JPS60125586U - 耐電圧試験装置 - Google Patents
耐電圧試験装置Info
- Publication number
- JPS60125586U JPS60125586U JP1376384U JP1376384U JPS60125586U JP S60125586 U JPS60125586 U JP S60125586U JP 1376384 U JP1376384 U JP 1376384U JP 1376384 U JP1376384 U JP 1376384U JP S60125586 U JPS60125586 U JP S60125586U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- high voltage
- voltage
- test equipment
- voltage test
- withstanding voltage
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Testing Relating To Insulation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
第１図は従来の耐電圧試験装置の回路図、第２図は本考
案の耐電圧試験装置の一実施例を示す回路図である。 ９・・・高圧プローブ、１３．１４・・・第１の分圧抵
抗、１５．１６・・・第２の分圧抵抗、１７・・・整流
器、１８・・・判定装置。
案の耐電圧試験装置の一実施例を示す回路図である。 ９・・・高圧プローブ、１３．１４・・・第１の分圧抵
抗、１５．１６・・・第２の分圧抵抗、１７・・・整流
器、１８・・・判定装置。
Claims (1)
- 高電圧を高圧プローブにより被検査物に印加し、電源コ
ンセントへ流れる微少電流を検出する耐電圧試験装置に
おいて、高電圧が印加される高圧プローブ側近くに検出
電極を設け、この検出出力に高電圧を分圧した出力を加
え、これを分圧、整流した後判別装置に入力し、高電圧
の有無および高圧プローブの接触の有無を判別可能にす
ることを特徴とする耐電圧試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1376384U JPS60125586U (ja) | 1984-02-01 | 1984-02-01 | 耐電圧試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1376384U JPS60125586U (ja) | 1984-02-01 | 1984-02-01 | 耐電圧試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60125586U true JPS60125586U (ja) | 1985-08-23 |
Family
ID=30498067
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1376384U Pending JPS60125586U (ja) | 1984-02-01 | 1984-02-01 | 耐電圧試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60125586U (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01180782U (ja) * | 1988-06-03 | 1989-12-26 | ||
| JP2007171069A (ja) * | 2005-12-26 | 2007-07-05 | Hioki Ee Corp | 絶縁耐電圧試験装置 |
| JP2007256022A (ja) * | 2006-03-22 | 2007-10-04 | Institute Of National Colleges Of Technology Japan | 高電位側検出型・変位電流バイパス法による損失電流測定方法および装置 |
-
1984
- 1984-02-01 JP JP1376384U patent/JPS60125586U/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01180782U (ja) * | 1988-06-03 | 1989-12-26 | ||
| JP2007171069A (ja) * | 2005-12-26 | 2007-07-05 | Hioki Ee Corp | 絶縁耐電圧試験装置 |
| JP2007256022A (ja) * | 2006-03-22 | 2007-10-04 | Institute Of National Colleges Of Technology Japan | 高電位側検出型・変位電流バイパス法による損失電流測定方法および装置 |
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