JPH03197881A - インサーキットテスタにおける不良データの出力表示方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明は、インサーキットテスタにおける不良データ
の出力表示方法に係り、さらに詳しくは、被検査基板か
ら取り込まれた測定データを判別して得られる各不良デ
ータにつき、測定ステップにて関係している搭載部品の
別に分類して出力表示することができるインサーキット
テスタにおける不良データの出力表示方法に関する。

［従来の技術］ インサーキットテスタによる回路基板の検査においては
、フィクスチャと称される基板固定装置が用いられる。

そして、このフィクスチャには、被検査基板の測定ポイ
ントに対応させた複数本のプローブビンが植設されてお
り、これらのプローブビンを介して測定信号を与えると
ともに、その応答信号を測定データとして検出し、この
測定データを例えば良品基板の対応箇所から予め吸収し
てある良品データから求めた基準データと比較すること
で、当該測定ポイントの良否の判別が可能となっており
、しかも、その際に仕分けられた不良データは、表示器
やプリンタを介して出力表示させることができるように
なっている。

第６図は、この種のインサーキットテスタによる不良デ
ータの出力表示パターンの従来例を示すものである。同
図によれば、表示部１には、測定ステップ数表示欄２の
ほか、ビン番号表示欄３、測定値表示欄４、充足率表示
欄５、許容範囲値表示欄６などが表示されるようになっ
ている。

このうち、ステップ数表示欄２は、被検査基板との関係
で予め定められている測定ステップ中、基準に合致しな
い測定データが検出された測定ステップを教示するもの
であり、ビン番号表示欄３は、基準に合致しない測定デ
ータが検出された測定ステップにて用いられたプローブ
ビンの番号を教示するようになっている。

また、測定値表示欄４には、当該測定ステップにおいて
実測された測定データであるインピーダンスを表示し、
充足率表示欄５には、例えば良品基板における対応箇所
から予め吸収してある基準データとしてのインピーダン
スに対し前記測定値表示欄４に表示されている前記測定
データが充足する割合を表示するようになっている。

さらに、許容範囲値表示欄６には、良品基板から吸収さ
れている前記基準データに対する実測された測定データ
の充足率についての許容範囲を表示するようになってい
る。

このため、表示部１には、測定ステップの順に不良デー
タ８を羅列表示させることができ、したがって、計測者
等は、表示部１に出力表示されるデータリストを確認す
ることで、被検査基板における測定ポイント中の不良測
定ポイントを個別に知ることができるようになっている
。

Ｃ発明が解決しようとする課題］ ところで、上記従来手法によれば、不良データ８を測定
ステップの順に表示部１に羅列して表示することができ
、その点での一覧性には優れているということができる
。

しかし、不良データ８は、あくまでも測定ステップの順
に出力表示されるのみであり、表示部１に出力表示され
るデータリストをみても、個々の不良データがどのよう
な搭載部品と関わりを有しているものであるのかまでは
知ることができなかった。

このため、上記従来手法°によるときは、デバッグ時に
おける不良搭載部品の特定作業が煩雑となり、作業性が
悪いという不都合があった。

［課題を解決するための手段］ この発明は、従来手法の上記課題に鑑みてなされたもの
であり、その構成上の特徴は、被検査基板から測定ステ
ップ順に測定データの取込みが可能な計測部と、各測定
データとこれに対応させて予め設定してある各基準デー
タとの比較演算が可能な演算制御節部と、測定データと
前記対応基準データとの間の比較結果を測定ステップ別
の検査データとして格納可能なメモリと、出力制御され
た表示手段とを有し、搭載部品と関係する各検査データ
は、当該測定ステップとの関係で搭載部品の特定が可能
な識別記号を付して前記メモリに格納するとともに、こ
れらの検査データのうち、対応基準データとの関係で設
定基準に合致しないと判別された検査データは、前記識
別記号の別に分類された識別記号付き不良データとして
出力表示することにある。

［作　用］ このため、被検査基板の各測定ポイントから測定ステッ
プの順に得られる各測定データは、予め設定されている
対応基準データと比較され、その良否の判別が可能で、
かつ、搭載部品の特定が可能な識別記号を付した検査デ
ータとしてメモリ格納することができる。

しかも、設定基準に合致しない検査データは、前記識別
記号の別に分類された識別記号付き不良データとして出
力表示させることができるので、そのデパック時におい
ては、個々の測定ステップにて関係している搭載部品を
容易に特定することができ、デバッグ作業の効率化を図
ることができる。

［実施例］ 以下、添付の図面を参酌してこの発明の−実施例を詳細
に説明する。

第１図は、この発明方法の実施に供されるインサーキッ
トテスタの要部構成の一例を示す機能ブロック図であり
、計測部２４を介して取り込まれる被検査基板からの測
定データは、例えば良品基板の対応箇所から予め吸収し
てある良品データなどからなる基準データとＣＰＵ　（
中央処理装置）２１を構成している演算制御部２２を介
して比較演算され、その結果得られる検査データは、メ
モリ２３に格納させることができ、しかも、このように
して格納される一連の検査データは、その全てを、若し
くは不良データのみをデータリストとしてＣＲＴ等の表
示器やプリンタ等で構成される表示手段２５へと出力表
示させることができるようになっている。

第２図は、この発明による不良データの出力表示方法の
処理手順の一例を示すフローチャートである。

すなわち、同図によれば、被検査基板に対しては、まず
、計測部２４を介して各測定ステップごとに所定の手順
に従った計測テストが行なわれ、その結果得られる測定
データは、予め良品基板の対応箇所から吸収してメモリ
２３に格納してある基準データと演算制御部２２を介し
て比較され、設定基準に達しているか否かが判別され、
検査データとしてメモリ２３に格納される。このように
してメモ１Ｊ２３に格納される検査データの全て、もし
くはそのうちの不良データに対しては、該当する測定ス
テップとの関係で関わりを有している搭載部品を特定す
ることができる識別記号が付加され、前記メモリ２３に
再格納される。

第３図は、この場合の検査データに対する識別記号の付
加手順の一例を示すフローチャートであり、これによれ
ば、識別記号を付する必要のある任意の測定ステップが
まず選択され、当該ステップが関わりを有している搭載
部品を特定することができる識別記号を例えば部品番号
などからなる文字列として入力することで行なわれる。

第４図は、検査データに文字列として識別記号を入力し
た場合の表示パターン例を示すものであり、表示部１１
には、検査データ１８の別に測定ステップ数表示欄１２
のほか、ビン番号表示欄１３、識別記号表示欄１７、測
定値表示欄１４など、必要とする各種の表示欄が設けら
れており、測定ステップ数表示欄１２には測定ステップ
の順番が、ビン番号表示欄１３には当該測定ステップで
用いられたプローブビンの番号が、識別記号表示欄１７
には、当該測定ステップで関わりを有している１以上の
搭載部品を特定して識別することができる文字列として
の識別記号が、測定値表示欄１４には、実測されたイン
ピーダンス値がそれぞれ表示されるようになっている。

このようにして１の測定ステップについての計測テスト
を終えた際には、当該測定データが対応する基準データ
との関係で設定基準に達しているか否かが判別され、達
していると判別された場合には、その結果を検査データ
としてメモリ２３に格納した後、次の測定ステップの計
測テストへと移行し、以後、最終の測定ステップに至ま
で同様な処理が繰り返し行なわれる。

一方、１の測定ステップの測定データが対応する基準デ
ータとの関係で設定基準に達していないと判別された場
合には、当該測定ステップについての不良データに付加
されている識別記号をキーワードとし、識別記号の別に
分類してブロック化されている識別記号付き不良データ
のうちから同一の識別記号を有する識別記号付き不良デ
ータを捜し出してこれに加入させ、かつ、表示部１１を
介して表示させた後、次の測定ステップの計測テストへ
と移行し、以後、最終の測定ステップに至まで同様な処
理が繰り返し行なわれる。

第５図は、表示部１１への識別記号付き不良データ１９
の表示パターンの一例を示すものである。

同図によれば、表示部１１には、識別記号表示欄１７の
ほか、測定ステップ数表示欄１２、ビン番号表示欄１３
、測定値表示欄１４、充足率表示欄１５、許容範囲値表
示欄１６が表示されるようになっている。

このうち、識別記号表示欄１７には、各測定ステップに
関わりを有している搭載部品の特定が可能なプローブビ
ン接続情報が識別記号に変換されて表示され、次列のス
テップ数表示欄１２には、当該識別記号を有してブロッ
ク化されている一団としての測定ステップが表示される
。

また、ビン番号表示欄１３、測定値表示欄１４、充足率
表示欄１５、許容範囲値表示欄１６のそれぞれには、当
該識別記号のもとに分類された各測定ステップとの関係
で入力されている対応数値が第６図に示す従来例と同様
にして表示されるようになっている。

この発明に係る出力表示方法は、上述したようにして行
なわれるので、被検査基板の各測定ポイントから測定ス
テップの順に得られる各測定データは、予め設定されて
いる対応基準データと比較され、その良否の判別が可能
で、かつ、搭載部品の特定が可能な識別記号付きの検査
データ１８として第４図に示すようにしてメモリ２３に
格納することができる。

しかも、設定基準に合致しない検査データについては、
前記識別記号の別に分類されてブロック化された識別記
号付き不良データ１９として表示部１１に出力表示させ
ることができるので、そのデパック時においては、個々
の測定ステップが関わっている搭載部品を容易に特定す
ることができ、デバッグ作業の効率化を図ることができ
る。

［発明の効果］ 以上述べたようにこの発明方法によれば被検査基板から
測定ステップの順に得られる各測定データは、予め設定
されている対応基準データと比較され、その良否の判別
が可能で、かつ、搭載部品の特定が可能な識別記号が付
加された検査データとしてメモリ格納され、しかも、こ
のうちの設定基準から外れる検査データについては、識
別記号の別に分類された識別記号付き不良データとして
出力表示させることができるので、そのデパック時にお
いては、個々の測定ステップが関わっている搭載部品を
容易に特定することができ、デバッグ作業の効率化を図
ることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、この発明方法の実施に供されるインサーキッ
トテスタの要部構成の一例を示す機能ブロック図、第２
図は、この発明方法の処理手順の一例を示すフローチャ
ート、第３図は、検査データへの識別記号の入力手順を
示すフローチャート、第４図は、その際の入力状況を表
示部に出力表示した場合のパターン例を示す説明図、第
５図は、表示部への識別記号付き不良データの表示パタ
ーン例を示す説明図、第６図は、従来手法による不良デ
ータの表示パターン例を示す説明図である。 １１・・・表示部、　　　　１２・・・ステップ数表示
欄、１３・・・ビン番号表示欄、１４・・・測定値表示
欄、１５・・・充足率表示欄、　１６・・・許容範囲値
表示欄、１７・・・識別記号表示欄、　１８・・・検査
データ、１９・・・識別記号付き不良データ、 ２１・・・ＣＰＵ、　　　　２２・・・演算制御部、２
３・・・メモリ、　　　　２４・・・計測部、２５・・
・表示手段 第１図 第２図 第 ３ 図 第 図 第 図 第 図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）被検査基板から測定ステップ順に測定データの取
   込みが可能な計測部と、各測定データとこれに対応させ
   て予め設定してある各基準データとの比較演算が可能な
   演算制御部と、測定データと前記対応基準データとの間
   の比較結果を測定ステップ別の検査データとして格納可
   能なメモリと、出力制御された表示手段とを有し、搭載
   部品と関係する各検査データは、当該測定ステップとの
   関係で搭載部品の特定が可能な識別記号を付して前記メ
   モリに格納するとともに、これらの検査データのうち、
   対応基準データとの関係で設定基準に合致しないと判別
   された検査データは、前記識別記号の別に分類された識
   別記号付き不良データとして出力表示することを特徴と
   するインサーキットテスタにおける不良データの出力表
   示方法。