JPH01244545A - 不良診断方式 - Google Patents
不良診断方式Info
- Publication number
- JPH01244545A JPH01244545A JP63072306A JP7230688A JPH01244545A JP H01244545 A JPH01244545 A JP H01244545A JP 63072306 A JP63072306 A JP 63072306A JP 7230688 A JP7230688 A JP 7230688A JP H01244545 A JPH01244545 A JP H01244545A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- trouble
- card
- failure
- cause
- processor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000007547 defect Effects 0.000 title description 9
- 238000013461 design Methods 0.000 claims abstract description 7
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 claims description 23
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims description 8
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 7
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 abstract description 2
- 239000013589 supplement Substances 0.000 abstract 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 15
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 7
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 7
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
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- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は不良診断方式、特に、電子回路カードの不良診
断方式に関する。
断方式に関する。
従来の不良診断方式は、コンピュータにおける故障シミ
ュレーションにより電子回路カートの故障診断辞書を作
成し、その故障診断辞書をもとに、電子回路カード試験
で不良か発生すると、不良原因の診断を行なっていた。
ュレーションにより電子回路カートの故障診断辞書を作
成し、その故障診断辞書をもとに、電子回路カード試験
で不良か発生すると、不良原因の診断を行なっていた。
第３図は従来の不良診断方式の一例を示す流れ図である
。
。
手順Ｓ１
設計段階において故障診断辞書を作成する。
手順Ｓ２
手順Ｓ１の内容をデータベースに予め格納しておく。
手順Ｓ３
被検査カードの特性を測定する。
手順Ｓ４
被検査カードが良品の場合は次の被検査カードの特性測
定のため手順Ｓ８に飛び、不良の場合は手順Ｓ５に移行
する。
定のため手順Ｓ８に飛び、不良の場合は手順Ｓ５に移行
する。
手順Ｓ５
手順Ｓ２のデータベースの内容と手順Ｓ３の測定結果と
にもとついて故障原因を自動診断する。
にもとついて故障原因を自動診断する。
手順Ｓ８
次に検査すべきカードがある場合は手順Ｓ３に飛ひ、次
に検査すべきカー１へかない場合は検査を終了させる。
に検査すべきカー１へかない場合は検査を終了させる。
上述しｌ＝従来の不良診断方式は、故障診断辞書作成に
おいて、回路図レベルで動作記述したＩＣライブラリが
必要となるため、汎用ＬＳＩの回路図レベルの動作記述
ライブラリの作成か困難であるので、故障診断辞書が作
成てきにくいという欠点かあった。
おいて、回路図レベルで動作記述したＩＣライブラリが
必要となるため、汎用ＬＳＩの回路図レベルの動作記述
ライブラリの作成か困難であるので、故障診断辞書が作
成てきにくいという欠点かあった。
本発明の不良診断方式は、
（Ａ）設計段階において故障診断辞書を作成する第１の
手順、 （Ｂ）第１の手順の内容をデータベースに予め格納して
おく第２の手順、 （Ｃ）検査開始信号を受けた場合、または次に検査すべ
きカードが残っている場合、被検査カードの特性を測定
する第３の手順、 （Ｄ）前記第３の手順で得られた測定結果にもとついて
、被検査カードが不良品か否かを判断する第４の手順、 （Ｅ）前記第４の手順において不良品と判断された場合
は、前記データベースの内容と前記第３の手順の測定結
果とにもとづいて故障原因を自動診断し、故障原因が判
明したか否かを判断する第５の手順、 （Ｆ）前記第５の手順において、故障原因が判明しない
場合、故障原因を人間が診断し、故障内容を把握する第
６の手順、 （Ｇ）故障内容を前記データベースに追加する第７の手
順、 （Ｉｔ） Ｎ記憶４の手順において不良品でなかった場
合、または前記第５の手順において故障原因が判明した
場合、または前記第７の手順が終了した場合、次に検査
すべきカードの有無を調へ、有る場合には前記第３の手
順へ飛び、無い場合には検査を終了させる第８の手順、 とを含んで構成される。
手順、 （Ｂ）第１の手順の内容をデータベースに予め格納して
おく第２の手順、 （Ｃ）検査開始信号を受けた場合、または次に検査すべ
きカードが残っている場合、被検査カードの特性を測定
する第３の手順、 （Ｄ）前記第３の手順で得られた測定結果にもとついて
、被検査カードが不良品か否かを判断する第４の手順、 （Ｅ）前記第４の手順において不良品と判断された場合
は、前記データベースの内容と前記第３の手順の測定結
果とにもとづいて故障原因を自動診断し、故障原因が判
明したか否かを判断する第５の手順、 （Ｆ）前記第５の手順において、故障原因が判明しない
場合、故障原因を人間が診断し、故障内容を把握する第
６の手順、 （Ｇ）故障内容を前記データベースに追加する第７の手
順、 （Ｉｔ） Ｎ記憶４の手順において不良品でなかった場
合、または前記第５の手順において故障原因が判明した
場合、または前記第７の手順が終了した場合、次に検査
すべきカードの有無を調へ、有る場合には前記第３の手
順へ飛び、無い場合には検査を終了させる第８の手順、 とを含んで構成される。
次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。
。
第１図は本発明の一実施例を示す流れ図、第２図は本発
明の一実施例に使用する検査装置のブロック図である。
明の一実施例に使用する検査装置のブロック図である。
手順Ｓ］
設計段階において故障診断辞書を作成する。
手順Ｓ２
手順Ｓコの内容をデータベースに予め格納しておく。
（キーボード１から処理装置２を経て外部記憶装置４に
格納する） 手順Ｓ３ 検査開始信号を受けた場合、または次に検査すべきカー
ドが残っている場合、被検査カードの特性を測定する。
格納する） 手順Ｓ３ 検査開始信号を受けた場合、または次に検査すべきカー
ドが残っている場合、被検査カードの特性を測定する。
（処理装置２により測定する）
手 用頁 Ｓ ４
前記手ｌｉｔσＳ３で得られた測定結果にもとづいて被
検査カードが不良品が否かを判断する。
検査カードが不良品が否かを判断する。
（測定結果は、デイスプレィ３に表示される）手順Ｓ５
前記手順Ｓ４において不良品と判断された場合は、前記
データベースの内容と前記手順Ｓ３の測定結果とにもと
づいて故障原因を自動診断し、故障原因が判明したが否
かを判断する。
データベースの内容と前記手順Ｓ３の測定結果とにもと
づいて故障原因を自動診断し、故障原因が判明したが否
かを判断する。
（外部記憶装置４に格納しである故障診断辞書にもとづ
いて、処理装置２で診断する） 手順Ｓ６ 前記手順Ｓ５において、故障原因が判明しない場合、故
障原因を人間が診断し、故障内容を把握する。
いて、処理装置２で診断する） 手順Ｓ６ 前記手順Ｓ５において、故障原因が判明しない場合、故
障原因を人間が診断し、故障内容を把握する。
手順７
故障内環を前記データベースに追加する。
（新規に作成された故障診断辞書はキーボード１より入
力され、処理装置２で処理され、外部記憶装置４へ格納
される〉 手順Ｓ８ 前記子１ｔｌｌ￥８４において不良品でながった場合、
または前記手順Ｓ５において故障原因が判明した場合、
または前記手順Ｓ７が終了した場合、次に検査すべきカ
ードの有無を調べ、有る場合には前記手順Ｓ３へ飛び、
無い場合には検査を終了させる。
力され、処理装置２で処理され、外部記憶装置４へ格納
される〉 手順Ｓ８ 前記子１ｔｌｌ￥８４において不良品でながった場合、
または前記手順Ｓ５において故障原因が判明した場合、
または前記手順Ｓ７が終了した場合、次に検査すべきカ
ードの有無を調べ、有る場合には前記手順Ｓ３へ飛び、
無い場合には検査を終了させる。
本発明の故障診断方式の応用例について説明する。
ハードウェア的に、すなわち実際の電子回路カードに人
為的に故障を発生させ、カード試験を実行し、試験（疑
似故障）データを収集し、故障診断辞書を作成する。
為的に故障を発生させ、カード試験を実行し、試験（疑
似故障）データを収集し、故障診断辞書を作成する。
電子回路カードの不良傾向は、製造工程に起因するもの
が太く、その不良原因が設計段階で把握しがたいときが
ある。また、前述のようにＣＡＤ等、設計段階での故障
診断辞書作成は工数がかかるので、実物の統計的故障デ
ータを収集しデータベースに蓄積、利用したい場合にも
本発明は有用である。
が太く、その不良原因が設計段階で把握しがたいときが
ある。また、前述のようにＣＡＤ等、設計段階での故障
診断辞書作成は工数がかかるので、実物の統計的故障デ
ータを収集しデータベースに蓄積、利用したい場合にも
本発明は有用である。
本発明の不良診断方式は、実測定データとその解析結果
とをデータベースにフィードバックすることにより、故
障診断辞書を容易に作成、補充、できるので、製造検査
工程のコスト・パーフォーマンスが向上できるという効
果がある。
とをデータベースにフィードバックすることにより、故
障診断辞書を容易に作成、補充、できるので、製造検査
工程のコスト・パーフォーマンスが向上できるという効
果がある。
第１図は本発明の一実施例を示す流れ図、第２図は本発
明の一実施例に使用する試験装置のブロック図、第３図
は従来のカード診断方式の一例を示す流れ図である。 １・・・キーボード、２・・・処理装置、３・・・デイ
スプレィ、４・・・外部記憶装置。
明の一実施例に使用する試験装置のブロック図、第３図
は従来のカード診断方式の一例を示す流れ図である。 １・・・キーボード、２・・・処理装置、３・・・デイ
スプレィ、４・・・外部記憶装置。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 （Ａ）設計段階において故障診断辞書を作成する第１の
手順、 （Ｂ）第１の手順の内容をデータベースに予め格納して
おく第２の手順、 （Ｃ）検査開始信号を受けた場合、または次に検査すべ
きカードが残っている場合、被検査カードの特性を測定
する第３の手順、 （Ｄ）前記第３の手順で得られた測定結果にもとづいて
、被検査カードが不良品か否かを判断する第４の手順、 （Ｅ）前記第４の手順において不良品と判断された場合
は、前記データベースの内容と前記第３の手順の測定結
果とにもとづいて故障原因を自動診断し、故障原因が判
明したか否かを判断する第５の手順、 （Ｆ）前記第５の手順において、故障原因が判明しない
場合、故障原因を人間が診断し、故障内容を把握する第
６の手順、 （Ｇ）故障内容を前記データベースに追加する第７の手
順、 （Ｈ）前記第４の手順において不良品でなかつた場合、
または前記第５の手順において故障原因が判明した場合
、または前記第７の手順が終了した場合、次に検査すべ
きカードの有無を調べ、有る場合には前記第３の手順へ
飛び、無い場合には検査を終了させる第８の手順、 とを含むことを特徴とする不良診断方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63072306A JPH01244545A (ja) | 1988-03-25 | 1988-03-25 | 不良診断方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63072306A JPH01244545A (ja) | 1988-03-25 | 1988-03-25 | 不良診断方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01244545A true JPH01244545A (ja) | 1989-09-28 |
Family
ID=13485451
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63072306A Pending JPH01244545A (ja) | 1988-03-25 | 1988-03-25 | 不良診断方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01244545A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2001052066A1 (fr) * | 2000-01-14 | 2001-07-19 | Thales Avionics S.A. | Procede de generation automatique de table de symboles d'un calculateur temps reel |
-
1988
- 1988-03-25 JP JP63072306A patent/JPH01244545A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2001052066A1 (fr) * | 2000-01-14 | 2001-07-19 | Thales Avionics S.A. | Procede de generation automatique de table de symboles d'un calculateur temps reel |
| FR2803926A1 (fr) * | 2000-01-14 | 2001-07-20 | Thomson Csf Sextant | Procede de generation automatique de table de symboles d'un calculateur temps reel |
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