を示す接続図である。
【図３】図１の検査装置の回路を簡略化して示す構成図
である。
である。
【図４】本実施形態のワイヤーハーネス検査装置に適用
されるスイッチングデバイスの回路図である。
されるスイッチングデバイスの回路図である。
【図５】図４に示したスイッチングデバイスにおける過
熱防止回路の一例を示す回路図である。
熱防止回路の一例を示す回路図である。
１０、５０ 疑似回路 １１ 負荷回路 １２ 疑似負荷回路 ２０ 接続回路 ３０ ホール素子（擬似使用状態検出手段） ３１ コンパレータ（偏差値検出手段） ３２ メモリ ３３ 判定回路 ３４ スイッチ制御回路 １０１ 電源 １１１ 駆動回路 ＱＡ，ＱＢ ＦＥＴ Ｗ／Ｈ ワイヤーハーネス
Claims (2)
- 【請求項１】 各種の装置間を相互接続するワイヤーハ
ーネスの各ワイヤについて品質検査するワイヤーハーネ
ス検査装置において、 前記ワイヤーハーネスを活線状態にシミュレートする疑
似回路と、 前記疑似回路に前記ワイヤーハーネスを接続する接続手
段と、 前記疑似回路および前記接続手段を制御して、前記ワイ
ヤーハーネスの各ワイヤを順次切り替えて前記擬似回路
に接続するスイッチ制御回路と、 前記スイッチ制御回路により活線状態に設定されたと
き、前記ワイヤーハーネスの各ワイヤに流れる電流値を
それぞれ検出する疑似使用状態検出手段と、 前記疑似使用状態検出手段が検出した電流値が予め決め
られた基準電流値からずれている電流偏差値を検出する
偏差値検出手段と、 前記ワイヤーハーネスの正常時に各ワイヤに流れる前記
基準電流値からずれた電流偏差値である正常電流偏差値
を予め格納しているメモリと、 前記偏差値検出手段が検出する電流偏差値と前記メモリ
の正常電流偏差値とを比較し、前記ワイヤーハーネスの
各ワイヤの品質状態を判定する判定回路とを具備してな
ることを特徴とするワイヤーハーネス検査装置。 - 【請求項２】 前記疑似使用状態検出手段は、各ワイヤ
に流れる電流値を電圧値に変換して検出するホール素子
であり、前記偏差値検出手段は、前記ホール素子が検出
する電圧と、予め決められた参照電圧との電圧偏差値を
検出するコンパレータであり、前記メモリは、各ワイヤ
に流れる正常電流値の電流に対応して、前記コンパレー
タが検出すべき正常な電圧偏差値を正常電圧偏差値とし
て予め格納していることを特徴とする請求項１記載のワ
イヤーハーネス検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000100893A JP2001289897A (ja) | 2000-04-03 | 2000-04-03 | ワイヤーハーネス検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000100893A JP2001289897A (ja) | 2000-04-03 | 2000-04-03 | ワイヤーハーネス検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001289897A true JP2001289897A (ja) | 2001-10-19 |
Family
ID=18615036
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000100893A Pending JP2001289897A (ja) | 2000-04-03 | 2000-04-03 | ワイヤーハーネス検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001289897A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100622695B1 (ko) | 2005-06-09 | 2006-09-11 | 김용선 | 와이어 하네스 양불 검사 시스템 및 방법 |
| CN101477166B (zh) * | 2009-01-21 | 2012-09-19 | 深圳市特尔佳科技股份有限公司 | 线束测试控制板及线束测试控制方法 |
| GB2573521A (en) * | 2018-05-08 | 2019-11-13 | Delphi Tech Ip Ltd | Method to determine the operating resistance of an electrical harness connecting an ECU to a solenoid controlled valve |
| KR20190136158A (ko) * | 2018-05-30 | 2019-12-10 | (주)로뎀기술 | FPGA(field programmable gate array)를 이용한 정밀 하네스 검사 방법 |
| KR20230026808A (ko) * | 2021-08-18 | 2023-02-27 | 경남대학교 산학협력단 | 하네스 검사 장치 및 하네스 검사 방법 |
-
2000
- 2000-04-03 JP JP2000100893A patent/JP2001289897A/ja active Pending
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100622695B1 (ko) | 2005-06-09 | 2006-09-11 | 김용선 | 와이어 하네스 양불 검사 시스템 및 방법 |
| CN101477166B (zh) * | 2009-01-21 | 2012-09-19 | 深圳市特尔佳科技股份有限公司 | 线束测试控制板及线束测试控制方法 |
| GB2573521A (en) * | 2018-05-08 | 2019-11-13 | Delphi Tech Ip Ltd | Method to determine the operating resistance of an electrical harness connecting an ECU to a solenoid controlled valve |
| GB2573521B (en) * | 2018-05-08 | 2020-10-21 | Delphi Tech Ip Ltd | Method to determine the operating resistance of an electrical harness connecting an ECU to a solenoid controlled valve. |
| US11230986B2 (en) | 2018-05-08 | 2022-01-25 | Delphi Technologies Ip Limited | Method to determine the operating resistance of an electrical harness connecting an ECU to a solenoid controlled valve |
| KR20190136158A (ko) * | 2018-05-30 | 2019-12-10 | (주)로뎀기술 | FPGA(field programmable gate array)를 이용한 정밀 하네스 검사 방법 |
| KR102087343B1 (ko) | 2018-05-30 | 2020-04-23 | (주)로뎀기술 | FPGA(field programmable gate array)를 이용한 정밀 하네스 검사 방법 |
| KR20230026808A (ko) * | 2021-08-18 | 2023-02-27 | 경남대학교 산학협력단 | 하네스 검사 장치 및 하네스 검사 방법 |
| KR102587201B1 (ko) * | 2021-08-18 | 2023-10-06 | 경남대학교 산학협력단 | 하네스 검사 장치 및 하네스 검사 방법 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20060324 |