JPS6390783A - インサ−キツトテスタ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （イ）産業上の利用分野 この発明は、プリント基板上に実装された部品をコンタ
クトビンを経由してチェックするインサーキットテスタ
に関する。

（ロ）従来の技術とその問題点 従来のこの種のインサーキットテスタにおいては、プリ
ント基板上の部品を１点づつ部品単位でチェックするよ
うにしているが、１πζ品単位のチェックでは良否の判
定が堆しい部品や、部品単位では合格しても回路構成に
おいて動作しない部品などを有する場合には基板の良否
を判定することができないという問題点があった。

この発明はこのような事情を考慮してなされたもので、
被試験＾（板に駆動電圧を供給して模擬的に駆動させ、
基板を機能的にチェックするインササ−キットテスタを
提供するものである。

（ハ）問題点を解決するための手段 第１図はこの発明の構成を示すブロック図であり、１０
１は被試験基板１０２のチェックすべき端子の中から任
意の端子を選択する選択手段、１０３は選択手段１０２
に選択ずべき端子を順次指定する指定手段、１０４は選
択手段１０２によって選択された端子に試験電圧および
／又は電流を印加する試験用電源、１０５は試験用電源
１０／１が出力しないとき、指定手段１０３の指令に対
応ケる回路駆動電圧を被試験基板１０２の所定回路に印
加する駆動用電源、１０６は選択手段１０２によって選
択された端子間の電圧および／又は電流を測定しその測
定値を出力する測定手段、１０７は予め複数の参照値を
記憶し、指定手段１０３の指令に対応する前記参照ｂｌ
を出力する記憶手段、１０８は前記測定値と前記参照値
を比較する比較手段、１０９は比較手段１０８の比較結
果を表示する表示手段である。

（ニ）作用 指定手段１０３が出力すると、その出力に対応して、選
択手段１０１が被試験基板１０２のチェックすべき端子
を順次選択する。選択された端子間には指定手段１０３
の出力に対応した電圧又は電流が試験用電源１０４によ
って印加され、その端子へ１ＪＦｃ給される電流又は端
子１１！］電圧が測定手段１０６によって測定される。

そして、その測定値は、指定手段＋０３の出力に対応し
て出力される記憶手段１０７の参照値と比較ｒ段１０Ｂ
において比較され、その比較結果が表示手段１０９によ
り出力される。さらに指定手段１０３の出力に対応した
電圧が駆動用電源１０５から被試験基板１０２の所定の
回路に印加されると、選択手段はチェックすべき端子を
指定手段１０３の出力に対応して選択する。そして、選
択された端子間電圧が測定手段１０Ｇによって測定され
、指定手段１０３の出力に対応して出力される記憶手段
１０７からの参照電圧値と比較手段１０８において比較
され、その比較結果が表示手段１０９により出力される
。

（ホ）実施例 以下、図面に示す実施例に基づいてこの発明を詳述する
。なお、これによってこの発明が限定されるものではな
い。

第２図はこの発明の一実施例を示すブロック図であり、
ｌは回路駆動用ＤＣ−ＤＣコンバーク１ａや抵抗ｔｂや
コンデンサＩＣやダイオードブリッジｌｄなどが実装さ
れた被試験基板・、２は被試験基板ｌの実装部品の端子
に対応する位置にコンタクトビン２ａが配置されたビン
ボード、３はリレーから構成されビンボード２によって
接続される多数の端子の中から１対の端子を順次選択す
るスキャナー回路、４はスキャナー回路３によって選択
された端子間に直流又は交流の試験用電圧および電流を
供給する試験用電源、５はスキャナー回路３によって選
択された端子への供給電流又は端子間電圧を測定する測
定回路、６はＤ　Ｃ−Ｉ）　Ｃコ・ノｘ＜　　　　ｂ　
　Ｉ　　、、　　Ｌ−ｔｌ、ｌ＃ｋ　’ｉｉＴ　４Ｎ９
　？ｒ　Ｕ（ｉ６１＋　ｍ　ｊ片Ｔ本ｒｆＩ　加−ｄ−
Ｘプログラマブル電源、７はＣＰＵ７　ａＳＲＯＭ７ｂ
１１ＮＡＭ７ｃおよびＩ１０ボート７ｅ、７ｄからなる
マイクロコンピユータ（以下マイコンという）、８はマ
イコン７に人力するキーボード、９はマイコン７の出力
を表示するたとえばＣｒＺＴのような表示器である。

このような構成において、マイコン７のＩｌＡ　Ｍ２Ｃ
には、まず、試験用電源４が出力するときの被試験基板
１の実装素子に対応したスキャナー回路３の端子選択順
序、その端子に対応した試験用電源４の出力値、プログ
ラマブル電源６が出力するときのその出力電圧値とその
出力順序、その出力順序に対応したスキャナー回路３の
端子選択順序、そして測定回路５から人力される各種端
子間電圧値と比較する参照電圧および、電流値などがキ
ーボード８から！１０ボー）７ｅを介して入力され設定
される。そして、キーボード８から個別部品のチェック
がマイコン７へ指示されると、ＣＰ　Ｕ　７　ａはＲＯ
Ｍ７ｂに内蔵されているプログラムとＲＡＭ７ｃに設定
されたデータに対応して被試験基反１の実装素子の個別
チェック、パターン間のショート・オーブンテストを行
う。つまり、スキャナー回路３によって被試験基板！の
実装素子の各個別端子が順次選択され、その端子間に試
験用電源４からその端子に対応する電圧又は電流が供給
され、電圧が供給されるときには電流値が、電流が供給
されるときには電圧値がそれぞれ測定回路５により測定
され、その測定値とＲＡＭ７ｃに設定された参照値が比
較されて、その比較結果が表示器９に表示される。

このように被試験基板ｌの実装素子の個別ヂエック、パ
ターン間のショート・オーブンテストが終了すると、次
に、試験用電源４の出力が停止され、プログラマブル電
源６の出力が開始される。プログラマブル電源６はマイ
コン７のｒＬＡＭ７ｃに設定された出力値に対応した電
圧を順次ＤＣ−ＤＣインバータＩλに入力し、それによ
って駆動する基板ｌの回路の各端子電圧はスキャナー回
路３によって順次判定回路５に人力されて測定され、Ｉ
ｔＡＭ７ｃに設定された参照値と比較されてその比較結
果が表示器９に表示される。

つまり具体的には、ＤＣ−ＤＣコンバータ！３の入力端
子にプログラマブル電源６から規定範囲の電圧（たとえ
ばＤＣ５Ｖ±０．５Ｖ）が人力されるとＤＣ−ＤＣコン
バータ２ａの各出力端子が所定値（＋１２Ｖ、＋５Ｖ、
−１２Ｖなど）を出力するか否かがチェックされＤＣ−
ＤＣコンバータの良否が判別される。

また、ＤＣ−ＤＣコンバータＩａの入力端子に規定範囲
よりも低い電圧が印加された場合、基板ｌ上の所定回路
（たとえば、電圧低下警告表示回路）の作動信号が出力
したか否かが測定回路５で測定され、その結果が表示器
９によって表示される。

このようにして、基板の実装部品やパターンの個別チェ
ックが行われるとともに、回路の機能的な動作チェック
が行われ、基板のチェックの確実性が向上する。

（へ）発明の効果 この発明によれば、基板の実装部品やパターンの個別チ
ェックと、回路の機能的な動作チェックが同時に行われ
るので、基板検査工程における検査作業が確実に能率よ
く行われるとともに、基板不良箇所の発見が短時間に行
われ、基板の生産性が向上する。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の構成を示すブロック図、第２図はこ
の発明の一実施例を示ずブロック図である。 １・・・・・・被試験基板、　　　　　２・・・・・・
ピンボード、３・・・・・・スキャナー回路、　　　　
４・・・・・・試験用電源、５・・・・・・測定回路、 ６・・・・・・プログラマブル電源、 ７・・・・・・マイクロコンピュータ、８・・・・・・
キーボード、９・・・・・・表示器。 ￥ｉ３１図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、（ａ）被試験基板のチェックすべき端子の中から任
   意の端子を選択する選択手段、 （ｂ）前記選択手段に選択すべき端子を順次指定する指
   定手段、 （ｃ）前記選択手段によって選択された端子に試験電圧
   および／又は電流を印加する試 験用電源、 （ｄ）前記試験用電源が出力しないとき、前記指定手段
   の指令に対応する回路駆動電圧 を前記被試験基板の所定回路に印加する 駆動用電源、 （ｅ）前記選択手段によって選択された端子間の電圧お
   よび／又は電流を測定しその測 定値を出力する測定手段、 （ｆ）予め複数の参照値を記憶し、前記指定手段の指令
   に対応する前記参照値を出力す る記憶手段、 （ｇ）前記測定値と前記参照値を比較する比較手段、 （ｈ）前記比較手段の比較結果を表示する表示手段、 から構成されたインサーキットテスタ。