JPS62206468A - プローブポイント決定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明はプリント基板の動作テストを行なうインサーキ
ットテスタに係り、特にプリント基板に１触させるプロ
ーブピンのピン立て位置（プｏ　−プポイント）の決定
方法に関する。

〔発明の背景〕

電子部品を実装したプリント基板の動作テストを自動的
に行なう手段の１つとして、インサーキットテスタが知
られている。インサーキットテスタは、プリント基板の
裏面から電子部品のピンにテスタのプローブピンを接触
させ、このプローブピンよりテストパターンを供給して
動作テストを行なう仕組みに１よっている。従って従来
の方法では、インサーキットテスタのプローブピンは、
被検査部品のピン位置に対応させ、テスト治具上の一定
間隔の格子座標上に配置していた。なお、この釉の装置
に関するものとしては、例えは特開昭５５−１４９８８
＜Ｓ号公報等がある。

ところが、近年プリント基板上により多（の部品を搭載
して装置中のプリント基板の枚数を減らす心安が高まり
、電子部品の高品度化が顕著になってきた。このため、
プリント基板へ搭載する電子部品の形状が変わり、テス
タのプローブピンが配でされる格子座標上に部品ピンか
乗らない格子、　３　。

踏み外し部品や、部品ピンがプリント基板の裏面へ出な
い面付は部品が出現してきた。また、表面だけでなく裏
面にも部品を搭載するプリント基板も現われてきた。

従来のインサーキットテスタはこのような場合について
配慮されておらず、プローブピンを直接部品ピンへ接触
させることができないため、動作テストを行なうことが
できなかった。

〔発明の目的〕

本発明の目的は、上記部品ピンのようにピン立て候補位
置へのプローブピンの接触が不可能な場合のピン・立て
位置決定方法を提供し、ピン立て候補位置に直接プａ−
ブピンを接触することができないプリント基板に対して
もインサーキットテスタによる動作テストを可能にする
ことにある。

〔発明の概要〕

上記目的達成のため本発明では、プリント基板上の電子
部品の論理的接続関係を示す論理設計情報と、プリント
基板のプリントパターンの接続状態さびプリント基板上
の電子部品の搭載状態な示・　４　・ す実装設計情報とを利用し、これらの情報からプａ　−
，７”ピンのピン立て候補位置についてプローブピンが
接触可能かどうかを検査するとともに、接触不可能な場
合には上記情報に基づいてプリントパターンを追跡して
プローブピンが接触可能な点を検出してやり、これによ
りプローブピンのピン立て位置を決定することとした。

〔発明の実施例〕

以下、本発明を図を用いて説明する。

第１図は本発明の一実施例によりインサーキットテスタ
のプローブピンのピン立て位置を決定する処理手順を示
したフローチャートであり、第２図は本発明を実施する
際の電子計算機の構成例を示した機器構成図、第３図は
インサーキットテスタと被検査プリント基板の概念図で
ある。

第２図において、１は本発明に係る電子計算機上での処
理を司さどる中央処理装置（ＣＰＵ　）で、定められた
プログラムに従い各機器からのデータの取り出し、処理
及び各機器の動作の制御を行なう。２はビデオターミナ
ルで、ＣＰＵ１へのバツチジョブ投入及びジョブラン結
果の確認を行なうためのものである。３は磁気ディスク
装置で、検査対象であるプリント基板の論理設計情報及
び実装設計情報を収納する。４はメモリで、ＣｐＵｌを
動作させるプログラムを収納する。５は紙テープ出力装
置で、ＣｐＵｌにおける処理で決定されたプローブピン
のピン立て位置をインサーキットテスタのテスト治具製
造数値制御用紙テープに出力し、またインサーキットテ
スタのテスタピンとテスト治具との布線接続を自動布線
数値制御用紙テープに出力する。６は７ａツピーデイス
ク出力装置で、インサーキットテスタで使用するテスト
パターン情報をフロッピーディスクへ収納する。

７はラインプリンタで、ＣＰＵ１におけるバッチジョブ
の処理結果を出力する。

また、第３図において、８はフロッピーディスク入力装
置で、第２図のフロッピーディスク出力装置６より出力
されたフロッピーディスクからテストパターン情報を入
力する。９はインサーキットテスタの制御を司さどるテ
スタＣＰＵで、フロ情報に従い、テーブル１０上のテス
タピン１１を介して検査信号の入出力及びその演算処理
を行なう。

１３はプローブピン１４が設置されるテスト治具であり
、第２図の紙テープ出力装置５で出力されたテスト治具
製造数値制御用紙テープの情報に基づきプローブピン１
４の位置が設定され、また自動布線数値制御用紙テープ
の情報に基づいてテスタピン１１とケーブル１２により
血続接続される。１５は検査対象であるプリント基板、
１６はプリント基板１５に搭載された電子部品である。

次に、第１図の７０−チャートに従って、各部の動作を
説明する。

まず、第２図のビデオターミナル２からＣＰＵ１へ作業
開始が指示され、ＣｐＵｌでの処理がスタートする（ス
テップ１００）。

ＣｐＵｌは、プリント基板上のプローブ禁止領域の全情
報を８気デイスク装置３から読み取り、メモリ４へ収納
する（　１０１　）。このプローブ禁止領域について、
以下説明する。

・　７　・ 第４図は、電子部品を実装したプリント基板の断面図を
示したもので、プリント基板１５の表面１５αには通常
の穴開は部品１６と面付は部品１７が、また裏面１５ｂ
には表向への面付は部品１８が実装されている。１９は
プリントパターン、２０はスルーホール、２１はプリン
トパターン１９と部品ピンとを接合する接合剤である。

第４図のように薬面へ電子部品を搭載した場合には、裏
面へ搭載した部品で覆われる一定領域に対してはプロー
ブピン１４の接触が不可Ｗ目となる。第５図はプリント
基板を裏面から見たもので、図中２２がプローブピンの
接触できない領域を示している。このような場合、あら
かじめ裏面へ搭載した部品の形状に従いプローブピンの
接触できない領域を決定し、これをプローブ禁止領域と
して磁気ディスク装置３に収納する。本実施例では、例
えば、後述する部品実装情報の一部として実装設計情報
中に収めてお（（第６図、　６０８　）。

ＣｐＵｉはこのようなプローブ禁止領域の情報を読み取
った後、磁気ディスク装置３中に処理す・　８　・ べき論理設計情報が存在するかを判定しく　１０２　）
、存在すれば１１？ｆＪ電位接続（以下、「ネット」と
称す）分の論理設計情報及びそれに対応する実装設計情
報を絖み取りメモリ４へ収納する（　１０４　）。

ここでプリント基板の論理設計情報とは、プリント基板
上の電子部品の論理的な接続関係を示すデータである。

また、実装設計情報とは、プリント基板のプリントパタ
ーンの接続状態及びプリント基板上の電子部品の搭載状
態を示すデータである。

第６図に、論理設計情報及び実装設計情報の具体例を示
す。第４図１α）は１ネット分の論理設計情報を表現し
たもので、ネット番＠　（５０１の下に、そのネット内
に含まれる全ての部品ピンについてプリント基板上の実
装位置名６０２と、どの部品のどのピンであるかを示す
部品名称６０５及びピン査号６０４が収められている。

同図（１）ｌは実装設計情報のうちプリント基板のプリ
ントパターン情報を表現したもので、ネット内のプリン
トパターンのスルーホールの座標６０９が各部・ト毎に
収められてぃる。また、同図（Ｃ１は実装設計情報のう
ち電子部品の部品実装情報を表埃したもので、論理設計
情報中の実装位置名６０２に対応して、各実装位！母に
そこに実装されている電子部品の部品ピンのピン番号６
０４とその座標６０５、プリント基板のどちら側に搭載
されているかを示す表裏情報６０６、面付は部品か穴開
は部品かを示す面付げ／穴開げ情報６０７、さらに表面
に搭載する部品であれば前述したプローブ禁止領域の情
報６０８等が収められている。

ＣｐＵｌはこれらの情報を読み取った後、着目ネットの
部品ピンについてプローブピンが接触可能かどうかの判
断処理を開始する。

まず、メモリ４に収納した論理設計情報により部品ピン
の実装位置名６０２を調べ、そこに実装されている電子
部品についての部品実装情報をメモリ４中の実装設計情
報から取り出す。そして、この部品実装情報中に含まれ
ている部品ピンの座標６０５と１０１の処理でメモリ４
中へ収納したプローブ禁止領域の情報とを比較して、部
品ピンがプローブ禁止領域に該当するか否かの判定を行
なう（１０５）。プローブ禁止領域であれは、その部品
ピンには直接プローブピンを接触することができないた
め、プリントパターン追跡処理１１１へ進む。

次妊、同じ（部品ピンの座標６０５から、内亥幽する電
子部品が格子踏み外し部品かどうかを判定する（　１０
６　）。インサーキットテスタのプローブピンはテスト
治具上で一定間隔（例えば２．５４ｍｍ　）の格子座標
上に配列されており、部品ピンがこの格子座標上に乗ら
ない格子踏み外し部品である場合には部品ピンへ直接プ
ａ−グピンを接触させることができないので、プリント
パターン追跡処理１１１へ進む。格子踏み外し部品でな
げれば、次へ進んでその電子部品がプリント基板の裏面
へ搭載されているかどうかを部品実装情報中の表裏情報
６０６から判定する（　１０７　）。

今、電子部品が裏面へ搭載したものでない場合、さらに
部品実装情報中の面付け／穴開げ情報６０７からプリン
ト基板の裏面へ部品ピンの出ない面付は部品か否かの判
定を行なつ（１ｏｓ　）。面付は部、１１　＋ 品でもなければ、その電子部品は部品ピンへ直接プロー
ブピンを接触できるものであるため、部品実装情報から
得た部品ピンの座標６０５をそのままピン立て位置とし
てメモリ４へ登録する（　１１０　）。

逆に面付は部品であれば、部品ピンへ直接プローブピン
を接触できないので、１１１のプリントパターン追跡処
理へ進む。

一方、１０７の判定で電子部品が裏面へ搭載したもので
あった場合には、その電子部品がプリント基板の裏面へ
の面付は部品か否かを面付け／穴開は情報６０７から判
定する（　１０９　）。プリント基板の裏面へ搭載した
電子部品の場合、面付は部品であれば部品ピンへ直接プ
ａ−ブピンを接触できるノテ、部品ピンの座標６０５を
そのままピン立て位置として登録する（１１’０）。し
かし、プリント基板の表面へ部品ピンが出る穴開は部品
であれば、プリント基板の裏面へプリントパターンが出
現するスルーホールを捜す必要があり、１１１のプリン
トパターン追跡処理へ進む。

ＣＰＵ１はこのようにして部品ピンへ直接プ０．１２゜ −グピンが接触できないことを検出した後、着目ネット
上のプローブピン接触可能点の検出処理を行なう。

まず、メモリ４へ収納した実装設計情報のうちのプリン
トパターン情報から、スルーホールを捜し出す（１１１
）。ネット中にスルーホールが発見されれば（１１２）
　、発見したスルーホールの座標６０９をプリントパタ
ーン情報から取り出し、１０１の処理でメモリ４中へ収
納したプロー１禁止領域の情報と比較して、プローブ禁
止領域に該当するか否かの判定を行な５　（１１４）。

プローブ禁止領域であれば、発見したスルーホールへは
プローブピンの接触が不可能なため、１１１のプリント
パターン追跡処理へ戻り再度別のスルーホールを捜す。

プローブ禁止領域でなければ、発見したスルーホールの
座標６０９をプローブピンのピン立て位置としてメモリ
４へ登録する（１１５）。

もし、１１２の判定で着目ネット中にスルーホールが発
見されなかった場合には、プローブピンを接触できない
ネットが存在するというエラーメッセージをラインプリ
ンタ７へ出力し、プログラム使用者へ注意を促す（１１
３）。

以上により１ネット分の処理が終了したら、１０２へ戻
って次のネットの処理を開始する。１０２の判定でネッ
ト情報が終了すれば、１１０及び１１５の処理でメモリ
４へ登録した各座標情報を紙テープ出力ｉｔ５及びフロ
ッピーディスク出力装置６へ出力し、全ての処理を完了
する（１０５）。

なお、本実施例では、グローブ禁止領域か否か（１０５
）、格子踏み外し部品か否か（１０＜Ｓ）、裏面への搭
載か否か（１０７）、面付は部品か否か（１０８。

１０９）の順に判定を行なってプローブピンが接触不可
能な部品ピンを検出しているが、判定の順序はこれに限
らず任意である。

第７図は、本発明をプリント基板の接栓部のピンを含む
ネットについて実施する場合の処理手順を示すフローチ
ャートである。プリント基板の接栓部のピンは、プリン
ト基板の一辺に高密度に配置されているため、プローブ
ピンの格子座標上に表両面に配置されており、表面のピ
ンについては裏面へプリントパターンが出現するスルー
ホールを捜す必要がある。

第７図では、まず７０１においてプリント基板上の全ブ
ａ−プ宗止領域な絖み取り、次いで７０４でプリント基
板の接栓部の１ピンに接続づ−るネットの論理設計情報
、実装設計情報な磁気ディスク装置３から読み取り、メ
モリ４へ収納する。この場合、第６図（ａｌの論理設計
情報中に接栓部のピンであることを示す接栓記号６０３
′及びそのピンの実装位置名６０２′とピン香６０４′
を含め、接極部情報として第６図ｆｄｌに示すようにピ
ン番号６０４’、ピン座標６０５′及び表面ピンか裏面
ピンかを示す表裏情報６０６′等を用いる。ＣｐＵｌは
、このような接極部情報に基づき着目ピンが格子踏み外
しく７０５）及び表面ピンＣ’７０６）かによって直接
プローブピンが接触できるか否かを判断し、プローブピ
ンが接触できないピンである場合には７０８へ進んでプ
リントパターン追跡処理を行Ｔｘ　５゜その他の処理は
第１図と同様である。

これらの処理をプリント基板接栓部のピン全てに対して
行なうことにより、接栓部のプローブピンのピン立て位
置を決定し、インサーキットテスタでの動作テストを実
施することができる。

次に、本発明の他の実施例を第８図により説明する。第
８図は、部品ピンや接栓部のピン等のピン立て候補位置
にプローブピンな接触できない場合に、ピン立て候補位
置から直線距離で最も近いスルーホールを検出してプロ
ーブピンのピン立て位置とする場合の処理手順を示した
フローチャートである。

群 妙ず、ＣＰＵ１は磁気ディスク装置３からグローブ禁止
領域の読み取り（８０１）及び論理設計情報。

実装設計情報の読み取り（８０４）を行ない、部品ピ。

ンや接栓部ピン等のピン立て候補位置、についてプロー
ブピンが接触可能かどうかを第１図あるいは第７図に述
べた処理手順で判定する（ａｏ５）。そして、プローブ
ピンが接触不可能である場合には、そのピン立て候補位
置から直線距離で最も近いスルーホールを検出する処理
を開始する。

ま−ｆｃｐＵｌは、メモリ４上に作業用距離登録エリア
を設け、その内容を登録しうる最大値に設定する（８０
７）。例えば、距離登録エリアを３２ビツトで構成する
こととすれば、登録しつる最大値はＣ２”−１）となる
。

次にＣＰＵ１は、メモリ４へ収納したプリントパターン
情報とグローブ禁止領域の情報とから、プリントパター
ン上でプローブ禁止領域外のスルーホールを１つ選び出
す（８１１）。そして、そのスルーホールの座標からピ
ン立て候補位置との直線距離を計算しく８１２）、計算
した直線距離の値を距離登録エリア内の値と比較する（
８１３）。計算した直線距離の方が短い場合には、距離
登録エリアの内容をこの短い直線距離の値に曹き換える
とともに（８１４）　、着目しているスルーホールの座
標をプローブピンのピン立て位置としてメモリ４へ登録
する（８１５）。計算した直線距離の方が長かった場合
は、最初に戻って別のスルーホールを捜す。

以上、８１１〜８１５の処理を繰り返すことにより、ピ
ン立て候補位置から最短距離にあるスルーホールをプロ
ーブピンのピン立て位置として決定することができる。

なお、プリントパターンの終了後（ｓｏ８）、プリント
パターン上にプローブピンが接触可能なスルーホールが
１つも検出されなかった場合には（８０９）、プローブ
ピンを接触できないネットが存在するというエラーメツ
セージをランプリンタフへ出力しく８１０　）、ブａグ
ラム使用者に対して警告を与える。

このように本実施例によれば、プロー１ピンを接触でき
ないピン立て候補位置から直巌距離で最短の位置にある
スルーホールをプロー１ピンのピン立て位置とできるの
で、インサーキットテスタによる動作テストで不良が検
出された場合の不良解析が非常に容易となる。

〔発明の効果〕

以上説明した遡り本発明によれば、プローブピンのピン
立て候補位置についてプローブピンが接触可能かどうか
を検査し、接触不可能な場合にはプローブピンが接触可
能な位置を捜し出してピン位置に直接プローブピンを接
触することができないプリント基板に対してもインサー
キットテスタによる動作テスタを行なうことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の処理手順の一実施例を示すフローチャ
ート、第２図は本発明を実施する電子計算機の機器構成
図、第３図はインサーキットテスタとプリント基板の概
念図、第４図はプリント基板の断面図、第５図はプリン
ト基板の裏面図、第６図は論理設計情報及び実装設計情
報の具体例、第７図及び第８図は本発明の他の実施例を
示すフローチャートである。 図面の簡単な説明 １・・・中央処理装ｆ（ＣＰＵ） ２・・・ビデオターミナル　３・・・研気ディスク装置
４・・・メモリ　　　　　　　５・・・紙テープ出力装
置６・・・フロッピーディスク出力装置 ７・・・ラインプリンタ ８・・・フローラピーディスク入力装置９・・・テスタ
ＣＰＵ 代理人　弁理士　小　川　勝１男 第　／Ｆｌ も３図 第４図 弔Ｓ１ 夷　６Ｖ （α）を詣Ｉ甲曾支計小ｌ艮　　　　　　　　　　　　
（ｂ）フ０りっトＪぐ９−ソ利１報（Ｃ）　　仲晶実夢
精報　　　　　　　　　（ｄ）　−ｆｔ栓卸汁育報第７
図 第８図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、プリント基板へ立てたプローブピンよりテストパタ
   ーンを供給して電子部品からの出力信号を観測するイン
   サーキットテスタにおいて、プリント基板上の電子部品
   の論理的接続関係を示す論理設計情報と、プリント基板
   のプリントパターンの接続状態及びプリント基板上の電
   子部品の搭載状態を示す実装設計情報とをあらかじめ記
   録手段に記録しておき、処理手段にて論理設計情報から
   得たプローブピンのピン立て候補位置に該当する実装設
   計情報を上記記録手段から取り出し、この実装設計情報
   に基づいて上記ピン立て候補位置についてプローブピン
   が接触可能かどうかを検査するとともに、接触不可能な
   場合にはそのピン立て候補位置に接続されたプリントパ
   ターン上のプローブピン接触可能点を上記実装設計情報
   から検出してプローブピンのピン立て位置と決定するこ
   とを特徴とするインサーキットテスタのプローブポイン
   ト決定方法。 ２、プリント基板に搭載した電子部品の部品ピン位置を
   上記プローブピンのピン立て候補位置とするとともに、
   上記電子部品の実装設計情報としてプローブ禁止領域の
   座標、部品ピンの座標、プリント基板のどちらの面に搭
   載されているかを示す情報及び面付け部品か穴開け部品
   かを示す情報を用い、上記部品ピンがプローブ禁止領域
   にある場合、上記電子部品が格子踏み外し部品の場合、
   プリント基板表面への面付け部品の場合及びプリント基
   板裏面への穴開け部品の場合に上記部品ピン位置につい
   てプローブピンが接触不可能と判定する特許請求の範囲
   第１項記載のインサーキットテスタのプローブポイント
   決定方法。 ３、プリント基板の接栓部のピン位置を上記プローブピ
   ンのピン立て候補位置とするとともに、上記接栓部の実
   装設計情報としてピンの座標とプリント基板のどちらの
   面に配置されているかを示す情報を用い、上記ピンが格
   子踏み外しの場合及び表面ピンの場合に上記ピン位置に
   ついてプローブピンが接触不可能と判定する特許請求の
   範囲第１項記載のインサーキットテスタのプローブポイ
   ント決定方法。 ４、プリントパターン中のスルーホールの座標を上記プ
   リントパターンの実装設計情報として用い、スルーホー
   ルと上記ピン立て候補位置との直線距離を計算して上記
   ピン立て候補位置から最短距離にあるスルーホールの位
   置を上記プローブピン接触可能点として検出する特許請
   求の範囲第１項、第２項又は第３項記載のインサーキッ
   トテスタのプローブポイント決定方法。