JPH0654338B2 - 多層プリント配線基板のショート位置検出装置 - Google Patents

多層プリント配線基板のショート位置検出装置

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JPH0654338B2
JPH0654338B2 JP1330644A JP33064489A JPH0654338B2 JP H0654338 B2 JPH0654338 B2 JP H0654338B2 JP 1330644 A JP1330644 A JP 1330644A JP 33064489 A JP33064489 A JP 33064489A JP H0654338 B2 JPH0654338 B2 JP H0654338B2
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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、特に多層プリント配線基板のショート位置
検出装置に関するものである。
〔従来例〕
電子機器等においては部品類の高密度実装と配線インピ
ーダンスの減少を図るため、共通の電源供給路や接地路
あるいはシールド部などを面状のパターンとなして内部
に形成した多層プリント配線基板がしばしば使用され
る。
このような基板については、内部のパターンがスルーホ
ール部などで他のパターンとショートしていないことを
あらかじめチェックしておく必要があり、それ用の装置
として例えば特開平1-182764号公報のショート位置検出
装置が知られている。
同装置の構成とショート位置の検出方法を手短かに説明
すると、その構成は第3図に示すように定電流発生部1
と電圧測定部2及び表示部3からなり、定電流発生部1
と電圧測定部2にはそれぞれ被検査基板4の図示しない
パターンに接触する電流供給探針1a,1bと、電圧検出探
針2a,2bが備えられている。
次に、ショート位置の形成方法を第4図により説明する
と、例えば2つのパターンP,Qが被検査基板4の内部
に形成され、パターンPのスルーホールPxにパターン
Qが接触してショート状態になっているものとする。
ここで、例えば一方のパターンPのスルーホールP0
電流供給探針1aと電圧検出探針2aを接触させ、他方のパ
ターンQのスルーホールQ0には電流供給探針1bを接触
させる。この状態で装置を作動させ、例えば上記探針1a
を+の極性(ソース側)、探針1bを−の極性(シンク
側)とすると、探針1aから加えられる電流はパターンP
上を分散して流れ、ショートしているスルーホールPx
に集中してパターンQに流れ込み、探針1bを経て定電流
発生部1へ戻されることになる。
よって、他の電圧検出探針2bをパターンP上のスルーホ
ールP1からP2,P3,…と順次接触させると、各スル
ーホールを通過してPxへ流れる電流に当該スルーホー
ルから上記スルーホールP0までの抵抗を乗じた値の電
圧降下が検出される。この場合、スルーホールPxにお
いては電流探針1aから加えられた全電流が流れるので、
他のスルーホールと比べると最大の電圧降下が検出さ
れ、当該スルーホールPxがショート状態になっている
ことがわかる。
なお、上記電圧検出探針2bを任意のスルーホールPn
固定し、電流供給探針1aと電圧検出探針2aとをP0から
1,P2,…と順に移動させてもよい。この場合、各ス
ルーホール位置で電圧降下が検出されるが、スルーホー
ルPxに達すると全電流が分散しないでパターンQ側に
流れる。よってPnとPx間の電圧降下がゼロとなり、同
様にショート位置を検出することができる。
〔発明が解決しようとする課題〕
上記従来装置は一方のパターンのスルーホールランドに
おける電圧降下を順次測定し、その最大値(又はゼロ)
を検出することによりショート位置が簡単にわかるとい
う長所がある。
しかしながら、例えばパターンQ側のスルーホールにパ
ターンPが接触しているような場合には、上記パターン
P側のスルーホールランドにおける電圧降下の測定のみ
ではショート位置の明確な判定が困難となり、パターン
Qについての測定が必要となる。
その一例を第5図により説明すると、同図は多層プリン
ト配線基板の断面図であって、同図(A)はパターンPの
スルーホールPxにおいてパターンQがショートしてい
る場合を示している。この例の場合には上記第4図の説
明で述べたように、スルーホールランドPxの電圧降下
を測定し、それが最大値となることによりショート位置
が判定できる。
しかし同図(B)に示すように、例えばパターンPがパタ
ーンQのスルーホールQxに接触しているような場合に
は、Qxに流れ込む電流の一部がスルーホールPxやPi
のランドを経由することになる。したがってPxやPi
おける電圧降下が特段に大きくなることはなく、一般に
はパターンP上のスルーホールランドにおける測定で上
記Qxのショートを判定することは困難である。
この場合にはパターンQ側の各スルーホールランドにお
ける電圧降下を測定する必要があるが、それには測定を
一時中断して上記探針1a,2aをパターンQ側のランドに
接続するとともに、探針1bをパターンP側のランドに接
続するなどの煩わしい作業が伴うため好ましくない。
この発明は上記の点を考慮してなされたもので、その目
的は、簡単なスイッチ操作にて測定用定電流の送出路及
び検出電圧の入力路を切り換えることにより接続し直し
等の必要がなく、使い勝手のよいショート位置検出装置
を提供することにある。
〔課題を解決するための手段〕
この発明の実施例が示されている第1図を参照すると、
装置本体10は例えば定電流発生部12、電圧測定部13、制
御部14、表示部15、操作部16を有し、更に上記の課題を
解決するため下記イないしニの手段を備えている。
イ.1つの電流供給用探針と1つの電圧検出用探針とを
対として有し、被検査基板の異なったパターン上におけ
る任意のスルーホールランドにそれぞれ接触する2つの
プローブ17及び18。
ロ.同プローブ17,18と定電流発生部12間の電流路を切
り換え、上記定電流発生部12のH電位及びL電位の2つ
の出力端をそれぞれ上記プローブの各電流供給用探針へ
反転可能に接続するスイッチS1及びS2
ハ.上記プローブ17,18と電圧測定部13間の電圧路を切
り換え、上記スイッチS1にてH電位の電流が加えられ
たいずれか一方のプローブの電圧検出用探針を上記電圧
測定部13のH電位入力端に接続するスイッチS3
ニ.上記電圧測定部13のL電位入力端に接続される1つ
の電圧検出用探針を有し、上記H電位のプローブが接触
しているパターン上のスルーホールランドに順次接触し
て上記プローブ17又は18との間の電圧降下が最大となる
位置を検出するプローブ19。
〔作用〕
上記第1図において、例えばスイッチ回路11の各スイッ
チS1〜S3を接点A側に設定すると、上記ロの手段によ
りプローブ17は測定用定電流のソース側に、またプロー
ブ18はそのシンク側になる。
よって、被検査基板4の図示しない一方のパターンPの
スルーホールに対して他方のパターンQがショートして
いるか否かを調べる場合には、プローブ17,18をそれぞ
れ上記パターンP,Qの任意のスルーホールランドに接
触させるとともに、上記ハ、ニの手段で述べたようにプ
ローブ19にてパターンP上の各スルーホールランドにお
ける電圧降下を電圧測定部13に取り込み測定する。
この場合、ショートしていなければパターンP,Qには
電流が流れないから各ランドにおける電圧測定値はゼロ
となり、ショートしていれば前記したようにそのスルー
ホールランドにおいて他のランドより著しく高い最大電
圧値が測定される。
パターンQのスルーホールに対してパターンPがショー
ト状態になっている場合には、一般に他より著しく高い
電圧測定値は得られず、ショート位置の判断が困難とな
る。この場合には上記スイッチS1〜S3を接点B側に切
り換え、プローブ19をパターンQの各スルーホールラン
ドに順次接触させてその電圧降下を測定する。このよう
にするとショートしているスルーホールランドにおいて
は全電流が流れ込むので著しく高い値の測定データが得
られ、ショート位置が検出可能となる。
〔実施例〕
再び第1図を参照すると、この発明によるショート位置
検出装置は装置本体10と、同装置本体10に対して着脱可
能に装着される3つのプローブ17,18,19からなり、プ
ローブ17,18はそれぞれ例えば1対の電流供給用探針と
電圧検出用探針17a,17b、及び18a,18bを備え、プロー
ブ19は1つの電圧検出用探針からなっている。
装置本体10は、例えば上記プローブ17,18の電流及び電
圧の入出力路を切り換えるスイッチ回路11、測定用の直
流定電流を送出する定電流発生部12、上記プローブ17も
しくは18とプローブ19間の電圧を測定する電圧測定部1
3、各ユニットの動作タイミング等を制御する制御部1
4、測定データの表示又はそのプリントアウトを行なう
表示部15、及び操作部16からなっている。この操作部16
は例えば装置電源のオン、オフ、測定開始又は終了の指
示、スイッチ回路11の切り換え等マニアルによる指令を
入力するユニットである。
上記説明は、定電流発生部12の出力端が装置の共通配線
(COM)電位に対して+極性の電位を有するいわゆる
片電源の場合の例であるが、例えばCOM電位に対して
両極性(+,−)の定電流源を備え、操作部16へ指定す
ることにより+極性または−極性の電流が出力できる場
合には、第2図に示すように上記スイッチS1及びS2
省くことができる。
〔効果〕
以上、詳細に説明したように、この発明においては電流
供給用探針と電圧検出用探針とを各々1対備えた第1、
第2の2つのプローブと、電圧検出用探針のみを備えた
第3のプローブを装置本体に着脱可能に装着し、上記第
1及び第2のプローブを被検査基板のそれぞれ異なった
パターンの任意のスルーホールランドに接触させて定電
流発生部から測定用直流定電流を流すようになってい
る。
また、第3のプローブは、上記第1及び第2のプローブ
のうちいずれか高電位側のプローブが接触しているパタ
ーンの各スルーホールランドに順次接触させ、それぞれ
の電圧検出用探針を介して2つのプローブ間の電圧降下
を装置本体に取り込み、電圧測定部にて測定するように
なっている。
更にこの発明においては、上記第1及び第2のプローブ
と定電流発生部間の電流路を2つのスイッチにて切り換
え、同プローブに加わる電流極性を反転させるとともに
高電位側プローブの電圧出力を他の1つのスイッチによ
り切り換え選択して電圧測定部に入力し、もしくは上記
定電流発生部が電流極性の反転した出力を送出できる場
合には、その出力極性に応じて1つのスイッチにより上
記高電位側プローブの電圧を切り換え選択し、電圧測定
部へ入力するようになっている。
したがってこの発明によると、例えば2つのパターンを
有する多層基板のショート位置を検出する際、一方のパ
ターンにおいてショートと判定するに足る大きな値の電
圧降下が測定されなかった場合には、簡単なスイッチ切
り換えにて他方のパターンに対する電圧測定が可能とな
る。このため特に測定を中断してプローブの接続を入れ
替えたりする必要が無く、極めて効率的で、かつ、使い
勝手がよい。なお、使用するプローブが従来装置より少
ないので、実装基板の検査などにも対応しやすいという
利点がある。
【図面の簡単な説明】
第1図及び第2図はこの発明の実施例に係り、第1図は
その装置構成を示すブロック線図、第2図はその変形実
施例の要部を示すブロック線図、第3図は従来装置のブ
ロック線図、第4図は多層プリント配線基板の一般的な
ショート位置検出方法の説明図、第5図は上記第4図の
方法における不具合点説明用の基板断面図である。 図中、4は被検査基板、10は装置本体、11はスイッチ回
路、12は定電流発生部、13は電圧測定部、17,18,19は
プローブ、S1,S2,S3はスイッチである。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】測定用直流定電流を出力する定電流発生部
    及び被測定2点間の電位差を測定する電圧測定部を含む
    装置本体と、多層プリント配線基板の2つのパターンに
    それぞれ接触し上記装置本体から測定用直流定電流が加
    えられる第1、第2のプローブ、及び同プローブのうち
    上記電流の高電位側のプローブが接触しているパターン
    上の各スルーホールランドに順次接触する第3のプロー
    ブとを備え、該第3のプローブと上記高電位側プローブ
    間の電位差を装置本体にて測定し、その最大値により上
    記パターンにおけるショート状態のランドを検出する多
    層プリント配線基板のショート位置検出装置において、 上記装置本体には、上記第1及び第2プローブ間との測
    定路を切り換えるスイッチ手段を備え、 該スイッチ手段は、上記定電流発生部と上記第1及び第
    2プローブ間の電流路をそれぞれ切り換え、同プローブ
    に加わる定電流の極性を反転させる第1及び第2のスイ
    ッチと、 上記電圧測定部と上記第1及び第2プローブ間の電圧路
    を切り換え、同第1もしくは第2プローブのうち高電位
    側プローブの電圧出力を選択して上記電圧測定部の一方
    の入力となす第3のスイッチとからなることを特徴とす
    る多層プリント配線基板のショート位置検出装置。
  2. 【請求項2】上記スイッチ手段は、上記定電流発生部が
    発生する電流の正、負の極性に応じて上記電圧測定部と
    上記第1及び第2プローブ間の電圧路を切り換え、同第
    1もしくは第2プローブのうち高電位側プローブの電圧
    出力を選択して上記電圧測定部の一方の入力となす第3
    のスイッチを備えた請求項1に記載の多層プリント配線
    基板のショート位置検出装置。
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CN103412231B (zh) * 2013-07-09 2015-11-18 上海卫星工程研究所 配电短路自检装置及方法
JP2020169923A (ja) * 2019-04-04 2020-10-15 株式会社岩崎電機製作所 短絡箇所探索方法

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