JP2980695B2 - 測定装置における検査データの印字方法 - Google Patents
測定装置における検査データの印字方法Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、測定装置における検
査データの印字方法に係り、さらに詳しくは、インサー
キットテスタ等の測定装置により被測定基板等の被測定
物から得られる被測定データに基づく検査データにより
不良実装部品を容易に特定することができる測定装置に
おける検査データの印字方法に関する。
査データの印字方法に係り、さらに詳しくは、インサー
キットテスタ等の測定装置により被測定基板等の被測定
物から得られる被測定データに基づく検査データにより
不良実装部品を容易に特定することができる測定装置に
おける検査データの印字方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来より、インサーキットテスタ等の測
定装置によりプリント基板等の被測定物を検査し、その
良否を知ろうとするときは、ＣＲＴ等の表示器に検査デ
ータを表示させたり、プリンタにより検査データをデー
タリストとして印字し、これを精査することで行なわれ
てきており、その際の出力方式としては、全ての検査デ
ータを一律に出力表示させる方式のほか、基準値との関
係で予め設定されるしきい値の範囲を逸脱する検査デー
タのみを出力表示させる方式のものもある。
定装置によりプリント基板等の被測定物を検査し、その
良否を知ろうとするときは、ＣＲＴ等の表示器に検査デ
ータを表示させたり、プリンタにより検査データをデー
タリストとして印字し、これを精査することで行なわれ
てきており、その際の出力方式としては、全ての検査デ
ータを一律に出力表示させる方式のほか、基準値との関
係で予め設定されるしきい値の範囲を逸脱する検査デー
タのみを出力表示させる方式のものもある。
【０００３】このうち、しきい値の範囲を逸脱する検査
データのみを出力表示させる方式のものについては、出
力データを見ることで直ちにその結果を知ることができ
る。しかし、この方式による場合には、定量的にみてど
の程度しきい値の範囲を逸脱しているものなのかという
ことまでは知ることができない。このため、外乱等の影
響などから、ある検査データが表面的にはしきい値の範
囲を逸脱しているとして出力されることがあるとして
も、結果的にみてしきい値の範囲を逸脱していないとい
うことも往々にしてある。にもかかわらず、しきい値の
範囲を大きく逸脱している場合と僅かしか逸脱していな
い場合とが同等の価値をもって評価されてしまい、さら
なる追跡検査が必要になるなど、検査作業の効率を低下
させる一因ともなっていた。
データのみを出力表示させる方式のものについては、出
力データを見ることで直ちにその結果を知ることができ
る。しかし、この方式による場合には、定量的にみてど
の程度しきい値の範囲を逸脱しているものなのかという
ことまでは知ることができない。このため、外乱等の影
響などから、ある検査データが表面的にはしきい値の範
囲を逸脱しているとして出力されることがあるとして
も、結果的にみてしきい値の範囲を逸脱していないとい
うことも往々にしてある。にもかかわらず、しきい値の
範囲を大きく逸脱している場合と僅かしか逸脱していな
い場合とが同等の価値をもって評価されてしまい、さら
なる追跡検査が必要になるなど、検査作業の効率を低下
させる一因ともなっていた。
【０００４】このため、本出願人は、既に特願昭62-318
087 号として出願している「検査データの印字方法」
（特開平１−159741号）により、しきい値の範囲を一定
割合以上逸脱している検査データについてのみ印字モー
ドを変えて印字出力することで、その判別を容易化する
方法を提案している。図５は、その際の処理手順を示す
フローチャートであり、計側部を介して取り込まれた検
査データの全てがしきい値の範囲内にあるときは検査を
終了し、しきい値の範囲を逸脱するときは、その程度が
予め定めてある一定割合よりも小であるか大であるかに
より、通常の印字モードとこの通常の印字モードを変更
した印字モードとを使い分けることで、前記しきい値の
範囲を逸脱する検査データの全てを印字出力するように
している。このため、図５に示す検査データの印字方法
によれば、通常は、印字後の検査データの解析処理を能
率よく行なうことができる。
087 号として出願している「検査データの印字方法」
（特開平１−159741号）により、しきい値の範囲を一定
割合以上逸脱している検査データについてのみ印字モー
ドを変えて印字出力することで、その判別を容易化する
方法を提案している。図５は、その際の処理手順を示す
フローチャートであり、計側部を介して取り込まれた検
査データの全てがしきい値の範囲内にあるときは検査を
終了し、しきい値の範囲を逸脱するときは、その程度が
予め定めてある一定割合よりも小であるか大であるかに
より、通常の印字モードとこの通常の印字モードを変更
した印字モードとを使い分けることで、前記しきい値の
範囲を逸脱する検査データの全てを印字出力するように
している。このため、図５に示す検査データの印字方法
によれば、通常は、印字後の検査データの解析処理を能
率よく行なうことができる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】ところで、図６は、抵
抗Ｒ１〜抵抗Ｒ５を有するブリッジ回路に対しある一本
のプローブピン１と他の全プローブピン２，３，４との
間でいわゆる全ピンテスト（以下、全ピンテストとい
う）を行なう場合を例示するものである。この場合、ピ
ン番号がとして示されるプローブピン１（１ＰＩＮ）
は測定回路６に接続され、ピン番号が〜として示さ
れる他の全プローブピン２，３，４（２ＰＩＮ〜４ＰＩ
Ｎ）は信号源７に接続される回路構成をとっており、こ
の際、ピン番号がとして示されるプローブピン１では
Ｒ１とＲ２との、として示されるプローブピン２では
Ｒ２とＲ３とＲ５との、として示されるプローブピン
３ではＲ１とＲ３とＲ４との、として示されるプロー
ブピン４ではＲ４とＲ５とのインピーダンスがそれぞれ
測定されることになる。なお、この明細書で「ピン間テ
スト」とは、ある一本のプローブピンと他の一本のプロ
ーブピンとの間で行なわれる測定検査のことをいう。
抗Ｒ１〜抵抗Ｒ５を有するブリッジ回路に対しある一本
のプローブピン１と他の全プローブピン２，３，４との
間でいわゆる全ピンテスト（以下、全ピンテストとい
う）を行なう場合を例示するものである。この場合、ピ
ン番号がとして示されるプローブピン１（１ＰＩＮ）
は測定回路６に接続され、ピン番号が〜として示さ
れる他の全プローブピン２，３，４（２ＰＩＮ〜４ＰＩ
Ｎ）は信号源７に接続される回路構成をとっており、こ
の際、ピン番号がとして示されるプローブピン１では
Ｒ１とＲ２との、として示されるプローブピン２では
Ｒ２とＲ３とＲ５との、として示されるプローブピン
３ではＲ１とＲ３とＲ４との、として示されるプロー
ブピン４ではＲ４とＲ５とのインピーダンスがそれぞれ
測定されることになる。なお、この明細書で「ピン間テ
スト」とは、ある一本のプローブピンと他の一本のプロ
ーブピンとの間で行なわれる測定検査のことをいう。
【０００６】そして、図６において抵抗Ｒ3 の抵抗値が
しきい値の範囲を逸脱しており不良（ＮＧ）であると仮
定した場合、これを図５に示す従来の検査データの印字
方法により印字すると、 ＮＧ ２ＰＩＮ −Ａ％ ３ＰＩＮ −Ａ％ などとして表示されることになる。
しきい値の範囲を逸脱しており不良（ＮＧ）であると仮
定した場合、これを図５に示す従来の検査データの印字
方法により印字すると、 ＮＧ ２ＰＩＮ −Ａ％ ３ＰＩＮ −Ａ％ などとして表示されることになる。
【０００７】このため、上記したような全ピンテストの
結果を図５に示す従来方法により印字する場合、ある実
装部品についての不良情報は、当該実装部品に接触され
るプローブピンのピン番号により表示される結果、複数
のピン番号との関係で不良箇所を特定しなければならな
い作業が残り、結果的に修理作業がかえって煩雑になる
不都合があった。
結果を図５に示す従来方法により印字する場合、ある実
装部品についての不良情報は、当該実装部品に接触され
るプローブピンのピン番号により表示される結果、複数
のピン番号との関係で不良箇所を特定しなければならな
い作業が残り、結果的に修理作業がかえって煩雑になる
不都合があった。
【０００８】
【課題を解決するための手段】この発明は、図５に示す
従来方法にみられた上記課題に鑑みてなされたものであ
り、その構成上の特徴は、被測定物の実装部品から被測
定データを装置本体の側に取り込むためピン番号により
その特定が可能に配設されたプローブピンを有する計測
部と、装置本体に対し必要な入力操作を行なうための入
力部と、前記被測定物との関係で設定される基準値など
の各種データが出入可能に格納されるメモリと、これら
の各種データに基づいて必要な演算処理を行なう演算制
御部と、この演算制御部により制御を可能に配設される
プリンタとを少なくとも備え、まず、各プローブピンと
接触される全ての実装部品をその識別コードによりピン
番号の別に前記入力部を介して入力し、しかる後、被測
定物に対する所定の測定検査を行ない、この測定検査に
より得られる個々の各被測定データがこれに対応させて
予め設定されている個々の各基準値に対しその全てがし
きい値の範囲内にあれば測定検査を終了し、しきい値の
範囲を逸脱している被測定データがある場合には、この
被測定データに関係しているプローブピンのピン番号を
識別コードとともに特定し、前記特定されたピン番号を
共有する識別コードにより検索されるピン番号について
基準値に対する被測定データの差が大きいピン番号の順
にその識別コードとともに検査データとして各別に印字
することにある。
従来方法にみられた上記課題に鑑みてなされたものであ
り、その構成上の特徴は、被測定物の実装部品から被測
定データを装置本体の側に取り込むためピン番号により
その特定が可能に配設されたプローブピンを有する計測
部と、装置本体に対し必要な入力操作を行なうための入
力部と、前記被測定物との関係で設定される基準値など
の各種データが出入可能に格納されるメモリと、これら
の各種データに基づいて必要な演算処理を行なう演算制
御部と、この演算制御部により制御を可能に配設される
プリンタとを少なくとも備え、まず、各プローブピンと
接触される全ての実装部品をその識別コードによりピン
番号の別に前記入力部を介して入力し、しかる後、被測
定物に対する所定の測定検査を行ない、この測定検査に
より得られる個々の各被測定データがこれに対応させて
予め設定されている個々の各基準値に対しその全てがし
きい値の範囲内にあれば測定検査を終了し、しきい値の
範囲を逸脱している被測定データがある場合には、この
被測定データに関係しているプローブピンのピン番号を
識別コードとともに特定し、前記特定されたピン番号を
共有する識別コードにより検索されるピン番号について
基準値に対する被測定データの差が大きいピン番号の順
にその識別コードとともに検査データとして各別に印字
することにある。
【０００９】
【実施例】図１は、この発明による印字方法の一実施例
を示すフローチャートであり、図２と図３とは、図１に
おけるＰ４とＰ５との処理ステップについての詳細な処
理手順を示すフローチャートであり、図４は、この発明
方法が適用されるインサーキットテスタ等の測定装置の
構成例を示すブロック図である。
を示すフローチャートであり、図２と図３とは、図１に
おけるＰ４とＰ５との処理ステップについての詳細な処
理手順を示すフローチャートであり、図４は、この発明
方法が適用されるインサーキットテスタ等の測定装置の
構成例を示すブロック図である。
【００１０】まず、図４により上記測定装置の概略構成
につき説明すれば、装置本体１１は、被測定物からのデ
ータを取り込むためピン番号によりその特定が可能に配
設された複数本のプローブピンを有する計測部１３と、
これらのプローブピンが接触される各実装部品に対しそ
のピン番号（ピン間テストの場合は、ステップデータ）
との関係で識別コードを付与するなど、必要な入力操作
を行なうための入力部１４と、良品である被測定物から
予め取り込まれている良品データとしての基準値のほ
か、被測定データなどの各種必要データが格納されてい
るＲＯＭ１６とＲＡＭ１７とからなるメモリ１５と、こ
れらの各種必要データとの関係で演算もしくは制御処理
を行なうためのＣＰＵ（中央処理装置）１２とプリンタ
制御部１８とを有してなる演算制御部と、このプリンタ
制御部１８による制御を可能にして配設されるプリンタ
１９とを少なくとも備えて構成されている。なお、実装
部品に対する識別コードの付与は、コンピュータ等を介
して行なわれる通信機能などを利用して外部から入力し
て行なうこともできる。
につき説明すれば、装置本体１１は、被測定物からのデ
ータを取り込むためピン番号によりその特定が可能に配
設された複数本のプローブピンを有する計測部１３と、
これらのプローブピンが接触される各実装部品に対しそ
のピン番号（ピン間テストの場合は、ステップデータ）
との関係で識別コードを付与するなど、必要な入力操作
を行なうための入力部１４と、良品である被測定物から
予め取り込まれている良品データとしての基準値のほ
か、被測定データなどの各種必要データが格納されてい
るＲＯＭ１６とＲＡＭ１７とからなるメモリ１５と、こ
れらの各種必要データとの関係で演算もしくは制御処理
を行なうためのＣＰＵ（中央処理装置）１２とプリンタ
制御部１８とを有してなる演算制御部と、このプリンタ
制御部１８による制御を可能にして配設されるプリンタ
１９とを少なくとも備えて構成されている。なお、実装
部品に対する識別コードの付与は、コンピュータ等を介
して行なわれる通信機能などを利用して外部から入力し
て行なうこともできる。
【００１１】次に、上記構成からなる装置本体１１に適
用されるこの発明方法の一実施例を図１に従い説明すれ
ば、インサーキットテスタ等の測定装置における装置本
体１１には、まず、プリント基板等の被測定物が所定の
手法に従いセットされ、検査開始の信号が入力される。
用されるこの発明方法の一実施例を図１に従い説明すれ
ば、インサーキットテスタ等の測定装置における装置本
体１１には、まず、プリント基板等の被測定物が所定の
手法に従いセットされ、検査開始の信号が入力される。
【００１２】検査開始の信号が入力された後は、まず、
計測部１３に配設されている各プローブピンと接触され
る全ての実装部品がその識別コードによりピン番号の別
に前記入力部１４を介して入力され、ＲＡＭ１７に格納
される（Ｐ１の処理ステップ）。
計測部１３に配設されている各プローブピンと接触され
る全ての実装部品がその識別コードによりピン番号の別
に前記入力部１４を介して入力され、ＲＡＭ１７に格納
される（Ｐ１の処理ステップ）。
【００１３】この際の入力パターンを図６を例に具体的
に示せば（なお、「１ＰＩＮ〜４ＰＩＮ」をピン番号と
し、「Ｒ１〜Ｒ５」を識別コードとする）、 １ＰＩＮ Ｒ１，Ｒ２ ２ＰＩＮ Ｒ２，Ｒ３，Ｒ５ ３ＰＩＮ Ｒ１，Ｒ３，Ｒ４ ４ＰＩＮ Ｒ４，Ｒ５ として入力されることになる。なお、この際に用いられ
る識別コードについては、抵抗やコンデンサなど被測定
物の実装部品の部品名称を自他の識別を可能にして表示
する構成のもののほか、適宜組み合わされた数字や記号
等の表示を用いるなど、要はある実装部品を他の実装部
品と混同することなく区別することができる表示のもの
であれば自由に設定することができる。
に示せば（なお、「１ＰＩＮ〜４ＰＩＮ」をピン番号と
し、「Ｒ１〜Ｒ５」を識別コードとする）、 １ＰＩＮ Ｒ１，Ｒ２ ２ＰＩＮ Ｒ２，Ｒ３，Ｒ５ ３ＰＩＮ Ｒ１，Ｒ３，Ｒ４ ４ＰＩＮ Ｒ４，Ｒ５ として入力されることになる。なお、この際に用いられ
る識別コードについては、抵抗やコンデンサなど被測定
物の実装部品の部品名称を自他の識別を可能にして表示
する構成のもののほか、適宜組み合わされた数字や記号
等の表示を用いるなど、要はある実装部品を他の実装部
品と混同することなく区別することができる表示のもの
であれば自由に設定することができる。
【００１４】実装部品に対するこのような識別コード付
与のための入力処理を経た後、被測定物の個々の実装部
品に対しては、Ｐ２の処理ステップにて所定の測定手順
に従い、全ピンテストのほか、ピン間テストなど、必要
な測定検査が行なわれ、ピン番号との関係で特定される
識別コードを有する被測定データとしてその全てがＣＰ
Ｕ１２を介して取り込まれ、各別にＲＡＭ１７に格納さ
れる。
与のための入力処理を経た後、被測定物の個々の実装部
品に対しては、Ｐ２の処理ステップにて所定の測定手順
に従い、全ピンテストのほか、ピン間テストなど、必要
な測定検査が行なわれ、ピン番号との関係で特定される
識別コードを有する被測定データとしてその全てがＣＰ
Ｕ１２を介して取り込まれ、各別にＲＡＭ１７に格納さ
れる。
【００１５】すべての検査ステップについて所定の測定
検査を終了した後は、この測定検査により得られ、メモ
リ１５におけるＲＡＭ１７に格納されている個々の各被
測定データに対応している実装部品につき予め定めら
れ、かつ、同様にメモリ１５におけるＲＯＭ１６又はＲ
ＡＭ１７に格納されている良品データとしての前記基準
値と比較（Ｐ３の判別ステップ）され、その全てがこれ
らの基準値に対応して設定されているしきい値の範囲内
にある良品であると判別された場合には検査を終了す
る。
検査を終了した後は、この測定検査により得られ、メモ
リ１５におけるＲＡＭ１７に格納されている個々の各被
測定データに対応している実装部品につき予め定めら
れ、かつ、同様にメモリ１５におけるＲＯＭ１６又はＲ
ＡＭ１７に格納されている良品データとしての前記基準
値と比較（Ｐ３の判別ステップ）され、その全てがこれ
らの基準値に対応して設定されているしきい値の範囲内
にある良品であると判別された場合には検査を終了す
る。
【００１６】一方、いずれかの検査ステップにしきい値
の範囲を逸脱している被測定データがある（以下、ＮＧ
ステップという）と判別された場合には、該当するＮＧ
ステップを特定することでその被測定データに関係して
いるプローブピンのピン番号（ステップデータ）が特定
され、それぞれのピン番号（ステップデータ）に対応す
る識別コードとともにＣＲＴ等の表示手段などに表示さ
れる。この際の表示パターン（以下、ＮＧ表示パターン
という）につき図６を例に抵抗Ｒ３の抵抗値が不良（Ｎ
Ｇ）であるとし、全ピンテストとピン間テストとを行な
っている場合について示せば、 ＮＧ ２ＰＩＮ −Ａ％ Ｒ２，Ｒ３，Ｒ５ ３ＰＩＮ −Ａ％ Ｒ１，Ｒ３，Ｒ４ ２ＰＩＮ−３ＰＩＮ −Ｂ％ Ｒ３ などのようなパターンとなって表示される。
の範囲を逸脱している被測定データがある（以下、ＮＧ
ステップという）と判別された場合には、該当するＮＧ
ステップを特定することでその被測定データに関係して
いるプローブピンのピン番号（ステップデータ）が特定
され、それぞれのピン番号（ステップデータ）に対応す
る識別コードとともにＣＲＴ等の表示手段などに表示さ
れる。この際の表示パターン（以下、ＮＧ表示パターン
という）につき図６を例に抵抗Ｒ３の抵抗値が不良（Ｎ
Ｇ）であるとし、全ピンテストとピン間テストとを行な
っている場合について示せば、 ＮＧ ２ＰＩＮ −Ａ％ Ｒ２，Ｒ３，Ｒ５ ３ＰＩＮ −Ａ％ Ｒ１，Ｒ３，Ｒ４ ２ＰＩＮ−３ＰＩＮ −Ｂ％ Ｒ３ などのようなパターンとなって表示される。
【００１７】このような表示パターンのもとで表示さ
れ、ピン番号（ステップデータ）が特定された後は、こ
れらのピン番号（ステップデータ）を共有している識別
コード（この事例ではＲ３）による検索が行なわれ（Ｐ
４の処理ステップ）、その結果検索されるピン番号（ス
テップデータ）はその識別コードとともに基準値から大
きくずれた順に印字出力される（Ｐ５の処理ステッ
プ）。図２と図３とは、この際のＰ４とＰ５との処理ス
テップにおいて行なわれる一連の処理を詳細に示すもの
である。
れ、ピン番号（ステップデータ）が特定された後は、こ
れらのピン番号（ステップデータ）を共有している識別
コード（この事例ではＲ３）による検索が行なわれ（Ｐ
４の処理ステップ）、その結果検索されるピン番号（ス
テップデータ）はその識別コードとともに基準値から大
きくずれた順に印字出力される（Ｐ５の処理ステッ
プ）。図２と図３とは、この際のＰ４とＰ５との処理ス
テップにおいて行なわれる一連の処理を詳細に示すもの
である。
【００１８】すなわち、Ｐ３の判別ステップにて、しき
い値の範囲を逸脱している被測定データがある（ＮＧ）
と判別された場合には、まず、該当するＮＧステップが
抽出され、ＮＧステップテーブルに格納される。次い
で、ピン番号（ステップデータ）に予め付与されている
識別コードにより対応するプローブピンを探し、ＮＧス
テップの中にあれば印字用テーブルに格納し、同様の処
理を繰り返し行なう。
い値の範囲を逸脱している被測定データがある（ＮＧ）
と判別された場合には、まず、該当するＮＧステップが
抽出され、ＮＧステップテーブルに格納される。次い
で、ピン番号（ステップデータ）に予め付与されている
識別コードにより対応するプローブピンを探し、ＮＧス
テップの中にあれば印字用テーブルに格納し、同様の処
理を繰り返し行なう。
【００１９】一方、ＮＧステップの中に識別コードに対
応するプローブピンがなくなった場合には、既に格納さ
れている印字用テーブル内のステップで基準値より大き
くずれた順にソートされ、しかる後、印字用テーブル内
のステップを印字する。このようにしてスップが印字さ
れた後は、ＮＧステップで他の識別コードがまだあるか
否かの判別が行なわれ、あれば対応するプローブピンを
探し、上記した処理手順に従い同様の処理が行なわれ
る。
応するプローブピンがなくなった場合には、既に格納さ
れている印字用テーブル内のステップで基準値より大き
くずれた順にソートされ、しかる後、印字用テーブル内
のステップを印字する。このようにしてスップが印字さ
れた後は、ＮＧステップで他の識別コードがまだあるか
否かの判別が行なわれ、あれば対応するプローブピンを
探し、上記した処理手順に従い同様の処理が行なわれ
る。
【００２０】しかし、他の識別コードがないと判別され
た場合には、ＮＧステップテーブル内にＮＧステップが
残っているか否かの判別が行なわれ、残っていなけれ
ば、図１におけるＰ６の処理ステップへと移行する。Ｎ
Ｇステップテーブル内にＮＧステップがまだ残っている
と判別された場合には、基準値より大きくずれた順にソ
ートし、これを印字用テーブルに格納し、印字用テーブ
ル内のステップを印字した後、図１におけるＰ６の処理
ステップへと移行し、全てのＮＧステップについてプリ
ンタ１９により検査データとして印字され、測定検査作
業を終了する。この際の印字パターンを上記ＮＧ表示パ
ターンについての場合を例に具体的に示すならば、 ＮＧ Ｒ３ ２ＰＩＮ ３ＰＩＮ ２ＰＩＮ−３ＰＩＮ として表示される。なお、この場合の「Ｒ３」は、識別
コードを示し、「２ＰＩＮ」，「３ＰＩＮ」，「２ＰＩ
Ｎ−３ＰＩＮ」は、各ＮＧステップのそれぞれのピン番
号（ステップデータ）を示し、２ＰＩＮのピン番号（ス
テップデータ）から順に被測定データが基準値から外れ
る度合いの大きいことを示している。なお、この場合、
上記印字パターンにおいて抵抗Ｒ３に関する検査データ
として示されるＮＧ表示欄に印字される文字は、その他
の検査データの表示欄に印字される文字よりも大きな文
字を用いて印字するのが好ましい。
た場合には、ＮＧステップテーブル内にＮＧステップが
残っているか否かの判別が行なわれ、残っていなけれ
ば、図１におけるＰ６の処理ステップへと移行する。Ｎ
Ｇステップテーブル内にＮＧステップがまだ残っている
と判別された場合には、基準値より大きくずれた順にソ
ートし、これを印字用テーブルに格納し、印字用テーブ
ル内のステップを印字した後、図１におけるＰ６の処理
ステップへと移行し、全てのＮＧステップについてプリ
ンタ１９により検査データとして印字され、測定検査作
業を終了する。この際の印字パターンを上記ＮＧ表示パ
ターンについての場合を例に具体的に示すならば、 ＮＧ Ｒ３ ２ＰＩＮ ３ＰＩＮ ２ＰＩＮ−３ＰＩＮ として表示される。なお、この場合の「Ｒ３」は、識別
コードを示し、「２ＰＩＮ」，「３ＰＩＮ」，「２ＰＩ
Ｎ−３ＰＩＮ」は、各ＮＧステップのそれぞれのピン番
号（ステップデータ）を示し、２ＰＩＮのピン番号（ス
テップデータ）から順に被測定データが基準値から外れ
る度合いの大きいことを示している。なお、この場合、
上記印字パターンにおいて抵抗Ｒ３に関する検査データ
として示されるＮＧ表示欄に印字される文字は、その他
の検査データの表示欄に印字される文字よりも大きな文
字を用いて印字するのが好ましい。
【００２１】この発明に係る検査データの印字方法は、
上述したようにして行なわれるので、被測定物の実装部
品から得られる被測定データにおいて、しきい値の範囲
から逸脱する不良（ＮＧ）の被測定データについては、
その識別コードにより検索されるピン番号（ステップデ
ータ）により該当するプローブピンを特定することがで
き、したがって、印字された検査データを確認すること
で、不良実装部品へのアクセスを迅速に行なうことがで
き、特に全ピンテストにおける不良内容の特定を容易に
行なうことができる。
上述したようにして行なわれるので、被測定物の実装部
品から得られる被測定データにおいて、しきい値の範囲
から逸脱する不良（ＮＧ）の被測定データについては、
その識別コードにより検索されるピン番号（ステップデ
ータ）により該当するプローブピンを特定することがで
き、したがって、印字された検査データを確認すること
で、不良実装部品へのアクセスを迅速に行なうことがで
き、特に全ピンテストにおける不良内容の特定を容易に
行なうことができる。
【００２２】しかも、その際の印字パターンは、基準値
に対する被測定データの差が大きなものから順に対応す
るピン番号（ステップデータ）とともに各別に検査デー
タとして印字されることになるので、ピン間テストも含
めその順に従って実装部品を再検査してその解析作業を
進めることができるので、修理時における作業時間を短
縮することができる。
に対する被測定データの差が大きなものから順に対応す
るピン番号（ステップデータ）とともに各別に検査デー
タとして印字されることになるので、ピン間テストも含
めその順に従って実装部品を再検査してその解析作業を
進めることができるので、修理時における作業時間を短
縮することができる。
【００２３】
【発明の効果】以上述べたようにこの発明方法によれ
ば、しきい値の範囲から逸脱する不良（ＮＧ）の被測定
データについては、その識別コードにより検索されるピ
ン番号により該当するプローブピンを特定することがで
き、したがって、印字された検査データを確認すること
で、不良実装部品へのアクセスを迅速に行なうことがで
き、特に全ピンテストにおける不良内容の特定を容易に
行なうことができる。また、その際には、基準値に対す
る被測定データの差が大きなものから順に対応するピン
番号とともに各別に検査データとして印字されているの
で、ピン間テストも含めその順に従って実装部品を再検
査することによりその解析作業を進めることができるの
で、修理時における作業時間を短縮することができる。
ば、しきい値の範囲から逸脱する不良（ＮＧ）の被測定
データについては、その識別コードにより検索されるピ
ン番号により該当するプローブピンを特定することがで
き、したがって、印字された検査データを確認すること
で、不良実装部品へのアクセスを迅速に行なうことがで
き、特に全ピンテストにおける不良内容の特定を容易に
行なうことができる。また、その際には、基準値に対す
る被測定データの差が大きなものから順に対応するピン
番号とともに各別に検査データとして印字されているの
で、ピン間テストも含めその順に従って実装部品を再検
査することによりその解析作業を進めることができるの
で、修理時における作業時間を短縮することができる。
【図１】この発明による検査データの印字方法の処理手
順の一例を示すフローチャートである。
順の一例を示すフローチャートである。
【図２】図１におけるＰ４とＰ５との処理ステップにつ
いての詳細な処理手順のうち、その前半部を示すフロー
チャートである。
いての詳細な処理手順のうち、その前半部を示すフロー
チャートである。
【図３】図１におけるＰ４とＰ５との処理ステップにつ
いての詳細な処理手順のうち、その後半部を示すフロー
チャートである。
いての詳細な処理手順のうち、その後半部を示すフロー
チャートである。
【図４】この発明方法に供される測定装置における装置
本体の概略構成を示すブロック図である。
本体の概略構成を示すブロック図である。
【図５】従来例としての検査データの印字方法の処理手
順を示すフローチャートである。
順を示すフローチャートである。
【図６】抵抗Ｒ１〜抵抗Ｒ５を有するブリッジ回路に対
しいわゆる全ピンテストを行なう場合の回路構成例を示
す説明図である。
しいわゆる全ピンテストを行なう場合の回路構成例を示
す説明図である。
１１ 装置本体 １２ ＣＰＵ １３ 計測部 １４ 入力部 １５ メモリ １６ ＲＯＭ １７ ＲＡＭ １８ プリンタ制御部 １９ プリンタ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 山本 幸一 長野県埴科郡坂城町大字坂城6249番地 日置電機株式会社内 (72)発明者 内藤 富士夫 長野県埴科郡坂城町大字坂城6249番地 日置電機株式会社内 (56)参考文献 特開 平１−299473（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−159741（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01D 9/00 G01R 31/28
Claims (2)
- 【請求項１】被測定物の実装部品から被測定データを装
置本体の側に取り込むためピン番号によりその特定が可
能に配設されたプローブピンを有する計測部と、装置本
体に対し必要な入力操作を行なうための入力部と、前記
被測定物との関係で設定される基準値などの各種データ
が出入可能に格納されるメモリと、これらの各種データ
に基づいて必要な演算処理を行なう演算制御部と、この
演算制御部により制御を可能に配設されるプリンタとを
少なくとも備え、まず、各プローブピンと接触される全
ての実装部品をその識別コードによりピン番号の別に前
記入力部を介して入力し、しかる後、被測定物に対する
所定の測定検査を行ない、この測定検査により得られる
個々の各被測定データがこれに対応させて予め設定され
ている個々の各基準値に対しその全てがしきい値の範囲
内にあれば測定検査を終了し、しきい値の範囲を逸脱し
ている被測定データがある場合には、この被測定データ
に関係しているプローブピンのピン番号を識別コードと
ともに特定し、前記特定されたピン番号を共有する識別
コードにより検索されるピン番号について基準値に対す
る被測定データの差が大きいピン番号の順にその識別コ
ードとともに検査データとして各別に印字することを特
徴とする測定装置における検査データの印字方法。 - 【請求項２】しきい値の範囲を逸脱している被測定デー
タについての検査データの印字は、その他の検査データ
の印字文字よりも大きな文字を用いて行なうことを特徴
とする請求項１記載の測定装置における検査データの印
字方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2411185A JP2980695B2 (ja) | 1990-12-17 | 1990-12-17 | 測定装置における検査データの印字方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2411185A JP2980695B2 (ja) | 1990-12-17 | 1990-12-17 | 測定装置における検査データの印字方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04216415A JPH04216415A (ja) | 1992-08-06 |
| JP2980695B2 true JP2980695B2 (ja) | 1999-11-22 |
Family
ID=18520225
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2411185A Expired - Fee Related JP2980695B2 (ja) | 1990-12-17 | 1990-12-17 | 測定装置における検査データの印字方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2980695B2 (ja) |
-
1990
- 1990-12-17 JP JP2411185A patent/JP2980695B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04216415A (ja) | 1992-08-06 |
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