JPH04216415A - 測定装置における検査データの印字方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、測定装置における検
査データの印字方法に係り、さらに詳しくは、インサー
キットテスタ等の測定装置により被測定基板等の被測定
物から得られる被測定データに基づく検査データにより
不良実装部品を容易に特定することができる測定装置に
おける検査データの印字方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来より、インサーキットテスタ等の測
定装置によりプリント基板等の被測定物を検査し、その
良否を知ろうとするときは、ＣＲＴ等の表示器に検査デ
ータを表示させたり、プリンタにより検査データをデー
タリストとして印字し、これを精査することで行なわれ
てきており、その際の出力方式としては、全ての検査デ
ータを一律に出力表示させる方式のほか、基準値との関
係で予め設定されるしきい値の範囲を逸脱する検査デー
タのみを出力表示させる方式のものもある。

【０００３】このうち、しきい値の範囲を逸脱する検査
データのみを出力表示させる方式のものについては、出
力データを見ることで直ちにその結果を知ることができ
る。しかし、この方式による場合には、定量的にみてど
の程度しきい値の範囲を逸脱しているものなのかという
ことまでは知ることができない。このため、外乱等の影
響などから、ある検査データが表面的にはしきい値の範
囲を逸脱しているとして出力されることがあるとしても
、結果的にみてしきい値の範囲を逸脱していないという
ことも往々にしてある。にもかかわらず、しきい値の範
囲を大きく逸脱している場合と僅かしか逸脱していない
場合とが同等の価値をもって評価されてしまい、さらな
る追跡検査が必要になるなど、検査作業の効率を低下さ
せる一因ともなっていた。

【０００４】このため、本出願人は、既に特願昭６２−
３１８０８７　号として出願している「検査データの印
字方法」（特開平１−１５９７４１号）により、しきい
値の範囲を一定割合以上逸脱している検査データについ
てのみ印字モードを変えて印字出力することで、その判
別を容易化する方法を提案している。図５は、その際の
処理手順を示すフローチャートであり、計側部を介して
取り込まれた検査データの全てがしきい値の範囲内にあ
るときは検査を終了し、しきい値の範囲を逸脱するとき
は、その程度が予め定めてある一定割合よりも小である
か大であるかにより、通常の印字モードとこの通常の印
字モードを変更した印字モードとを使い分けることで、
前記しきい値の範囲を逸脱する検査データの全てを印字
出力するようにしている。このため、図５に示す検査デ
ータの印字方法によれば、通常は、印字後の検査データ
の解析処理を能率よく行なうことができる。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】ところで、図６は、抵
抗Ｒ１〜抵抗Ｒ５を有するブリッジ回路に対しある一本
のプローブピン１と他の全プローブピン２，３，４との
間でいわゆる全ピンテスト（以下、全ピンテストという
）を行なう場合を例示するものである。この場合、ピン
番号が■として示されるプローブピン１（１ＰＩＮ）は
測定回路６に接続され、ピン番号が■〜■として示され
る他の全プローブピン２，３，４（２ＰＩＮ〜４ＰＩＮ
）は信号源７に接続される回路構成をとっており、この
際、ピン番号が■として示されるプローブピン１ではＲ
１とＲ２との、■として示されるプローブピン２ではＲ
２とＲ３とＲ５との、■として示されるプローブピン３
ではＲ１とＲ３とＲ４との、■として示されるプローブ
ピン４ではＲ４とＲ５とのインピーダンスがそれぞれ測
定されることになる。なお、この明細書で「ピン間テス
ト」とは、ある一本のプローブピンと他の一本のプロー
ブピンとの間で行なわれる測定検査のことをいう。

【０００６】そして、図６において抵抗Ｒ３　の抵抗値
がしきい値の範囲を逸脱しており不良（ＮＧ）であると
仮定した場合、これを図５に示す従来の検査データの印
字方法により印字すると、 ＮＧ ２ＰＩＮ　　　　　　−Ａ％ ３ＰＩＮ　　　　　　−Ａ％ などとして表示されることになる。

【０００７】このため、上記したような全ピンテストの
結果を図５に示す従来方法により印字する場合、ある実
装部品についての不良情報は、当該実装部品に接触され
るプローブピンのピン番号により表示される結果、複数
のピン番号との関係で不良箇所を特定しなければならな
い作業が残り、結果的に修理作業がかえって煩雑になる
不都合があった。

【０００８】

【課題を解決するための手段】この発明は、図５に示す
従来方法にみられた上記課題に鑑みてなされたものであ
り、その構成上の特徴は、被測定物の実装部品から被測
定データを装置本体の側に取り込むためピン番号により
その特定が可能に配設されたプローブピンを有する計側
部と、装置本体に対し必要な入力操作を行なうための入
力部と、前記被測定物との関係で設定される基準値など
の各種データが出入可能に格納されるメモリと、これら
の各種データに基づいて必要な演算処理を行なう演算制
御部と、この演算制御部により制御を可能に配設される
プリンタとを少なくとも備えてなる測定装置において、
まず、各プローブピンと接触される全ての実装部品をそ
の識別コードによりピン番号の別に前記入力部を介して
入力し、しかる後、被測定物に対する所定の測定検査を
行ない、この測定検査により得られる個々の各被測定デ
ータがこれに対応させて予め設定されている個々の各基
準値に対しその全てがしきい値の範囲内にあれば測定検
査を終了し、しきい値の範囲を逸脱している被測定デー
タがある場合には、この被測定データに関係しているプ
ローブピンのピン番号を特定し、これらのピン番号を共
有している識別コードにより検索されるピン番号を基準
値に対する被測定データの差が大きなものから順にその
識別コードとともに検査データとして印字することにあ
る。

【０００９】

【実施例】図１は、この発明による印字方法の一実施例
を示すフローチャートであり、図２と図３とは、図１に
おけるＰ４とＰ５との処理ステップについての詳細な処
理手順を示すフローチャートであり、図４は、この発明
方法が適用されるインサーキットテスタ等の測定装置の
構成例を示すブロック図である。

【００１０】まず、図４により上記測定装置の概略構成
につき説明すれば、装置本体１１は、被測定物からのデ
ータを取り込むためピン番号によりその特定が可能に配
設された複数本のプローブピンを有する計側部１３と、
これらのプローブピンが接触される各実装部品に対しそ
のピン番号（ピン間テストの場合は、ステップデータ）
との関係で識別コードを付与するなど、必要な入力操作
を行なうための入力部１４と、良品である被測定物から
予め取り込まれている良品データとしての基準値のほか
、被測定データなどの各種必要データが格納されている
ＲＯＭ１６とＲＡＭ１７とからなるメモリ１５と、これ
らの各種必要データとの関係で演算もしくは制御処理を
行なうためのＣＰＵ（中央処理装置）１２とプリンタ制
御部１８とを有してなる演算制御部と、このプリンタ制
御部１８による制御を可能にして配設されるプリンタ１
９とを少なくとも備えて構成されている。なお、実装部
品に対する識別コードの付与は、コンピュータ等を介し
て行なわれる通信機能などを利用して外部から入力して
行なうこともできる。

【００１１】次に、上記構成からなる装置本体１１に適
用されるこの発明方法の一実施例を図１に従い説明すれ
ば、インサーキットテスタ等の測定装置における装置本
体１１には、まず、プリント基板等の被測定物が所定の
手法に従いセットされ、検査開始の信号が入力される。

【００１２】検査開始の信号が入力された後は、まず、
計測部１３に配設されている各プローブピンと接触され
る全ての実装部品がその識別コードによりピン番号の別
に前記入力部１４を介して入力され、ＲＡＭ１７に格納
される（Ｐ１の処理ステップ）。

【００１３】この際の入力パターンを図６を例に具体的
に示せば（なお、「１ＰＩＮ〜４ＰＩＮ」をピン番号と
し、「Ｒ１〜Ｒ５」を識別コードとする）、１ＰＩＮ　
　　　　　Ｒ１，Ｒ２ ２ＰＩＮ　　　　　　Ｒ２，Ｒ３，Ｒ５３ＰＩＮ　　　
　　　Ｒ１，Ｒ３，Ｒ４４ＰＩＮ　　　　　　Ｒ４，Ｒ
５ として入力されることになる。なお、この際に用いられ
る識別コードについては、抵抗やコンデンサなど被測定
物の実装部品の部品名称を自他の識別を可能にして表示
する構成のもののほか、適宜組み合わされた数字や記号
等の表示を用いるなど、要はある実装部品を他の実装部
品と混同することなく区別することができる表示のもの
であれば自由に設定することができる。

【００１４】実装部品に対するこのような識別コード付
与のための入力処理を経た後、被測定物の個々の実装部
品に対しては、Ｐ２の処理ステップにて所定の測定手順
に従い、全ピンテストのほか、ピン間テストなど、必要
な測定検査が行なわれ、ピン番号との関係で特定される
識別コードを有する被測定データとしてその全てがＣＰ
Ｕ１２を介して取り込まれ、各別にＲＡＭ１７に格納さ
れる。

【００１５】すべての検査ステップについて所定の測定
検査を終了した後は、この測定検査により得られ、メモ
リ１５におけるＲＡＭ１７に格納されている個々の各被
測定データに対応している実装部品につき予め定められ
、かつ、同様にメモリ１５におけるＲＯＭ１６又はＲＡ
Ｍ１７に格納されている良品データとしての前記基準値
と比較（Ｐ３の判別ステップ）され、その全てがこれら
の基準値に対応して設定されているしきい値の範囲内に
ある良品であると判別された場合には検査を終了する。

【００１６】一方、いずれかの検査ステップにしきい値
の範囲を逸脱している被測定データがある（以下、ＮＧ
ステップという）と判別された場合には、該当するＮＧ
ステップを特定することでその被測定データに関係して
いるプローブピンのピン番号（ステップデータ）が特定
され、それぞれのピン番号（ステップデータ）に対応す
る識別コードとともにＣＲＴ等の表示手段などに表示さ
れる。この際の表示パターン（以下、ＮＧ表示パターン
という）につき図６を例に抵抗Ｒ３の抵抗値が不良（Ｎ
Ｇ）であるとし、全ピンテストとピン間テストとを行な
っている場合について示せば、 ＮＧ ２ＰＩＮ　　　　　　　　　　　　−Ａ％　　　　Ｒ２
，Ｒ３，Ｒ５３ＰＩＮ　　　　　　　　　　　　−Ａ％
　　　　Ｒ１，Ｒ３，Ｒ４２ＰＩＮ−３ＰＩＮ　　−Ｂ
％　　　　Ｒ３などのようなパターンとなって表示され
る。

【００１７】このような表示パターンのもとで表示され
、ピン番号（ステップデータ）が特定された後は、これ
らのピン番号（ステップデータ）を共有している識別コ
ード（この事例ではＲ３）による検索が行なわれ（Ｐ４
の処理ステップ）、その結果検索されるピン番号（ステ
ップデータ）はその識別コードとともに基準値から大き
くずれた順に印字出力される（Ｐ５の処理ステップ）。 図２と図３とは、この際のＰ４とＰ５との処理ステップ
において行なわれる一連の処理を詳細に示すものである
。

【００１８】すなわち、Ｐ３の判別ステップにて、しき
い値の範囲を逸脱している被測定データがある（ＮＧ）
と判別された場合には、まず、該当するＮＧステップが
抽出され、ＮＧステップテーブルに格納される。次いで
、ピン番号（ステップデータ）に予め付与されている識
別コードにより対応するプローブピンを探し、ＮＧステ
ップの中にあれば印字用テーブルに格納し、同様の処理
を繰り返し行なう。

【００１９】一方、ＮＧステップの中に識別コードに対
応するプローブピンがなくなった場合には、既に格納さ
れている印字用テーブル内のステップで基準値より大き
くずれた順にソートされ、しかる後、印字用テーブル内
のステップを印字する。このようにしてスップが印字さ
れた後は、ＮＧステップで他の識別コードがまだあるか
否かの判別が行なわれ、あれば対応するプローブピンを
探し、上記した処理手順に従い同様の処理が行なわれる
。

【００２０】しかし、他の識別コードがないと判別され
た場合には、ＮＧステップテーブル内にＮＧステップが
残っているか否かの判別が行なわれ、残っていなければ
、図１におけるＰ６の処理ステップへと移行する。ＮＧ
ステップテーブル内にＮＧステップがまだ残っていると
判別された場合には、基準値より大きくずれた順にソー
トし、これを印字用テーブルに格納し、印字用テーブル
内のステップを印字した後、図１におけるＰ６の処理ス
テップへと移行し、全てのＮＧステップについてプリン
タ１９により検査データとして印字され、測定検査作業
を終了する。この際の印字パターンを上記ＮＧ表示パタ
ーンについての場合を例に具体的に示すならば、ＮＧ　
　Ｒ３ ２ＰＩＮ ３ＰＩＮ ２ＰＩＮ−３ＰＩＮ として表示される。なお、この場合の「Ｒ３」は、識別
コードを示し、「２ＰＩＮ」，「３ＰＩＮ」，「２ＰＩ
Ｎ−３ＰＩＮ」は、各ＮＧステップのそれぞれのピン番
号（ステップデータ）を示し、２ＰＩＮのピン番号（ス
テップデータ）から順に被測定データが基準値から外れ
る度合いの大きいことを示している。なお、この場合、
上記印字パターンにおいて抵抗Ｒ３に関する検査データ
として示されるＮＧ表示欄に印字される文字は、その他
の検査データの表示欄に印字される文字よりも大きな文
字を用いて印字するのが好ましい。

【００２１】この発明に係る検査データの印字方法は、
上述したようにして行なわれるので、被測定物の実装部
品から得られる被測定データにおいて、しきい値の範囲
から逸脱する不良（ＮＧ）の被測定データについては、
その識別コードにより検索されるピン番号（ステップデ
ータ）により該当するプローブピンを特定することがで
き、したがって、印字された検査データを確認すること
で、不良実装部品へのアクセスを迅速に行なうことがで
き、特に全ピンテストにおける不良内容の特定を容易に
行なうことができる。

【００２２】しかも、その際の印字パターンは、基準値
に対する被測定データの差が大きなものから順に対応す
るピン番号（ステップデータ）とともに各別に検査デー
タとして印字されることになるので、ピン間テストも含
めその順に従って実装部品を再検査してその解析作業を
進めることができるので、修理時における作業時間を短
縮することができる。

【００２３】

【発明の効果】以上述べたようにこの発明方法によれば
、しきい値の範囲から逸脱する不良（ＮＧ）の被測定デ
ータについては、その識別コードにより検索されるピン
番号により該当するプローブピンを特定することができ
、したがって、印字された検査データを確認することで
、不良実装部品へのアクセスを迅速に行なうことができ
、特に全ピンテストにおける不良内容の特定を容易に行
なうことができる。また、その際には、基準値に対する
被測定データの差が大きなものから順に対応するピン番
号とともに各別に検査データとして印字されているので
、ピン間テストも含めその順に従って実装部品を再検査
することによりその解析作業を進めることができるので
、修理時における作業時間を短縮することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明による検査データの印字方法の処理手
順の一例を示すフローチャートである。

【図２】図１におけるＰ４とＰ５との処理ステップにつ
いての詳細な処理手順のうち、その前半部を示すフロー
チャートである。

【図３】図１におけるＰ４とＰ５との処理ステップにつ
いての詳細な処理手順のうち、その後半部を示すフロー
チャートである。

【図４】この発明方法に供される測定装置における装置
本体の概略構成を示すブロック図である。

【図５】従来例としての検査データの印字方法の処理手
順を示すフローチャートである。

【図６】抵抗Ｒ１〜抵抗Ｒ５を有するブリッジ回路に対
しいわゆる全ピンテストを行なう場合の回路構成例を示
す説明図である。

【符号の説明】

１１　　　　装置本体 １２　　　　ＣＰＵ １３　　　　計測部 １４　　　　入力部 １５　　　　メモリ １６　　　　ＲＯＭ １７　　　　ＲＡＭ １８　　　　プリンタ制御部 １９　　　　プリンタ

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】被測定物の実装部品から被測定データを装
   置本体の側に取り込むためピン番号によりその特定が可
   能に配設されたプローブピンを有する計側部と、装置本
   体に対し必要な入力操作を行なうための入力部と、前記
   被測定物との関係で設定される基準値などの各種データ
   が出入可能に格納されるメモリと、これらの各種データ
   に基づいて必要な演算処理を行なう演算制御部と、この
   演算制御部により制御を可能に配設されるプリンタとを
   少なくとも備えてなる測定装置において、まず、各プロ
   ーブピンと接触される全ての実装部品をその識別コード
   によりピン番号の別に前記入力部を介して入力し、しか
   る後、被測定物に対する所定の測定検査を行ない、この
   測定検査により得られる個々の各被測定データがこれに
   対応させて予め設定されている個々の各基準値に対しそ
   の全てがしきい値の範囲内にあれば測定検査を終了し、
   しきい値の範囲を逸脱している被測定データがある場合
   には、この被測定データに関係しているプローブピンの
   ピン番号を特定し、これらのピン番号を共有している識
   別コードにより検索されるピン番号を基準値に対する被
   測定データの差が大きなものから順にその識別コードと
   ともに検査データとして各別に印字することを特徴とす
   る測定装置における検査データの印字方法。
2. 【請求項２】しきい値の範囲を逸脱している被測定デー
   タについての検査データの印字は、その他の検査データ
   の印字文字よりも大きな文字を用いて行なうことを特徴
   とする請求項１記載の測定装置における検査データの印
   字方法。