JPH03110485A - 電極間ショート検出装置 - Google Patents

電極間ショート検出装置

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JPH03110485A
JPH03110485A JP1248652A JP24865289A JPH03110485A JP H03110485 A JPH03110485 A JP H03110485A JP 1248652 A JP1248652 A JP 1248652A JP 24865289 A JP24865289 A JP 24865289A JP H03110485 A JPH03110485 A JP H03110485A
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JP
Japan
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circuit
short
electrode
electrodes
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Pending
Application number
JP1248652A
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English (en)
Inventor
Wataru Takahashi
渉 高橋
Yoshio Kobayashi
義男 小林
Satoru Imai
了 今井
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Liquid Crystal Display Device Control (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概 要〕 表面に透明電極が形成されてなる液晶パネルの検査装置
、特に隣接電極間のショートを検知する電極間ショート
検出装置に関し、 隣接電極間のショートと共に電極と接触子の接触不良が
検出できる、信頌度の高い電極間ショート検出装置の提
供を目的とし、 第1の電極に第1の接触子を介して接続される第1のパ
ルス発生回路と、第2の電極に第2の接触子を介し接続
される第2のパルス発生回路と、第1のパルス発生回路
および第2のパルス発生回路に接続され、各接触子と各
電極との接触不良を検知する接触不良判別回路と、第1
の接触子のいずれか一方と第2の接触子のいずれか一方
に接続され、第1の電極と第2の電極との間のショート
を検知するショート検出回路とで構成する。
〔産業上の利用分野〕
本発明は表面に透明電極が形成されてなる液晶パネルの
検査装置に係り、特に隣接電極間のショ−トを検知する
電極間ショート検出装置に関する。
液晶パネルにおける隣接電極間のショートを自動的に検
知する装置は、通常隣接する電極にショート検出回路の
二本の接触子をそれぞれ接触させ、ショート検出回路に
電流が流れなければ良品と判定している。しかし電極と
接触子の接続が不十分であれば電極間がショートしてい
ても、ショート検出回路に電流が流れないため良品と判
定される場合がある。
そこで隣接電極間のショートと同時に電極と接触子の接
触不良を検出できる、信頼度の高い電極間ショート検出
装置の実現が要望されている。
〔従来の技術〕
第4図は従来の電極間ショート検出装置を示す原理図で
ある。
図において従来の電極間ショート検出装置は接触子11
.12を具えたショート検出部1と、被検査液晶パネル
3が載置される移動テーブル2を具えている。液晶パネ
ル3には緑に沿って多数個の電極31が等間隔に配列さ
れており、モータ21を作動させると移動テーブル2は
液晶パネル3を電極31の配列方向に移動させる。
液晶パネル3の電極形成領域外に接触子11.12を置
き液晶パネル3を移動させると、2本の接触子11.1
2は液晶パネル3上の全ての電極に順次接触し、例えば
隣接する電極31aと31bとの間にショートがあると
、ショート検出部1に電流が流れ図示省略された警報回
路が作動する。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかし従来の電極間ショート検出装置はショート検出回
路に電流が流れなければ良品と判定し、例えば隣接電極
間がショートしていても一方の接触子に接触不良であれ
ば、ショート検出回路に電流が流れないため良品と判定
されるという問題があった。
本発明の目的は隣接電極間のショートと共に電極と接触
子の接触不良が検出できる、信頼度の高い電極間ショー
ト検出装置を提供することにある。
〔課題を解決するための手段] 第1図は本発明になる検出装置の原理を示すブロック図
である。なお企図を通し同じ対象物は同一記号で表して
いる。
上記課題は第1の電極31aに第1の接触子41.42
を介して接続される第1のパルス発生回路4と、第2の
電極31bに第2の接触子51.52を介して接続され
る第2のパルス発生回路5と、第1のパルス発生回路4
および第2のパルス発生回路5に接続され、各接触子と
各電極との接触不良を検知する接触不良判別回路6と、
第1の接触子41.42のいずれか一方と第2の接触子
5L 52のいずれが一方に接続され、第1の電極31
aと第2の電極31bとの間のショートを検知するショ
ート検出回路7を、具えてなる本発明の電極間ショート
検出装置によって達成される。
〔作 用〕
第1図において第1の電極に第1の接触子を介し接続さ
れる第1のパルス発生回路と、第2の電極に第2の接触
子を介し接続される第2のパルス発生回路と、各接触子
と各電極との接触不良を検知する接触不良判別回路を具
えた本発明の検出装置は、隣接する第1の電極と第2の
電極との間のショートを検知するショート検出回路が、
接触子の接触不良に起因して電極間のショートを見落と
しても、接触不良判別回路が接触子の接触不良を検出し
不良品を良品と判断することが無い。即ち、隣接電極間
のショートと共に電極と接触子の接触不良が検出できる
、信頼度の高い電極間ショート検出装置を実現すること
ができる。
〔実施例〕
以下添付図により本発明の実施例について説明する。な
お第2図は動作を説明するためのタイムチャート、第3
図は本発明になる検出装置の一実施例を示すブロック図
である。
本発明になる電極間ショート検出装置は第1図に示す如
く、第1のパルス発生回路4、第2のバルス発生回路5
、接触不良判別回路6、およびショート検出回路7を具
えたショート検出部と、被検査液晶パネル3が載置され
る移動テーブル2を具えており、液晶パネル3には縁に
沿って多数個の電極31が等間隔に配列されていて、モ
ータ21を作動させると移動テーブル2は液晶パネル3
を電極31の配列方向に移動させる。
パルス発生回路4は接触子41.42を、またパルス発
生回路5は接触子51.52を具えており、液晶パネル
3の電極形成6■域外に接触子41.42.51.52
を置き液晶パネル3を移動させると、4本の接触子41
.42.51.52は液晶パネル3上の全ての電極に順
次接触し、第1のパルス発生回路4から第2図ら)に示
すパルス信号が、第2のパルス発生回路5から第2図(
C)に示すパルス信号が出力される。
第2図[有])または第2図(C)に示すパルス信号は
接触子41.42または接触子5152が、それぞれ第
2図(a)に示す電極と接触したときに出力されるもの
であり、同一電極に接触させるいずれか一方の接触子と
電極の間に接触不良があると出力されない。
したがって例えば第1のパルス発生回路4から出力され
る信号のパルス数、または第2のパルス発生回路5から
出力される信号のパルス数を接触不良判別回路6におい
て、液晶パネル3上に形成された電極の数と比較するこ
とによって接触不良の有無を検知できる。
なおショート検出回路7は第1の電極31aに接触して
いる接触子41.42のいずれか一方と、隣接した第2
の電極31bに接触している接触子51.52のいずれ
か一方に接続されており、従来の電極間ショート検出装
置と同様に隣接した電極間のショートを検知できる。即
ち、隣接電極間のショートと共に電極と接触子の接触不
良が検出できる、信転度の高い電極間ショート検出装置
を実現することができる。
第3図に示す如く本発明になる電極間ショート検出装置
の一実施例では、第1のパルス発生回路4と第2のパル
ス発生回路5は回路構成が等しく、干渉を無くすための
フォトカブラ43および独立した電源44を具えており
、フォトカプラ43の出力信号ハローパスフィルタ45
、コンバータ46を経てカウンタ47に入力され、接触
子41.42または接触子51.52が電極に接触する
都度発生するパルスの数が、それぞれカウンタ47にお
いて計数され表示部48に表示される。
かかるカウンタ47における計数値を電極の数と比較す
ることによって、接触子4工、42または接触子51.
52と!極間の接触不良の有無を検知できる。
しかし第2図(b)および第2図(C)に示す如く電極
に対する接触子41.42の接触と、接触子5L 52
の接触が時間的にずれた場合は当然電極間のショートは
検知されない。即ち、カウンタ47における計数値が電
極の数と合致していても、接触子41.42の接触と接
触子51.52の接触が時間的にずれた場合は、接触子
41.42若しくは接触子51.52に接触不良があっ
たと見做す必要がある。
そこでパルス発生回路4と5はアンド回路61を介して
接触不良判別回路6に接続され、アンド回路61から第
2図(d)に示すパルス信号が出力される。
即ち、接触子4I、42の接触と接触子5I、52の接
触が時間的にずれた場合は、接触子41.42若しくは
接触子51.52に接触不良があった場合と同様パルス
は出力されない。
接触不良判別回路6はアンド回路61の出力パルスを計
数表示するカウンタ62および表示部63と、液晶パネ
ル3上に形成された電極の数を予め入力する設定部64
と、カウンタ62の計数値と電極の数を比較する比較回
路65を具えている。そして計数値と電極の数との間に
差が生じるとアンド回路66を介して信号が出力され、
例えばLED等の警報器67が作動してそれをオペレー
タに知らせる。
このように第1の電極に接触子を介し接続される第1の
パルス発生回路と、第2の電極に接触子を介し接続され
る第2のパルス発生回路と、各接触子と各電極との接触
不良を検知する接触不良判別回路を具えた本発明の検出
装置は、隣接する第1の電極と第2の電極との間のショ
ートを検知するショート検出回路が、接触子の接触不良
に起因して電極間のショートを見落としても、接触不良
判別回路が接触子の接触不良を検出し不良品を良品と判
断することが無い。
即ち、隣接電極間のショートと共に電極と接触子の接触
不良が検出できる、信転度の高い電極間ショート検出装
置を実現することができる。なお実施例は隣接電極間の
ショート検出を対象として説明しているが、これを印刷
配線基板における印刷配線間のショート検出に適用でき
ることはいうまでも無い。
〔発明の効果〕
上述の如く本発明によれば隣接電極間のショートと共に
電極と接触子の接触不良が検出できる、信頬度の高い電
極間ショート検出装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明になる検出装置の原理を示すブロック図
、 第2図は動作を説明するためのタイムチャート、第3図
は本発明になる検出装置の一実施例を示すブロック図、 第4図は従来の電極間ショート検出装置を示す原理図、 である。図において 2は移動テーブル、  3は液晶パネル、4.5はパル
ス発生回路1 .6は接触不良判別回路、7はショート検出回路、21
はモータ、      31.31a 、31bは電極
、41、42.51.52は接触子、43はフォトカプ
ラ、44は1g、       45はローパスフィル
タ、46はコンバータ、   47.62はカウンタ、
48.63は表示部、   61.66はアンド回路、
64は設定部、     65は比較回路、67は警報
器、 をそれぞれ表す。 不梵明にtQケ稜出出装置原理ぞ示す70・ツク図第 ! 図 動作乞説明するし的のタイムチイード 第 図 従来の電極間ショート検出襄it示す遅理図第 図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 第1の電極(31a)に第1の接触子(41、42)を
    介して接続される第1のパルス発生回路(4)と、第2
    の電極(31b)に第2の接触子(51、52)を介し
    て接続される第2のパルス発生回路(5)と、該第1の
    パルス発生回路(4)および該第2のパルス発生回路(
    5)に接続され、各接触子と各電極との接触不良を検知
    する接触不良判別回路(6)と、第1の接触子(41、
    42)のいずれか一方と第2の接触子(51、52)の
    いずれか一方に接続され、第1の電極(31a)と第2
    の電極(31b)との間のショートを検知するショート
    検出回路(7)を、具えてなることを特徴とする電極間
    ショート検出装置。
JP1248652A 1989-09-25 1989-09-25 電極間ショート検出装置 Pending JPH03110485A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007171069A (ja) * 2005-12-26 2007-07-05 Hioki Ee Corp 絶縁耐電圧試験装置
JP2014222167A (ja) * 2013-05-13 2014-11-27 日本碍子株式会社 電極検査方法および電極検査装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007171069A (ja) * 2005-12-26 2007-07-05 Hioki Ee Corp 絶縁耐電圧試験装置
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